1、過程能力分析辦法文件編號:版本:1.0擬制:日期:審核:日期:批準:日期:xxxxxx有限公司過程能力分析辦法編號：頁數(shù)：9版本：1.01、目的通過統(tǒng)計過程控制來有效的了解過程變差并使之達到統(tǒng)計控制狀態(tài)，在此狀態(tài)下可以通過減少普通原因變差和改進過程中的目標來進一步改進，以減少成本并提高生產(chǎn)率；同時，為操作過程的人員之間、生產(chǎn)線和支持活動的人員之間提供了通用的語言，并為解決問題，采取正確有效的措施提供依據(jù)。2、適用范圍計量型：Ppk、Cpk、Cm煥計分析；計數(shù)型：不合格品率的P圖。3、術(shù)語CMK機器能力指數(shù)PPK過程性能指數(shù)CPK:過程能力指數(shù)4、職責開發(fā)部、制造部、質(zhì)保部負責數(shù)據(jù)收集。質(zhì)保部負

2、責進行數(shù)據(jù)分析、進行相應措施并跟蹤。5、規(guī)定5.1 控制圖的建立與分析在進行統(tǒng)計過程控制時，在本公司內(nèi)最常用的方法是均值和極差圖（X-R圖）5.1.1 收集數(shù)據(jù)5.1.1.1 子組大小選擇子組應使得一個子組內(nèi)在該單元中的各樣本之間出現(xiàn)變差的機會小。在本公司目前狀態(tài)下，子組一般由4到5件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品組合；5.1.1.2 子組頻率在過程的初期研究中，通常是連續(xù)進行分組或很短的時間間隔進行分組，當子組已處于穩(wěn)定狀態(tài)時，子組的間隔時間可以增加；5.1.1.3 子組數(shù)的大小一般情況下，包含100或更多單值讀數(shù)的25或更多個子組可以很好地用來檢驗穩(wěn)定性。5.1.2 建立控制圖X-R圖表內(nèi)還應包括單位名稱

3、、機器名稱/編號、控制卡名稱、量具名稱/編號、檢驗部門、零件名稱/零件號、上干擾極限、下干擾極限、上警告極限、下警告極限、控制特性值、控制中心、抽樣頻次、樣本大小等。通常是將X圖畫在R圖之上方，下面再接一個數(shù)據(jù)欄，數(shù)據(jù)欄應包括每個讀數(shù)的空間，同時還應包括記錄讀數(shù)的和、均值、極差、以及日期/時間或其它識別子組的代碼的空間。5.1.3 計算每個子組的均值和極差對于每個子組，計算：X1+X2+XnX=nR=X最大值X最小值式中：XI、X2為子組內(nèi)的每個測量值。n為子組的樣本容量。7 選擇控制圖的刻度對于X圖，坐標上的刻度值的最大值與最小值之差應至少為子組均值的最大值與最小值差的2倍。對于R圖，刻度值

4、應從最低值為0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差的2倍。7 畫圖將均值和極差分別畫在其各自的圖上，將各點用直線聯(lián)接起來從而得到可見的圖形和趨勢。7 計算控制限首先計算：R1+R+RKR=KX1+X2+-+X<X=K式中：K為子組的數(shù)量，R1和X1即為第1個子組的極差和均值，等等。為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均值和極差的變化和范圍，對極差和均值的上、下控制限進行了計算：UCLr=D4RLCLr=D3RUCLx=X+A2RLCLx=X-A2R式中：D、Q、A2為常數(shù)，它們隨樣本容量的不同而不同，具體內(nèi)容見附表:n2345678910D43.272.572.282.112

5、.001.921.861.821.78D3*0.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31計算后將平均極差和過程均值畫成水平實線，各控制限畫成水平虛線；把線上標上記號。5.3.1 數(shù)據(jù)點的分析R圖和X圖的分析應是獨立統(tǒng)一的，即分別分析又比較分析。對于控制圖上的數(shù)據(jù)點，存在以下現(xiàn)象時進行調(diào)查分析并采取相應措施：5.3.1.1 超出控制限的點一一出現(xiàn)一個或多個點超出任何一個控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)。5.3.1.2 連續(xù)7點位于平均值的一側(cè)、連續(xù)7點上升(后點等于或大于前點)或下降一一表明過程已改變或出現(xiàn)改變趨勢。5.3.1.3

