電磁兼容試驗和測量技術第3部分：射頻電磁場輻射抗擾度試驗Part3:Radiated,radio-frequency,electromagneticfieldimmunitytestRadiated,radio-frequency,elecI V W 1 13術語、定義和縮略語 1 13.2縮略語 4 5 55.1試驗等級選擇 55.2試驗頻率范圍 6 7 7 76.3均勻場域(UFA) 8 86.3.2恒定場強電平設置方法 7試驗布置 7.2臺式設備的布置 7.3落地式設備的布置 7.4線纜的布置 7.5人體攜帶設備的布置 8試驗程序 8.1概述 8.2實驗室參考條件 8.3試驗的實施 8.4步進 9試驗結果的評定 ⅡGB/T17626.3—2023/IEC61000-4-3: 附錄A(資料性)保護(設備)抵抗數字無線電話射頻輻射的試驗調制方式的選擇原理 22A.1可選調制方式綜述 22A.2試驗結果 A.3二次調制效應 A.4結論 24附錄B(資料性)場發射天線 26B.1雙錐天線 B.2對數周期天線 26B.3組合天線 B.4喇叭天線和雙脊波導天線 26附錄C(資料性)電波暗室的應用 27C.1電波暗室綜述 27 27C.2.1鐵氧體暗室用于1GHz以上輻射抗擾度試驗時引起的問題 C.2.2減少反射的解決方案 28附錄D(資料性)放大器的壓縮與非線性 29D.1限制放大器失真的目的 D.2諧波及飽和可能引起的問題 D.3限制場的諧波含量 29D.4線性特性對抗擾度試驗的影響 29D.4.1概述 29D.4.2線性特性的評估方法 附錄E(資料性)產品標準化專業委員會試驗等級選擇指南 E.1概述 E.2一般用途的試驗等級 E.3無線電話射頻輻射防護相關的試驗等級 E.4對固定發射設備的特殊措施 35附錄F(資料性)試驗方法的選擇 附錄G(資料性)線纜布置細節 G.2場中的線纜 G.3線纜離開測試區域的線纜 附錄H(資料性)大型及重型EUT的試驗布置示例 ⅢGB/T17626.3—2023/IEC61000-4-3: 40 40附錄I(資料性)多信號試驗 42 42 42I.3功率要求 42 43 43 43附錄J(規范性)由試驗儀器引起的測量不確定度 J.1概述 44J.2對于試驗電平設置的不確定度預評估 44J.2.1被測量的定義 44 46 46附錄K(資料性)電場探頭的校準方法 K.1概述 47K.2探頭校準要求 47K.2.1通用要求 K.2.2電平設置頻率范圍 K.2.3頻率步進 47K.3校準儀器的要求 48K.3.1概述 K.3.2諧波和雜散信號 K.3.3探頭的線性測量 48K.3.4標準喇叭天線增益的確定 K.4暗室內的場強探頭校準 K.4.1校準環境 K.4.2場強探頭校準電波暗室的確認 K.4.3探頭校準程序 K.5替代的探頭校準環境和方法 K.5.1概述 K.5.2使用TEM室校準場強探頭 GB/T17626.3—2023/IECK.5.3用波導室校準場強探頭 K.5.4使用開口波導校準場強探頭 K.5.5用增益傳遞法校準場強探頭 K.6參考文獻 V本文件是GB/T(Z)17626《電磁兼容試驗和測量技術》的第3部分。GB/T(Z電磁兼容試驗和測量技術抗擾度試驗總論；電磁兼容試驗和測量技術第3部分：射頻電磁場輻射抗擾度電磁兼容試驗和測量技術電快速瞬變脈沖群電磁兼容試驗和測量技術第12部分：振鈴波抗擾度試驗；電磁兼容試驗和測量技術閃爍儀功能和設電磁兼容試驗和測量技術0Hz～150kHz共模傳導騷擾抗擾度電磁兼容試驗和測量技術直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗；電磁兼容試驗和測量技術第19部分：交流電源端口2kHz~ 電磁兼容試驗和測量技術橫電磁波(TEM)波導中的發射和抗擾電磁兼容試驗和測量技術全電波暗室中的輻射發射和抗擾度電磁兼容試驗和測量技術HEMP傳導騷擾保護裝置的試驗電磁兼容試驗和測量技術三相電壓不平衡抗擾度試驗；電磁兼容試驗和測量技術工頻頻率變化抗擾度試驗；V 電磁兼容試驗和測量技術第31部分： —GB/T17626.39—2023電磁兼容試驗和測量技術第39部分：近距離輻射場抗擾度——1992年首次發布為GB/T13926.3—1992;——1998年第一次修訂為GB/T17626M —-第32部分：高空核電磁脈沖(HEMP)模擬器概述。