1、放射性同位素示蹤注水剖面測井放射性同位素示蹤注水剖面測井目目 錄錄 同位素吸水剖面測井在我國已有五十多年的歷史，其測同位素吸水剖面測井在我國已有五十多年的歷史，其測井資料被廣泛的應用于油田開發過程中。吸水剖面測井系列井資料被廣泛的應用于油田開發過程中。吸水剖面測井系列在不斷地發展和完善，從最初的兩參數（同位素、磁定位）在不斷地發展和完善，從最初的兩參數（同位素、磁定位）到三參數數（同位素、磁定位、溫度），再到五參數測井系到三參數數（同位素、磁定位、溫度），再到五參數測井系列等。最近幾年又發展了氧活化水流和相關流量等吸水剖面列等。最近幾年又發展了氧活化水流和相關流量等吸水剖面測井方法。這些方法和

2、系列從不同的方面解決了注水井吸水測井方法。這些方法和系列從不同的方面解決了注水井吸水剖面測井存在的問題，都有其獨到之處。剖面測井存在的問題，都有其獨到之處。注入剖面注入剖面注水剖面注水剖面注聚剖面注聚剖面井溫法測井井溫法測井電磁流量測井電磁流量測井同位素示蹤測井同位素示蹤測井超聲波流量測井超聲波流量測井氧活化水流測井氧活化水流測井電磁流量測井電磁流量測井氧活化水流測井氧活化水流測井超聲波流量測井超聲波流量測井多參數組合測井多參數組合測井CCL+GR+TCCL+GR+TCCL+GR+T+CCL+GR+T+釋釋CCL+GR+T+F+PCCL+GR+T+F+PCCL+GR+T+FCCL+GR+T+F

3、電磁電磁CCL+GR+T+FCCL+GR+T+F超聲超聲CCL+GR+T+FCCL+GR+T+FATCATCCCL+GR+T+FCCL+GR+T+F電磁電磁CCL+GR+T+FCCL+GR+T+F超聲超聲CCL+GR+T+FCCL+GR+T+FATCATC套套管管油油管管圖圖1-1a 籠統注水籠統注水正正注注套套 管管油油 管管喇 叭 口套套 管管油油 管管喇 叭 口圖圖1-1b 籠統注水籠統注水反反注注 套套 管管油油 管管絲 堵套套 管管油油 管管絲 堵%1001iiniiss1、注水管柱結構、注水管柱結構（籠統注水） 1、注水管柱結構、注水管柱結構(偏心分注偏心分注) 圖圖1-2a 偏心

4、分注一級兩段結構示意圖偏心分注一級兩段結構示意圖 圖圖1-2b 偏心分注兩級三段結構示意圖偏心分注兩級三段結構示意圖 套管套管油管油管封隔器水嘴水嘴球座套管套管油管油管封隔器水嘴水嘴球座套套管管油油管管封隔器水嘴水嘴封隔器水嘴球座套套管管油油管管封隔器水嘴水嘴封隔器水嘴球座1、測井原理、測井原理 注水開發的油田需要測定注水井中各小層吸水量，掌握各小層的吸水能力，注水開發的油田需要測定注水井中各小層吸水量，掌握各小層的吸水能力，制定合理的分層配注方案，制定合理的分層配注方案，以防止單層突進或舌進等情況的出現以防止單層突進或舌進等情況的出現。用放射性同。用放射性同位素載體法可以在注水井中測定吸水剖

5、面。位素載體法可以在注水井中測定吸水剖面。 選用半衰期短的同位素選用半衰期短的同位素I I131131或或BaBa131131作為示蹤劑，用粒徑大于作為示蹤劑，用粒徑大于50m50m的骨質活的骨質活性炭或其他合成載體做固相載體，使其吸附上示蹤元素，稱為活化固相載體。性炭或其他合成載體做固相載體，使其吸附上示蹤元素，稱為活化固相載體。將活化固相載體放入水中，配制成均勻活化懸浮液。在正常注水條件下，注入將活化固相載體放入水中，配制成均勻活化懸浮液。在正常注水條件下，注入井中，在懸浮液向地層侵入時，水和固相活化載體分離，水進入地層而活化載井中，在懸浮液向地層侵入時，水和固相活化載體分離，水進入地層而

