實(shí)驗(yàn)三 激光干涉測(cè)量技術(shù)_第1頁(yè)
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1、實(shí)驗(yàn)三激光干涉測(cè)量技術(shù)一、引言激光精密干涉測(cè)量技術(shù)有著廣泛的應(yīng)用。區(qū)別于基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)課程中應(yīng)用成套的干涉儀設(shè)備進(jìn)行測(cè)量,本實(shí)驗(yàn)使用零散的光學(xué)元件搭建干涉裝置,旨在鍛煉學(xué)生的實(shí)際光路搭建能力以及相關(guān)的實(shí)踐技巧。二、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?了解激光干涉測(cè)量的原理2掌握微米及亞微米量級(jí)位移量的激光干涉測(cè)量方法3了解激光干涉測(cè)量方法的優(yōu)點(diǎn)和應(yīng)用場(chǎng)合4. 鍛煉實(shí)際光路搭建能力以及搭建干涉測(cè)量裝置的相關(guān)技巧三、實(shí)驗(yàn)原理本實(shí)驗(yàn)采用泰曼格林(Twyman-Green)干涉系統(tǒng),TG干涉系統(tǒng)是著名的邁克爾遜白光干涉儀的一種變型,在光學(xué)儀器的制造工業(yè)中,常用其產(chǎn)生的等間距干涉條紋對(duì)光學(xué)零件或光學(xué)系統(tǒng)作綜合質(zhì)量檢驗(yàn)。圖1 泰曼格林干

2、涉儀原理圖泰曼格林干涉儀與原始的邁克爾遜干涉儀不同點(diǎn)是,光源是單色激光光源,它置于一個(gè)校正像差的透鏡L1的前焦點(diǎn)上,光束經(jīng)透鏡L1準(zhǔn)直后,被分束器A分成兩束光,到達(dá)反射鏡M1和M2并被反射,兩束反射光再次經(jīng)A透射和反射,用另一個(gè)校正像差的透鏡L2會(huì)聚,觀察屏放在透鏡L2的焦點(diǎn)位置觀察,也可不加透鏡L2直接觀察。能夠觀察到反射鏡M1和M2的整個(gè)范圍,從而可獲得清晰、明亮的等間距干涉直條紋,其原理如圖1所示。若作出反射鏡M1在半反射面A中的虛像M1(圖中未畫出),干涉儀的出射光線相當(dāng)于M2 和M1所構(gòu)成的空氣楔的反射光,因而泰曼干涉儀實(shí)際上就等效于平面干涉儀,只是這里兩束光的光路被完全分開(kāi),進(jìn)而產(chǎn)

3、生了等厚干涉條紋。當(dāng)光源是點(diǎn)光源時(shí),條紋是非定域的,在兩個(gè)相干光束重疊區(qū)域內(nèi)的任何平面上,條紋的清晰度都一樣。不過(guò),實(shí)際上為了獲得足夠強(qiáng)度的干涉條紋,光源的擴(kuò)展不能忽略,這時(shí)條紋定域在M1 和M2構(gòu)成的空氣楔附近。如圖1所示,設(shè)入射平面波經(jīng)M1反射后的波前是W1,經(jīng)M2反射后相應(yīng)的波前是W2,W1和W2位相相同。引入虛波前W1 ,它是在W1半反射面A中的虛像,圖中畫出了虛相交于波前W2上P點(diǎn)的兩支光路,這兩支光在P點(diǎn)的光程差為              &

4、#160;                              即等于W1到P點(diǎn)的法線距離,因?yàn)閃1和W2之間介質(zhì)(空氣)折射率為1,顯然當(dāng)             

5、0;                     時(shí),P點(diǎn)為亮點(diǎn),而當(dāng)                            

6、;    時(shí),P點(diǎn)為暗點(diǎn)。如果平面M1和M2是理想的平面,那么反射回來(lái)的波前W1(或W1)和W2也是平面,這樣當(dāng)眼睛聚焦于W2上時(shí),在W1和W2之間有一楔角的情況下,將看到一組平行等距的直線條紋(W1和W2相互平行,視場(chǎng)是均勻照明的,沒(méi)有條紋),它們與所形成的空氣楔的楔棱平行。從一個(gè)亮條紋(或暗條紋)過(guò)渡到相鄰的亮條紋(或暗條紋),W1和W2之間的距離改變 。由于測(cè)量鏡M2移動(dòng)l會(huì)帶來(lái)2l 的光程差則:             

