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文檔簡介
半導(dǎo)體整流現(xiàn)象
非平衡狀態(tài)下的P-N結(jié)
平衡P-N結(jié)中,存在著具有一定寬度和勢壘高度的勢壘區(qū),其中相應(yīng)地出現(xiàn)自建電場;每一種載流子的擴散電流和漂移電流互相抵消,P-N結(jié)中凈電流為零。P-N結(jié)中費米能級處處相等。半導(dǎo)體整流現(xiàn)象
當(dāng)P-N結(jié)兩端有外加電壓時,P-N結(jié)處于非平衡狀態(tài),勢壘區(qū)及費米能級都相應(yīng)發(fā)生變化。
由此可見,勢壘區(qū)中,價帶空穴濃度僅為P區(qū)多數(shù)載流子的10-10倍,而該處的導(dǎo)帶電子濃度僅為N區(qū)多數(shù)載流子的1/50。一般情況下,室溫附近,對于絕大部分勢壘區(qū),其中雜質(zhì)雖然都已電離,但載流子濃度比起N區(qū)和P區(qū)的多數(shù)載流子濃度小得多,好像已經(jīng)耗盡了,所以通常也稱勢壘區(qū)為耗盡層。即認為其中載流子濃度很小,可以忽略,空間電荷密度就等于電離雜質(zhì)濃度。正向偏壓P-N結(jié)勢壘的變化
勢壘區(qū)電場減弱,勢壘高度下降,載流子擴散與漂移之間的平衡被破壞,擴散流大于漂移流,產(chǎn)生了:電子由N區(qū)越過勢壘向P區(qū)的凈擴散流,空穴由P區(qū)越過勢壘向N區(qū)的凈擴散流,形成非平衡載流子的電注入。這些擴散流形成了沿外加電場方向的凈電流,且隨著正偏壓增加快速增加(e指數(shù)增大)。
1)
外加電壓下,P-N結(jié)勢壘區(qū)的變化及載流子的運動:
加正向偏壓V(P區(qū)正,N區(qū)負),由于勢壘區(qū)的載流子濃度、電阻與P區(qū)、N區(qū)體內(nèi)的相差很大,電壓基本落在勢壘區(qū),產(chǎn)生了與自建電場相反的電場,使勢壘區(qū)電場強度減小,這意味著勢壘區(qū)空間電荷減少,勢壘區(qū)寬度減小,同時勢壘高度由eV0降低到e(V0-V)。P-N結(jié)伏安特性P-N結(jié)伏安特性反向偏壓P-N結(jié)勢壘的變化
勢壘區(qū)電場增強,勢壘高度升高,載流子擴散與漂移之間的平衡被破壞,漂移流大于擴散流。這時,N區(qū)邊界處的空穴和P區(qū)邊界處的電子分別被強電場驅(qū)向P區(qū)和N區(qū),這些漂移流形成了沿外加電場方向的凈電流。由于少子濃度低,而擴散長度基本不變化,所以反向偏壓時少子濃度梯度也較小,基本不隨反向偏壓變化,因此反向偏壓下,P-N結(jié)的電流較小并且趨于不變(反向飽和)。
1)
外加電壓下,P-N結(jié)勢壘區(qū)的變化及載流子的運動:
加反向偏壓V(P區(qū)負,N區(qū)正),產(chǎn)生了與自建電場相同方向的外加電場,使勢壘區(qū)電場強度增強,這意味著勢壘區(qū)空間電荷增加,勢壘區(qū)寬度增大,同時勢壘高度由eV0升高到e(V0+V)。因此,P-N結(jié)具有非線性伏安特性,即具有整流特性。因為擴散區(qū)比勢壘區(qū)大,準(zhǔn)費米能級的變化主要發(fā)生在擴散區(qū),在勢壘區(qū)中的變化則忽略不計,所以在勢壘區(qū)內(nèi),準(zhǔn)費米能級保持不變。
2)
外加直流電壓下,P-N結(jié)的能帶圖:
加偏壓V,P-N結(jié)的N區(qū)和P區(qū)都有非平衡載流子的注入,在非平衡載流子存在的區(qū)域,必須用電子的準(zhǔn)費米能級EFN和空穴的準(zhǔn)費米能級EFP取代平衡時的統(tǒng)一費米能級EF。正向偏壓P-N結(jié)的費米能級V>0,在空穴擴散區(qū),電子濃度高,故電子的準(zhǔn)費米能級EFN的變化很小,可看作不變;但空穴濃度很小,故空穴的擴散引起準(zhǔn)費米能級EFP的變化很大。在電子擴散區(qū),可作類似分析。空穴擴散區(qū)
2)
外加直流電壓下,P-N結(jié)的能帶圖:
加反偏壓V,在電子擴散區(qū)、勢壘區(qū)、空穴擴散區(qū)中,電子和空穴的準(zhǔn)費米能級EFN和EFP的的變化規(guī)律與正向偏壓時基本相似,所不同的是EFN和EFP的相對位置發(fā)生變化。反向偏壓P-N結(jié)的費米能級V<0,電子擴散區(qū)電子被抽走P-N結(jié)的形成和雜質(zhì)分布:
在一塊N型(或P型)半導(dǎo)體單晶上,用適當(dāng)?shù)墓に嚪椒ò裀型(或N型)雜質(zhì)摻入其中,使這塊單晶的不同區(qū)域分別具有N型和P型導(dǎo)電類型,在區(qū)域交界處形成P-N結(jié)。工藝方法:1)合金法:雜質(zhì)分布為突變結(jié)合金法制造p-n結(jié)過程2)擴散法:擴散法制造p-n結(jié)過程雜質(zhì)分布為緩變結(jié)3)離子注入法:(Ionimplantation),雜質(zhì)分布為突變結(jié)易造成晶格損傷,需用退
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