1、刖百根據(jù)中華人民共和國職業(yè)病防治法制定本標準，原標準GB16363-1996與本標準不一致的，以本標準為準。本標準保留了原標準GB16363-1996中實際可行的部分內(nèi)容，即屏蔽性能要求。與此同時，本標準參照采用國際電工委員會標準IEC1331-1:1994醫(yī)用診斷X射線防護器具第1部分：防護材料衰減性能的測定，依據(jù)該標準增加了寬束測量條件。本標準由中華人民共和國衛(wèi)生部提出并歸口。本標準起草單位：中國疾病預(yù)防控制中心輻射防護與核安全醫(yī)學所。本標準主要起草人：林志凱、趙蘭才、崔廠志、金輝、葛淑清。本標準由中華人民共和國衛(wèi)生部負責解釋。X射線防護材料衰減性能的測定Determinationofat

2、tenuationpropertiesforprotectivematerialsagainstX-raysGBZ/T147-20021范圍本標準推薦了對X射線防護材料衰減性能的測量方法。本標準適用于X射線管電壓為（30400）kV、總過濾為（0.053.5）mmCu的X射線防護材料。2術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本標準。2.1 衰減比attenuationratio核輻射在經(jīng)防護材料衰減前后的空氣比釋動能率之比值02.2 鉛當量leadequivalent用鉛作為參考物質(zhì)時以鉛的厚度來表示的衰減當量，單位是毫米鉛（mmPb）每單位厚度（mm）B護材料板的鉛當量稱為比鉛當量，比鉛當量應(yīng)該是衰

3、減性能、物理性能和使用性能的最佳結(jié)合。2.3 寬射束broadbeam輻射量測量中的一種輻射束條件。當輻射束立體角增大時，所測量的輻射量并無明顯增加，但存在散射影響。2.4 窄射束narrowbeam為了測量理想的輻射量而用立體角盡可能小的輻射束，在此條件下散射輻射的影響趨于最小值，并在必要時保證側(cè)向電子平衡。3測定項目與一般要求3.1 衰減比所測防護材料應(yīng)標明衰減比，即核輻射經(jīng)防護材料衰減后減弱的倍數(shù)。3.2 累積因子（符號:B）所測防護材料應(yīng)標明累積因子B,即被測物質(zhì)在所規(guī)定的輻照條件下，寬射束中心的相應(yīng)輻射量值與窄射束中心的相應(yīng)輻射量值之比。3.3 衰減當量（符號:6）所測防護材料應(yīng)標明

4、在規(guī)定線質(zhì)的線束中和規(guī)定的測量條件下，與參考物質(zhì)具有相同衰減程度時被測防護材料所相當?shù)膮⒖嘉镔|(zhì)的厚度（mm）。3.4 鉛當量出廠的X射線防護材料應(yīng)該標明其標稱鉛當量和非均勻性，并用X射線管電壓和總過濾表示線質(zhì)。3.5 非均勻性防護材料衰減當量的非均勻性應(yīng)不超過±10%4量的測量本章主要規(guī)定了在測定防護材料衰減性能時，應(yīng)根據(jù)寬束測量條件和窄束測量條件測量相關(guān)輻射量、幾何量，同時對輻射探測器的位置、檢驗儀器、檢驗物、線質(zhì)均提出了要求。根據(jù)所測相關(guān)輻射量給出防護材料的衰減性能。4.1 輻射量在測定衰減性能時，應(yīng)按照表1中的要求測定空氣比釋動能率。表1應(yīng)測定的空氣比釋動能率衰減 性能符號空氣

5、比釋動能率條文回回回a0衰減 比 累積 因子FB測測測測測測測測5.15.2衰減業(yè)同 T里鉛當量非均勻性_66 pbV測測測5.35.45.5的5%按照第43條在經(jīng)過衰減的寬射束中測量的空氣比釋動能率，回是按照第43條在本經(jīng)過衰減的寬射束中測量的空氣比釋動能率,IJ是按照第44條在經(jīng)過衰減的窄射柬中測量的空氣比釋動能率，口是根據(jù)圖1測定的輻射源與檢驗物之間寬射柬中心處的空氣比釋動能率，二I是如圖1所示的經(jīng)限束系統(tǒng)后，同c點離輻射源相同距離處測定的寬射束外的空氣比釋動能率，j是如圖i所示的初始寬射束投影內(nèi)、由光闌限制的輻射束外的空氣比釋動能率，口是同點離輻射源相同距離處測定的經(jīng)衰減的寬射束空氣比

6、釋動能率。4.2 幾何量應(yīng)該按照表2中的要求測定示出的幾何量。4.3 寬射束條件下的測量4.3.1 在寬射束條件下，應(yīng)該按照圖1的要求進行測量。4.3.2 在測量期間，空氣比釋動能率一應(yīng)不大于空氣比釋動能率即<0.05X4.3.3 在測量期間，空氣比釋動能率II應(yīng)不大于空氣比釋動能率II的1%表2應(yīng)測定的幾何量符號cabAWF測P測B測測測測測測V輻射源的距離（見圖2）偏差的修正因子。按照下式測定c:射束中心從檢驗物的遠側(cè)平面到輻射探測器參考點的距離。a應(yīng)不小于截面A平方根的10倍;射束中心從檢驗物的遠側(cè)平面到輻射探測器參考點的距離，驗物遠側(cè)平面處窄射束的截面，參考點與任何相鄰物或墻壁之

