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文檔簡介

SPC(統(tǒng)計過程控制)

XXXXXXXXXXXX編寫人:XXX2018.05課程評價標準項目要素關(guān)注度要求課件策劃培訓對象鎖定必要項1.明確培訓對象

2.課件中的問題解決及難易程度等方面都能適用在既定對象身上。培訓目標必要項1.教學目標清晰、定位準確、

2.課件內(nèi)所有內(nèi)容圍繞此目標展開課程內(nèi)容課程大綱必要項1.按照布魯姆表要求完成大綱介紹

2.知識點要明確,價值點盡可能量化課件內(nèi)容必要項1.內(nèi)容圍繞大綱搭建,層次分明,結(jié)構(gòu)清晰

2.引用的各種信息準確無誤理論與實踐結(jié)合必要項有理論依據(jù),又有實踐案例技術(shù)性互動性加分項課件中包含互動問答等環(huán)節(jié),啟發(fā)學員思考多媒體教學加分項課件中利用視頻、聲音、動畫等控制技術(shù),讓課程更生動PPT技巧加分項圖文結(jié)合,色彩搭配協(xié)調(diào),視覺效果好教室禁止吸煙,休息時到指定吸煙點吸煙;禁止做與課堂內(nèi)容無關(guān)的事;手機關(guān)機或靜音,課程中不接聽電話,中場休息統(tǒng)一回電;配合講師講課及互動培訓要求,以最佳狀態(tài)投入到學習中;違反以上條例,講師有權(quán)取消培訓記錄和成績。×××課堂紀律講師介紹講師照姓名:部門/科室:聯(lián)系電話:

E-mail:

工作履歷:課程名稱學員對象學員收益課程價值點支撐知識點掌握程度SPC工程師使學員理解統(tǒng)計過程控制方法應用于質(zhì)量監(jiān)控的原理,掌握控制圖選用方法,初步掌握各類控制圖制作及應用原理。提升了學員對于SPC的認知SPC的含義理解使得學員掌握了控制圖原理及選用方法控制圖原理及選用方法運用使得學員掌握了Xbar-R控制圖的制作及應用方法控制圖制作及應用運用布洛姆教學目標表課程目錄

第一部分SPC的定義、原理及發(fā)展歷程第二部分變異第三部分控制圖基礎知識第四部分控制圖制作及應用第五部分課程小結(jié)

SPC的定義、原理及發(fā)展歷程SPC(StatisticalProcessControl)定義:一種借助數(shù)理統(tǒng)計方法的過程控制工具。它對生產(chǎn)過程進行分析評價,根據(jù)反饋信息及時發(fā)現(xiàn)非機遇性(系統(tǒng)性)因素出現(xiàn)的征兆,并采取措施消除其影響,使過程維持在僅受機遇性(隨機性)因素影響的受控狀態(tài),以達到控制質(zhì)量的目的。原理:利用統(tǒng)計的方法來監(jiān)控過程的狀態(tài),確定生產(chǎn)過程在控制的狀態(tài)下,以降低產(chǎn)品品質(zhì)的變異。什么是SPC?SPC的定義、原理及發(fā)展歷程1924年W.A.Shewhart博士了繪制世界上首張SPC控制圖1931年W.A.Shewhart總結(jié)其理論,發(fā)表《EconomicControlofQualityofManufacturedProductions》1941~1942制定成美國標準課程目錄

第一部分SPC的定義、原理及發(fā)展歷程

第二部分變異第三部分控制圖基礎知識第四部分控制圖制作及應用第五部分課程小結(jié)