目的在于提供國際上現有的系統級 X1試驗方法描述了評估設備或系統對來自非鄰近受試設備(EUT)的射頻源的射頻電磁場的抗擾度符合性方法。試驗環境在第6章有明確規定。IEC60050-161國際電工詞匯(IEV)第161章：電磁兼容IEC60050-161界定的以及下列術語和定義設備或系統在其電磁環境中能正常工作且不對該環境中任何事物構成不能承受的電磁騷擾的2能夠有效地向空間輻射或從空間接收無線電波的裝置。遠場farfield3場強fieldstrength給定點產生的電磁場值。頻帶frequencyband在規定的兩個界限頻率之間的一段連續頻率。完全照射法fullilluminationmethod受試設備的被試驗面完全被均勻場域所覆蓋的試驗方法。人體攜帶設備humanbody-mountedequipment用于人體附屬或近距離攜帶的設備。有意射頻發射裝置intentionalRFemittingdevice進行有意電磁場發射(傳播)的裝置。互調intermodulation發生在非線性的器件或傳播媒介中的過程。由此一個或多個輸入信號的頻譜分量相互作用，產生出新的分量，它們的頻率等于各輸入信號分量頻率的整倍數的線性組合。場探頭，其探測特性與電磁波的傳播方向和極化無關。[來源：GB/T14733.12—2008,731-03-08,有修改——修改措辭以適用于場強探頭]有效值最大值maximumRMSvalue在一個調制周期內，射頻調制信號的短期有效值(RMS)的最大值。在線性幅度調制中，已調信號的最大和最小幅度之差與這些幅度總和的比值，通常用百分數表4極化polarization復寄生電容時間增倍調制電路分時復合調制方案，在某一分配均勻場域uniformfieldarea;UFAAE:輔助設備(AuxiliaryEquipment)AM:調幅(AmplitudeModulation)CMAD:共模吸收裝置(Common-ModCW:連續波(ContinuousWavDECT:增強數字無繩通信(DigitalEnhancedCordlessTelecommunicatERP:有效輻射功率(EffectiveRadiatedP5PM:功率計(PowerMeter)12334XX是一開放的等級，其場強可為任意值。該等級應在產品標準中規定。6表中試驗場強列出的是未調制載波信號的場強。對設備試驗時，要用1kHz的正弦波對未調制載波信號進行80%的幅度調制來模擬實際威脅(見圖1和表2),詳細試驗步驟見第8章。內部或外部m=(80±10)%,在信號發生器輸出端測調制因子m:產品委員會可為EUT選擇替代調制方案(見附錄A)。有關其他基礎標準中定義的頻率范圍和試驗方法的選擇以及本文件在80MHz以下的應用的更多信息，請參見附錄F。產品委員會選擇用于試驗的頻率或頻率范圍可以是僅限于有意射頻發射裝置實際工作的頻率或頻7產品委員會可以要求特定的試驗等級和調制類型(作為80%AM的替代品)。——電波暗室：具有合適的尺寸，能維持相對于EUT來說具有足夠空間的UFA。另外可額外安——AE:用于記錄試驗規定場強所需的功率電平和控制產生試應注意確保試驗設備具有充分的抗擾度。試驗儀器引起的MU由附錄J規定。多數采集數據的設備對抗干擾試驗過程中所產生的電磁場很敏感，因此需要用屏蔽室在EUT與試驗儀器之間提供一層“屏障”。應注意確保穿過屏蔽室的連線的傳導和輻射有充分的衰減，以保證試驗設施為安裝有吸波材料的屏蔽室，且屏蔽室具有足夠的空間以安放EUT,并對試驗場強有充分的控制能力。包括電波暗室或調整后的半電波暗室，圖2給出了一個示例。相關屏蔽室宜適合于安詳細導則見附錄C。86.3.1UFA的特征本文件使用了UFA(見圖3和圖4)的概念，即場的垂直面，其變化在下文規定的范圍內。6.3.2和6.3.3中給出的方法用于證明試驗設施和試驗設備產生均勻試驗場的能力。獲得用于設置抗擾度試驗9√在沒有EUT的情況下執行均勻場電平設置(見圖3)。在此過程中，確定UFA內的場強與施加到明系統的線性，則實際試驗場強Er可不同于電平設置布置EL(見6.3.2或6.3.3和附錄D)。只要用于如果可滿足6.3.1中的判據，UFA的下邊緣可在任何高度。目的是使EUT被場完全照射。然而，很難在金屬地板附近建立UFA,因此不可能對所有EUT進行完全覆蓋。詳見第7章。