1、1、超聲檢測方法分類與特點（第五章）2、脈沖反射法超聲檢測通用技術（第六章）復 習 題一、是非題1、脈沖反射式和穿透式探傷，使用的探頭是同一類型.( × )2、聲束指向角較小且聲束截面較窄的探頭稱作窄脈沖探頭.( × )3、在液浸式檢測中，返回探頭的聲能還不到最初值的1%.( )4、垂直探傷時探傷面的粗糙度對反射波高的影響比斜角探傷嚴重.( )5、超聲脈沖通過材料后 ，其中心頻率將變低.( )6、串列法探傷適用于檢查垂直于探側面的平面缺陷.( )7、“靈敏度”意味著發現小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好.( × )8、所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或

2、材料晶粒粗大引起的 .( × )9、當量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸.( × )10、半波高度法用來測量小于聲束截面的缺陷的尺寸.( × )11、串列式雙探頭法探傷即為穿透法.( × )12、厚焊縫采用串列法掃描時，如焊縫余高磨平，則不存在死區.( × )13、曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好.( )14、實際探傷中，為提高掃描速度減少的干擾，應將探傷靈敏度適當降低.( × )15、采用當量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實際尺寸.( )16、只有當工件中缺陷在各個方向的尺寸均大于聲束截面時，才能采用測長法確定缺陷

3、長度.( ×)17、絕對靈敏度法測量缺陷指示長度時，測長靈敏度高，測得的缺陷長度大.( )18、當工件內存在較大的內應力時，將使超聲波的傳播速度及方向發生變化.( )19、超聲波傾斜入射至缺陷表面時，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高.(×)二、選擇題1、采用什么超聲探傷技術不能測出缺陷深度？（ D ）A直探頭探傷法 B脈沖反射法 C斜探頭探傷法 D穿透法2、超聲檢驗中，當探傷面比較粗糙時，宜選用（ D ）A較低頻探頭 B較粘的耦合劑 C軟保護膜探頭 D以上都對3、超聲檢驗中，選用晶片尺寸大的探頭的優點是（ c ）A曲面探傷時可減少耦合損失 B可減少材質衰減損失C輻射聲能大且

4、能量集中 D以上全部4、探傷時采用較高的探測頻率，可有利于（ D ）A發現較小的缺陷 B區分開相鄰的缺陷C改善聲束指向性 D以上全部5、工件表面形狀不同時耦合效果不一樣，下面的說法中，哪點是正確的（ A ）A平面效果最好 B凹曲面居中C凸曲面效果最差 D以上全部6、缺陷反射聲能的大小，取決于（ D ）A缺陷的尺寸 B缺陷的類型C缺陷的形狀和取向 D以上全部7、聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時，缺陷表面粗糙度對缺陷反射波高的影響是：（C ）A.反射波高隨粗糙度的增大而增大 B.無影響C.反射波高隨粗糙度的增大而下降 D.以上A和C都可能8、如果在耦合介質中的波長為，為使透聲效果好，耦合層厚度為（

5、D ）A. /4的奇數倍 B. /2的整數倍C. 小于/4且很薄 D.以上B和C9、表面波探傷時，儀器熒光屏上出現缺陷波的水平刻度值通常代表（ B ）A.缺陷深度 B.缺陷至探頭前沿距離C.缺陷聲程 D.以上都可以10、探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測時，如儀器用平試塊按深度1：1調掃描，下面哪種說法正確（ A ）A.缺陷實際徑向深度總是小于顯示值 B.顯示的水平距離總是大于實際弧長C.顯示值與實際值之差，隨顯示值的增加而減小 D.以上都正確11、采用底波高度法（F/B百分比法）對缺陷定量時，以下哪種說法正確（ B ）A. F/B相同，缺陷當量相同 B.該法不能給出缺陷的當量尺寸C.適于對尺寸較小

