聲能傳輸損耗差的測(cè)定_第1頁(yè)
聲能傳輸損耗差的測(cè)定_第2頁(yè)
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1、聲能傳輸損耗差的測(cè)定P.1 一般要求P.1.1 工件本身影響反射波幅的主要因素是:材料的材質(zhì)衰減、工件 表面粗糙度或曲面的耦合狀況造成的表面聲能損失。P.1.2 碳鋼或低合金鋼板材的材質(zhì)衰減,在頻率低于 2.5MHz、聲程不 超過(guò) 200mm 時(shí),或者衰減系數(shù)小于 0.01dB/mm 時(shí),可以不計(jì)。P.1.3 檢測(cè)時(shí),如聲程較大,或材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò)上述范圍,在確定 缺陷波幅時(shí),應(yīng)考慮材質(zhì)衰減修正。當(dāng)工件表面粗糙度較大時(shí)或工件 表面為曲面時(shí),還應(yīng)考慮表面聲能損失問(wèn)題。P2 斜探頭檢測(cè)時(shí)超聲材質(zhì)衰減的測(cè)量圖 P.1 超聲材質(zhì)衰減的測(cè)定P2.1 用兩只探頭尺寸、標(biāo)稱(chēng)頻率、折射角(K 值)相同的斜探頭

2、, 按圖P.1 所示置在被檢工件完好部位,兩探頭入射點(diǎn)間距為1P,儀器調(diào)為一發(fā)一收狀態(tài),找到最大反射波幅,記錄其波幅值H1( dB )。P2.2 將兩探頭拉開(kāi)到距離為 2P 的位置,找到最大反射波幅,記錄其 波幅值 H( dB)。P2.3 衰減系數(shù) aH 可用式(P.1)式(P.3)計(jì)算:aH=(Hi-H2-0/(S2-Si) .(P.1)S1=2t/cosp . (P.2)S2=4t/cosp. (P.3)式中:不考慮材質(zhì)衰減時(shí),不同聲程(S1、S2)聲束擴(kuò)散造成的波幅差。可用公式 20lg( S2/S1)計(jì)算或從該探頭的距離-波幅曲線(xiàn)上查得,一般約為 6dB;(3探頭折射角。P2.4 按

3、P.2.1P.2.3 同樣可以測(cè)定對(duì)比試塊的材質(zhì)衰減系數(shù)。P.3 傳輸損失差的測(cè)定-方法 1P.3.1 用兩只晶片尺寸、標(biāo)稱(chēng)頻率、折射角(K 值)相同的實(shí)際檢測(cè) 用探頭,按圖 P.2 所示置于對(duì)比試塊檢測(cè)面上,兩探頭入射點(diǎn)距離為1P,儀器調(diào)為一發(fā)一收狀態(tài),找到最大反射波幅,記錄其波幅值H1(dB)。圖 P.2 傳輸損失差測(cè)定-方法 1P.3.2 不改變靈敏度,在被檢工件上(不通過(guò)焊接接頭)量探頭入射 點(diǎn)距離為 1P,同樣測(cè)出接收波最大反射波幅,記錄其波幅值 H2(dB)P.3.3 傳輸損失差/按式(P.4)(P.8)計(jì)算:厶/二 H1-H2-A . (P.4)=20lg(S2/Si) .(P.

4、5)Si=2T/cosB. (P.6)S2=2t/cosp. (P.7)A=2(ott-aT)/cosB. (P.8)式中:A1不考慮材質(zhì)衰減時(shí),不同聲程(S、S2)聲束擴(kuò)散造成的 波幅差,也可從該探頭的距離-波幅曲線(xiàn)上查得;S1在對(duì)比試塊中的聲程,mm;S2在工件母材中的聲程,mm;A試塊中聲程 S1與工件中聲程 S2的超聲材質(zhì)衰減差值,dB。a聲波在工件中的衰減系數(shù),dB/mm;a聲波在工件中的衰減系數(shù),dB/mm。如試塊材質(zhì)衰減系靈 敏度小于 0.01dB/mm,此項(xiàng)可以不予考慮。P.4 傳輸損失差的測(cè)定-方法 2圖 P.3 傳輸損失差測(cè)定-方法 2P.4.1 用兩只晶片尺寸、標(biāo)稱(chēng)頻率、折射角(K 值)相同的實(shí)際檢測(cè) 探頭,按圖 P.3a)所示置于對(duì)比試塊檢測(cè)面上,兩探頭入射點(diǎn)距離為 1P,聲程為儀器調(diào)為一發(fā)一收狀態(tài),找到最大波幅,記錄其波幅 值 Hi(dB);然后將兩探頭拉開(kāi)到距離為 2P 位置,聲程為 S2,找到最 大波幅,記錄其波幅值出(dB)。見(jiàn)圖 P.3.C)上點(diǎn) A1 和點(diǎn) A2,并用 直線(xiàn)連接兩點(diǎn)。P4.2 用同樣兩只探頭在被檢工件上測(cè)出聲程為 S 時(shí)接

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