變異為什么需要SPC?PROCESSRawMaterialProductQualifiedUnqualifiedManMachineMaterialEnvironmentMethodMeasurementVariation變異變異:即使在相同之制造條件(同批材料、同一操作員、同一加工方法、同一設備)之下,不同批次產(chǎn)品之間或同批次不同產(chǎn)品,量度產(chǎn)品之質(zhì)量時,仍會有差異。這種差異即是由于制造過程中的各種變異導致的。變異機遇原因變異非機遇原因變異不可避免的原因、非人為原因、共同原因、偶然原因、一般原因等.如:在同一時間段內(nèi),用同一體重計,測量同一人的體重,而產(chǎn)生之差異。可避免之原因、人為的原因、特殊原因、異常原因、局部原因等.如:人員、機器或原材料之變動或不同,而發(fā)生之變異。變異機遇原因非機遇原因機遇與非機遇原因比較變異機遇原因變異非機遇原因變異1.大量微小原因引起1.一個或幾個較大的原因2.個別變異極為微小2.任何一個原因,都可能引發(fā)打的變異3.若要去除,是不經(jīng)濟的3.可以找出原因,且此改善是經(jīng)濟的4.原材料的微小變異,機器的微小振動等4.原材料群體不良等機遇與非機遇原因比較課程目錄

第一部分SPC的定義、原理及發(fā)展歷程第二部分變異

第三部分控制圖基礎知識第四部分控制圖制作及應用第五部分課程小結(jié)

上控制界限(UCL)中心線(CL)下控制界限(LCL)控制圖基礎知識控制圖的定義:控制圖是用于分析和控制過程質(zhì)量的一種工具。控制圖是一種帶有控制界限的反映過程質(zhì)量的記錄圖形,圖的縱軸代表產(chǎn)品質(zhì)量特性值(或由質(zhì)量特性值獲得的某種統(tǒng)計量);橫軸代表按時間順序(自左至右)抽取的各個樣本號;圖內(nèi)有中心線(記為CL)、上控制界限(記為UCL)和下控制界限(記為LCL)三條線(見下圖)。控制圖的定義控制圖基礎知識控制圖的原理:工序處于穩(wěn)定狀態(tài)下,其計量值的分布大致符合正態(tài)分布。由正態(tài)分布的性質(zhì)可知:質(zhì)量數(shù)據(jù)出現(xiàn)在平均值的正負三個標準偏差(X±3σ)之外的概率僅為0.27%。這是一個很小的概率,根據(jù)概率論“視小概率事件為實際上不可能發(fā)生”的原理,可以認為:出現(xiàn)在X±3σ區(qū)間外的事件是異常波動,它的發(fā)生是由于異常原因使其總體的分布偏離了正常位置。-3σ-2σ-1σμ+1σ+2σ+3σ99.73%95.45%68.26%控制圖的原理控制圖的分類控制圖基礎知識控制圖計量型控制圖計數(shù)型控制圖分析用控制圖控制用控制圖按數(shù)據(jù)性質(zhì)分類按用途分類平均數(shù)與極差控制圖(-R)、平均數(shù)與標準差控制圖(-S)、中位數(shù)與極差控制圖(-R)、個別值與移動極差控制圖(-MR)不良率控制圖(np)、不良數(shù)控制圖(p)、缺點數(shù)控制圖(c)、單位缺點數(shù)控制圖(u)根據(jù)樣本數(shù)據(jù)計算出控制圖的中心線和上、下控制界限,畫出控制圖,以便分析和判斷過程是否處于于穩(wěn)定狀態(tài)。如果分析結(jié)果顯示過程有異常波動,應找出原因并采取措施,然后重新抽取樣本、測定數(shù)據(jù)、計算控制圖界限進行分析。分析用控制圖經(jīng)過分析證實過程穩(wěn)定并能滿足質(zhì)量要求,此時的控制圖可以用于現(xiàn)場對日常的過程質(zhì)量進行控制。控制圖基礎知識控制圖選用方法n=10~25控制圖的選用數(shù)據(jù)性質(zhì)不良數(shù)或缺陷數(shù)單位大小是否一定樣本大小是否一定樣本大小n≧2CL的性質(zhì)樣本大小u圖c圖np圖p圖

-MR圖-R圖-R圖-S圖計數(shù)型計量型n=1n≧2中位數(shù)平均值n=2~5缺陷數(shù)不良數(shù)不一定一定一定不一定控制圖基礎知識100平方米每一百平方米布中的臟點100電燈亮/不亮1乙醇比重10重量5長度選用什么控制圖樣本數(shù)質(zhì)量特性CASESTUDY控制圖選用方法課程目錄