發射天線與UFA之間的距離應能滿足UFA的要求。UFA與發射天線的距離首選為3m(見UFA的首選尺寸是1.5m×1.5m,但是，如果EUT及其線纜(見7.4)可用較小的UFA完全照在UFA的中心。見圖5。GB/T17626.3—2023/IEC很難建立一個靠近金屬地板的UFA。額外的吸收材料可減少或解決這個問題(見圖2)。將UFA分割成間距為0.5m的一系列小格(見圖4,1.5m×1.5mUFA的舉例)。在每個頻點，所有柵格點中有75%的點測得的場強幅值在標稱值0dB～+6dB范圍內(例如，如果1.5m×1.5mUFA測量的至少16個點中的12個點在容差范圍內),即認為該場是均勻的。對于最小UFA為UFA不需要是正方形，只要它可由0.5m×0.5m正方形元素構成。選定的UFA至少使用到當頻率范圍達到1GHz時，容差能達到+10dB,但是不能小于0dB,允許調整容差的頻率點數量不得超過整個試驗頻率點的3%,在試驗報告中記錄真實的容差。有爭議時，優先考慮0dB~+6dB。次在這些位置上對EUT進行試驗。--—將EUT移到不同位置，在試驗中使EUT的每個部分至少處于每個天線位置都需要一個完整的場平設置。它不是為了照射延伸到UFA下邊緣以下的EUT的所有頻率的首選方法是完全照射。如果不能使用完全照射，則可應用一個尺寸(見7.4)和電平設置要求(優選此方法)部分照射法：EUT及線纜的尺寸不符合UFA的尺寸(見7.4)UFA最小尺寸0.5m×0.5m。UFA的柵格尺寸以0.5m步進(例如0.5m×的柵格步進為0.5m×0.5m。對于0.5m×0.5m的UFA,100電平設置點應滿足要求最小的UFA尺寸為1.5m×1.5m。UFA的柵格尺寸以0.5m步進(例如1.5m×置的柵格步進為0.5m×0.5m。最小的UFA尺寸為0.5m×0.5m。UFA的柵格尺寸以0.5m步進(例如0.5m×電平設置的柵格步進為0.5m×0.5m。對于0.5m×0.5m的UFA.100電平設置點應滿足要求通常按圖6所示的布置對電波暗室和半電波暗室進行場的電平設置。應按下述的步驟用未調制的載波分別對水平和垂直極化方向進行電平設置驗期間能夠在線性要求范圍內再現調制(見6.3.2或6.3.3和附錄D)。對于80%AM,在場強至少為施加到EUT的場強的1.8倍的情況下執行電平設置過程。用E?表示該電平設置場強，E?為僅電平設如果使用80%AM以外的調制，則宜根據調制信號的峰值功率進行適當的飽和檢查。下述兩種不同的電平設置方法，以1.5m×1.5m的UFA為例說明。這兩種方法得O--按照圖示逐個建立UFA電平設置點(見圖4)。應按圖6確定測量場強所選擇的正向功率，16個測量點以dBm為單位進行記錄。a)將場強探頭置于16個柵格點的任意一點上(見圖4),將信號發生器輸出的頻率調至試驗頻率c)使用第8章給出的頻率步進。d)重復步驟b)和步驟c),直至下一頻率超過試驗頻率范圍的上限頻率。最后在此上限頻率(例e)對每一柵格點重復步驟a)～步驟d)。1)將16個點的正向功率讀數按升序排列。2)從最大讀數開始檢查，向下至少有11個點的讀數在最大讀數的-6dB～+0dB容差范圍內。3)若沒有11個點的讀數在-6dB～+0dB容差范圍內，從緊鄰的下一個數據開始以此類推重復上述程序(注意，在本例的16個點UFA中，在每個頻點只有5次機會調整)。4)如果至少有12個點的讀數在6dB范圍內則停止檢查程序，將這些值中對應最大值的位置作為參考點。正向功率用PI表示。5)確認試驗系統(例如功率放大器)未處于飽和狀態。假定El等于1.8倍Er,在每個電平設置i)將信號發生器的輸出從上述步驟中確定的建立正向功率P?所需的電平降低5.1dBii)記錄輸出到天線的新的正向功率；調節正向功率，依次對16個柵格點的每個點(見圖4)進行電平設置。應按圖6確定測量初始位置場強所必需的正向功率并記錄，對所有16個測量點施加相同的正向功a)將場強探頭置于柵格中16個點中的任意一點上(見圖4),將信號發生器輸出的頻率調至試驗b)調節發射天線的正向功率，使所得場強(加上對頻率的場探頭校正因子)等于電平設置場強c)使用第8章的頻率步進。d)重復步驟b)和步驟c),直至下一頻率超過試驗頻率范圍的上限頻率。最后在此上限頻率(例e)將場強探頭移至柵格的另一點，在每一頻率點采用上述步驟a)～步驟d),并記錄步驟b)的場1)將16個場強讀數按升序排列。