1、 電阻率測井儀要求介質必須具有一定的電阻率測井儀要求介質必須具有一定的 導電能力，在油基泥漿和空氣鉆井內無法測導電能力，在油基泥漿和空氣鉆井內無法測 量，為解決這一問題，量，為解決這一問題，1949年年H.G.Doll以電以電 磁感應原理為基礎，提出了感應測井方法，磁感應原理為基礎，提出了感應測井方法， 后來出現了實際生產中常用的雙感應測井，后來出現了實際生產中常用的雙感應測井， 20世紀世紀90年代出現了陣列感應測井，并得到年代出現了陣列感應測井，并得到 廣泛應用。廣泛應用。 一、電磁感應原理一、電磁感應原理 當一個導體回路中的電流變化時，在附近的另一個當一個導體回路中的電流變化時，在附近的

2、另一個 導體回路中將出現感應電流；或者把一個磁鐵在一個閉導體回路中將出現感應電流；或者把一個磁鐵在一個閉 合導體回路附近移動時，回路中也將出現感應電流，即合導體回路附近移動時，回路中也將出現感應電流，即 穿過一個回路的磁通發生變化時，這個回路中將出現感穿過一個回路的磁通發生變化時，這個回路中將出現感 應電動勢，并在回路中產生電流，感應電動勢等于磁通應電動勢，并在回路中產生電流，感應電動勢等于磁通 量變化率的負值，這一現象稱為電磁感應現象。量變化率的負值，這一現象稱為電磁感應現象。 dt d 感應電動勢（伏特）；感應電動勢（伏特）； 磁通量（韋伯）；磁通量（韋伯）；T T 時間（秒）時間（秒）

3、二、感應測井儀的結構二、感應測井儀的結構 感應測井儀的井下部分如感應測井儀的井下部分如 圖所示。它主要由線圈系圖所示。它主要由線圈系 和必須的電子線路組成。和必須的電子線路組成。 其中線圈系由發射線圈其中線圈系由發射線圈T和和 接收線圈接收線圈R按一定方式組合按一定方式組合 而成。各類線圈分別用匝而成。各類線圈分別用匝 數數N和截面積和截面積S來描述。發來描述。發 射線圈和接受線圈間的距射線圈和接受線圈間的距 離稱為離稱為線圈距，記作線圈距，記作L。 三、感應測井原理三、感應測井原理 單元環單元環：將儀器周圍介質：將儀器周圍介質 設想成，是由井軸為中心，設想成，是由井軸為中心， 半徑為半徑為r

4、和深度為和深度為z的各不的各不 相同的許許多多地層圓環相同的許許多多地層圓環 組成，這些圓環叫單元環。組成，這些圓環叫單元環。 此時，可以把地層看做是此時，可以把地層看做是 有無數個半徑不同但同軸有無數個半徑不同但同軸 的線圈組成的。的線圈組成的。 1、一次磁場、一次磁場 測井時，發射線圈測井時，發射線圈T（nT、ST)通有交流電，發射頻率為通有交流電，發射頻率為 20kHz。此時，在接收線圈。此時，在接收線圈(nR、SR）中產生的感應電動勢與周）中產生的感應電動勢與周 圍介質的電阻率無關，稱為無用信號；在周圍介質的線圈系中也圍介質的電阻率無關，稱為無用信號；在周圍介質的線圈系中也 產生感應電

5、動勢和感生電流。在單元環內產生的感應電動勢及感產生感應電動勢和感生電流。在單元環內產生的感應電動勢及感 生電流分別為：生電流分別為： I l rSni de T TT 3 2 2 3 4 T TT l rSni Id 其中：其中： 介質的電導率，（西門子介質的電導率，（西門子/米），電阻率的米），電阻率的 倒數；倒數； 介質的磁導率；介質的磁導率； 交變電流的角頻率；交變電流的角頻率； r單元環的半徑；單元環的半徑； I發射電流強度。發射電流強度。 Idrdz 2、二次磁場、二次磁場 單元環內感生電流是渦流，也是交變電流，在周圍空間產生單元環內感生電流是渦流，也是交變電流，在周圍空間產生 二次

