1、AMSERT:PW-51 （第卷）A-250 （第卷）1 焦距：射線照相的幾何不清晰度由下式決定：Ug=Fd/D Ug-幾何不清晰度 F-射線源尺寸. 英寸(mm) D-射線源到被透照工件的距離. 英寸(mm) d-被透照工件的射線源一側至膠片的距離. 英寸(mm)厚度英寸(mm)Ugmax英寸(mm)< 2(50)0.020(0.51)>2-3(50-75)0.030(0.76)>3-4(75-100)0.040(1.02)> 4(100)0.070(1.78)2.透照技術2.1單壁單像透照：殼體焊縫、平板焊縫和具備單壁透照條件的焊縫均應采用單壁透照。2.2 雙壁透照

2、2.2.1雙壁單像透照：接管、集箱和3.5英寸(89mm)的管子焊縫采用雙壁透照單壁成像方式。當對環焊縫要求全部覆蓋時，至少應互成120°作三次曝光。2.2.2 3.5英寸(89mm)的接管或管子焊縫可采用雙壁透照雙壁焊縫同時成像觀察的方式。3.像質計A 組B 組C 組D 組線徑in. (mm)線號線徑 in. (mm)線號線徑in. (mm)線號線徑in. (mm)線號0.0032 (0.08)10.010 (0.25)60.032 (0.81)110.100 (2.54)160.0040 (0.10)20.013 (0.33)70.040 (1.02)120.126 (3.20)

3、170.0050 (0.13)30.016 (0.41)80.050 (1.27)130.160 (4.06)180.0063 (0.16)40.020 (0.51)90.063 (1.60)140.200 (5.08)190.0080 (0.20)50.025 (0.64)100.080 (2.03)150.250 (6.35)200.0100 (0.25)60.032 (0.81)110.100 (2.54)160.320 (8.13)21單壁材料的標稱厚度范圍in.(mm)像質計射線源一側底片一側孔型像質計指示器線號線型像質計指示器線號孔型像質計指示器線號線型像質計指示器線號0.25(6

4、.4)1251040.25(6.4) 0.375(9.5)1561250.375(9.5) 0.50(12.7)1771560.50(12.7) 0.75(19.0)2081770.75(19.0) 1.00(25.4)2592081.00(25.4) 1.50(38.1)30102591.50(38.1) 2.00(50.8)351130102.00(50.8) 2.50(63.5)401235112.50(63.5) 4.00(101.6)501340124.00(101.6) 6.00(152.4)601450136.00(152.4) 8.00(203.2)801660148.00(2

5、03.2) 10.00(254)10017801610.00(254) 12.00(304.8)120181001712.00(304.8) 16.00(406.4)160201201816.00(406.4) 20.00(508.0)20021160204黑度射線源增感屏觀察方法黑度線鉛箔單片雙片最小為1.8每張最小為1.3最大為4.0復合觀片最大為4.0線鉛箔單片雙片最小為2.0每張最小為1.3最大為4.0復合觀片最大為4.0(a) 如果射線照相上被檢區任何部位的黑度變化超過孔型像質計本體處或線型像質計編號附近的黑度-15%或+30%以上，但仍處于上表規定的最小和最大容許黑度范圍內，則對每

6、個超過的區域應加一個像質計并重新拍片。(b) 當采用墊片時，只要能顯示出所要求的像質計靈敏度，而且不超過(a)所規定的黑度范圍，則允許超過上表中規定的+30%黑度限制上限。5.驗收標準：1.1 射線照相的焊縫部分顯示出下列類型缺陷應判為不合格；1.1.1 任何顯示特征如裂紋或未熔合或未焊透；1.1.2 任何條狀夾渣長度大于；(a) t<3/4英寸(19mm)時，為1/4英寸(6mm) (b) t>3/4英寸(19mm)2.25英寸(57mm)時，為1/3t (c) t>2.25英寸(57mm)時，為3/4英寸(19mm) t為不包括允許的焊縫的加強層厚度，對有不同厚度的對接焊