第一部分SPC的定義、原理及發(fā)展歷程第二部分變異第三部分控制圖基礎知識

第四部分控制圖制做及應用第五部分課程小結(jié)

確定對某一特性進行控制搜集數(shù)據(jù)繪分析用控制圖是否穩(wěn)定繪直方圖,計算過程能力指數(shù)Ppk≥1.67或Cpk≥1.33控制用控制圖尋找異常原因檢討機械、設備提升過程能力NYNY控制圖制作及應用控制圖應用流程控制圖制作及應用過程A收集數(shù)據(jù)B計算控制限、繪制控制圖C過程控制解釋D過程能力計算/解釋控制圖制作及應用A階段-收集數(shù)據(jù)A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)A2計算每個子組的均值X和極差RA3選擇控制圖的刻度A4將均值和極差畫到控制圖上控制圖制作實例()控制圖制作及應用每小時產(chǎn)量抽樣間隔不穩(wěn)定穩(wěn)定10以下8小時8小時10-194小時8小時20-492小時8小時50-991小時4小時100以上1小時2小時抽樣原則:組內(nèi)變差小(同組數(shù)據(jù)連續(xù)抽樣),組間變差大(組與組之間有一定間隔時間)控制圖制作詳解()A1:選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)1.每組樣本數(shù)(子組大小):2-5;2.子組數(shù)要求:最少25組,共100個以上樣本;頻率可參考下表。控制圖制作及應用控制圖制作詳解()22333極差98.210099.498.699.6平均99100999910159999101100100498100100979939710198999829810099981001每組平均值和極差的計算示例:A2:計算每個子組的均值X和極差R1.平均值的計算:X=(X1+X2+X3+X4+X5+……+Xn)/n2.極差R值的計算:R=Xmax-Xmin控制圖制作及應用控制圖制作詳解()A3:確定控制圖刻度1.對于X圖,坐標上的刻度值的最大值與最小值之差應至少為子組(X)的最大值與最小值差的2倍;2.對于R圖,坐標上的刻度值應從0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差值(R)的2倍。A4:將均值和極差畫到控制圖上1.將極差(R)畫在極差控制圖上,將各點用直線依次連接:2.將均值(X)畫在均值控制圖上,將各點用直線依次連接:3.確保所畫的同一個樣本組的X和R點在縱向是對應的;4.分析用控制圖應清楚地標明“初始研究”字樣;5.標明“初始研究”的控制圖,是僅允許用在生產(chǎn)現(xiàn)場中還沒有控制限的過程控制圖。控制圖制作及應用B階段-計算控制限B1計算平均極差及過程平均值B2計算控制限B3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線控制圖制作詳解()控制圖制作及應用控制圖制作詳解()B1:計算平均極差及過程平均值1.X=(X1+X2+X3+X4+X5+……+Xk)/k2.R==(R1+R2+R3+R4+R5+……+Rk)/kk為子組數(shù)B2:計算控制限平均值控制圖:極差控制圖:CLX=XCLR=RUCLX=X+A2RUCLR=D4RLCLX=X-A2RLCLR=D3R注:D4、D3、A2為常數(shù),隨樣本容量n的不同而不同,可查《SPC控制圖常數(shù)表》。控制圖制作及應用控制圖制作詳解()B3:在控制圖上畫出平均值和極差控制限:1.將平均極差(R)和過程均值(X)畫成黑色水平實線,各控制限(UCLR、LCLR、UCLX、LCLX)畫成紅色水平虛線;2.在初始研究階段,這些控制限被稱為試驗控制限。控制圖制作及應用C階段-過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點C2識別并標注特殊原因(極差圖)C3重新計算控制界限(極差圖)C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點C5識別并標注特殊原因(均值圖)C6重新計算控制界限(均值圖)C7為了繼續(xù)進行控制延長控制限控制圖制作詳解()控制圖制作及應用控制圖制作詳解()C1:分析極差圖上的數(shù)據(jù)點:由于不論解釋子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差。因此首先分析R圖。將數(shù)據(jù)點與控制限相比確定超出控制限的點或非隨機的圖形或趨勢。1.超出控制限的點——出現(xiàn)一個或多個點超出任何一個控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)。2.鏈——在下列現(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)這種趨勢:·連續(xù)7點位于中心線的一側(cè);·連續(xù)7點上升(后續(xù)等于或大于前點)或下降。3.