6、磁場，二次磁場在接收線圈二次磁場，二次磁場在接收線圈R中產生的感應電動勢為：中產生的感應電動勢為： drdz ll rL L Issnn de RT RTRT R 33 322 24 lR、lT分別為單元環到接收線圈和發射線圈的距離；分別為單元環到接收線圈和發射線圈的距離； L Issnn RTRT 4 K 22 ? K儀 33 3 2 RTl l rL g 其中：其中：K儀儀儀器常數；儀器常數；g單元環幾何因子，僅與單元環和線圈系單元環幾何因子，僅與單元環和線圈系 的相對位置有關的相對位置有關 則所有單元環在接收線圈內產生的感應電動勢為：則所有單元環在接收線圈內產生的感應電動勢為： 儀 3、

7、地層電導率、地層電導率 地層視電導率等于地層視電導率等于ER與儀器常數之比。與儀器常數之比。 0 drdzg K E R a 0 drdzgKER 對于分區均勻的介質，視電導率可以對于分區均勻的介質，視電導率可以a寫為：寫為： 其中：其中：Gm、Gi、Gt、Gs分別為井、侵入帶、原狀地層、圍巖的幾何因子；分別為井、侵入帶、原狀地層、圍巖的幾何因子； m、i、t、s分別為井、侵入帶、原狀地層、圍巖的電導率分別為井、侵入帶、原狀地層、圍巖的電導率 ssttiimm s s t t i i m m s a GGGG gdrdzgdrdzgdrdzgdrdzdsg 該式是感應測井視電導該式是感應測井視

8、電導 率的幾何因子表達式，率的幾何因子表達式， 說明視電導率是各區域說明視電導率是各區域 電導率的加權值，其權電導率的加權值，其權 系數是各區域的幾何因系數是各區域的幾何因 子。子。 線圈系的探測特性主要包括線圈系的橫向探線圈系的探測特性主要包括線圈系的橫向探 測特性和縱向探測特性測特性和縱向探測特性 一、幾何因子的特性一、幾何因子的特性 33 3 2 RTl l rL g 線圈系的幾何因子反映了線圈系的探測特性，線圈系的幾何因子反映了線圈系的探測特性， 它滿足歸一化條件，即：它滿足歸一化條件，即： 1 0 gdrdz 單元環的幾何因子，其物理意義是單元環介質對測得單元環的幾何因子，其物理意義

9、是單元環介質對測得 的總訊號所作的貢獻。的總訊號所作的貢獻。 二、雙線圈系的探測特性二、雙線圈系的探測特性 1 1、橫向幾何因子、橫向幾何因子 1 1）橫向微分幾何因子）橫向微分幾何因子 線圈系的橫向微分幾何因子定義為：線圈系的橫向微分幾何因子定義為： dzzrgGr),( 其物理意義是半徑為其物理意義是半徑為r r的一個單位厚度的無限長圓筒狀介質的的一個單位厚度的無限長圓筒狀介質的 電導率對電導率對aa的相對貢獻，它可以說明線圈系的橫向探測特性，的相對貢獻，它可以說明線圈系的橫向探測特性， 即井、侵入帶、原狀地層的電導率對即井、侵入帶、原狀地層的電導率對a的相對貢獻。的相對貢獻。Gr、與、與

10、r 的關系曲線分別叫橫向微幾何因子曲線的關系曲線分別叫橫向微幾何因子曲線 橫向微分幾何因子特性曲線橫向微分幾何因子特性曲線 r=0.45L處，介質的 幾何因子最大。如L增 大，則探測深度也增 大； r2L后，幾何因子 很小，說明遠離井孔 的介質對測量結果影 響小。 r=0.45L處的介質貢獻最大處的介質貢獻最大要增加探測深度，就必須增要增加探測深度，就必須增 大線圈距大線圈距L與側向測井類似與側向測井類似 2 2）橫向積分幾何因子）橫向積分幾何因子 橫向積分幾何因子定義為：橫向積分幾何因子定義為： G G橫積橫積 = = 2 0 )( d r r drrG 其物理意義為直徑為其物理意義為直徑為