7、間的距離（見圖1和圖2）。圖1寬射束測量條件示意圖（單位:mm）4.4 窄束條件下的測量4.4.1 在窄射束條件下，應(yīng)該按照圖2的要求進行測量。4.4.2 在檢驗物的遠側(cè)，輻射束的直徑應(yīng)該為20mmi1mm4.4.3 根據(jù)第6.5.1條測定均勻度時，在檢驗物遠側(cè)應(yīng)該將窄射束限制到直徑不大于10mm4.5 輻射探測器的位置距離W應(yīng)不小于700mm4.5.1 測定衰減比時，應(yīng)測量有和沒有檢驗物條件下的空氣比釋動能率回和3L從檢驗物遠側(cè)平面到輻射探測器參考點的距離b應(yīng)為50mn±1mm（1圖1）。4.5.2 在空氣比釋動能率II的測量中，對于累積因子的測量，從檢驗物的遠側(cè)到輻射探測器參考點

8、的距離應(yīng)不小于截面A平方根的10倍。4.6 檢驗儀器4.6.1 檢驗儀器的輻射探測器，在半球面上對射線入射方向的響應(yīng)依賴性很小，應(yīng)忽略不計。4.6.2 輻射探測器測量管電壓為40kV-400kV的X射線時，探測器對射線能量的響應(yīng)依賴性必須不超過±20%4.6.3 輻射探測器靈敏體積的直徑和長度均應(yīng)不超過50mm圖2窄射束測量條件示意圖（單位:mm）4.6.4 X射線高壓發(fā)生裝置應(yīng)滿足實驗管電壓的要求，其實驗管電壓的實際值不得低于規(guī)定實驗管電壓的90%4.6.5 標準鉛片的化學純度應(yīng)為99.99%,厚度精度為土0.01mm4.6.6 過濾條件用于管電壓在120kV（包括120kV）以下

9、的X射線防護材料，其實驗管電壓為80120kV,總過濾為2.5mmAl用于管電壓在120kV以上的X射線防護材料，按最常用的管電壓進行，其總過濾按表3的規(guī)定。表3標準化線質(zhì)X線管電壓kV*總過濾mmCu300.05500.05800.151000.25*1200.25*1500.72001.22501.83002.54003.5*百分波紋率不超過4%;*可用2.5mmAl代替4.7 檢驗物4.7.1 在寬射束測量條件下，檢驗物必須是受檢材料板，其尺寸至少為500mrK500mm4.7.2 在窄射束測量條件下，檢驗物必須是受檢材料板，其尺寸至少為100mrK100mm4.7.3 用于測定衰減率時

10、，各種厚度的檢驗物可以通過幾層相同厚度或不同厚度的材料疊加而獲得。4.8 線質(zhì)應(yīng)該根據(jù)表3中給出的一種或多種線質(zhì)來測定衰減性能。5衰減性能的測定在所有測量期間，必須監(jiān)測輻射束空氣比釋動能率的恒定性。如果空氣比釋動能率的漲落超過平均值的5%則必須對測量結(jié)果進行修正。5.1 衰減比5.1.1 必須按照下述公式測定衰減比F:5.1.2 應(yīng)該用數(shù)值表示衰減比，并用X射線管電壓和總過濾表示線質(zhì)（見第6章）。5.2 累積因子5.2.1 應(yīng)該按照下述公式測定累積因子B式中，c是對測量點Ke離輻射源的距離偏差的修正因子。5.2.2 累積因子應(yīng)該用其數(shù)值表示，并用X射線管電壓和總過濾表示線質(zhì)（見第6章）。5.3

11、 衰減當量5.3.1 通過對受檢材料的測量，并同產(chǎn)生同樣比值的一層參考材料的厚度相比較來測定衰減當量。5.3.2 必須以參考材料的厚度（mm/示衰減當量，同時一并給出化學符號或其它參考材料的標識，并用X射線管電壓和總過濾表示線質(zhì)（見第6章）。5.4 鉛當量5.4.1 當參考材料為鉛時，測量得到的衰減當量就是鉛當量。5.5 非均勻性5.5.1 應(yīng)該在第4.4.3和4.6.3條以及相應(yīng)衰減值6i條件下，由檢驗物區(qū)域上獲得的測量值一來測定防護材料的非均勻性。5.5.2 應(yīng)測定下列條件下的i值：a）在5到10個有代表性的部位測量;b）在整個檢驗物區(qū)域有代表性的方向上連續(xù)測量。5.5.3 應(yīng)該按照衰減當量單次測量值6i偏離其平均值6的最大偏差，來表示防護材料的非均勻性：5.5.4 應(yīng)該用相同的單位與衰減當量來標明非均勻性的允許偏差,例如：（見第6章）3mt0.2mmPb100kV0.25mmCu6測定結(jié)果的說明6.1 如果按本標準測定的衰減性能符合標準，則應(yīng)在檢驗文件上予以說明，例如衰減比2X