6、 明顯的非隨機圖形：一般地，在約2/3的描點落在控制限的中間三分之一的區(qū)域內(nèi)，大約1/3的點落在其外的三分之二的區(qū)域。對于數(shù)據(jù)中的每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進行一次過程操作分析，以確定特殊原因的產(chǎn)生的理由，糾正該狀態(tài)，并防止它再現(xiàn)。5.3.2 重新計算控制限當進行首次過程研究或重新評定過程能力時，在排除了已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊原因的任何失控的點后，要重新計算并描畫平均極差、過程均值和控制限。確保當與新的控制限相比時，所有的數(shù)據(jù)點看起來都處于受控狀態(tài)，如有必要，重復以上程序。5、2過程能力與過程性能的理解及分析定義：過程固有變差：僅由于普通原因產(chǎn)生的那部分過程變差。過程總變差：由于普通和特殊兩種

7、原因所造成的變差，本變差可用樣本標準差S來估計。即：-2S=n(Xi-X)Ei=1n-1=o-s過程能力：僅用于統(tǒng)計穩(wěn)定的過程，是過程固有變差的6(T范圍，式中(T記為:RR/d2=R/d2過程性能：過程總變差的6b范圍，式中b通常通過樣本的標準差S計算而得，記為：osCp：能力指數(shù)，定義為容差寬度除以過程能力，不考慮過程有無偏移，一般表達為：USL-LSLCp=6RR/d2PP:性能指數(shù)，定義為不考慮過程有無偏移時，容差范圍除以過程性能，一般表達為:USL-LSLPp=6(Ts般表達為:Cpu：上限能力指數(shù)，定義為上容差范圍上限除以實際過程分布寬度上限,USLCpu=3RR/d2Cpl:下限

8、能力指數(shù)，定義為容差范圍下限除以實際過程分布寬度下限，一般表達為：X-LSLCpl=3RR/d2Cpk:考慮到過程有無偏移的能力指數(shù)，定義為Cpu或Cpl的最小值。它等于過程均值與最近的規(guī)范限之間的差除以過程總分布寬度的一半。即:USL-XXLSL或的最小值。3RR/d23RR/d2Ppk:是說明過程有無偏移的性能指數(shù)，定義為：USLXXLSL或的最小值。3（Ts3（Ts5.2.2理解與分析能力反映普通原因引起的變差，并且?guī)缀蹩偸且獙ο到y(tǒng)采取管理措施來提高能力，并且通過連續(xù)監(jiān)視控制圖確保系統(tǒng)改進的有效性。一般地，所有能力量度指數(shù)必須滿足以下四個條件：產(chǎn)生的數(shù)據(jù)過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài)；過程數(shù)據(jù)的單

9、個測量值基本上處于正態(tài)分布；規(guī)范是以顧客要求為基礎的；存在一種將計算的指數(shù)（或比值）看成為“真實”的指數(shù)（或比值）的意愿。為了符合顧客的要求，本公司對能力指數(shù)一般規(guī)定如下:Cp值的評定：容等式、Cp評定ACp>1.33過程穩(wěn)定，可將規(guī)格容差縮小或勝任更精密的作業(yè)B1.00<Cp<1.33有發(fā)生不合格品的危險，須加強監(jiān)控并迅速采取措施C0.83<Cp<1.00檢查規(guī)格及作業(yè)規(guī)范，可能本過程不能勝任此項作業(yè)DCp<0.83應采取緊急措施，全面檢查所后可能影響的因素，必要時停止生產(chǎn).CPK®的評定:內(nèi)容等級Cp評定ACpQ1.33過程能力足夠。B1.00

