標準解讀
《GB/T 28894-2012 表面化學分析 分析前樣品的處理》是一項國家標準,主要針對表面化學分析領域中樣品在進行正式分析之前所需經歷的一系列預處理步驟。該標準旨在通過規范樣品處理流程,確保分析結果的準確性和可比性。具體內容涵蓋了從樣品采集到最終用于分析前的所有準備階段。
首先,在樣品收集方面,標準強調了正確選擇和使用采樣工具的重要性,以及如何根據不同的材料特性采取適當的采集方法。對于易揮發、易氧化或對環境敏感的樣品,特別指出需要采取特殊措施來保護其原始狀態不受破壞。
接著是關于樣品清潔的部分,這里詳細描述了多種物理與化學清洗技術的應用條件及其優缺點。例如,超聲波清洗適用于去除微小顆粒污染物;而溶劑清洗則更多地應用于有機物污染較重的情況。此外,還提到了電化學拋光等更為專業的清潔手段。
再者,標準也涉及到了樣品切割與研磨的過程指導。為了保證截面平整度及避免引入額外污染,規定了不同硬度材料適用的具體操作方式和技術參數。同時,對于某些特定類型的樣品(如薄膜),提出了采用離子束蝕刻等先進技術來進行精確加工的要求。
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....
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- 現行
- 正在執行有效
- 2012-11-05 頒布
- 2013-06-01 實施




文檔簡介
ICS7104040
G04..
中華人民共和國國家標準
GB/T28894—2012/ISO181172009
:
表面化學分析分析前樣品的處理
Surfacechemicalanalysis—Handlingofspecimenspriortoanalysis
(ISO18117:2009,IDT)
2012-11-05發布2013-06-01實施
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布
中國國家標準化管理委員會
GB/T28894—2012/ISO181172009
:
前言
本標準按照給出的規則起草
GB/T1.1—2009。
本標準使用翻譯法等同采用表面化學分析分析前樣品的處理
ISO18117:2009《》。
為了方便使用本標準做了下列編輯性修改
,:
用本標準代替本國際標準
———“”“”。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口
(SAC/TC38)。
本標準負責起草單位廈門愛勞德光電有限公司廈門大學化學化工學院
:、。
本標準起草人王水菊岑丹霞時海燕姚文清劉芬沈電洪
:、、、、、。
Ⅰ
GB/T28894—2012/ISO181172009
:
引言
本標準對于提交表面化學分析樣品的人們在樣品處理和把樣品遞送給分析人員方面提供指導盡
。
管主要是為俄歇電子能譜射線光電子能譜和二次離子質譜而寫但這些方法
(AES)、X(XPS)(SIMS),
也能用于其他表面敏感的分析測量和通常對幾納米厚度的表面層敏感這樣
。AES、XPSSIMS(nm)。
的薄層會由于不正確的樣品處理而受到嚴重影響[1,2]樣品的正確處理和制備對于分析是極為重要
。
的不正確的處理會導致表面組成改變和數據不可信
,。
本標準是供給樣品提供者或表面分析設備的購買者以及表面分析人員使用的最佳處理方法取決
。
于特定的樣品和所需的信息并且本標準為每一種樣品類型提供了說明性的例子這些樣品類型是樣品
,,
所有者和表面分析人員通常遇到的本標準建議樣品供應者就有關樣品的來歷需要解決的具體問題
。、
或所需要的信息以及任何特殊的樣品制備所需的處理或運送方法盡可能快地和表面分析人員商量
,、,。
本標準可以不依賴于而獨立使用[4]該標準用于指導分析人員進行表面分析的樣品制
ISO18116,
備和安裝
。
Ⅱ
GB/T28894—2012/ISO181172009
:
表面化學分析分析前樣品的處理
1范圍
本標準規定了表面化學分析樣品的處理和存放容器的要求本標準適用于表面化學分析設備的用
。
戶了解表面化學分析技術的特殊樣品處理要求特別是俄歇電子能譜二次離子質譜和
,(AES)、(SIMS)
射線光電子能譜或本標準也適用于對表面組成敏感的其他分析技術如對
X(XPSESCA)。,TXRF。
于特定的實例特定的樣品需要更加注意
,,。
2規范性引用文件
下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
表面化學分析詞匯
GB/T22461—2008,(ISO18115:2001,IDT)
表面化學分析表面分析樣品的制備和固定方法指南
ISO18116:2005,(Surfacechemical
analysis—Guidelinesforpreparationandmountingofspecimensforanalysis)
3術語和定義
界定的術語和定義適用于本文件
GB/T22461—2008。
4符號和縮略詞
俄歇電子能譜
AES
原子力顯微鏡
AFM
化學分析電子能譜
ESCA
聚四氟乙烯
PTFE
掃描電子顯微鏡
SEM
二次離子質譜
SIMS
全反射射線熒光光譜
TXRFX
射線光電子能譜
XPSX
5本標準結構的說明
第章討論了要考慮的會影響表面組成的附加事項如樣品來歷和樣品先前的分析這些影響的
7,。
文件要隨同小心處理和包裝的樣品一并交付第章提供了使樣品表面污染最小所需的樣品處理方法
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