7、接頭，t為二者厚度較薄者。如果一全焊透焊縫包括角焊縫，則該角焊縫的腰高應計入t內。1.1.3 任何一直線上的夾渣群，在12t的長度內夾渣的總長度大于t者；但相連二者缺陷間的間距超過6L者除外，此處L為該一群內最長缺陷的長度。1.1.4 圓形顯示超過ASME規范第卷附錄A-250中的驗收標準所規定者。1.1.5 當底片上顯示出有突變的根部內凹。UT 鋼板SA-435/SA-435M-90 鋼板超聲直射波檢驗（第卷、第卷鐵基部分）：適用于厚度大于和等于1/2英寸(12.5mm)的板材1.探頭1.1檢驗采用的標稱頻率范圍為2.0MHz-5MHz。1.2 探頭的標稱直徑為1英寸1-1/8英寸(2530

8、mm)或最小有效面積為0.7in2 (450mm2)1.3 可采用其它尺寸的探頭來評定和精確地測定缺陷信號。2.儀器的靈敏度對縱波探傷，儀器靈敏度調節第1次底波至熒光屏高度的75%左右。掃查應沿垂直或平行主平面軸進行，以不超過3英寸(75mm)的間距對整塊鋼板作100%掃查。在掃查表面上板的邊緣2in（50mm）內應附加掃查。3. 驗收標準任何能引起底面反射信號全部消失的缺陷信號，而其范圍又不能被直徑為3英寸(75mm)或板厚之半（取其中的較大值）所圍成的圓所覆蓋均為不合格。4. 記錄 4.1 記錄所有引起底面反射完全消失的缺陷。4.2 記錄底面反射降低50%以上但小于100%的分層性缺陷。4

9、.3 記錄引起游動信號并伴隨有底波反射降低的缺陷。4.4 在鋼板草圖上標出所有應記錄的信號位置。4.5 按本規程驗收的鋼板應用硬印或印刷方法加注UT435識別標記。5. 所有報告應提交授權檢驗師（AI）復審和認可。另：SA20 壓力容器用鋼板通用要求（第卷鐵基部分）其中S8 SA-435SA578 特殊用途普通鋼板與復合鋼板超聲直射波檢驗 (第卷、第卷鐵基部分)SA577 鋼板斜射波檢驗（4730中規定鋼板在驗收時存在問題或由技術協議規定的情況下，才采用斜射波檢驗）UT鍛件SA-388 大型鋼鍛件超聲檢測（第卷、第卷鐵基部分）SA-788 鍛件通用要求（內含S18 MT、S19 PT、S20

10、UT）（第卷鐵基部分）SA-745 奧氏體鋼鍛件超聲檢驗（第卷、第卷鐵基部分）（4730中規定筒形和環形鍛件應增加橫波檢測）1. 探頭1.1 換能器頻率為15MHz。1.2 對直射波掃查應使用3/4英寸(20mm)到1英寸(25mm)的換能器，對斜射波掃查換能器可應用5/16英寸×11/32英寸(8×9mm2)3/4英寸×7/8英寸(20×22mm2)的換能器， 2. 參考試塊 當用直射波接觸法檢驗時，用一個包含平底孔的試塊來校準設備和確定記錄水平。3.工件要求凡圓形鍛件，應機械加工出圓柱形的表面，以便作徑向檢驗。鍛件端面應加工成與鍛件軸線垂直，以便進行

11、軸向檢驗。圓盤形鍛件和矩形鍛件表面應加工平直，而且要相互平行。4. 掃查方向4.1 直射波檢驗4.1.1為了保證整個鍛件體積均能被檢驗到，要求探頭每次移動至少要有15%重疊。【19】4.1.2用直射波掃查圓形鍛件，應至少從一個平面和從圓周上的徑向進行。4.1.3用直射波技術掃查實心鍛件，應近似互成直角方向進行。4.2 斜射波檢驗4.2.1 環形鍛件及其它空心鍛件應在兩個（正反）環向用斜角技術檢驗。除非壁厚或幾何結構使斜角檢驗不能進行。4.2.2 此外，對以上10.1節和10.2.1節，細晶粒熔煉環形鍛件且用于容器筒體，也應在兩個軸向用斜角技術檢驗。4.2.3 對不能用直射波作軸向檢驗的鍛件，要