6、活化載體濾積在地層表面形成一活化層。體濾積在地層表面形成一活化層。 地層的吸水量與放射性載體在地層表面的濾積量成正比，與活化層造地層的吸水量與放射性載體在地層表面的濾積量成正比，與活化層造成的曲線異常面積的增量成正比。成的曲線異常面積的增量成正比。100%ssn1iiiin1iis2、示蹤測井資料解釋方法：、示蹤測井資料解釋方法： 1）計算相對吸水量：解釋中，我們應用的是面積法，即在確定層位后，標明）計算相對吸水量：解釋中，我們應用的是面積法，即在確定層位后，標明該層位自然伽馬曲線與注入同位素所測伽瑪曲線在該層位上所圍面積。然后根該層位自然伽馬曲線與注入同位素所測伽瑪曲線在該層位上所圍面積。然

7、后根據如下公式即可計算出各層相對吸水量。據如下公式即可計算出各層相對吸水量。 式中：式中：i為第為第i層相對吸水量。層相對吸水量。 Si為第為第i層放射性異常面積。層放射性異常面積。 為全部注水層放射性示蹤面積總和。為全部注水層放射性示蹤面積總和。 2）計算絕對日吸水量：假設該井日注量為）計算絕對日吸水量：假設該井日注量為Q，則計算分層絕對日吸水量，則計算分層絕對日吸水量Qi為：為： Qi=Qi 3）計算分層注水強度為：）計算分層注水強度為：Bi=Qi/hi 式中：式中：Bi為單層的吸水強度為單層的吸水強度 hi為單層的厚度為單層的厚度 n長度：長度：2080mm2080mmn外徑：外徑：26

8、26、3838、43mm43mmn耐溫：耐溫：150150n耐壓：耐壓：80MPa80MPa磁磁定定位位伽伽瑪瑪儀儀釋釋放放器器井井 溫溫適用于井下各種類型管柱的注水井。適用于井下各種類型管柱的注水井。 3 3、有關概念、有關概念1 1）自然伽瑪測井：）自然伽瑪測井：就是測量井剖面上各深度地層的自然伽瑪射線強度的一種測井就是測量井剖面上各深度地層的自然伽瑪射線強度的一種測井方法。探測范圍是儀器附近以探測器為球心半徑方法。探測范圍是儀器附近以探測器為球心半徑30-45cm30-45cm范圍內巖石放射出的自范圍內巖石放射出的自然伽馬射線。然伽馬射線。作用：作用：主要是劃分巖性、判斷儲集層、進行地層

9、對比、求泥質含量和主要是劃分巖性、判斷儲集層、進行地層對比、求泥質含量和作為各種曲線作為各種曲線深度取齊時的標準曲線深度取齊時的標準曲線2 2）磁定位測井：）磁定位測井：應用電磁感應原理應用電磁感應原理, ,系統主要由永久磁鐵和測量線圈組成系統主要由永久磁鐵和測量線圈組成, ,用來探用來探測井中套管與套管間節箍的位置測井中套管與套管間節箍的位置, ,其曲線主要用來解釋套管節箍的實際井深其曲線主要用來解釋套管節箍的實際井深, ,為為其它測量曲線提供位置依據。其它測量曲線提供位置依據。作用：作用：磁定位曲線在大部分測井資料中起到了校深作用，而且對于油套管柱結構及磁定位曲線在大部分測井資料中起到了校

10、深作用，而且對于油套管柱結構及工具的位置能夠提供準確的定位，為調整井下工具位置、射孔位置、初步判斷工具的位置能夠提供準確的定位，為調整井下工具位置、射孔位置、初步判斷套管腐蝕情況提供指導性建議。套管腐蝕情況提供指導性建議。 3 3）放射性漲落）放射性漲落：由于地層中的放射性核素的衰變是隨機的且彼此獨立：由于地層中的放射性核素的衰變是隨機的且彼此獨立, ,同時伽馬射同時伽馬射線被探測到也是偶然獨立的線被探測到也是偶然獨立的, ,使得每次測量結果不完全相同但結果滿足統計規律使得每次測量結果不完全相同但結果滿足統計規律, , 這種現象叫放射性漲落或統計起伏現象。這種現象叫放射性漲落或統計起伏現象。