11、d d的無限長圓柱狀介質電導的無限長圓柱狀介質電導 率對雙線圈系測量結果的相對貢獻。率對雙線圈系測量結果的相對貢獻。G橫積與橫積與r 的關系曲線叫橫向積分幾何因子曲線的關系曲線叫橫向積分幾何因子曲線 橫向積分幾何因子特性曲線橫向積分幾何因子特性曲線 r=2.5米的圓柱狀介質對測量的貢獻為77。r=0.5米以內 的介質對測量結果貢獻為22.5，說明井孔和侵入帶影響 較大，這是雙線圈系的一大缺點。 2 2、縱向幾何因子、縱向幾何因子 為了研究地層厚度、圍巖對視電導率的影響，為了研究地層厚度、圍巖對視電導率的影響， 需要討論線圈系的縱向探測特性需要討論線圈系的縱向探測特性 1)1)、縱向微分幾何因子

12、、縱向微分幾何因子 線圈系的縱向微分幾何因子定義為：線圈系的縱向微分幾何因子定義為： 0 ),(drzrgGz 其物理意義是其物理意義是z z值一定，值一定，1 1個單位厚度的無限延個單位厚度的無限延 伸的薄板狀介質，對伸的薄板狀介質，對a的相對貢獻，可以說明線圈的相對貢獻，可以說明線圈 系的縱向探測特性，即地層厚度、圍巖對系的縱向探測特性，即地層厚度、圍巖對a的相對的相對 貢獻。貢獻。 2 | 8 2 | 2 1 0L z z L L z L gdrG z ，當 ，當 縱向微分縱向微分 幾何因子幾何因子 將將g g對對r r積分，就積分，就 得到縱向微分何得到縱向微分何 幾因子幾因子G Gz

13、 z 其物理意義是其物理意義是z值一定，值一定，1個單個單 位厚度的無限延伸的薄板狀介位厚度的無限延伸的薄板狀介 質，對質，對a的相對貢獻，的相對貢獻， 2 | 8 2 | 2 1 2 0L z z L L z L gdrG z ，當 ，當 從曲線可以看出，在線圈系所對著的從曲線可以看出，在線圈系所對著的 部分介質范圍內，即在部分介質范圍內，即在T T，R R之間的地層貢之間的地層貢 獻最大獻最大(g(gz z最大最大) )，且對，且對aa的貢獻為常數的貢獻為常數( ( 等于等于1/2L)1/2L)；在線圈系外，即在；在線圈系外，即在T T，R R外，外， 隨著隨著z z值的增大，地層的貢獻按

14、值的增大，地層的貢獻按1 1z z2 2規律規律 減小。減小。 該圖也說明，雙線圈系的主要信號來該圖也說明，雙線圈系的主要信號來 自線圈系范圍內的介質。自線圈系范圍內的介質。 從上式還可以看出，從上式還可以看出，L L越越 小，小，g gz z越大，對讀數影響最大越大，對讀數影響最大 的縱向范圍越窄，圍巖的影響的縱向范圍越窄，圍巖的影響 就越小。因此，就越小。因此，L L的大小決定的大小決定 了雙線圈系的分層能力，了雙線圈系的分層能力，L L越越 小，分層能力越強。小，分層能力越強。 2 2）縱向積分幾何因子）縱向積分幾何因子 縱向積分幾何因子定義為：縱向積分幾何因子定義為： 2 h 2 h