2)選擇某點的場強值作為參考值，計算所有其他點相對于該點的偏差值(分貝)。3)從場強的最小讀數開始檢查，向上至少有11個點的讀數在最小讀數的0dB～+6dB容差范4)若沒有11個點的讀數在0dB～+6dB容差范圍內，從緊鄰的下一個數據開始以此類推重復上述程序(注意，在本例的16個點UFA中，在每個頻5)如果至少有12個點的讀數在6dB范圍內則停止檢查程序，從這些讀數中找出最小場強的點6)計算在參考點建立規定場強所需的正向功率。正向功率用P?表示。7)確認試驗系統(例如功率放大器)未處于飽和狀態。假定EL等于1.8倍Er,在每個電平設置ii)記錄輸出到天線的新的正向功率；7試驗布置7.1通則所有EUT的試驗都應在盡可能接近實際安裝配置條件下進行。除非另有規定，布線應按制造商不需要安裝金屬接地面。當需要某種方法來支撐試驗樣品時，該方在更高頻率(例如1GHz以上),由木頭或玻璃纖維增強塑料制成的桌子或支撐物可導致反射。宜為了使每個EUT面與UFA一致，可對EUT位置進行調整。待測設備放置在UFA內的一個非導電的試驗臺上。非導電支架的高度宜為(圖7具有離開試驗區域線纜的臺式EUT布置和線纜布局示例圖8EUT布置示例(俯視圖)轉臺圖8EUT布置示例(俯視圖)(續)如果由于EUT其重量較重或物理尺寸較大或安全原因，設備不能提高到UF支撐(例如，運輸托盤)移走，這種變化應記錄在試驗報告中。如果EUT延伸超過UFA下邊緣0.5m,在UFA下邊緣50%高度(所有0.5m水平分離的電平設定點)的電磁場大小都應被記錄在電平線纜應連接到EUT,并按照制造商的安裝說明書在試驗場上進行布置，要求重現典8.2.2氣候條件保它們不會造成顯著影響(見關于調制效應的附錄I和關于試驗結果評估的第9條)。發射天線應對EUT的四個側面逐一進行試驗。當EUT能以不同方向(如垂直或水平)放置使用時，各個側面均應試驗。經過技術論證，試驗時一些EUT可采用較少面面向發射天線。在其他情況在試驗過程中應嘗試使EUT充分運行，并在所有選定的敏感運行模式下進行抗擾度試驗。推薦——本文件第8章要求的試驗計劃中規定的內容；——方波幅度調制，200Hz,占空比1頻信號；對于DECT便攜設備的，在100Hz占空比1:24的脈沖射頻信號等(GSM和DECT的定義見附錄I)。優點缺點3.在本文件及IEC61000-4-6中采用。的調制模式(如FM,相位調制，脈沖調制)大速率變化較敏感)3.需規定上升時間大速率變化較敏感)1.為匹配不同系統(如GSM、DECT等),需改變3.需規定上升時間速率變化率敏感)1.為匹配不同的無線電服務(如LTE、DAB、b)類似GSM的RF脈沖，200Hz,占空比1:8;c)類似DECT的RF脈沖，100Hz,占空比1:2(基站);試驗結果匯總于表A.2與表A.3。表A.2相對干擾電平類似GSM的射頻脈沖，類似DECT的射頻脈沖，100Hz,占空比1:24未加權的00未加權的0未加權的0對騷擾的音頻響應為干擾電平。干擾電平低則表示抗擾度等級高。重點：調整載波幅度，使所有調制的干擾信號(暴露)的最大有效值(見3.1.19)相同。暴露是通過入射900MHz電磁場產生的。類似DECT的調制的占空比為1:2而不是1:24,音頻響應是測量連接0.5m長聚氯乙烯管的人工耳的聲學輸d這種情況被選作音頻響應的參考點，即0dB。*暴露方式是在電話線施加900MHz的射頻電流，音頻響應為電話線上測得的音頻電壓。暴露方式是在電源線纜施加900MHz的射頻電流，音頻響應為用麥克風測得的喇叭音頻輸表A.3相對抗擾度電平類似GSM的射頻脈沖，200Hz,1:8的占空比類似DECT的射頻脈沖，100Hz,1:24的占空比響應電視機明顯干擾強干擾十1十2顯示器關閉~+19RS232接口的00類似GSM的射頻脈沖，200Hz,1:8的占空比100Hz,1:24的占空比響應RS232調制解調器注入干擾時)000注入干擾時)源“DC輸出電流2%SDH交叉連接出現誤碼0·表中數據為使用各種調制方式產生相同干擾電平信號(暴露)所需要的最大RMS電平值(見3.1.19)的相關數據。分貝值高則表示抗擾度等級高。b調節騷擾信號以便在各種調制方式下具有相同的響應(干擾)。‘暴露方式是在線纜電源線纜施加900MHz的RF電流。響應為屏幕上產生的干擾電平。由于不同場合狀況下干擾的類型不同，使得評價結論更帶有主觀的成分。