11、這種與測量條件無關而與核衰變時具有的隨機性相關的放射性漲落誤差稱這種與測量條件無關而與核衰變時具有的隨機性相關的放射性漲落誤差稱為為統計誤差。統計誤差。現場漲落誤差計算方法如下：現場漲落誤差計算方法如下：式中：式中： 曲線漲落誤差；曲線漲落誤差； N2N2漲落曲線最高幅度值；漲落曲線最高幅度值； N1N1漲落曲線最低幅度值漲落曲線最低幅度值。選取原則：選取原則： 統計起伏曲線應在儀器停止運動的狀態下在泥巖層進行記錄，記錄時統計起伏曲線應在儀器停止運動的狀態下在泥巖層進行記錄，記錄時間不少于間不少于2min2min。統計起伏誤差應在。統計起伏誤差應在10%10%以內。以內。100%N1N2N1N

12、2100%2N1N22N1N24 4）重復誤差）重復誤差：相同條件下，用相同的設備、相同的工程操作人員、相同的環境下：相同條件下，用相同的設備、相同的工程操作人員、相同的環境下兩次測量值的差異大小。兩次測量值的差異大小。 重復性是測量精度的在線檢查，是評估測量不確定性的最好的方法。重復性是測量精度的在線檢查，是評估測量不確定性的最好的方法。測井中，常記錄重復測量段以驗證儀器響應的正確性。即，曲線異常需要重復。測井中，常記錄重復測量段以驗證儀器響應的正確性。即，曲線異常需要重復。 現場重復誤差計算方法如下：現場重復誤差計算方法如下： 式中：式中： 曲線重復誤差；曲線重復誤差； N1 N1 第一條

13、曲線平均值；第一條曲線平均值； N2 N2 第二條曲線平均值；第二條曲線平均值；選取原則：選取原則：重復曲線應大于重復曲線應大于50m50m，選擇大于，選擇大于3 3m的目的層計算重復誤差，其相對誤差為的目的層計算重復誤差，其相對誤差為10%10%。100%N2N1N25) 5) 放射性活度和放射性比度放射性活度和放射性比度 一定量的放射性核素，在單位時間里發生衰變的核數叫放射性活度，單位一定量的放射性核素，在單位時間里發生衰變的核數叫放射性活度，單位“貝貝可勒爾可勒爾”BqBq。1 mCi= 3.71 mCi= 3.710107 7核衰變核衰變/ s/ s1Bq = 1 1Bq = 1 次核

14、衰變次核衰變 / s/ s 放射性比度（比放射性、比活度、放射性濃度）是指放射性核素的放射性活度放射性比度（比放射性、比活度、放射性濃度）是指放射性核素的放射性活度與其質量之比，其單位是與其質量之比，其單位是 Bq / gBq / g6 6）橫向比例）橫向比例：在測井曲線圖上，曲線幅度變化單位長度所代表的所測物理量數值。：在測井曲線圖上，曲線幅度變化單位長度所代表的所測物理量數值。7 7）深度比例）深度比例：在測井曲線圖上，沿深度方向單位長度與它所代表的實際井段距離的：在測井曲線圖上，沿深度方向單位長度與它所代表的實際井段距離的比。比。 8 8）電纜零長）電纜零長：指從電纜鼻子內圈到第一個深度

15、記號間的長度：指從電纜鼻子內圈到第一個深度記號間的長度 儀器零長：指下井儀器套環內圈到記錄點的長度。儀器零長：指下井儀器套環內圈到記錄點的長度。 總零長：電纜零長總零長：電纜零長+ +儀器零長儀器零長- -記號高記號高( (磁性記號到補心的高度）磁性記號到補心的高度）流溫流溫曲線曲線磁定位磁定位 曲線曲線同位素同位素 曲線曲線通知單通知單施工記錄施工記錄施工設計施工設計1 1、原始資料、原始資料自然伽自然伽瑪曲線瑪曲線 現場操作員在學會儀器操作后，重要的是在了解井的基礎信息和井下管柱現場操作員在學會儀器操作后，重要的是在了解井的基礎信息和井下管柱結構的前提下，能根據實際施工地區井的不同注水壓力