15、Z )(GdzzG縱積 其物理意義為厚度為其物理意義為厚度為h h、中心與線圈系中心重合的、中心與線圈系中心重合的 無限延伸的板狀介質對雙線圈系測量結果的相對貢無限延伸的板狀介質對雙線圈系測量結果的相對貢 獻。獻。G GZ Z和和G G縱積縱積與與z z的關系曲線分別叫縱向微分和縱向的關系曲線分別叫縱向微分和縱向 積分幾何因子曲線。積分幾何因子曲線。 縱向積分幾何因子特性曲縱向積分幾何因子特性曲 線如圖所示，從曲線和公式可線如圖所示，從曲線和公式可 以看出，當以看出，當hLhLhL時，時，GzGz按按 的的 規律增加，直到規律增加，直到 時，時， Gz=1Gz=1，說明這時沒有圍巖的影，說明這

16、時沒有圍巖的影 響。響。 h L 2 1 h 可見，當地層較薄時可見，當地層較薄時(hL)(h2Lh2L時，時，Gz70Gz70， 即地層足夠厚時，圍巖影響才即地層足夠厚時，圍巖影響才 可以忽略。可以忽略。 3 3、雙線圈系探測的缺點、雙線圈系探測的缺點 1 1）井眼、侵入帶影響大）井眼、侵入帶影響大 從橫向積分幾何因子曲線可以看出，從橫向積分幾何因子曲線可以看出，r=0.5r=0.5 米的圓柱狀介質對視電導率的相對貢獻為米的圓柱狀介質對視電導率的相對貢獻為22.5%22.5%， r=2.5r=2.5米的圓柱狀介質對視電導率的相對貢獻為米的圓柱狀介質對視電導率的相對貢獻為 77%77%，r2.

17、5r2.5米以外的介質對視電導率的相對貢米以外的介質對視電導率的相對貢 獻為獻為23%23%，由此可以得出，井的影響大，探測深，由此可以得出，井的影響大，探測深 度淺。度淺。 橫向積分幾何因子特性曲線橫向積分幾何因子特性曲線 （c） 橫向微分幾何因子特性曲線橫向微分幾何因子特性曲線 2 2）地層厚度、圍巖影響大）地層厚度、圍巖影響大 從縱向積分幾何因子曲線可以看出，從縱向積分幾何因子曲線可以看出，h=1h=1米米 時，目的層和圍巖對視電導率的相對貢獻各為時，目的層和圍巖對視電導率的相對貢獻各為 50%50%；當；當h1h2h2米時，目的層對視電導率的米時，目的層對視電導率的 相對貢獻才大于相對

18、貢獻才大于70%70%。即地層足夠厚時，圍巖影。即地層足夠厚時，圍巖影 響才可以忽略響才可以忽略 由此可以看出，雙線圈系的探測特性不理想。由此可以看出，雙線圈系的探測特性不理想。 三、復合線圈系三、復合線圈系0.8m0.8m六線圈系探測特性六線圈系探測特性 1 1、0.8m0.8m六線圈系的組成六線圈系的組成 由三個發射線圈和三個接收線圈組成，其中由三個發射線圈和三個接收線圈組成，其中 T T0 0R R0 0是主線圈對，兩個線圈之間的距離為是主線圈對，兩個線圈之間的距離為0.80.8米，米， 稱為主線圈距，記作稱為主線圈距，記作Loo.TLoo.T1 1、R R1 1分別為補償發射分別為補償

19、發射 線圈和補償接收線圈，位于主線圈對的內側，線圈和補償接收線圈，位于主線圈對的內側， 其作用為消除井的影響。其作用為消除井的影響。T T2 2、R R2 2為聚焦發射線圈為聚焦發射線圈 和聚焦接收線圈，位于主線圈對外側，作用是和聚焦接收線圈，位于主線圈對外側，作用是 減小圍巖影響，提高線圈系的縱向分層能力減小圍巖影響，提高線圈系的縱向分層能力 2 2、0.8m0.8m六線圈系的探測特性六線圈系的探測特性 1 1）0.80.8米六線圈系橫向探測特性米六線圈系橫向探測特性 0.80.8米六線圈系和其主線圈對的橫向微分、積分幾何米六線圈系和其主線圈對的橫向微分、積分幾何 因子特性曲線如圖。比較發現