“這種情況被選定為參考電平，即0dB。*暴露方式為在RS232線纜端施加900MHz的RF電流。暴露方式為在電話或RS232線纜施加900MHz的RF電流。“暴露方式為在直流輸出線纜施加900MHz的RF電流。hSDH為同步數據層，暴露方式是入射935MHz電磁場。使用正弦波AM和脈沖調制(占空比1:2)以高達30V/m場強對下列數字設備進行試驗：---2/34Mb數字多路(復用)器； 分量),會產生復幀效應。可選的非連續發射模式(DTX)也可引起2當正弦波調制和TDMA模式間存在不同的響應結果時，對產品的特定差別可通過在產品標準中 基于上述因素，本文件規定的調制方式為80%正弦波AM調制。建議有關產品標準化委員會僅在(資料性)場發射天線B.1雙錐天線該天線由一個巴倫與兩個對稱的錐形振子組成，它能提供較寬的頻段響應，用于收發。這種緊湊的天線結構在電波暗室內使用起來較為理想，其鄰近效應能降到最小。B.2對數周期天線對數周期天線是由連接到一根傳輸線上、不同長度的偶極子組成的天線陣。這些寬頻帶天線具有相對高的增益和低的電壓駐波比。對數周期天線和雙錐天線可進行組合。這類組合可增加頻率范圍，并且僅使用單副天線就可覆蓋從80MHz以下到GHz的頻率范圍。這種天線可以被稱為復合天線或類似的稱法。由于雙錐單元通常遠離對數周期天線的尖端，所以雙錐偶極子單元和EUT之間的距離可能比復合天線的尖端跟EUT之間的距離大得多。此類天線可能需要更高的功率產生RF場。為了獲得更高的增益，還可將兩副對數周期天線組合在一起。這種天線可命名為“堆疊”天線或類似的稱法。B.4喇叭天線和雙脊波導天線喇叭天線和雙脊波導天線產生線性極化電磁場，通常用在1000MHz以上頻率。(資料性)對于半電波暗室，通過在地板上增加額外的RF吸波材料，有助于在全頻段內得到需要的均勻增加的吸波材料不宜放在天線到EUT之間的直射路徑上，但試驗時宜放在與電平設置時的同一方向和位置上。另外，通過傾斜和升高場發射天線以防止放置直接照射在鋪也可通過將發射天線放在偏離電波暗室軸線上的方法來改進場的在頻率高于1GHz時，鐵氧體磁片可能呈反射而不是吸收功能。由于暗室內表面——使用喇叭天線和雙脊波導天線來減少場的反向輻射。由于天線的波束較窄——縮短發射天線與EUT之間的距離，使墻壁的反射最小(天線與EUT之間的距離可減到遵循上述程序將消除大部分反射波(見圖C.2)。圖C.2大部分反射波被消除(適用于頂視圖放大器的非線性會嚴重影響施加到EUT的騷擾信號。目標是使得放大器的非線性足夠低，從而最小化對騷擾信號的影響。附錄D幫助實驗室理解和限制放大器的失真。a)諧波可能會顯著地影響UFA測量期間獲得的測量值。由于寬帶場探頭將測量基波及其諧b)諧波可能會導致EUT發生故障，其中EUT在預期的基波頻率下穩定，而在諧波頻率下不穩c)即使它在特殊情況下能很好地抑制諧波，諧波依然會影響試驗結果。例如，在試驗一臺900MHz的接收機時，即使很微弱的300MHz諧波信號也可能使接收機輸入端過載。如果信號發生器輸出非諧波相關信號，也會發生類似情況。可使用特殊的護敏感的EUT。d)在未檢測出諧波的情況下也可能存在飽和。如果放大器具有一個抑制諧波和/或內部電路的2)在試驗過程中，這種類型的飽和會導致錯誤的調制因子和調制頻率(通常為1kHz)的受的(注意D.2列項c)中的例外現象]。對于輸出端具有頻率固定的低通濾波器的放大器，其基頻上限大約為放大器規定的最大頻率的1/3。的最大場強點)不得超過放大器的2dB壓縮點。在2dB壓縮點，峰值振幅會下降20%。宜驗證放大器的線性度，從而確保所使用的放大器在UFA場強值或較低的計算電平下產生正確D.4.2.1評估等級范圍基于其中一個UFA點的電平設置結果計算不同的試驗場強等級時，線性度的評估范圍為用于試驗的最小到最大放大器輸出。例如，如果使用從10V/mUFA電平設置獲得的數據執行3V/m試非常重要。試驗布置如圖D.1所示。的放大器宜在80MHz、500MHz和1GHz下進行評估。如果放大器的頻率范圍分為幾個頻帶，則宜功率計正向功率發射天線2)將信號發生器設置為在步驟a)中確定的最小值，并記錄信號發生器的輸出和放大器的正向3)將信號發生器的設置增加1dB,并記錄信號發生器的輸出和放大器的正向功率。4)重復步驟2)到步驟3),直到達到在步驟1)中確定的信號發生器的最大設置值。