6、的缺陷定量 D.適于對密集性缺陷的定量12、在頻率一定和材料相同情況下，橫波對小缺陷探測靈敏度高于縱波的原因是：（C ）A.橫波質點振動方向對缺陷反射有利 B.橫波探傷雜波少C.橫波波長短 D.橫波指向性好13、采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時，可獲得較好的穿透能力：（A ）MHZ C.5MHZ D.10MHZ14、在用5MHZ 10晶片的直探頭作水浸探傷時，所測結果：（ C ）A.小于實際尺寸 B.接近聲束寬度C.大于實際尺寸 D.等于晶片尺寸15、使用半波高度法測定小于聲束直徑的缺陷尺寸時，所測的結果：（ B ） A .小于實際尺寸 B .接近聲束寬度 C .稍大于實際尺寸 D

7、 .等于晶片尺寸16、棱邊再生波主要用于測定：（ D ）A.缺陷的長度 B.缺陷的性質C.缺陷的位置 D.缺陷的高度17、從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質信息、超聲探傷對缺陷的定性是通過下列方法進行：（ D ）A.精確對缺陷定位 B.精確測定缺陷形狀C.測定缺陷的動態波形 D.以上方法須同時使用18、單斜探頭探傷時，在近區有幅度波動較快，探頭移動時水平位置不變的回波，它們可能時：（ B ）A.來自工件表面的雜波 B.來自探頭的噪聲C.工件上近表面缺陷的回波 D.耦合劑噪聲19、確定脈沖在時基線上的位置應根據：（ B ）A.脈沖波峰 B.脈沖前沿C.脈沖后沿 D.以上都可以20、用實測折射

8、角71°的探頭探測板厚為25mm的對接焊縫，熒光屏上最適當的聲程測定范圍是：（ D ）A.100mm B.125mm C.150mm D.200mm21、用IIW2調整時間軸，當探頭對準R50圓弧面時，示波屏的回波位置（聲程調試）應在：（B）A B C D 題4.21圖22、能使K2斜探頭得到圖示深度1：1調節波形的鋼半圓試塊半徑R為（ C ）A.50mm B.60mm C.67mm D.40mm23、在厚焊縫斜探頭探傷時，一般宜使用什么方法標定儀器時基線？（B ）A水平定位法 B深度定位法C聲程定位法 D一次波法24、在中薄板焊縫斜探頭探傷時，使用什么方法標定儀器時基線？（A ）A

9、水平定位法 B深度定位法C聲程定位法 D二次波法25、對圓柱形簡體環縫探測時的缺陷定位應：（ A ）A按平板對接焊縫方法 B作曲面修正C使用特殊探頭 D視具體情況而定采用各種方法26、在探測球形封頭上焊縫中的橫向缺陷時，缺陷定位應：（B ）A按平板對接焊縫方法 B作曲面修正C使用特殊探頭 D視具體情況決定是否采用曲面修正27、在筒身外壁作曲面周向探傷時，缺陷的實際深度比按平板探傷時所得讀數：（B ）A大 B小 C相同 D以上都可以28、在筒身內壁作曲面周向探傷時，所得缺陷的實際深度比按平板探傷時的讀數：（A ） A大 B小 C相同 D以上都可以29、在筒身外壁作曲面周向探傷時，實際的缺陷前沿距

10、離比按平板探傷時所得讀數：（A ） A大 B小 C相同 D以上都可以30、在筒身內壁作曲面周向探傷時，實際的缺陷前沿距離比按平板探傷時所得讀數：（B ） A大 B小 C相同 D以上都可以31、為保證易于探出垂直于焊縫表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探頭探傷應選用（B ）A小K值探頭 B大K值探頭C軟保護膜探頭 D高頻探頭32、在鍛件直探頭探傷時可能定不準近側面缺陷的位置，其原因是：（A ）A側面反射波帶來干涉 B探頭太大，無法移至邊緣C頻率太高 D以上都不是33、在斜探頭厚焊縫探傷時，為提高缺陷定位精度可采取措施是：（D ）A提高探頭聲束指向性 B校準儀器掃描線性C提高探頭前沿長度和K值測定精度

11、 D以上都對34、當量大的缺陷實際尺寸：（ A）A一定大 B不一定大C一定不大 D等于當量尺寸35、當量小的缺陷實際尺寸：（ B）A一定小 B不一定小C一定不小 D等于當量尺寸36、在超聲探傷時，如果聲束指向不與平面缺陷垂直，則缺陷尺寸一定時，缺陷表面越平滑反射回波越：（B ）A大 B小 C無影響 D不一定37、當聲束指向不與平面缺陷垂直時，在一定范圍內，缺陷尺寸越大，其反射回波強度越：（B ） A大 B小 C無影響 D不一定38、焊縫探傷中一般不宜選用較高頻率是因為頻率越高：（D）A 探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強，缺陷方向不利就不易探出B 裂紋表面不光滑對回波強度影響越大C 雜波太多 DA