16、、注水量等，合理選擇結構的前提下，能根據實際施工地區井的不同注水壓力、注水量等，合理選擇同位素釋放的深度及同位素測試的時間。同位素釋放的深度及同位素測試的時間。 根據現場施工經驗根據現場施工經驗,131Ba - G TP 微球示蹤劑在進入地層之前微球示蹤劑在進入地層之前, 應在井筒內形成比較應在井筒內形成比較均勻的懸浮液體均勻的懸浮液體, 這一過程一般需要這一過程一般需要 610 min 才能完成。根據這個規律才能完成。根據這個規律, 對不同注水量對不同注水量的井進行分析的井進行分析, 得出如下經驗。得出如下經驗。對于注水量不大于對于注水量不大于 72 m3/ d 的注水井的注水井, 釋放深度

17、應在注水層上部釋放深度應在注水層上部 100200 m 處。處。對于注水量大于對于注水量大于 72 m3/ d, 小于小于 140 m3/ d 的注水井的注水井, 釋放深度應在注水層上部釋放深度應在注水層上部 200400 m 處。處。對于注水量大于對于注水量大于 140 m3/ d, 小于小于 200 m3/ d 的注水井的注水井, 釋放深度應在注水層上部釋放深度應在注水層上部 400500 m 處。處。 同位素曲線一般測試同位素曲線一般測試2條，每條間隔時間根據井況不同而定（射孔井段的厚條，每條間隔時間根據井況不同而定（射孔井段的厚度、釋放深度、注入量等）度、釋放深度、注入量等） 驗收包括

18、驗收包括5 5大部分：大部分：圖頭填寫、測井深度及速度、原始圖面要求、數字記錄圖頭填寫、測井深度及速度、原始圖面要求、數字記錄 、單項測井原始、單項測井原始資料質量要求資料質量要求 1 1、放射性同位素示蹤注水剖面測井：、放射性同位素示蹤注水剖面測井：1 1 ） 放射性同位素示蹤劑釋放前應測量自然伽馬曲線作為基準曲線。放射性同位素示蹤劑釋放前應測量自然伽馬曲線作為基準曲線。2 2 ） 自然伽馬基線的測量井段是井底遇阻處至最上一個注水層頂界以上自然伽馬基線的測量井段是井底遇阻處至最上一個注水層頂界以上50m50m。同位素示蹤曲線測。同位素示蹤曲線測量井段為井底遇阻處至最上一個吸水層（或漏失部位）

19、頂界以上量井段為井底遇阻處至最上一個吸水層（或漏失部位）頂界以上50m50m。3 3 ） 自然伽馬基線和示蹤測井必須與磁性定位同時測量。磁性定位曲線的質量符合相關規定。自然伽馬基線和示蹤測井必須與磁性定位同時測量。磁性定位曲線的質量符合相關規定。4 4） 自然伽馬基線與示蹤曲線應采用統一的橫向比例。自然伽馬基線與示蹤曲線應采用統一的橫向比例。5 5） 自然伽馬基線數值應符合本地區規律。重復曲線應大于自然伽馬基線數值應符合本地區規律。重復曲線應大于50m50m，選擇大于，選擇大于3m3m的目的層計算重復的目的層計算重復誤差，其相對誤差為誤差，其相對誤差為10%10%。統計起伏曲線應在儀器停止運動

20、的狀態下在泥巖層進行記錄，記。統計起伏曲線應在儀器停止運動的狀態下在泥巖層進行記錄，記錄時間不少于錄時間不少于2min2min。統計起伏誤差應在。統計起伏誤差應在10%10%以內。以內。6 6） 同位素示蹤曲線應在示蹤劑進入目的層段后及時進行測量，重復測量不少于兩次。示蹤曲線同位素示蹤曲線應在示蹤劑進入目的層段后及時進行測量，重復測量不少于兩次。示蹤曲線應分層明顯。應分層明顯。 資料驗收執行標準資料驗收執行標準 -Q/SY DG 1098-2010 生產測井原始資料質量要求生產測井原始資料質量要求7 7） 在未出現同位素漏失的情況下，最后兩條示蹤曲線形態應基本一致。在未出現同位素漏失的情況下，

21、最后兩條示蹤曲線形態應基本一致。8 8） 當目的層段沒有同位素顯示，且不存在井底和層上漏失現象時，必須測一條井當目的層段沒有同位素顯示，且不存在井底和層上漏失現象時，必須測一條井底至井口的示蹤曲線（測速為底至井口的示蹤曲線（測速為900m/h900m/h，深度比例為，深度比例為1:5001:500）發現非目的層段有同位）發現非目的層段有同位素異常，須按規定測速和深度比例進行記錄。素異常，須按規定測速和深度比例進行記錄。9 9） 在吸水層位、壓裂層位、竄槽部位，示蹤曲線應有較高的數值。在吸水層位、壓裂層位、竄槽部位，示蹤曲線應有較高的數值。2 2、磁性定位測井、磁性定位測井1 1） 磁性定位曲線