7、0;                                 式中N為干涉條紋數(shù)。因此,記錄下干涉條紋移動(dòng)數(shù),已知激光波長(zhǎng),即可測(cè)量反射鏡的位移量,或反射鏡的軸向變動(dòng)量l。測(cè)量靈敏為:當(dāng)N1,則       &#

8、160;        (He-Ne激光),即 五、實(shí)驗(yàn)步驟1、實(shí)驗(yàn)光路圖2  泰曼格林干涉儀實(shí)驗(yàn)光路圖1激光器  2衰減器  3定向孔  4反射鏡  5擴(kuò)束透鏡  6準(zhǔn)直透鏡  7分束器  8組合工作臺(tái)(夾持反光鏡)  9組合工作臺(tái)(夾持反光鏡并帶有平移臺(tái)) 10成像物鏡 11探測(cè)器激光器1發(fā)出的激光(激光波長(zhǎng)632.8nm ),經(jīng)衰減器2(用于調(diào)節(jié)激光強(qiáng)度)后,由定向小孔3引導(dǎo),經(jīng)反射鏡4進(jìn)入擴(kuò)束準(zhǔn)直物鏡5,6后,由分束器7(本實(shí)驗(yàn)

9、中采用分光棱鏡)分成二束光,分別由反射鏡8(即圖1中的M1),9(M2)反射后,兩束光相遇形成干涉條紋并經(jīng)成像物鏡10(即圖1中L2)將條紋成于光電探測(cè)器11上(本實(shí)驗(yàn)不加透鏡10,并使用白屏代替光電探測(cè)器11)。并且,隨著組合工作臺(tái)9上反射鏡的前后移動(dòng),干涉條紋會(huì)隨之移動(dòng),這樣就可以實(shí)現(xiàn)微位移量的測(cè)量。2、實(shí)驗(yàn)步驟進(jìn)入實(shí)驗(yàn)室后,首先要熟悉實(shí)驗(yàn)臺(tái)所用到的儀器和光學(xué)元件,注意不要用手去觸摸光學(xué)元件表面,并且要輕拿輕放,本實(shí)驗(yàn)不使用的器件應(yīng)事先移開(kāi)。打開(kāi)電源開(kāi)關(guān),點(diǎn)亮He-Ne激光器預(yù)熱,并等待其光強(qiáng)穩(wěn)定。1  激光擴(kuò)束。在反射鏡4的中間位置處,能夠看到明亮的激光光斑,觀察通過(guò)擴(kuò)束透鏡5

10、后,出射光斑是否均勻,并經(jīng)透鏡6準(zhǔn)直。使用平晶檢查準(zhǔn)直質(zhì)量。2  正確安裝分光棱鏡7,注意分光棱鏡的放置方向,使分得的兩束光盡量能量相同。在多功能試件夾8和組合工作臺(tái)9上,分別裝平面反射鏡,使光線經(jīng)過(guò)分光棱鏡獲得的反射光和折射光能夠正常到達(dá)成像物鏡10的位置。3  調(diào)節(jié)工作臺(tái)8,9上調(diào)平調(diào)向測(cè)微器,使二路反射光較好重合(在成像物鏡10后焦面上,兩反射光會(huì)聚的光斑重合),由于光線經(jīng)過(guò)多次的反射和折射,聚焦光斑不容易調(diào)節(jié)至完全重合,所以要求實(shí)驗(yàn)者足夠的熟悉調(diào)平調(diào)向測(cè)微器,以便得到較好的干涉條紋。4 隨著組合平臺(tái)的螺旋測(cè)微器轉(zhuǎn)動(dòng)帶動(dòng)反光鏡產(chǎn)生微小位移,引起了干涉條紋的移動(dòng),來(lái)測(cè)量微小位移量。5  記錄實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),并計(jì)算出微小位移量,進(jìn)行適當(dāng)?shù)恼`差分析。6 

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