12、采用斜射波探頭從兩個軸向進行檢驗。5. 校準5.1直射波檢驗5.1.1底面反射技術 將衰減器調到適當的水平，例如5:1或14dB，調整儀器控制，使其從鍛件底面得到的底面反射信號大致為滿幅度的75%。將衰減器調到最大的放大率（衰減器調到1:1）掃查鍛件。評定缺陷時應將增益控制調到參考水平，當截面厚度或直徑有明顯變化時，需要重新校準靈敏度。5.1.2參考試塊的校準 參考試塊的表面粗糙度應大致與被檢驗物體相當，但不能優于被檢驗物體，調節儀器，使其從規定的參考試塊平底孔上得到所要求的信號幅度。對于曲面檢查，當規定用平面參考試塊校準時，應調整從參考試塊得到的信號幅度以做出補償。5.2 斜射波檢驗 校準斜

13、射波檢驗的儀器，使其能從內壁表面，并沿鍛件軸線方向和平行于軸線的矩形或60°形切槽得到的約為75%滿幅度的信號幅度。內壁切槽深度應為標稱厚度的3%或1/4英寸(6mm)，選用其中較小值，其長度約為1英寸(25mm)，而寬度不大于深度的2倍。6. 驗收標準由用戶和制造廠雙方協議確定驗收的質量等級或鍛件按如下情況為不合格：6.1.如果直射波檢查結果表明有一個或多個缺陷，這些缺陷產生伴隨有底反射完全消失的顯示，而不是由于或歸因于幾何形狀。6.2如果斜射波法檢驗結果表明有一個或多個缺陷，它們產生的顯示，其幅度超過標準刻槽產生的顯示幅度。7. 記錄（參考SA-388）7.1 直射波檢驗7.1.

14、1 在底面反射波中，幅度等于或超過相鄰無缺陷信號區域底面反射波高的10%的一些單個信號；在參考試塊法中等于或超過100%參考幅度的一些信號。7.1.2 凡同一平面上連續出現一個信號，不論其幅度大小如何，其出現的面積比探頭的直徑大一倍，這個信號的范圍，就準確地沿著反射幅度的變化，而加以測定。7.1.2.1 同一平面的信號，如果連續出現的范圍的長軸大于1英寸(25mm)，則應認為是該平面上的連續信號，在記錄這些信號時，必須對波束在所估記的缺陷深度處的擴散做出校正。7.1.3 在底波法中等于或超過底波5%的缺陷信號。在參考試塊法中，等于或超過基準波高50%的信號，這些信號是連續游動或是密集出現的。7

15、.3.3.1 此處游動信號的定義為：當探頭在鍛件表面移動時，信號前沿在掃描線上移動的距離相當于1in(25mm)或更大的金屬深度。7.3.1.2 密集信號的定義為鍛件2in(50mm)或更小的立方體內有5個或更多的信號。7.1.4 底面反射的降低超過原來測定值的20%時，按10%的增量作記錄。7.1.5 應予記錄的信號幅度，按10%的增量作記錄。7.2 斜射波檢驗 記錄等于或大于50%參考線的缺陷信號，當不能作出幅度參考線時，記錄等于或大于50%的參考切槽信號的缺陷信號。8. 報告15.2所有報告應提交授權檢驗師復審和認可。UT焊縫ASME.SEC.I PW-52（第卷）1.探頭1.1 探頭的

16、頻率應為1MHz5MHz。1.2 對于直射波掃查探頭應采用2/5英寸1英寸(10mm25mm)直徑，對斜射波探頭應采用從5/16英寸×11/32英寸(8×9平方毫米)3/4英寸×7/8英寸(20×22平方毫米)的探頭，具體型號見表3或采用同等探頭2.校驗試塊 2.1 對壓力容器基準校準試塊應按ASME第卷第4章圖T-434.2.1。2.2 對于檢驗表面直徑大于20英寸(500mm)材料的檢驗，應采用基本上有相同曲率的校準試塊或可改用平面的基準校準試塊。2.3 對于直徑等于或小于20英寸(500mm)的材料，基準校準試塊應是曲面的。一個曲面基準校準試塊可以