20、，因子特性曲線如圖。比較發現，0.80.8米六線圈系的橫向米六線圈系的橫向 微分幾何因子的極大值對應的微分幾何因子的極大值對應的r r小于主線圈對的橫向微小于主線圈對的橫向微 分幾何因子極大值對應的分幾何因子極大值對應的r r；0.80.8米六線圈系的橫向積分米六線圈系的橫向積分 幾何因子上升比較緩慢，而主線圈對的橫向積分幾何因幾何因子上升比較緩慢，而主線圈對的橫向積分幾何因 子曲線上升比較快，對應同一子曲線上升比較快，對應同一r r，0.8m0.8m六線圈系的橫向六線圈系的橫向 積分、微分幾何因子均小于主線圈對的橫向微分、積分積分、微分幾何因子均小于主線圈對的橫向微分、積分 幾何因子。由此說

21、明幾何因子。由此說明0.8m0.8m六線圈系的橫向探測特性優于六線圈系的橫向探測特性優于 主線圈對的橫向探測特性。主線圈對的橫向探測特性。 0.8m六線圈系和其主線圈對的橫向微分和積分六線圈系和其主線圈對的橫向微分和積分 幾何因子特性曲線幾何因子特性曲線 1六線圈系的橫向微分幾何因子六線圈系的橫向微分幾何因子 2六線圈系的橫向積分幾何因子六線圈系的橫向積分幾何因子 3主線圈對的橫向微分幾何因子主線圈對的橫向微分幾何因子 4主線圈對的橫向積分幾何因子主線圈對的橫向積分幾何因子 當當r G橫積橫積 2 2、0.8m0.8m六線圈系的探測特性六線圈系的探測特性 2 2）0.80.8米六線圈系縱向探測

22、特性米六線圈系縱向探測特性 0.80.8米六線圈系和其主線圈對的縱向微分、米六線圈系和其主線圈對的縱向微分、 積分幾何因子特性如圖。比較發現：積分幾何因子特性如圖。比較發現：0.80.8米六線米六線 圈系的縱向微分幾何因子的極大值大于主線圈圈系的縱向微分幾何因子的極大值大于主線圈 對的縱向微分幾何因子極大值，說明對的縱向微分幾何因子極大值，說明0.80.8米六線米六線 圈系的縱向分辨能力強。圈系的縱向分辨能力強。0.80.8米六線圈系的縱向米六線圈系的縱向 積分幾何因子上升比較快，而主線圈對的縱向積分幾何因子上升比較快，而主線圈對的縱向 積分幾何因子上升比較緩慢，積分幾何因子上升比較緩慢， 右

23、圖是右圖是0.80.8米六線圈系米六線圈系 的縱向特征曲線。與雙線圈的縱向特征曲線。與雙線圈 系的特征曲線相比，有很大系的特征曲線相比，有很大 的改進。例如，從圖上曲線的改進。例如，從圖上曲線 2 2可以看出，當可以看出，當h=lh=l米時，米時，G G 縱積縱積=0.67=0.67，而雙線圈系的，而雙線圈系的G G縱縱 積積=0.5(=0.5(見圖見圖) )，說明用六線，說明用六線 圈系時圍巖的影響大大減小圈系時圍巖的影響大大減小 。 一、感應測井理論曲線的特點一、感應測井理論曲線的特點 1、上下圍巖相同，感應曲線特點、上下圍巖相同，感應曲線特點： 電導率曲線關于地層中心對稱。厚電導率曲線關