10、<Cpk<1.33過程能力尚可CCpk<1.00過程應加以改善。Pp及PPK值評定:內(nèi)容等級Pp、Ppk評定APp和Ppk>1.67該過程可能滿足顧客要求.批準后，開始生產(chǎn)并按照已批準的控制計劃進行.B1.33<Ppkw1.67該過程不能滿足顧客要求.生產(chǎn)件批準后，從開始生產(chǎn)就對特性加以重視，直到實際的Cpk>1.33為止.CPpk<1.33該過程沒有達到滿足顧客要求的標準.必須優(yōu)先進行過程改進并形成糾正措施文件.對于未滿足的能力指數(shù)所要求作出的措施如下：a.通過減少普通原因引起的變差或?qū)⑦^程均值調(diào)整到接近目標值方法來改進過程性能，這通常意味著要采取管

11、理措施來改進系統(tǒng)；b.對于那些要采取緊急措施來滿足短期需要的情況，可以用以下的臨時辦法:.對輸出進行篩選，根據(jù)需要進行報廢或返工處谿;改變規(guī)范使之與過程性能一致.5、3計量型控制圖一一P圖定義P圖用來測量在一批檢驗項目中不合格品（不符合或所謂的缺陷）項目的百分數(shù)。使用前提建立一個用于行動的環(huán)境；定義過程。必須根據(jù)它與其它操作/使用者的關(guān)系，影響過程每個階段的過程/要素（人、設備、材料、方法和環(huán)境）來理解過程；確定要管理的特性。將精力集中在對過程改進最有積極作用的那些特性上；定義測量系統(tǒng)；使不必要的變差變小。收集數(shù)據(jù)選擇子組的容量，頻率及數(shù)量；a.子組容量一一一般要求較大的子組容量以便檢驗出性能

12、的一般變化。b.分組頻率一一應根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。c.子組的數(shù)量一一收集數(shù)據(jù)的時間應足夠長，使得能找到所有可能的影響過程的變差源。計算每個子組內(nèi)的不合格品率P=nP/nn一一被檢項目的數(shù)量np一一發(fā)現(xiàn)不合格項目的數(shù)量選擇控制圖的坐標刻度描繪數(shù)據(jù)點用的圖應將不合格品率作為縱坐標，子組識別（小時、天等）作為橫坐標。橫坐標的刻度應從0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的1.5到2倍的值。計算控制限計算過程平均不合格率（P）:P=n1P1+n2P2+nkPk/n1+n2+nk式中：nP1,nP2及m,n2為每個子組內(nèi)的不合格項目數(shù)及檢查的項目數(shù)。計算上、下控制限

13、（UCLLCL）在實際生產(chǎn)過程中，當各子組容量與其平均值相差不超過正負25%寸（典型的處于相對穩(wěn)定狀態(tài)下的實際生產(chǎn)量），可用平均樣本容量（n）來計算控制限。UCLp,LCLp=p±3p（1-p）/n當子組容量的變化超過上述值時，則要求單獨計算這些特別小或特別大的樣本時期內(nèi)的控制限。數(shù)據(jù)點的分析對于控制圖上的數(shù)據(jù)點，存在以下現(xiàn)象時進行調(diào)查分析并采取相應措施：超出控制限的點一一超出任一控制限就證明在那點不穩(wěn)定。連續(xù)7點位于平均值的一側(cè)、連續(xù)7點上升（后點等于或大于前點）或下降一一表明過程已改變或出現(xiàn)改變趨勢。明顯的非隨機圖形：一般地，在約2/3的描點落在控制限的中間三分之一的區(qū)域內(nèi)，大約1/3的點落在其外的三分之二的區(qū)域。對于數(shù)據(jù)中的每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進行一次過程操作分析，以確定特殊原因的產(chǎn)生的理由，糾正該狀態(tài)，并防止它再現(xiàn)。重新計算控制限當進行首次過程研究或重新評定過程能力時，在排除了已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊原因的任何失控的點后，應重新計算控制限。計算過程能力計量型控制圖的能力指的是將/或不將過程的中心調(diào)整到規(guī)范的目標值后，（穩(wěn)定）過程產(chǎn)生的總的（固有的）變差。對于P圖，過程能力是通過過程平均不合格品率P來表示，當所有點受控后才計算該值.評價過