12、B都對39、厚度為600mm的鋁試件，用直探頭測得一回波的傳播時間為165µs，若縱波在鋁中聲速為6300m/s則此回波是：（C）A底面回波 B底面二次回波C缺陷回波 D遲到回波40、直探頭縱波探傷時，工件上下表面不平行會產生：（A ）A底面回波降低或消失 B底面回波正常C底面回波變寬 D底面回波變窄41、直探頭探測厚100mm和400mm的兩平底面鍛件，若后者探測面粗糙，與前者耦合差為5db，材質衰減均為0.01Db/mm（雙程），今將前者底面回波調至滿幅(100%)高，則后者的底面回波應是滿幅度的：（C ）A40 B20 C10% D542、厚度均為400mm，但材質衰減不同的兩

13、個鍛件，采用各自底面校正400/2靈敏度進行分別探測，現兩個鍛件中均發現缺陷，且回波高度和缺陷聲程均相同，則：（B ）A兩個缺陷當量相同 B材質衰減大的鍛件中缺陷當量小C材質衰減小的鍛件中缺陷當量小 D以上都不對43、在脈沖反射法探傷中可根據什么判斷缺陷的存在？（D ）A缺陷回波 B底波或參考回波的減弱或消失C接收探頭接收到的能量的減弱 DAB都對44、在直接接觸法直探頭探傷時，底波消失的原因是：（D ）A耦合不良 B存在與聲束不垂直的平面缺陷C存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷 D以上都是45、在直探頭探傷時，發現缺陷回波不高，但底波降低較大，則該缺陷可能是：（C ） A與表面成較大角度的平面

14、缺陷 B反射條件很差的密集缺陷 CAB都對 DAB都不對46、影響直接接觸法耦合損耗的原因有：（D ）A 耦合層厚度，超聲波在耦合介質中的波長及耦合介質聲阻抗B 探頭接觸面介質聲阻抗C 工件被探測面材料聲阻抗D 以上都對47、被檢工件晶粒粗大，通常會引起：（ D）A草狀回波增多 B信噪比下降C底波次數減少 D以上全部48、為減少凹面探傷時的耦合損耗，通常采用以下方法：（D ）A使用高聲阻抗耦合劑 B使用軟保護膜探頭C使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸 D以上都可以49、在平整光潔表面上作直探頭探傷是宜使用硬保護膜探頭，因為這樣：（B ）A 雖然耦合損耗大，但有利于減小工件中噪聲B 脈沖窄，探測靈

15、敏度高C 探頭與儀器匹配較好D 以上都對50、應用有人工反射體的參考試塊主要目的是：（A ）A 作為探測時的校準基準，并為評價工件中缺陷嚴重程度提供依據B 為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具C 為檢出小于某一規定的參考反射體的所有缺陷提供保證D 提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體51、下面那種參考反射體與入射聲束角度無關：（ C）A 平底孔B 平行于探測面且垂直于聲束的平底槽C 平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔D 平行于探測面且垂直于聲束的V型缺口52、測定材質衰減時所得結果除材料本身衰減外，還包括：（ D）A聲束擴散損失 B耦合損耗C工件幾何形狀影響 D以上都是53、沿

16、細長工件軸向探傷時，遲到波聲程X的計算公式是：（D ）AB. C. D.54、換能器尺寸不變而頻率提高時：（C ）A橫向分辨力降低 B聲束擴散角增大C近場區增大 D指向性變鈍55、在確定缺陷當量時，通常在獲得缺陷的最高回波時加以測定，這是因為：（D ）A 只有當聲束投射到整個缺陷發射面上才能得到反射回波最大值B 只有當聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C 只有當聲束垂直投射到工件內缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D 人為地將缺陷信號的最高回波規定為測定基準56、考慮靈敏度補償的理由是：（D ）A被檢工件厚度太大 B工件底面與探測面不平行C耦合劑有較大聲能損耗 D工件與試塊材