17、用來校準曲率范圍為0.91.5倍基準校準試塊的表面檢驗。2.4.1 對全焊透焊縫的基準反射體（不包括管子焊縫）焊縫厚度 (t)in.(mm)孔徑 ()in.(mm)1in.or less(25)3/32in.(2.5)>1in2in(2550)1/8in.(3)>2in4in(>50100)3/16in.(5)>4in注1 注(1)：對大于4in（100mm）厚度的焊縫，焊縫厚度每增加2in（50mm），孔徑應增1/16in(1.5mm)。2.4.2 用于鐵素體鋼管的基準反射體，校準試塊結構和反射體應按圖T-434.3，校準試塊應為具有相同標稱尺寸和制造工藝管子的一部分

18、，試塊的大小和各種反射體的位置應足以對所用到的波束角度做出校準。 切槽尺寸：長（L）：至少1in(25mm)，深度D = 最小8%T最大11%T，寬度=最大1/4 in.(6mm)，T管子厚度。2.4.3 倘若替代反射體產生的靈敏度等于或大于規定的反射體（即側占橫孔代替槽，平底孔代替側占橫孔）則可用替代反射體。3. 檢驗的覆蓋與掃查速度 探頭每次掃查至少應重疊換能器在垂直掃查方向尺寸的10%。 掃查速度不應超過6英寸(150mm)/秒。4. 記錄 4.1 對平面反射體斜角檢驗數據的記錄可參考ASME 第V卷 第4章附錄H。4.2 記錄產生大于等于20%DAC曲線相應的參考反射體，參考反射體的長

19、度應按20%DAC測量。5. 驗收標準 產生大于參考基準信號20%的缺陷均應進行研究，直至操作者能夠確定這些缺陷的形狀性質和位置，并按如下(a)和(b)中給出的驗收標準予以評定。5.1被評為裂紋、未熔合或未焊透的顯示不論其長度如何，均為不合格。5.2如果顯示超過參考基準幅度且長度超過下列長度的缺陷為不合格。 (1) 對t3/4in.(19mm)時，為1/4in.(6mm) (2) 對3/4in.(19mm)t9/4in.(57mm)時，為1/3t(3) 對t>9/4in.(57mm)時，為3/4英寸(19mm)。此處t是不包括許可的余高的焊縫厚度，對兩邊具有不同厚度的對接焊縫，t取兩種厚

20、度的較薄者，如果一個全焊縫包括一個填角焊縫，則填角的腰高應包括在t中。6.所有報告須提交授權檢驗師復審和認可。MTASME.SEC.1 A260.4（第卷）1. 觸頭法技術1.1 為避免閃弧，在觸頭處于適當位置后，接通磁化電流。1.2 對截面厚度3/4英寸(19mm)時，磁化電流為100-125A/英寸(45A/mm)觸頭間距。對截面厚度3/4英寸(19mm)時，磁化電流為90-110A/英寸(3.64.4A/mm)觸頭間距。1.3 觸頭間距應不超過8英寸(200mm)，但不應小于3英寸(75mm)。1.4 觸頭間距每次至少應有1英寸(25mm)的重疊。2. 縱向磁化技術 【1】2.1 縱向磁

21、化是使電流通過圍繞工件截面的多匝線圈所產生，所產生的磁場平行于線圈的軸線。測量單位為安匝。固定式線圈的內徑大大超過工件尺寸(<10%的線圈內徑)，工件放置在靠近線圈的內壁。2.2 磁場強度 所要求的磁場強度是以零件長度(L)和直徑(D)為基礎。按如下(a)，(b)或(c)的規定進行計算。長零件應以每段不超過18英寸(450mm)進行驗證，并在計算所需磁場強度時，L以18英寸(450mm)計。對非圓柱形零件，D取最大橫截面對角線。(a) L/D4的零件 磁化電流應按下述確定的安匝數±10%： 安匝數=35000/(L/D+2)(b) 2L/D4磁化安匝數應按下述確定的安匝數

