CPK簡介Wan,Si-wen2006/05/24CPK簡介Wan,Si-wen思考廠商/QA等單位的Cpk是怎么算的？什么是Cp?什么是Cpk？什么是Ppk？PresentedBy思考廠商/QA等單位的Cpk是怎么算的？Presented名詞介紹CpkCapabilityIndiesofProcess製程能力指數/工序能力指數/過程能力指數是指工序在一定時間里，處于控制狀態(穩定狀態)下的實際加工能力。它是工序固有的能力，或者說它是工序保證質量的能力。這里所指的工序，是指操作者、機器、原材料、工藝方法和生產環境等五個基本質量因素(5M)綜合作用的過程，也就是產品質量的生產過程。產品質量就是工序中的各個質量因素所起作用的綜合表現。對于任何生產過程，產品質量總是分散地存在著。若工序能力越高，則產品質量特性值的分散就會越小；若工序能力越低，則產品質量特性值的分散就會越大。PresentedBy名詞介紹CpkPresentedBy誰的能力更好?射手1射手2誰的能力更好?射手1射手2取決于...射手1射手2目標取決于...射手1射手2目標客戶需求射手1射手2

客戶要求客戶需求射手1射手2客戶要求現在誰的能力更好?射手1射手2現在誰的能力更好?射手1射手2客戶要求---公差客戶要求是什么:規格下限規格上限客戶標準客戶要求---公差客戶要求是什么:規格規格客戶標準過程波動分布過程分布如下:過程分布過程波動分布過程分布如下:過程分布Cp:過程能力指數客戶要求對過程要求

過程分布客戶標準Cp=

用戶要求過程分布Cp:過程能力指數客戶要求對過程要求過程分布客戶標準定義CpCp=(規格上限–規格下限)/6s客戶要求規格下限

過程分布

-3s+3s規格上限定義CpCp=(規格上限–規格下限)/6s客解釋Cp

Cp約為1

過程剛好滿足規格要求均值位移將導致產品超出規格

規格下限規格上限規格下限規格上限規格下限規格上限Cp約為1.33過程滿足規格小的均值平移將不會導致產品超出規格

Cp小于1無法滿足規格均值位移將導致更多產品超出規格

解釋CpCp約為1過程剛好滿足規格要求規格下Cp能告訴你什么?Cp=___Cp=___Cp=___Cp=___Cp=___Cp=___Cp能告訴你什么?Cp=___Cp=___Cp=___CpCpk表明過程分布平均值距離規格的邊界有多遠Cpk=過程均值到最近的規格邊界過程分布的一半過程分布的一半過程均值到最近的規格邊界

Cpk表明過程分布平均值距離規格的邊界有多遠Cpk=Cpk表明...…過程是否真正滿足規格要求Cpk=

Min{(USL-m),(

m-LSL)}3s3s過程均值到最近的規格邊界

(過程分布的一半)規格下限規格上限過程均值

Cpk表明...…過程是否真正滿足規格要求Cpk=解釋Cpk

Cpk

小于1

Cpk

小于0Cpk=0Cpk=1Cpk

大于1解釋CpkCpk小于1Cpk小于0CCp和CpkCp

和Cpk是否:

等于1?

大于1?

小于1?規格下限規格上限Cp_______Cpk_______Cp_______Cpk_______Cp_______Cpk_______Cp_______Cpk_______Cp_______Cpk_______Cp_______Cpk_______Cp和CpkCp和Cpk是否:規格下限規格上限Cp同時需要Cp和CpkLSLAimUSLLSLAimUSLCp

表明過程是否可以符合規格，你的過程最好能達到的狀態Cpk

表明你當前的過程所在同時需要Cp和CpkLSLAimUSLLSLAimUS注意 僅當過程存在普通原因變異時，計算Cp和Cpk才有意義一般性原因變異特殊原因

注意 僅當過程存在普通原因變異時，計算Cp和Cpk才有意義一Cpk和Ppk的區別Cpk---無偏過程能力指數(CapabilityIndiesofProcess)Ppk---有偏過程能力指數(PerformanceIndiesofProcess)ε分布中心μ與公差中心M的偏離度，μ與M的偏離為ε=|M-μ|PresentedByCpk和Ppk的區別Cpk---無偏過程能力指數(Capab計算Cp例子:均值:106標準差:1.5客戶規格:目標=100+/-12計算Cp和Cpk的步驟:

步驟

1.繪出圖形規格下限規格上限9410010611288過程分布計算Cp例子:規格下限規格上限9410010611288過計算Cp步驟2. 計算客戶規格(VOC)

規格上限–規格下限=112–88=24步驟3. 計算過程分布(VOP) 6x標準差=6x1.5=9步驟4. 計算Cp:

Cp=(USL-LSL)6*s=(112-88)6*1.5=2.66Cp=

VOCVOP=客戶規格過程分布計算Cp步驟2. 計算客戶規格(VOC)Cp=(US計算Cpk例子均值:106標準差:1.5客戶規格:88to112計算步驟1.繪出圖形到規格上限的距離規格下限UpperSpec94100到規格下限的距離過程分布的一半11210688計算Cpk例子到規格上限的距離規格Upper94100到規計算Cpk步驟:2.計算過程分布的一半:3x標準差=3x1.5=4.53.計算到規格上限的距離:USL–m=112–106=64.計算到規格下限的距離:m–LSL=106–88=185.最小距離

