1、光圈基礎知識培訓一、 光學零件的面精度三項內容：低光圈高光圈1）被檢光學表面的曲率半徑相對參考光學表面曲率半徑的偏差，稱為曲率半徑偏差。以表示：即光圈。曲率半徑偏差的方向不同2） 被檢光學表面在相互垂直方向上的曲率半徑，相對參考光學 表面曲率半徑的偏差不相等,稱為象散偏差.以表示。 這種偏差在相互垂直方向上的干涉條紋數量不相等。3）被檢光學表面的局部區域相對參考光學表面的偏差。稱為局部偏差，以表示。這種偏差在任一方向上產生局部不規則的干涉條紋。二、光圈定義和計量：當光線投射到兩個曲率半徑相差不多的球面。其空氣楔對稱時，就會出現同心環的干涉條紋，即牛頓圈，通稱光圈。1） 光圈示意圖：示意圖 2）

2、 光圈數的計量：1：以有效檢驗范圍內直徑方向最多條紋數的一半量。 如圖1 =6/2=31：通過直徑方向上干涉條紋的彎曲量h相對條紋的間距H的比值。 如圖2=h/HHh圖2圖1YY3）象散偏差的計量：象散偏差光圈數是以兩個相互垂直方向上光圈數的最大代數差的絕對值來度量（光圈數以有效范圍內最多的一半來度量）。= X-Y低高XXXXYY馬鞍形=（2+6）/2=4橢圓形=（6-8）/2=1柱形= （0-1）=1YXba不對稱形X-X Y-Y 方向傾向450狀況=¯/4（1/a-1/b）YX 4）局部偏差的計量：局部不規則干涉條紋對理想平滑干涉條紋的偏離量h及相鄰條紋間距H的比值來度量。=h/

3、HHh三、光圈的判定方法：樣板：白光燈以一個紅色為一個光圈，依次婁推。干涉儀：以黑白相間為一個光圈，依次婁推。高和低光圈勾邊：剖面圖高和低光圈塌邊：剖面圖 樣板檢光圈方法1：在白光下，以紅色為基準，視黃色及綠色的位置來判定高低，若黃色在紅色之內，綠色在紅色之外，即高光圈。若綠色在紅色內，黃色在紅色之外則是低光圈。 樣板檢光圈方法2：微壓法，當從樣板的兩邊或對稱的三個點同時向下加壓時，若光圈由中心向外擴散，則是高光圈。如果是由邊緣向里收宿，則表示光圈低。 干涉儀檢光圈方法1：在零件及標準塊中間加壓，若光圈由中心向外擴散，則低光圈，反之為高光圈。 干涉儀檢光圈方法2：用手向前推動螺釘，使零件及標準

4、塊距離縮短，若光圈中心向外擴散，則是高光圈。反之為低光圈。 干涉儀檢光圈方法3：用手壓標準塊，同推螺釘方法相同。四、光圈檢驗注意事項：1）用光學樣板檢驗：檢驗前，為使光學樣板及被檢零件的溫度和檢驗室溫相一致，應根據零件直徑尺寸的大小按下表規定時間進行定溫；零件直徑（100）1101020203030404060608080100100以上定溫時間（分）2351020304060以上在工作中，應排除影響光圈變化的各種因素，如體溫、風扇、熱源等。對于面形精度要求高的零件，室溫控制在200C±300C范圍內；檢驗凸面及平面光圈時，通常使樣板在上，零件在下；檢驗凹面光圈時則相反。當被檢零件的

5、厚度及直徑尺寸之比小于1：10時，可按檢驗凹面光圈方法或將樣板輕輕提起，使光圈免受樣板重量的影響，以保證估測的正確性；檢驗時應垂直觀察，并先判定光圈的高低和數量，后判定局部誤差。動作要仔細、判斷應迅速，并防止樣板及零件相互拖拉。造成劃傷； 光圈不規則時，也會同時出現幾種狀況，常取被檢表面局部偏差最大值； 檢驗時：檢驗大曲率半徑或平面樣板的時，多將光圈拉成光帶（一般為三條，最好有一條通過中心。精度高時也可拉成一條帶），以便觀察判斷光圈局部誤差。小樣板檢驗大零件，則按如下換算關系：N1/N2=S1/S2 N2/N2=D12/D22 一個光對應的弧高尺寸：一個=0.25µ=0.00025mm五、用測角儀成象方法判定光圈用位移量來判定光圈： 先用標準塊將分劃板圖像調致最清晰位置 ，反復多次確定自己的原點。 再將所需測的零件放入承物臺上，調節分劃象為最清晰的位置，量出零件清晰點及原點位置的移動量,判別定是否合乎要求。 900直角三面光棱鏡，以一個直角面為測量面時，用第一表面的像及后表面反射像清晰之差來進行判定（兩個直角面，只測一個即可）。 900直角三面光棱鏡，大面光圈一定要為以多次反射