如果按照D.4.2.2中定義的過程獲得的測量數據符合±1dB規范，則試驗實驗室線性特性線性特性0信號發生器輸出電平/dBm圖D.2線性曲線示例4320信號發生器輸出電平/dBm5圖D.3增益偏差示例D.4.2.4放大器線性度特性不符合判據時的抗擾度試驗如果在D.4.2.3中執行的評估不滿足線性度判據±1dB,則有必要根據以下方法在實際EUT試驗期間調整正向功率。一種方法是使用帶反饋的系統，其中功率計用于監控功率放大器的輸出功率。另一種方法適用于沒有反饋的系統，其中正向功率電平設置需要在每個期望試驗電平下進行。(資料性)E.1概述E.2一般用途的試驗等級試驗等級和頻段是根據EUT最終安裝所處的電磁輻射環境來選擇的，在選擇所采用的試驗等級——等級1:低電平電磁輻射環境。位于1km以外的地方廣播臺/電視臺和低功率的發射機/接收-等級2:中等的電磁輻射環境。使用低功率的便攜收發機(通常功率小于1W),但限定在設備——等級3:嚴重電磁輻射環境。便攜收發機(額定功率2W或更大),可接近設備使用，但距離不如果使用的發射器離EUT的距離小于0.2m,則宜考慮根據IEC61000-4-39(參見附錄F)進行的E.3無線電話射頻輻射防護相關的試驗等級宜按預期的電磁場選擇試驗等級，要考慮無線電設備的功率以及發射天線和EUT之間的大致距在選擇所采用的試驗等級時宜考慮到失效所造成的后果以及抗擾度試驗所需實際可能的情況是發生暴露的程度比試驗等級高但發生概率小表E.1給出了試驗等級、性能指標及相關保護距離的示例。保護距離為當按所述的試驗等級進行試驗時，到數字無線電話可接受的最小距離。該距離按公式(E.1)進行計算，其中k=7,并且假設用mmm(通用移動通信系統)m(微波接入的全球操作網絡)m(無限局域網)m例11123A3~0.2d~0.24BA4~0.2~0.14~0.14~0.14~0.14Bh設備失效后果不嚴重。在此距離或更近距離時遠場公式E.1不準確。如果使用的發射器離EUT的距離小于0.2IEC61000-4-39(參見附錄F)進行的試驗。A性能等級，按第9章要求。B性能等級，按第9章要求。—對GSM/LTE手持設備，目前市場上大部分終端設備為4級(最大ERP為2W),而實際使用中有相當多的移動終端是3級和2級(最大ERP分別為5W和8W)。除了在接收差的地區常會調整其ERP(可能增加到最大發射功率),以優化通信鏈路。從EMC的觀點考慮這是最80MHz波長的4(4波長=93.75cm)。電磁場的感應信號非常容易通過具有4波長或更長長度的線(資料性)H.1帶有底部饋線的EUT圖H.1為底部帶有信號和電源饋電線纜EUT的試驗布置示例圖。EUT宜放置在厚度為0.05m或以上的絕緣托盤或其他絕緣支架上，也可使用大型和重型EUT上常見的非導電滾輪替代。大型圖H.1帶有底部線纜的EUT試驗布置示例圖(未標出CMAD)H.2帶有架空線纜的EUT圖H.2為帶有架空信號和電源線纜EUT的試驗布置示例圖。這類產品例如網絡服務器，由于實也宜將其用于試驗設置。如果可能的話，連接EUT裝置的多余長度的線纜宜在線的中部捆扎成低感如果EUT太大，無法完全裝入UFA窗口，那么每次沿EUT進行試驗后，宜移動單個UFA窗線纜電源線纜場發射天線圖H.2帶有架空線纜的EUT試驗布置示例圖能打印機，通常包含多個AE之間的幾種不同長度和類型的線纜。只有足夠長的線纜才能以不低于規定，長線纜宜如圖3所示排列，使用非導電支撐，以實現垂直和/或水平暴暗室墻壁信號線連接輔助設備的信號線H.4帶有側饋線纜并需要多個UFA窗口的大型設備EUT進行試驗后，宜移動單個UFA窗口，使EUT(包括外部饋電線纜)能夠完整的被UFA覆蓋。天線和吸波材料(可選)宜如圖H.4所示移動，直到整個EUT被UFA窗口覆蓋。如果可能的話，連接EUT裝置的多余長度的線纜宜在線的中心捆扎成低感性線束。圖H.4帶有側饋線纜并需要多個UFA窗口的大型設備試驗布置示例圖GB/T17626.3—2023/IEC(資料性)線性度和諧波檢查以及多信號試驗時EUT的性能判據。這種互調的結果是以邊帶(大概以基頻和諧波為中心)的形式產生的無用圖I.1試驗頻率f?和f?及其二階和三階互調頻率v?(t)=cos(2πf?t)+coPMsAvG=PssAvc·N…………(I.5)PMSPk=PsspK·N2PMsPK——多個信號的峰值功率；N——信號的數量。