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1、固體、氣體、半導體固體、氣體、半導體黑體輻射的普朗克公式黑體輻射的普朗克公式1e1832TkhhcnE自發輻射自發輻射212121spdnAdtn211sA受激吸收受激吸收1st12121ddntnW1212BW受激輻射受激輻射221211ndtdnWst2121BW 18221112332121gBgBchBA321212138AhBn h Bc當能級簡并度當能級簡并度g2=g1時，時， B21=B12 W12 =W21 VnnhTAW,21213、激光器的構想、激光器的構想0121122ggWWn01122nggnn1d,0g定義定義g(v，v0)= P(v)/ P0線寬線寬max0002

2、0121,21,gggg01021222m22222Ng)()(gNN012NsNm2g自然線寬自然線寬N N: : 每個發光粒子所輻射的光能對譜線內任意頻率每個發光粒子所輻射的光能對譜線內任意頻率均有貢獻；所有的發光離子的貢獻過程所處的地位均有貢獻；所有的發光離子的貢獻過程所處的地位完全相同，由大量的粒子對譜線的整體貢獻結果所完全相同，由大量的粒子對譜線的整體貢獻結果所引起的譜線加寬過程稱為均勻加寬。引起的譜線加寬過程稱為均勻加寬。線型函數線型函數洛倫茲型洛倫茲型m22222Lg)()(gLL01LLLm2gL L: :碰撞線寬碰撞線寬 L L: :平均碰撞時間平均碰撞時間 碰撞線寬經驗公式

3、碰撞線寬經驗公式Lpp p: :氣體壓強氣體壓強nrs111nrs1121121激發態的壽命激發態的壽命線寬線寬線型函數線型函數-洛侖茲線型洛侖茲線型LNLsH2H20H0H1211221,gLNLsH2H20H0H1211221,g均勻加寬線寬均勻加寬線寬 對于一般的氣體工作物質，對于一般的氣體工作物質，vLvN202D2ln421D0De2ln2,g線寬線寬7002157.16 10DTTvvMM 每個發光粒子所發的光，僅對譜線內某一特定頻每個發光粒子所發的光，僅對譜線內某一特定頻率有貢獻；且各個發光粒子對譜線的貢獻地位不相同率有貢獻；且各個發光粒子對譜線的貢獻地位不相同，由這樣的粒子對譜

4、線的不同貢獻的整體結果引起的，由這樣的粒子對譜線的不同貢獻的整體結果引起的加寬稱為非均勻加寬。加寬稱為非均勻加寬。在晶體生長過程中，由于電流、爐溫在晶體生長過程中，由于電流、爐溫度或送料速度等任一因素的隨機變化，均會導致晶體度或送料速度等任一因素的隨機變化，均會導致晶體缺陷缺陷(如錯位、空位等晶體不均勻性如錯位、空位等晶體不均勻性)的產生。的產生。 不同的發光離子所受到的網絡體的配位場的影不同的發光離子所受到的網絡體的配位場的影響是不同的，從而使各個發光離子所處的能量狀態也響是不同的，從而使各個發光離子所處的能量狀態也有差異，導致工作物質輻射譜線產生非均勻加寬。有差異，導致工作物質輻射譜線產生非均勻加寬。 00H00D0d,ggg兩

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