1、文檔說明：本文參照業界通用做法，定義了海思終端芯片類COT的推薦ATE測試策略，以及此類芯片在測試程序開發及量產時各版本的的測試規范及測試項目要求。因技術和芯片規格持續發展，各IP的測試規范不斷添加和完善。對于成熟IP，程序開發時需要遵守該規范，新IP測試規范建立時可參考對應的測試規范。文檔目的：支撐終端芯片媒體類產品達成HcDa測試芯片斶出管咻拉狀態下漏電DCJOZL.PlTODHcD0測試芯片輸出管腳上拉狀態下漏電PLLPLL.FREQc冽試JLL的時鐘箍出管腳跖率及:口口信號是否正常通NJTA喳波PLL工作將PLL的輸出口rv分頻以后，引到芯片PA粒行測試，卷蓋PLL頻率輸出和Loci:

2、借三PLLFREQLOCK口e.RTCRTC_HAS00a測優E.TC題字道輯漏電通過ITA喳匿RTC,RTC_X1Nrtc_xoutH驚量測RrC_K0UT電流RTCJREQc*.oc測成LTC輸出時鐘是否正常通過IT丹嚙匿RTCsRT_7roUT輸入爰.而8K時鐘在RTC_CLKpad進行觀測-DDRDDR4_BIST_IKT_AGHigiiSpeed)DDR二ADDRChlDTJATA內環回E151蓋,由于Pnjflfi已由卬環覆未，內環只測試最高速DDR4_BIST_IKT_DXi：HigiiSpeed)DD：R4_BIST_MID_AC(Pr0Hr)y*ocUDRuADDR.ChlD

3、.DATA中環回BIS1差蓋，同時整反DURPiofik算點根據項目實際需求選口加34036&節為6619601333MH2J,品終根據量產顫據筑計情況進行精簡DDR4_BIST_MID_DXi；pEoflE00DDR4_BIST_EXT_AC(MilSpeed*D0DR二.4口DR.CMD.口ATA外環回EEST建蓋，考慮到外環回對測試環境（阻抗匹配太敏感，口環只考慮測試卬低速5如果CP上有更好的匹配（如管腳懸空則可以考慮在CP上覆蓋外環高速DDR4_BIST_EXT_DX(MilSpeed*00EDR4_BI5T_EEiAJ.*/j外掛DDR痢粒進行DRAMBIW測試DDR3_0IST_I

4、NT_AC(High.Spieed)yEDJ!_ADDR.CblirDATA內環回月EST差蓋，由于Prcflr已由中環覆差？內以二測認品高速DDR3_BIST_1NT_DS；HigkSpeed.)J*DDR3_BIST_L11D_AC(Ppffc)DaDDKADDfLChUXDATA中環回BIS1差蓋，同時覆蓋DDAPiofik頻點DDR3_BIST_L11D_DX(pEffc)JDaDDR3_BIST_EXT_AC*0aDDRJADDRCMDDATA外環回BI6T覆蓋，考慮到外環回對測試環境印且抗匹配本地感,外弁Q考慮測試中衽速J如果B上有更好的匹配1如管加懸空）則可以考慮在up上覆蓋外弁

5、DDR3_BIST_EXT_DX*0aDDR3_BIST_DRAM*外掛DDR3顆粒進行DRAM日1ST測記USB3.DUSB3_BSIBEKT*/J誤的溫EI5T測試USB3_BST_INT_LPBKj*ocIk-io-Rx內環回汨iUSB2.0USB2_BIST_HSJUSBHS(highsp=d)模式7的印缸測試USB2_BEIFS*/USBFS(Fullspeed)模式下的BIST測試PCIEPCIE_B1ST_BERT隆碼理El”測試PCE_B1ST_INT_LPBKTk-gRE內環回再！ISPCIE_IOj*./JPCIEREFCLK輸出頻率測試VideoDACINLc*/j測試V

6、ideciDAC靜態參數：出分非線性口yrc*./J測試VidfoDAC靜態變數：差分非線性OFFSETERRORc*/J測甫血eWAC靜態參數：IfiSFSRc*./J測試VideWAC靜態變教：病用范圍GAINERROR0/l測ifividmDAC靜態曼數：知益誤差KFCTOtOHK0*/l.用iTYideDAC描您攀數：里調性Mhmafth0*/l制式VideDAC靜態曼數：一致性SNR0*/l.用iTVideDAC動感攀數：信噪比THD0*/l洲港VidmDAC動態曼數：諧波失百SFDR0e/測試YidkOA匚動態餐數：無金故幼至范圍SINAD0e/范試VideDA匚動芯整頓：信號噪聲

7、失直比AurfioDACINL0e/測試AmboDAt熟態禁敕：積分非線性XL0e/測優.4iKboDAt粉芯替觸：差分非線性SNR0e/測試AndioDAC動態禁敕：信啤比SFDR口*測試人研cDA動態琴敷：無雜散動冬三國IHDc測試工面出可？動態堡題：諧避失真QAM_ADCINLc*測忒4亡靜態參勘二雙分非線性DNLc測試5靜態參制|二差分非線性GNRc*測忒AD亡動態參獨;信噪比SFDRc/測試5亡動態冬制!二無雜散動態范圍IHDc*/J測試ADC動態嬖蜀!：諧激失具HDLnHDM1_TX0/測試HDMITXPHYJJ謊罡舌正常需要后速扳卡captureHDfl_RXc測試HDMIRXP

8、H丫功能是否正常需要外接1%調遂人原始信號LVDSLVDS_TK0*/測優IV口51?勘能是否正常需要圖速樞卡captureMPMIPIRXc測試MIPI艮俎就是否正常需.要高速板卡情人相應碼型VBOVBO_TXc*/J測試VBOTX功能是否正常需要高速扳卡captureE叫mtorDA.CINL0./測試EuqaErDA.匚態荽蟻；積分非線性：I?；L.0e/測優EuqatornA.匚態荽蚣：差分非線性SNR0./測試EuqaErDA匚動態荽蟻；倡喔比SFDR0e/測優EuqatornA.匚動態荽蚣：無雜觸動態范圍GAINERXOR0./測試EuqaErDA.匚態荽徽；熠益誤差OUTSETE

9、RRORc測施uq的rEiAC酬態夢做二8Llisinjjtch.c測力在uqaJxrDAC靜態繁極:一軟性INLc測guqaLorADC前二爹數：積=E線1性u:，_c浙拉uqaJxrADC靜工禁極二差線性5NRc測句讓uqULorADC動態井做二信噪比SFDRc.!測試LijqamrAJDC動態夢覲二無雜散動態苑圍GAINERRORc*/J測血曄mrADC靜態夢數：相益誤差OFFSETIRKORc./J測ijtEuqMarADC靜態夢數：ffiHCBUSCBUSc*oc測試CEU$模坡，用于支持期HL捌格AJICARCc.oc測試ARC模塊，用于音痂回傳IIPHYFEPtHLBBTc*oc測施EFHT功能罡否正常DIE_IDDIE_ID_IRC0*.東道TrstFlDW測試之前叨始談職完全FadLow-啟動條件（需同時滿足條件1和2,或滿足條件3，投入產出比要合算）：1、發貨總量超過XXK，且最新測試程序版本連續XXlot測試良率波動Xsigma2、FDPPM連續XX月維持低水準（降成本策略：整體策略：RTP前期以快速質量達標為優先，逐步進行測試降成本。1、根據AP/BB降成本路標和規劃，在項目前期