24、于地層中心對稱。厚 層的中部，電導率等于地層值；隨層的中部，電導率等于地層值；隨 厚度的減小，視電導率受圍巖電導厚度的減小，視電導率受圍巖電導 率影響增加，與地層值的差異增大。率影響增加，與地層值的差異增大。 地層中部值與實際值最為接近。地層中部值與實際值最為接近。 層厚層厚h2m時，界面在半幅點；層時，界面在半幅點；層 厚較小時，半幅點確定的層厚厚較小時，半幅點確定的層厚實實 際層厚際層厚 2 2、上下圍巖不同，地層電導率曲線的特點、上下圍巖不同，地層電導率曲線的特點 電導率曲線為非對稱曲線。電導率曲線為非對稱曲線。 厚層（厚層（h2m）的中部，電）的中部，電 導率接近于地層實際值，隨導率接

25、近于地層實際值，隨 著厚度的減小，視電導率受著厚度的減小，視電導率受 圍巖電導率影響增加，與地圍巖電導率影響增加，與地 層的差異增大，相對于其他層的差異增大，相對于其他 地方，地層中部值與實際值地方，地層中部值與實際值 最為接近。最為接近。 上下界面分別用各自的半幅上下界面分別用各自的半幅 點確定其界面。點確定其界面。 二、感應測井曲線的影響因素二、感應測井曲線的影響因素 1 1、均質校正、均質校正 主要是指對電磁波在均勻無限介質中傳播時，主要是指對電磁波在均勻無限介質中傳播時， 其幅度衰減和相位移動的校正。由于傳播效應其幅度衰減和相位移動的校正。由于傳播效應 的影響，在均勻無限介質中測到的視

26、電阻率的影響，在均勻無限介質中測到的視電阻率aa 與真電導率與真電導率存在以下關系存在以下關系 pppp p e p a cossin1 2 Lp 2 1 2 其中：其中：p傳播常數；傳播常數；L線圈距線圈距 2 2、圍巖、圍巖- -層厚校正層厚校正 根據圖版，進行圍巖根據圖版，進行圍巖層厚校正層厚校正 3 3、侵入校正、侵入校正 如果地層沒有泥漿侵入，則經過均質校正及如果地層沒有泥漿侵入，則經過均質校正及 圍巖圍巖層厚校正后的電導率即為地層電導率。層厚校正后的電導率即為地層電導率。 如果有泥漿，則借著做侵入校正，最后得到地如果有泥漿，則借著做侵入校正，最后得到地 層電導率。層電導率。 1 1

27、、劃分滲透層、劃分滲透層 當地層厚度大于當地層厚度大于2 2米時，可用半副點法確定米時，可用半副點法確定 地層界面；對于薄地層，應采用微電阻率測井地層界面；對于薄地層，應采用微電阻率測井 曲線或短電極距的視電阻率曲線劃分地層界面。曲線或短電極距的視電阻率曲線劃分地層界面。 2 2、確定地層真電阻率、確定地層真電阻率RtRt 經過上述的視電導率曲線校正后，得到地經過上述的視電導率曲線校正后，得到地 層電導率，由地層電阻率與電導率的關系，即層電導率，由地層電阻率與電導率的關系，即 可確定地層電阻率。可確定地層電阻率。 t t R 1000 RtRt地層真電阻率（歐姆米）地層真電阻率（歐姆米） t

28、t地層電導率（毫西門子地層電導率（毫西門子/ /米）米） 3 3、 確定儲層流體性質確定儲層流體性質 已知地層巖性、孔隙度、電阻率，應用相應的關已知地層巖性、孔隙度、電阻率，應用相應的關 系式，即可確定地層水含水飽和度和油氣飽和度。系式，即可確定地層水含水飽和度和油氣飽和度。 1 1、地層電導率與電阻率的關系，單元環的概念、地層電導率與電阻率的關系，單元環的概念 2 2、線圈系的橫向及縱向幾何因子的含義、線圈系的橫向及縱向幾何因子的含義 3 3、感應測井曲線的影響因素、曲線特點及應用、感應測井曲線的影響因素、曲線特點及應用 雙感應雙感應- -八側向測井組合是另外一種重要的常規八側向測井組合是另

