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技術(shù)路線圖（基于數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)技術(shù)的SPI檢測(cè)閾值模型）主要由四部分構(gòu)成，如下：（1）SPI數(shù)據(jù)包構(gòu)建。通過特征關(guān)聯(lián)、清洗、分類方法將SMT流水線收集到的歷史數(shù)據(jù)與實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，構(gòu)建符合數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)建模要求的SPI數(shù)據(jù)包。（2）SPI檢測(cè)數(shù)據(jù)高斯核概率密度估計(jì)。詳細(xì)介紹了非參數(shù)估計(jì)原理；運(yùn)用SMOTE過采樣技術(shù)和欠采樣技術(shù)解決了數(shù)據(jù)類不平衡問題；在使用最小二乘交叉驗(yàn)證法確定最優(yōu)窗寬的基礎(chǔ)上對(duì)SPI檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行高斯核概率密度估計(jì)。（3）SPI閾值優(yōu)化模型。基于Bayes最小錯(cuò)誤率分類準(zhǔn)則構(gòu)建以SPI誤報(bào)率和漏報(bào)率為決策變量的目標(biāo)函數(shù)，運(yùn)用GA分別對(duì)SPI檢測(cè)上下限閾值進(jìn)行優(yōu)化。（4）SPI優(yōu)化閾值效果實(shí)證檢驗(yàn)。在G企業(yè)SMT流水線上應(yīng)用優(yōu)化后的SPI上下限閾值，通過優(yōu)化前后SMT產(chǎn)品合格率對(duì)比，驗(yàn)證新的SPI閾值優(yōu)化方法的優(yōu)越性。

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