率不同，其相對相位總是在變化，只有當所有信號同相時，才能達到峰值功I.4試驗電平設置要求除了試驗設備的選擇，更重要的是要考慮到互調和放大器飽和效應。試驗電平設置流程按照6.3.2和6.3.3的要求(根據要求的頻段確定AM調制的試驗電平)來確定在不使放大器飽和引入太多失真的情況下，可將多少信號組合成一個試驗集。6.3.2步驟5)和6.3.3步驟7)以及附錄D的線性6.3.2步驟5)和6.3.3步驟7)中定義的線性度檢查流程宜作為一個整體用于每個信號測試集。測在駐留時間內用一個以上的信號進行試驗會使EUT暴露在超出標準要求強度的輻射下。這種過度暴露可能導致EUT喪失功能或性能下降，而這非是由單一頻率的照射造成的。由于本文件的要求(規范性)器產生的諧波這類騷擾量的參數，實驗室也需要以一種合適的方法進行考慮進下面的影響量圖(見圖J.1)給出試驗電平設置影響量的舉例。本圖表同時適用于電平設置和試驗選用。為了不同的試驗場地和實驗室得到可比較的預評估值，不確定度預評估的計算至少包括表J.1場強探頭和功率監視儀(可重復性而不是絕對的測量準確度和線性度)不包括表J.1和表J.2給出了一些試驗電平設置的不確定度預評估的示例。不確定度預評估包括電平設因子C正態k=221111擴展不確定度U(y)(CAL),k=2因子C電平設置111111如果用功率計對信號發生器的輸出電平進行控制，則在表格中包含PM,。否則，應大器的穩定度和漂移。在這個例子中，因為功率放大器作為功率放大器輸出控制的一部分，不會對不確定度預評估產生影響，所以考慮功率計的不確定度貢獻就足夠J.2.4術語解釋設置證書(作為正態分布處理)中獲得。如果電平設置和試驗使用同一個[1]IEC/TR61000-1-6Electromagnetictheassessmentofmeasurementuncertainty[2]UKAS,M3003,Edition4,2019,TheExpressionofUncertaintyandConfidenceinMeasure-[3]ISO/IECGuide98-3Uncertaintyofmeasurement—Part3:Guidetotheexpressionofcertaintyinmeasurement(GUM:1995)——80MHz到1GHz使用下列頻率電平設置電場探頭(通常用50MHz的步進):80MHz,100MHz,150MHz,200MHz,…,9501200MHz,1400MHz,…,5800MHz,6001234X注：X,Y是開放的校準等級，可比等級1～4高或者低。產品規范或試驗實驗室可給出這個等級。K.3.1概述任何從功率放大器輸出的諧波和雜散信號要比載波頻率的電平低20dB。該要求適用于校準和線性試驗的所有場強等級。因為功率放大器的諧波含量在高功率電平通常是最高等級的場強校準中進行。諧波試驗可使用校準過的頻譜分析儀，通過頻譜分析儀連接到定向耦合器的端口3來實現(用頻譜分析儀的輸入替代功率計探頭一見圖k.2)。掃頻寬度至少包括預期頻率的3次諧波。在產生最高預期場強的功率電平進行確認測量。可使用諧波抑制濾波器來提高功率放大器的頻譜純度(見附錄D)。通常探頭的線性響應不會隨頻率有明顯的改變。可采用接近預期頻率范圍用足夠小步進(例如1dB)來測量探頭的線性響應，且測量場強宜控制在驗證暗室中使用的場強表K.2探頭線性測量的示例表K.2探頭線性測量的示例(續)0標準角錐形喇叭天線的遠場增益可準確地確定(在[1]2)中報告不確定度小于0.1dB)。遠場增益場區域進行校準。可用[2]中的公式確定標準增益喇叭天線的近場增益。在假設喇叭的口徑是二次相影響，例如喇叭邊際的多次反射，還有口徑的更高階的模式等。根據頻率和喇叭設計，誤差通常在方括號中提到的參考文件在條款K.6。5%。喇叭天線的增益可用實驗方法確定。例如，增益可使用三天線法在減少的距離用推導技術確在校準中推薦的天線和試驗探頭的距離至少為0探頭校準宜在一個全電波暗室或者在地面鋪設了滿足K.4.2.1要求的吸波材料的半電波暗室中進行。如果使用全電波暗室，推薦的用于探頭校準的最小內部工作尺寸是5m(長)×3m(寬)×3m準空間內有一個球形的靜區。本附錄的特定要求專用于位于天線波瓣軸上的試驗點的VSWR試驗。試驗固定裝置及其影響不能被完全評估(例如探頭的固定裝置可能暴露在電傳遞到發射裝置的凈功率可使用一個4端口的雙向定向耦合器試驗，或者兩個3端口的單向定向42源31圖K.2發射裝置凈功率測量配置如果知道天線的VSWR,可使用一個單獨的三端口耦合器。