MIN{(USL-m),(m-LSL)}=MIN(18,6)=66. 66 Cpk===1.33 3s4.5計算Cpk步驟:μ,σ∑XiNI=1Nμ=∑(Xi–μ)NI=1Nσ=標準差平均值2PresentedByμ,σ∑XiNI=1Nμ=∑(XPresentedByPresentedByPresentedByPresentedByCpk常用的計算工具Excel表格中Minitab中PresentedByCpk常用的計算工具Excel表格中PresentedByQAQACPK簡介Wan,Si-wen2006/05/24CPK簡介Wan,Si-wen思考廠商/QA等單位的Cpk是怎么算的？什么是Cp?什么是Cpk？什么是Ppk？PresentedBy思考廠商/QA等單位的Cpk是怎么算的？Presented名詞介紹CpkCapabilityIndiesofProcess製程能力指數/工序能力指數/過程能力指數是指工序在一定時間里，處于控制狀態(穩定狀態)下的實際加工能力。它是工序固有的能力，或者說它是工序保證質量的能力。這里所指的工序，是指操作者、機器、原材料、工藝方法和生產環境等五個基本質量因素(5M)綜合作用的過程，也就是產品質量的生產過程。產品質量就是工序中的各個質量因素所起作用的綜合表現。對于任何生產過程，產品質量總是分散地存在著。若工序能力越高，則產品質量特性值的分散就會越小；若工序能力越低，則產品質量特性值的分散就會越大。PresentedBy名詞介紹CpkPresentedBy誰的能力更好?射手1射手2誰的能力更好?射手1射手2取決于...射手1射手2目標取決于...射手1射手2目標客戶需求射手1射手2

客戶要求客戶需求射手1射手2客戶要求現在誰的能力更好?射手1射手2現在誰的能力更好?射手1射手2客戶要求---公差客戶要求是什么:規格下限規格上限客戶標準客戶要求---公差客戶要求是什么:規格規格客戶標準過程波動分布過程分布如下:過程分布過程波動分布過程分布如下:過程分布Cp:過程能力指數客戶要求對過程要求

過程分布客戶標準Cp=

用戶要求過程分布Cp:過程能力指數客戶要求對過程要求過程分布客戶標準定義CpCp=(規格上限–規格下限)/6s客戶要求規格下限

過程分布

-3s+3s規格上限定義CpCp=(規格上限–規格下限)/6s客解釋Cp

Cp約為1

過程剛好滿足規格要求均值位移將導致產品超出規格

規格下限規格上限規格下限規格上限規格下限規格上限Cp約為1.33過程滿足規格小的均值平移將不會導致產品超出規格

Cp小于1無法滿足規格均值位移將導致更多產品超出規格

解釋CpCp約為1過程剛好滿足規格要求規格下Cp能告訴你什么?Cp=___Cp=___Cp=___Cp=___Cp=___Cp=___Cp能告訴你什么?Cp=___Cp=___Cp=___CpCpk表明過程分布平均值距離規格的邊界有多遠Cpk=過程均值到最近的規格邊界過程分布的一半過程分布的一半過程均值到最近的規格邊界

Cpk表明過程分布平均值距離規格的邊界有多遠Cpk=Cpk表明...…過程是否真正滿足規格要求Cpk=

Min{(USL-m),(

m-LSL)}3s3s過程均值到最近的規格邊界

(過程分布的一半)規格下限規格上限過程均值

Cpk表明...…過程是否真正滿足規格要求Cpk=解釋Cpk

Cpk

小于1

Cpk

小于0Cpk=0Cpk=1Cpk

大于1解釋CpkCpk小于1Cpk小于0CCp和CpkCp

和Cpk是否:

等于1?

大于1?

小于1?規格下限規格上限Cp_______Cpk_______Cp_______Cpk_______Cp_______Cpk_______Cp_______Cpk_______Cp_______Cpk_______Cp_______Cpk_______Cp和CpkCp和Cpk是否:規格下限規格上限Cp同時需要Cp和CpkLSLAimUSLLSLAimUSLCp

表明過程是否可以符合規格，你的過程最好能達到的狀態Cpk

表明你當前的過程所在同時需要Cp和CpkLSLAimUSLLSLAimUS注意 僅當過程存在普通原因變異時，計算Cp和Cpk才有意義一般性原因變異特殊原因

注意 僅當過程存在普通原因變異時，計算Cp和Cpk才有意義一Cpk和Ppk的區別Cpk---無偏過程能力指數(CapabilityIndiesofProcess)Ppk---有偏過程能力指數(PerformanceIndiesofProcess)ε分布中心μ與公差中心M的偏離度，μ與M的偏離為ε=|M-μ|PresentedByCpk和Ppk的區別Cpk---無偏過程能力指數(Capab計算Cp例子:均值:106標準差:1.5客戶規格:目標=100+/-12計算Cp和Cpk的步驟:

步驟

1.繪出圖形規格下限規格上限9410010611288過程分布計算Cp例子:規格下限規格上限9410010611288過計算Cp步驟2. 計算客戶規格(VOC)

規格上限–規格下限=112–88=24步驟3. 計算過程分布(VOP) 6x標準差=6x1.5=9步驟4. 計算Cp:

Cp=(USL-LSL)6*s=(112-88)6*1.5=2.66Cp=

VOCVOP=客戶規格過程分布計算Cp步驟2. 計算客戶規格(VOC)Cp=(US計算Cpk例子均值:106標準差