17、質，表面光潔度有差異57、探測粗糙表面的工件時，為提高聲能傳遞，應選用：（C）A聲阻抗小且粘度大的耦合劑 B聲阻抗小且粘度小的耦合劑C聲阻抗大且粘度大的耦合劑 D以上都不是58、超聲容易探測到的缺陷尺寸一般不小于：（A ）A波長的一半 B一個波長C四分之一波長 D若干個波長59、與探測面垂直的內部平滑缺陷，最有效的探測方法是：（C） A單斜探頭法 B單直探頭法 C雙斜探頭前后串列法 D分割式雙直探頭法60、探測距離均為100mm的底面，用同樣規格直探頭以相同靈敏度探測時，下列哪種底面回波最高、（C ）A 與探測面平行的大平底面B R200的凹圓柱底面C R200的凹球底面D R200的凸圓柱底

18、面61、鍛件探傷中，熒光屏上出現“林狀波”時，是由于（B ） A工件中有大面積傾斜缺陷 B工件材料晶粒粗大 C工件中有密集缺陷 D以上全部62、下面有關“幻象波”的敘述哪點是不正確的（C ）A 幻象回波通常在鍛件探傷中出現B 幻象波會在掃描線上連續移動C 幻象波只可能出現在一次底波前D 降低重復頻率，可消除幻象波63、下面有關610反射波的說法，哪一點是錯誤的？（ C）A產生610反射時，縱波入射角與橫波反射角之和為900B產生610反射時，縱波入射角為610橫波反射角為290C產生610反射時，橫波入射角為290縱波反射角為610D產生610反射時，其聲程是恒定的64、長軸類鍛件從斷面作軸向

19、探測時，容易出現的非缺陷回波是（ D） A三角反射波 B61反射波 C輪廓回波 D遲到波65、方形鍛件垂直法探傷時，熒光屏上出現一游動缺陷回波，其波幅較低但底波降低很大、該缺陷取向可能是（C ） A平行且靠近探測面 B與聲束方向平行 C與探測面成較大角度 D平行且靠近底面66、缺陷反射聲壓的大小取決于：（D ） A缺陷反射面大小 B缺陷性質 C缺陷取向 D以上全部三、問答題1、 何謂缺陷定量？簡述缺陷定量方法有幾種？答：超聲波探傷中，確定工件中缺陷大小和數量，稱為缺陷定量。缺陷的大小包括缺陷的面積和長度。缺陷的定量方法很多，常用的有當量法，底波高度法和測長法。2、 什么是當量尺寸？缺陷的當量定

20、量法有幾種？答:將工件中自然缺陷的回波與同聲程的某種標準反射體的回波進行比較。兩者的回波等高時，標準反射體的尺寸就是該自然缺陷的當量尺寸。當量僅表示反射體對聲波的反射能力相當，并非尺寸相等。當量法包括：（1）試塊比較法：將缺陷回波與試塊上人工缺陷回波作比較對缺陷定量的方法。（2）計算法：利用規則反射體放人理論回波聲壓公式進行計算來確定缺陷當量尺寸的定量方法。（3）AVG曲線法：利用通用AVG或實用AVG曲線確定缺陷當量尺寸的方法.3、 什么是缺陷的指示長度？測定缺陷指示長度的方法分為哪兩大類？答：按規定的靈敏度基準，根據探頭移動距離測定的缺陷長度稱為缺陷的指示長度。測定缺陷長度的方法分為相對靈

21、敏度法和絕對靈敏度法兩大類。（1）相對靈敏度法：是以缺陷最高回波為相對基準，沿缺陷長度方向移動探頭，以缺陷波幅降低一定的dB值的探頭位置作為缺陷邊界來測定缺陷長度的方法。（2）絕對靈敏度法：是沿缺陷長度方向移動探頭，以缺陷波幅降到規定的測長靈敏度的探頭位置作為缺陷邊界來測定長度的方法。4、 超聲波探傷的分辨力與哪些因素有關?答：超聲波探傷分辨力可分為近場分辨力（盲區），遠場分辨力，縱向分辨力，橫向分辨力。近場分辨力主要取決于始脈沖占寬和儀器阻塞效應。縱向分辨力主要取決于脈沖寬度及探測靈敏度。橫向分辨力主要取決于聲束擴散角、探測靈敏度、測試方法等。5、 怎樣選擇超聲波的頻率？答:超聲頻率在很大程