明顯的非隨機圖形——除了會出現(xiàn)超過控制界的點或長鏈之外,數(shù)據(jù)中還可能出現(xiàn)其他的易分辨的由于特殊原因造成的圖形。控制圖制作及應用控制圖制作詳解()控制圖判定準則:當控制圖中的點出現(xiàn)下列情況之一,說明生產(chǎn)過程存在特殊原因,需立即采取措施予以消除以確保過程處于穩(wěn)定狀態(tài):超出控制線的點;連續(xù)七點上升或下降;連續(xù)七點在中心線一側(cè);點出現(xiàn)在中心線單側(cè)較多時,如:連續(xù)11點中有10點以上連續(xù)14點中有12點以上連續(xù)17點中有14點以上連續(xù)20點中有16點以上控制圖制作及應用控制圖判定準則圖示將控制圖中心線與上下線之間均為分為A、B、C區(qū),當控制圖中的點出現(xiàn)下列情況之一,說明生產(chǎn)過程存在特殊原因,需立即采取措施予以消除以確保生產(chǎn)過程處于穩(wěn)定狀態(tài)。UCLCLLCLUCLLCL判定準則1:(2/3A)3點中有2點在A區(qū)或A區(qū)以外判定準則2:(4/5B)5點中有4點在B區(qū)或B區(qū)以外控制圖制作詳解()ABCCBAABCCBA控制圖制作及應用UCLCLLCLUCLCLLCL判定準則3:(6連串)連續(xù)6點持續(xù)地上升或下降判定準則4:(8缺C)有8點在中心線的兩側(cè),但C區(qū)無點控制圖制作詳解()ABCCBAABCCBA控制圖制作及應用UCLCLLCLUCLCLLCL判定準則5:(7單側(cè))連續(xù)7點在C區(qū)或C區(qū)以外判定準則6:(14升降)連續(xù)14點交互著一升一降控制圖制作詳解()ABCCBAABCCBA控制圖制作及應用UCLCLLCLUCLCLLCL判定準則7:(15C)連續(xù)15點在中心線上下兩側(cè)的C區(qū)判定準則8:(1界外)有1點在A區(qū)以外控制圖制作詳解()ABCCBAABCCBA控制圖制作及應用控制圖制作詳解()C2:識別并標注特殊原因(極差圖)對于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每個特殊原因進行標注,作一個過程操作分析,從而確定該原因并改進對過程的理解;糾正條件并且防止它再發(fā)生。控制圖本身就是問題分析的有用的工具,能提示何時該條件開始以及該條件持續(xù)多長時間。C3:重新計算控制界限(極差圖)在進行初次過程研究或重新評定過程能力時,失控的原因已被識別和消除或制度化,然后應重新計算控制限,以排除失控時期的影響。排除所有受已被識別并解決或固定下來的特殊原因影響的子組。然后重新計算新的平均極差(R)和控制限,并畫下來。確保當所有的極差與新的控制限比較時,表現(xiàn)為受控,如有必要重復識別/糾正/重新計算的過程。由于出現(xiàn)特殊原因而從R圖中去掉的子組,也應從X圖中去掉。控制圖制作及應用控制圖制作詳解()C4:分析均值圖上的數(shù)據(jù)點:當極差受統(tǒng)計控制時,則認為過程的分布寬度——子組內(nèi)的變差——是穩(wěn)定的。然后應對均值進行分析看看在此期間過程的位置是否改變。由于X的控制限取決于極差圖中變差大小,因此如果均值處于統(tǒng)計控制狀態(tài),其變差便與極差圖中的變差——系統(tǒng)的普通原因變差有關(guān)。如果均值沒有受控,則存在造成過程位置不穩(wěn)定的特殊原因變差。1.超出控制限的點——出現(xiàn)一個或多個點超出任何一個控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)。2.鏈——在下列現(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)這種趨勢:·連續(xù)7點位于中心線的一側(cè);·連續(xù)7點上升(后續(xù)等于或大于前點)或下降。3.