22、應連續記錄，磁性定位曲線應連續記錄， 接箍信號峰顯示清楚，接箍信號峰顯示清楚， 且不應出現畸形峰，干擾且不應出現畸形峰，干擾信號幅度小于接箍信號幅度的信號幅度小于接箍信號幅度的1/31/3。2 2） 目的層段不應缺失接箍信號，非目的層段不應連續缺失兩個以上接箍信號。目的層段不應缺失接箍信號，非目的層段不應連續缺失兩個以上接箍信號。3 3）檢查井下管柱、工具深度時，油管接箍、井下工具曲線特征應清晰可辨。）檢查井下管柱、工具深度時，油管接箍、井下工具曲線特征應清晰可辨。 3、放射性同位素資料解釋流程圖、放射性同位素資料解釋流程圖開開 始始深度較正深度較正曲線疊合處理曲線疊合處理讀數據文件讀數據文件

23、N繪制成果表、成果圖繪制成果表、成果圖計算各層吸水量、注入強度計算各層吸水量、注入強度是否合適是否合適計算注水層部位同位素異常面積計算注水層部位同位素異常面積污染校正污染校正污染校正污染校正NY結結 束束4、為什么要進行深度校正？、為什么要進行深度校正？1 12 2深度校正的方法？深度校正的方法？5 5、曲線選擇原則？、曲線選擇原則？存在沾污資料解釋流程框圖7、解釋成果圖、解釋成果圖=圖頭圖頭+成果曲線成果曲線+成果數據表成果數據表日注水量m3吸水強度m3/d.m吸水分級200153101521011002001035102511005251注：測井解釋成果表中分級說明測井解釋成果表測井解釋成

24、果表1）劃分注水井的注入剖面，揭示注水地層的非均質性）劃分注水井的注入剖面，揭示注水地層的非均質性 籠統注水條件下，放射性同位素示蹤測井資料，反映了某一壓力條件下，地層的自然籠統注水條件下，放射性同位素示蹤測井資料，反映了某一壓力條件下，地層的自然吸水狀況，顯示出各個吸水層段之間的層間矛盾，并揭示出各注水層段的內部矛盾，反映吸水狀況，顯示出各個吸水層段之間的層間矛盾，并揭示出各注水層段的內部矛盾，反映了地層在縱向上的非均質性。為采油廠調剖提供可靠依據并在調剖前后分別測井可檢查調了地層在縱向上的非均質性。為采油廠調剖提供可靠依據并在調剖前后分別測井可檢查調剖效果。剖效果。 竄 槽 段2）檢查水井

25、管外竄槽情況）檢查水井管外竄槽情況 由于固井質量差，或固井完井時的強烈震動，以及增產、增注工程施工等，造成套管由于固井質量差，或固井完井時的強烈震動，以及增產、增注工程施工等，造成套管外水泥環的破裂，使儲層間相互竄通，即形成竄槽。油水井管外竄槽的存在，對油田分層外水泥環的破裂，使儲層間相互竄通，即形成竄槽。油水井管外竄槽的存在，對油田分層注、采開發管理極為不利。因此，凡是懷疑油水井存在管外竄槽的井段，都應及時檢查、注、采開發管理極為不利。因此，凡是懷疑油水井存在管外竄槽的井段，都應及時檢查、驗證竄槽井段（簡稱驗竄）。示蹤注水剖面測井就是一種行之有效的方法。驗證竄槽井段（簡稱驗竄）。示蹤注水剖面

26、測井就是一種行之有效的方法。同位素曲線流溫曲線 3）檢查套管或油管漏失部位）檢查套管或油管漏失部位 由于長期受腐蝕或作業中機械損失等因素影響，部分水井會出現由于長期受腐蝕或作業中機械損失等因素影響，部分水井會出現套管漏失現象，使大量注入水外流，不僅造成無效注水，而且有的會套管漏失現象，使大量注入水外流，不僅造成無效注水，而且有的會造成環境污染。因此要及時尋找、發現漏失部位，采取相應補漏、修造成環境污染。因此要及時尋找、發現漏失部位，采取相應補漏、修井措施，確保油田開發生產正常進行。井措施，確保油田開發生產正常進行。 4）檢查油層封堵效果）檢查油層封堵效果 當發生管外竄槽、套管破裂漏失或誤射孔時