22、度上決定了超聲波探傷的檢測能力。頻率高、波長短、聲束窄、擴散角小，能量集中，因而發現小缺陷的能力強，分辨力高，缺陷定位準確，但缺點是在材料中衰減大，穿透能力差，對細晶粒材料，如鍛件、焊縫等，常用頻率為2.55MHz，只有在對很薄工件探傷，并對小缺陷檢出要求很高時，才使用10MHz頻率。對粗晶材料，為減少晶界反射，避免林狀回波，增大穿透能力，常使用低頻。另外，當試件表面粗糙度較大時，選擇低頻有助減少耦合時的側向散射。一般對鑄鋼，奧氏體不銹鋼焊縫，可采用0.51MHZ的頻率，對鑄鐵、非金屬材料，甚至使用幾十千HZ的低頻。6、 超聲波探傷時，缺陷狀況的、對回波高度有哪些影響？答：缺陷回波高度受缺陷的

23、形狀、方位、大小、性質等因素的影響。（1）形狀的影響：工作中實際缺陷的形狀是各種各樣的，通常可簡化為圓片形，球形，圓柱形三種，回波高度H是缺陷直徑（），缺陷到聲源的距離X，波長的函數：（2）方位的影響：聲波垂直缺陷表面時，反射波最高，當聲波與缺陷表面不垂直時，回波隨傾角的增大而急劇下降。例如，對光滑反射面，傾角時，波高降至垂直入射的1/10;傾角為時，波高降為1/1000缺陷已不能檢出。（3）表面粗糙度的影響：缺陷表面凹凸1/3時，可認為缺陷是光滑平面，當表面凹凸度1/3時，是粗糙平面，垂直入射時，聲束被散亂反射，產生干涉，回波高度隨粗糙度增大而下降；傾斜入射時，缺陷回波隨粗糙度增大而增高；當

24、凹凸度接近波長時，即使傾角較大，也能接收到一定高度的回波；（1） 缺陷回波指向性的影響：當缺陷直徑為波長的23倍時，反射波具有較好的指向性，隨缺陷直徑的減小，指向性變差。當缺陷直徑小于1/2時，反射波能量呈球形分布，強度降低，此時垂直入射和傾斜入射的反射特性大致相同。當缺陷直徑大于3時，可視為鏡面反射，當入射傾角大時就不易接收到缺陷回波。缺陷性質的影響：通常含氣體的缺陷，如鋼中的白點，氣孔，裂紋，未焊透等，其界面聲阻抗差很大，可近似認為聲波全反射，回波高度大；而相同尺寸的含有非金屬夾雜物的缺陷，界面聲阻抗差異小，透過部分聲能，反射回波相應降低。7、 怎樣選擇超聲波探傷的探頭？答：超聲波探頭種類

25、很多，性能各異，應根據檢測對象，合理選擇探頭。a) 頻率選擇：對大厚工件，粗晶材料，或探測表面粗糙的工件，應選擇低頻率；對薄工件，細晶粒材料，或對小缺陷檢出要求高時，應選擇較高頻率。應注意的是：裂紋等表面狀缺陷，有顯著的反射指向性，如果超聲波不是近于垂直入射，在探頭方向就不會產生足夠大的回波，頻率越高，這種現象越顯著，所以應避免使用不必要的高頻。一般來說，頻率上限由衰減和草狀回波信噪比決定，下限由檢出靈敏度，脈沖寬度，和指向性決定。b) 晶片尺寸選擇：晶片尺寸大，發射能量大，擴散角遠距離探測靈敏度高，適用于大型工件探傷，晶片尺寸小，近距離范圍聲束窄，有利于缺陷定位，對凹凸度大曲率半徑小的工件，