明顯的非隨機圖形——除了會出現(xiàn)超過控制界的點或長鏈之外,數(shù)據(jù)中還可能出現(xiàn)其他的易分辨的由于特殊原因造成的圖形。控制圖制作及應用控制圖制作詳解()C5:識別并標注特殊原因(均值圖)對于均值數(shù)據(jù)中每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進行一次過程操作分析,以確定特殊原因的產(chǎn)生的理由,糾正該狀態(tài),并且防止它再現(xiàn)。利用控制圖數(shù)據(jù)來確定這些狀態(tài)何時開始并會持續(xù)多久。C6:重新計算控制界限(均值圖)當進行首次過程研究或重新評定過程能力時,要排除已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊原因的任何失控的點,重新計算并描畫過程均值和控制限。確保當與新的控制限相比時,所有的數(shù)據(jù)點看起來都處于受控狀態(tài),如有必要,重復識別/糾正/重新計算的程序。控制圖制作及應用控制圖制作詳解()C7:為了繼續(xù)進行控制延長控制限當首批(或以往的)數(shù)據(jù)都在試驗控制限之內(nèi),延長控制限使之覆蓋將來的一段時期。如果過程中心偏離目標值,這時還希望調(diào)整過程使之對準目標。這些控制限可用來繼續(xù)對過程進行監(jiān)視,操作人員和檢驗人員可根據(jù)X或R控制圖上出現(xiàn)的失控信號及時采取措施。控制圖制作及應用D階段-過程能力解釋D1計算過程的標準偏差D2計算過程能力D3評價過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖并分析控制圖應用詳解()控制圖制作及應用控制圖應用詳解()過程能力解釋的假設前提過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài),即過程“受控”;過程的各測量值服從正態(tài)分布;工程及其他規(guī)范準確代表顧客的需求;設計目標值位于規(guī)范的中心;測量變差相對較小。控制圖制作及應用控制圖應用詳解()D1:計算過程的標準偏差使用平均極差R-bar來估計過程的標準偏差:d2是隨樣本容量變化的常數(shù),見《SPC控制圖常數(shù)》。D2:計算過程能力1.過程能力是指按標準偏差為單位來描述的過程均值與規(guī)范界限的距離,用Z表示;2.對于單邊公差或3.對于雙邊公差,4.Z為ZUSL或ZLSL的最小值;5.使用Z值和附錄《標準正態(tài)分布表》來估計多少比例的產(chǎn)品會超出規(guī)范值;

6.USL為公差上限,LSL為公差下限。控制圖制作及應用控制圖應用詳解()D3:評價過程能力1.進行到本步驟,說明過程已處于統(tǒng)計控制狀態(tài)并且其能力指數(shù)可用Zmin或Cpk來描述;2.基本的目標是對過程的性能進行持續(xù)改進。首先應考慮的是哪些過程應優(yōu)先獲得注意,這是一個必要的經(jīng)濟性的決定;3.雖然每個決定可以單獨地執(zhí)行,但全面分析后設定優(yōu)先順序和促進改進工作的持續(xù)性常是有幫助的。例如,某些程序的全面能力指數(shù)要求Zmin≥3,或Cpk≥1.00,而另一些重要產(chǎn)品特性的過程能力指數(shù)要求為Zmin≥4或Cpk≥1.33。控制圖制作及應用控制圖應用詳解()控制圖制作及應用Ca-制程準確度:Ca=%=%Cp-制程精密度:Cp=%=%實際中心值-規(guī)格中心值規(guī)格許容差X-μT

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