27、，需注水泥及時封堵。當發生管外竄槽、套管破裂漏失或誤射孔時，需注水泥及時封堵。施工時，如果在水泥中混入少量放射性同位素做示蹤劑（活化水泥），施工時，如果在水泥中混入少量放射性同位素做示蹤劑（活化水泥），那么，由封堵前后的伽馬測井資料，進行疊合分析，就可以確定活化那么，由封堵前后的伽馬測井資料，進行疊合分析，就可以確定活化水泥是否擠入了需要封堵部位，評價封堵效果。水泥是否擠入了需要封堵部位，評價封堵效果。5）檢查井下管柱技術狀況）檢查井下管柱技術狀況 井下工具在井下是否符合設計深度要求，工作狀態是否良好，是能否達到分層井下工具在井下是否符合設計深度要求，工作狀態是否良好，是能否達到分層配注目的的

28、關鍵所在。利用同位素示蹤測井曲線及磁定位曲線，不僅可以認識井下分配注目的的關鍵所在。利用同位素示蹤測井曲線及磁定位曲線，不僅可以認識井下分層配注狀況，還可以檢查井下管柱結構、井下配注工具的工作狀況、射孔位置、初步層配注狀況，還可以檢查井下管柱結構、井下配注工具的工作狀況、射孔位置、初步判斷套管腐蝕情況等。判斷套管腐蝕情況等。射孔位置偏心配水器封隔器同位素沾污同位素沾污測井施工方式測井施工方式 注水井井況注水井井況1 1同位素釋放深度同位素釋放深度及釋放時間及釋放時間2 2同位素分配時間同位素分配時間的影響的影響 1 1、伽馬本底高、伽馬本底高2 2管柱腐蝕、井況惡化管柱腐蝕、井況惡化3 3管柱

29、結構不合理管柱結構不合理 1 1同位素污染影響因素同位素污染影響因素(1) (1) 管柱的清潔、腐蝕程度管柱的清潔、腐蝕程度 (2) (2) 地層污染地層污染 (3) (3) 同位素微球類型選擇不當同位素微球類型選擇不當 (4) (4) 同位素用量過大同位素用量過大 2 2同位素微球比重的影響同位素微球比重的影響 例例1:1:在現場測試中，所測兩條同位素曲線常出現不符合標準中在現場測試中，所測兩條同位素曲線常出現不符合標準中“最后兩條示蹤曲線形態應基最后兩條示蹤曲線形態應基本一致本一致”這一條的規定。造成曲線形態不一致的主要原因：這一條的規定。造成曲線形態不一致的主要原因： 1. 1. 測量時

30、間短測量時間短 2. 2. 同位素釋放深度選擇不當同位素釋放深度選擇不當 3. 3. 同位素用量選擇不當同位素用量選擇不當第一條同位素曲線第二條同位素曲線例例2:2:同位素沉淀的影響：同位素沉淀的影響： 分析：分析：1.1.通過流溫曲線判斷通過流溫曲線判斷: :流溫曲線在流溫曲線在1090.81090.8米處出現大拐點米處出現大拐點, , 另另外外11261126米流溫讀值：米流溫讀值：55 55 該處靜溫：該處靜溫：0.0384x1126+12=55.240.0384x1126+12=55.24已接近地溫已接近地溫. .2.2.由測試曲線深度判斷由測試曲線深度判斷: :GRGR曲線在曲線在11281128米遇阻米遇阻同位素曲線在同位素曲線在1128-11321128-1132米有異常米有異常幅度幅度, ,正好對應正好對應1010號層號層, ,但為沉但為沉淀沾污淀沾污. .漲落現象漲落現象第三條第三條同位素同位素第一條第一條同位素同位素第二條第二條同位素同位素例例3 3：高滲透層的存在：高滲透層的存在例例4 4、曲線形態的改變、曲線形態的改變 測井速度測井速度v v和記錄儀中電路的積分時間常數和記錄儀中電路的積分時間常數的影響的影響 v v越大，曲