22、77;10%以內： 安匝數=45000/(L/D)(c) 如果磁化區延伸到線圈兩側6英寸(150mm)以外，適當的磁場強度應用磁場指示器來確定。(d) 由于幾何尺寸和形狀的原因，對大型工件，磁化電流應為1200安匝到4500安匝。適當的磁場強度應用磁場指示器來驗證。3. 周向磁化技術 3.1 直接接觸技術 應采用直流電或整流電（半波整流電或全波整流電）磁化電流所需電流應由如下決定3.1.1電流應為300安培/英寸（12A/mm）至800安培/英寸（31A/mm）乘以外徑。3.1.2 對其它非圓形幾何形狀的工件，上述計算中所采用的毫米數由垂直于電流的截面最大對角線長度來確定。3.1.3 如果不能

23、獲得以上所要求的電流值，則采用可達到最大電流和應用磁場指示器來確定合適的磁場，對非圓柱形零件，應使用磁場指示器來確定合適的磁場。3.2 中心導體感應磁化 對單匝中心導體，所要求的磁場強度應等于按12.1所決定的值，磁場大小應與穿過空心零件的中心導電電纜根數成正比。當采用中心導體法時，應采用磁場指示器來校驗磁場的合適性。4. 磁軛 磁軛的磁化力可以試驗對一塊鋼板的提升力來測定，在使用的最大極間距時。交流電磁軛應具有至少10lb(4.5kg)，直流磁軛或永久磁軛至少應具有40lb(18kg)。5. 靈敏度粗略核查 餅形磁場指示器或人工缺陷試片（如ASME規范第V卷圖T-764.1.1和圖T-764

24、.1.2所示），可以用作核查工件磁化是否合適及磁化方向的一種方便粗略的工具。在磁粉和磁化力同時施加的情況下當磁粉橫跨指示器銅質表面或試片表面形成清晰的線條時，表明有適當的磁通或磁場強度。6. 解釋6.1 在可見光下完成磁粉檢測。6.2 最低光強為1000Lx以保證在顯示的檢測和評定中具有足夠的靈敏度。光源、光照技術和光強水平的確定，必須進行證明并形成文件和存檔。7. 驗收標準 7.1 用于ASME規范第I卷、第卷第1分冊所有被檢表面應沒有下列顯示：(a) 相關線狀顯示；(b) 大于3/16英寸(5mm)圓形相關顯示；(c) 大于或等于1/16英寸(1.5mm)間隔，分布在一直線上有4個以上的圓

25、形相關顯示；7.2 用于ASME規范第卷第2分冊：(a) 所有待檢驗表面應沒有下列顯示：1) 相關線性顯示；2) 相關圓形顯示大于5mm（3/16英寸）的顯示；3) 一線狀排列、邊至邊、間隔小于等于1.5mm（1/16英寸），有4個或4個以上相關圓形顯示；(b) 形狀類似的裂紋顯示，而與表面狀態無關的顯示是不合格的。7.3 用于ANSI/ASME B31.1 長軸尺寸大于1/16英寸(1.5mm)的顯示應認為是相關顯示，下列相關顯示作為不合格：(a) 任何裂紋或線狀顯示；(b) 大于3/16英寸(5mm)圓形顯示；(c) 4個或4個以上的圓形顯示呈直線分布，其邊緣相隔間距小于或等于1/16英寸

26、(1.5mm)。(d) 在任意6平方英寸(4000mm2)面積，在評定缺陷最不利部位處，其長度不超過6英寸(150mm)范圍內有10個或10個以上的圓形顯示。PTASME.SEC.I A270.4 （第卷）用于金屬材料表面開口缺陷如裂紋、發紋、摺迭、冷隔、分層、貫穿性漏孔或未焊透的檢驗。檢驗奧氏體不銹鋼、雙相不銹鋼或鈦時，所有材料應按ASME規范第V卷第6章規范性附錄II第II-642條款分別分析氯和氟含量。氯加氟總含量應不超過殘余重量的1%，應具有制造廠商提供的與批號一致的測試結果證明書。檢驗鎳基合金時，所有材料應按ASME規范第V卷第6章規范性附錄II第II-641條款分析硫含量。硫含量應不超過殘余重量的1%，應具有制造廠商提供的與批號一致的測試結果證明書。檢驗期間滲透劑和零件表面溫度應保持在40F(5)125F(52)。當實際操作不能滿足這些溫度限值時，可使用其它的溫度和時間，前提是程序按照ASME第V卷第6章附錄I