26、宜采用尺寸較小的探頭。c) 探頭角度選擇：角度選擇原則是，盡量使聲束相對于缺陷垂直入射。鋼板，鍛件內缺陷多平行于表面，常選用直探頭。焊縫中危險性缺陷多垂直于表面，常選用斜探頭。d) 特殊探頭選擇：a) 探測平行于探測面的近表面缺陷用雙晶直探頭。b) 探測薄壁管焊縫根部缺陷用雙晶斜探頭。c) 探測管材、棒材用水浸聚焦探頭。d) 探測薄板（6mm）用板波探頭。e) 用延時法檢測表面裂紋深度用表面波探頭。f) 探測奧氏體不銹鋼焊縫用縱波斜探頭。g) 探測角焊縫近表面缺陷和層狀撕裂用爬波探頭為實現聲能集中，有利于缺陷定位，用點聚焦或線聚焦探頭。8、 試比較橫波探傷幾種缺陷長度測定方法的特點？答：橫波探

27、傷常用的測長方法有絕對靈敏度測長法和相對靈敏度測長法，后者包括6dB法，端點6dB法，20dB法等。應用范圍和特點如下：i. 對小于聲束橫截面的缺陷，宜采用當量法定量，如采用測長法，所得結果一般比缺陷實際尺寸偏大。ii. 對缺陷回波波高包絡線只是一個極大值的缺陷，應采用6dB法定量。iii. 對缺陷回波波高包絡線有數個極大值的缺陷，可采用端點6dB法。iv. 對條形氣孔，未焊透等缺陷，6dB法和端點6dB法測的結果較為準確；對裂紋，未熔合等細長條狀缺陷，6dB法和端點6dB法測的結果往往比實際尺寸偏小，此時可考慮采用絕對靈敏度法。20dB法測量準確性與其他方法不相上下，但使用時需進行聲場尺寸修

28、正，比較麻煩。9、 測定缺陷自身高度的方法有哪幾種？試說明每種方法的原理、特點和應用。答：1、表面波波高法表面波入射到上表面開口缺陷時，會產生一個反射回波，其波高與缺陷深度有關，當缺陷深度較小時，波高隨缺陷深度增加而升高，實際探測中，常加工一些具有不同深度的人工缺陷試塊，利用試塊比較法來確定缺陷的深度。這種方法只適用于測試深度較小的 表面開口缺陷，當缺陷深度超過兩倍波長時，測試誤差大。2、 表面波延時法儀器按表面波聲程1：n調節比例，利用表面波在缺陷開口處和尖端處會產生兩個反射波來確定缺陷的深度，以及利用表面波在無缺陷和有缺陷度表面波繞過而產生的時間差出現的波的不同位置來確定缺陷深度的方法，有

29、單探頭和雙探頭法兩種，適用于表面開口缺陷。缺陷表面過于粗糙，缺陷中充滿油或水時誤差較大。3、 端部回波峰值法當聲波主聲束軸線入射到缺陷上下端點時，會產生強回波F1、F2，據上、下端點的聲程和探頭的K值可求的缺陷自身高度 h=(x2-x1) 同樣，利用探頭在兩點的距離也求得h=a/k。橫波端部回波法是目前應用比較廣泛的一種方法，其測試誤差與K值有關，采用點聚焦探頭來測試，精度可明顯提高。4、 橫波端角反射法橫波入射到下表面開口缺陷時產生端角反射回波，其回波高度與缺陷高度h同波長之比h/有關，因此實測中常用對比試塊來測定缺陷的深度。5、 橫波串列式雙探頭法對于表面光潔且垂直于探測面的缺陷，單探頭接

30、收不到缺陷反射波，需用兩個同K值的斜探頭進行串列式探測來確定缺陷的高度，兩個探頭作一收一發，當工件中無缺陷時，接收探頭接收不到回波。當工件中存在缺陷時，發射探頭發出的波從缺陷反射到底面，再從底面反射至接收探頭，在示波屏上產生一個回波，該回波位置固定不動，而探頭前后平行掃查，確定聲束軸線入射到缺陷上下端點時的位置，根據探頭位置的距離和K值，求得缺陷深度，此方法適用于測試表面未開口缺陷高度。6、 相對靈敏度10dB法先用一次波找到缺陷最高回波，前后移動探頭，確定缺陷回波下降10dB時探頭的位置，根據兩次位置的聲程和K值求得缺陷的高度， h=x2cos2- x1cos1相對靈敏度法也可采用6dB，2