例如，如果天線的VSWR為1.5那么等效于電壓反射系數為0.2。準確度受到耦合器方向性的影響。方向性是衡量耦合器隔離前向和反向如，發射天線的VSWR是1.5,耦合器的方向性是20dB,由限定方向性決定的凈功率的絕對最大不確定度是0.22dB-0.18dB=0.04dB,符合U形分布(0.22dB是1.5的VSWR產生的入射功率的損Pnet=CfwaPM?(1-VRC2)喇叭天線的增益用K.3.4描述的方法獲得。天線軸向電場(V/m)由公式(K.6)確定K.4.2.4暗室驗證試驗頻率范圍和頻率步進暗室的VSWR試驗應覆蓋預期的電平設置探頭的頻率發射喇叭天線發射喇叭天線場強探頭標準增益喇叭天線吸波材料ALAL的場強(例如20V/m)進行試驗。當發射天線和場強探頭都垂直極化時，在所有位置所有頻率記錄探K.4.2.6VSWR的接受準則VSWR測量結果應通過使用下面的程序比較。場強的計算參考K.4.2.3。b)數據的調整計算的場強值之間的差異為修正值k,用于90cm～120cm的所有數據。如：比較1m距離的探頭測量值Vm(如21V/m)與計算值V(如20V/m)。修正值k是一些場強探頭有金屬外殼或者探頭桿，例如電池或電路。這些元件在探頭校準中探頭固定裝置可引起電磁場的反射。因此，固定裝置對校準結a)把探頭放在相對介電常數小于1.2,損耗正切角小于0.005的支撐材料上。探頭的位置要與校準設置一樣。參考固定裝置宜盡可能地小。其他支撐物要不影響試驗，并且至少離探頭c)記錄所有的校準頻率點的探頭讀數。如果需要在每個校準位置旋轉或者重新定位探頭(對各d)移除參考固定裝置并用待測的探影響暗室的VSWR。發射天線應和暗室VSWR的試驗以及探頭校準時所用發射天線相同。乙烯材料AL配置顯示在圖K.6和圖K.7,從喇叭天線的口應另外評估(見K.4.2.7)。在所有位置生成恒定場，例如20V/m。生成的場強需要在場強探頭的動態范圍之內。發射天線和場強探頭都使用垂直極化：記錄所有位置的所有頻率的探頭讀數。將天線和探頭水平極化，重復位置數據L-20m~L+30cm探頭校準應使用滿足K.4要求的測量系統/環境。K.4.3.2試驗布置不能完全滿足K.4.2.7的探頭固定裝置會導致大的MU。因此應使用K.4.2.7驗證過的探頭固定應被試驗實驗室使用以限制各向同性的影響。如果生產商在數據表中未說明任何場強探頭的方向測量布置的示例見圖K.9和圖K.10。與驗證與驗證測試一樣GB/T17626.3—2023/IECK.5替代的探頭校準環境和方法K.5.1概述K.5.2使用TEM室校準場強探頭中5.2所述的方法。TEM室的上限頻率典型值是幾百MHz。TEM室芯板與上頂板或下底板之間中 (K.7)TEM室的VSWR宜保持小值，如小于1.3以減小MU。測量Pn的替代方法是使用校準過的、低VSWR的衰減器和連接到TEM室輸出口的功率探頭進K.5.3用波導室校準場強探頭圖K.11波導室橫截面圖校準實驗室應確保波導室工作在主模TE1。模式。應避免能激發更高次模式的頻率。波導制造商式中，μ和e是波導材料的磁導率和介電常數。對充滿空氣的波GB/T17626.3—2023/IECK.5.5用增益傳遞法校準場強探頭可使用傳遞探頭在場發生設備(工作標準裝置)里建立標準場。傳遞探頭的響應可通過理論計算(如偶極子探頭),或依據K.5.2或K.5.3描述的方法進行校準得到。工作標準裝置的傳輸函數可由傳—受試探頭在結構上(尺寸和元件設計)和參考文獻[7]和參考文獻[8]對以上方法有提供更多信息。K.6參考文獻[1]STUBENRAUCH,C.,NEWELL,C.A.C.,REPJAR,A.C.A.,MacREYTAMURAD.T.,LARSON,F.H.,LEMANCZYK,J.,BEHE,R.,PORTIER,G.,ZEHREN,J.C.,HOLLMANN,H.,HUNTER,J.D.,GENTLE,D.G.,andDeVREEDE,J.P.M.InternationalInter-comparisonofHornGainatX—Band.IEEETrans.OnAntennasVol.44,No.10[2]IEEE1309,Cal[3]KANDA,M.andKAWALKO,S.Near