1、版權所有, 2000 (c) TRI 德律泰電子（蘇州）有限公司.在線測試儀應用原理篇制作 Winchl Cheng Training(R) for TR-518F SeriesDate:12/01/2000應用教程（二）Http:/E-Mail:2022/9/23電阻測試 系統(tǒng)依標準值（STD_V）選取相應大小的電流源。被測電阻愈大, 測試電流須更小, 以確保量回被測電阻兩端的電壓VO在規(guī)定的範圍(0.151.5V)之內(nèi).2022/9/23GUARDING原理 （隔離點的選擇,通過按F7或ALT+F7,或者加適當延時等修改後再按F7或ALT+F7由系統(tǒng)自動完成,絕大多數(shù)可達到效果. 經(jīng)驗表明

2、,隔離點太多,測量值可能不穩(wěn)定. 一般選擇02個隔離點可以滿足要求,並且隔離點的選擇一般僅隔離一面. 如果按F7或ALT+F7後,系統(tǒng)選擇的隔離點太多,則要重新作自動隔離,以找到一種隔離點較少且測量效果最好的方案.）2022/9/23 RX / R 量回的阻值 Rm = Rx * R / (Rx + R) Rx .量回的阻值 Rm = Rx * R / (Rx + R) Rx . 2022/9/23Rx / C 2022/9/23當C較大(級以上)時,當C較大(級以上)時, 若仍釆用定電流源方式, 則電容會將電流源分流,直至電容充飽時才成斷路, 這樣會消耗太久測量時間. 此時改以電壓源(0.2

3、VDC)對電容充電, 迅速將電容加至0.2VDC (斷路), 再量回電流Ix值, 即可求得Rx,( RX = 0.2VDC/IX ) 在TR-518F系列測試儀中,選擇MODE2: HIGH SPEED FOR R/C , 再加適量延時即可。2022/9/23EXAMPLE： 如果在被測電阻RX的相關電路中有電容存在 , 如FIGURE 10示 .通過設置虛地隔離點,可以提高測試速度, 見FIGURE 11, 12 . 2022/9/23RX / D ( FIGURE 6 ) 推而廣之,電阻與帶PN結的零件并聯(lián).( 包括D, ZEN, TR, FET, IC , etc ).2022/9/23

4、MODE 0 MODE 1假設 RX = 2k 若 IS = 500A 則 VR = IS * R = 500 * 10-6(A) * 2 * 103() = 1(V)此時D已導通, 將Rx兩端限壓至約0.7V.那么RM = 0.7(V) / (500 * 10-6(A) = 1.4 * 103() = 1.4k Rx .此時, 要改以低一檔電流源測試. 在TR-518F系列測試儀中為MODE1. 若 IS = 50A 則 VR = IS * R = 50 * 10-6(A) * 2 * 103() =0.1(V)此時D仍處于截止狀態(tài), 故可量得正確的Rx值. 即 R M = 0.1(V) /

5、 (50 * 10-6(A) = 2 * 103() = 2(K) = Rx .結論：釆用低一檔電流源,可避免D的“限壓”.2022/9/23另外,互換高低點(HI-PINLO-PIN). 即IS從DIODE的陰極注入, 亦可避免D的“限壓”. 互換高低點不可行的情況可能出現(xiàn)在以下連接電路. 2022/9/23RX / L ( FIGURE 13 ) 2022/9/23RX / L若仍以電流源量測Rx. 由于L的暫態(tài)為由“OPEN”至“SHORT”,其暫態(tài)時間不易控制, 而穩(wěn)態(tài)時電感相當于“SHORT”,將電流源完全分流, 致Vx0, 此時, 須以AC來測量, 使得L呈現(xiàn)一阻抗值(愈大愈好).

6、 再利用相位差即可計算出Rx, 見 FIGURE 14 . 2022/9/23電容測試 由OSC分別產(chǎn)生1kHZ / 10kHZ / 100kHZ / 1MHZ 的AC輸出信號, 其振幅均為固定(40mVrms) (FIGURE 16 ) VS / IX = XC =1 / ( jCX )= 1 / ( 2f CX )量回IX 的振幅, 即可求得CX . 2022/9/23DC法 (3F以上) 對于大電容, 若使用上述AC電壓源模式測試時, 將需要較低頻率來測試,從而增加ICT的測試時間. 另外,大電容交流阻抗很小, 如此無法判斷電容內(nèi)部是否有短路發(fā)生. 2022/9/23此時須以DC測量,

7、見FIGURE 17 .測試順序 (FIGURE 18 ):在被測電容上加載定電流, 然后通過測量其積分電壓, 計算其電容值. 2022/9/23CX / CCM = CX + C CX 2022/9/23CX / R ( FIGURE 19 ) 釆用AC常規(guī)法, 則因R的分流會使CM CX . 相位分離法 ( FIGURE 20 ) 2022/9/23電感測試 AC法 ( FIGURE 21 )FIGURE 21AC信號源與電容同.VS / IX = XL =jLX= 2f LX量回IX振幅, 即可求得LX 2022/9/23LX / R ( FIGURE 22 ) 相位分離法 ( FIGU

8、RE 23 ) 2022/9/23DIODE D ( 各種零件的PN結, 包括D, ZEN,LED,TR, FET, SCR,TRIAC, PHOTO COUPLER, IC , etc ). 測試範圍: 2022/9/23 LED 此時, 將ACT_V及STD_V均設為2V或更高, 這樣可看到LED發(fā)光. 不然, 要適當延時, 亦可看見發(fā)光. 2022/9/23 電容極性測試 測試方式: 以可程式電壓源, 對電容充電,直至充飽后, 再測量正向漏電流. 正常情況下,反向漏電流會很大.據(jù)此可測插反情形.但實際中, 由于大量主,被動元件對電流的分流作用, 對電容的極性測試比較有限, 須小心試之 。

9、 電容極性測試的另一方法是三端測試, 須在上方加一探針觸及殼體. 在電容的正負極加載直流電壓, 至充飽后測量殼體電壓. 由于正負極與殼體間的阻抗差異, 故對于插反的電容所測量到的殼體電壓會與正確時不同. 據(jù)此可判別電容的極性. 2022/9/23DX / D 如FIGURE 24示, 兩個二極體(推而廣之,指PN結)異向并聯(lián), 這時正,反兩方向所測量到的電壓均約為0.7V. 如以單步測試, 則可能出現(xiàn)其中一顆DIODE漏件(或開路)或插反不可測的情況,故須釆用正,反向雙步測試.這樣,如有一顆漏件或插反, 則兩步當中必有一步測量結果遠大于0.7V. 而對于同向并聯(lián),雖然漏件(或開路)必不可測,但

10、增加一步反向測試,則插反必可以測. 請注意: 釆用正,反向雙步測試有時甚至可偵出D錯件或元件不良.因此,建議在編制測試資料時,所有二極體均釆用正,反向雙步測試.方法如下:按CTRL+ENTER插入一步後,分別將Stand_V設置為9.9V, MODE為1, RPT為5/D, 如并聯(lián)大電容,則要足夠延時. 再按F8得Meas_V,然后以Meas_V修改Stand_V,設+/-Lm%為2030(不提倡使用-1) 2022/9/23DX / D2022/9/23 DX / C ( FIGURE 25 ) 測試方式: 以可程式電壓源加載電流, 對電容進行充電,在充飽后測量其電壓.TR-518F系列測試儀提供MODE0 ( 3mA ); MODE1 ( 20 fF (normal) 20 x