29、外一種重要的常規 測井組合，其中，可以用球形聚焦測井代替八側向測井組合，其中，可以用球形聚焦測井代替八側向 測井，主要用于油基鉆井液、鉆井液高侵和相對低測井，主要用于油基鉆井液、鉆井液高侵和相對低 阻地層的井中。阻地層的井中。 雙感應測井也是利用三個發射線圈和一排接收線圈進雙感應測井也是利用三個發射線圈和一排接收線圈進 行適當組合，使得一種測量具有深探測的特征；另一種測行適當組合，使得一種測量具有深探測的特征；另一種測 量具有中探測的特征。量具有中探測的特征。 深感應用主線圈距深感應用主線圈距 為為4040英寸的六線圈系，英寸的六線圈系， 中感應的三個發射線圈中感應的三個發射線圈 T0T0、T

30、1T1、T2T2與深感應公與深感應公 用，只是其接收線圈為用，只是其接收線圈為5 5 個，即個，即R0R0、rlrl、r2r2、r3r3 、r4r4，它們成不對稱排，它們成不對稱排 列，其探測深度約為深列，其探測深度約為深 感應的一半。感應的一半。 目前常用的是目前常用的是雙感應雙感應八八 側向側向組合成綜合井下儀器進行組合成綜合井下儀器進行 深、中、淺電阻率的測量。深、中、淺電阻率的測量。 T0T1T2r4R0 r3 R1r2 R2 r0 r1 在許多情況下，這種組合能夠比較清楚地指示地層在許多情況下，這種組合能夠比較清楚地指示地層 是屬于深侵入或淺侵入，并有可能根據電阻率的徑向變是屬于深侵

31、入或淺侵入，并有可能根據電阻率的徑向變 化，進一步分析油化，進一步分析油( (氣氣) )水層的特點。水層的特點。 當地層為淺當地層為淺- -中等侵入時，八側向明顯地受侵入帶影中等侵入時，八側向明顯地受侵入帶影 響，感應儀器讀數的主要部分來自未被侵入的原狀地層響，感應儀器讀數的主要部分來自未被侵入的原狀地層 。在這種條件下，深感應的讀數。在這種條件下，深感應的讀數RLLDRLLD可做為可做為RtRt最佳的最佳的 近似值。近似值。 若是侵入越來越深，中感應讀數若是侵入越來越深，中感應讀數RILMRILM主要受侵入帶主要受侵入帶 的影響。而深感應讀數的主要部分仍來自原狀地層。的影響。而深感應讀數的主

32、要部分仍來自原狀地層。 與側向測井類似，為了得到地層真電阻率，需與側向測井類似，為了得到地層真電阻率，需 要對其視電阻率進行井眼校正、圍巖要對其視電阻率進行井眼校正、圍巖- -層厚校正、層厚校正、 侵入校正，此外還需要進行傳播效應校正侵入校正，此外還需要進行傳播效應校正 1 1、均質校正、均質校正 2 2、侵入校正、侵入校正 通常必須有三種測井曲線，在雙通常必須有三種測井曲線，在雙- -八測井組合中，八測井組合中， 所采用的三條曲線是深感應（所采用的三條曲線是深感應（ILD)ILD)、中感應、中感應(ILM)(ILM) 和八側向（和八側向（LL8LL8） 五、關于電阻率法確定地層真電阻率五、關于電阻率法確定地層真電阻率RtRt的討論的討論 確定地層真電阻率確定地層真電阻率RtRt的各種電阻率法都不同程度地的各種電阻率法都不同程度地 受到泥漿，侵入帶和層厚受到泥漿，侵入帶和層厚- -圍巖的影響。因此，簡要地圍巖的影響。因此，簡要地 討論一下各種電阻率測井方法對討論一下各種電阻率測井方法對RtRt的反映能力、使用條的反映能力、使用條 件很有必要。件很有必要。 1 1普通電阻率測井普通電阻率測井 普通電阻率測井的供