31、0dB 法測定，方法同10dB法。7、 散射波法（衍射法）將兩個K值相同的斜探頭置于缺陷兩側，作一收一發，發射探頭發出的波在缺陷端部產生散射衍射，被接收探頭接收，平行對稱移動探頭找到最高回波，這時缺陷深度h為：這種方法適用于檢測高度3mm的表面開口缺陷。10、 分析缺陷性質的基本原則是什么？答：缺陷定性在實際工作中常常是根據經驗結合工件的加工工藝，缺陷特征，缺陷波形和底波情況來分析缺陷的性質。(1) 根據加工工藝分析工件中可形成的各種缺陷與加工工藝密切相關，在探傷前應查閱有關工件的圖紙和資料，了解工件中的材料，結構特點，幾何尺寸和加工工藝，這對于正確判定缺陷的特質是十分有益的。(2) 根據缺陷

32、特征分析缺陷特征是指缺陷的形狀、大小和密集程度。在不同方向上探測平面形、立體形、點狀及密集形缺陷，其缺陷回波的高度及缺陷波的密集程度會發生不同的變化。(3) 根據缺陷波形分析缺陷波形分為靜態和動態波形兩大類，靜態波形是指探頭不動時缺陷波的高度、形狀和密集程度。動態波形是指探頭在探測面上的移動過程中，缺陷波的變化情況。(4) 根據底波分析工件內存在不同缺陷時，超聲波被缺陷反射，使到達底面的聲能減少，底波高度降低，甚至消失，不同性質的缺陷，反射面不同，底波高度也不一樣，因此在某些情況下，可以利用底波狀況來分析缺陷的性質。11、 什么是遲到波？遲到波是怎樣產生的?遲到波有何特點？答：當縱波直探頭置于

33、細長（或扁長）工件或試塊上時，擴散縱波波束在側壁產生波形轉換為橫波，此橫波在另一側又轉換為縱波，最后經底面反射回到探頭，被探頭接收，從而在示波屏上出現一個回波，由于轉換橫波聲程長、波速小、傳播時間較直接從底面反射的縱波長，因此轉換后的波總出現在第一次底波B1 之后，故稱為遲到波，又由于變型橫波可能在兩側壁產生多次反射，每反射一次就會出現一個遲到波，因此遲到波往往有很多個。由于遲到波總是位于 B1 之后，并且位置特定，而缺陷波一般位于B1 之前，因此遲到波不會干擾缺陷波的判別。12、 什么是三角反射波？三角反射波有何特點？答：當縱波直探頭徑向探測實心圓柱體時，由于探頭平面與柱面接觸面積小，使波束

34、擴散角增加，這樣擴散波就會在圓柱面上形成三角反射路徑，從而在示波屏上出現三角反射波，這種反射稱為三角反射。三角反射有不發生波型轉換的等邊三角形反射和發生波型轉換的等腰三角形反射，其反射波總是位于第一次底波B1 之后，位置特定，而缺陷波一般位于B1之前，因此三角反射波也不會干擾缺陷波的判別。13、 什么是反射？反射有什么特點？試舉例說明反射在實際探傷中的應用？答：當探頭置于直角三角形試件的直邊時，若縱波入射角與橫波反射角的關系為+=90°則會在高波屏上出現位置特定的反射波由=90°- 得 sin=由反射定律得 對于鋼=1.82，即=61°故這種反射稱為61°

35、;反射。61°反射的聲程為：=BE+EC=BC當探頭在AB邊上移動時，反射波位置不變，其聲程恒等于直角三角形61°角所對的直邊邊長BC。對于結構比較復雜的工件，如焊接結構的汽輪機大軸，為了有效的探測焊縫根部缺陷，特加工61°的斜面，利用61°反射來探測，從而獲得較高的探傷靈敏度。14、 超聲波探傷中常見非缺陷信號回波有哪幾種？如何鑒別缺陷回撥和非缺陷回波？答：超聲波探傷中，常見的非缺陷回波有始波、底波、遲到波、61°反射、三角反射，還有可能有探頭雜波、工件輪廓回波，耦合劑反射波、幻象波、草狀回波及其它一些非缺陷回波。在超聲波探傷過程中可能會出現

36、各種各樣的非缺陷回波，干擾對缺陷波的判別，探傷人員應注意用超聲波反射、折射和波型轉換理論，并計算相應回波的聲程來分析判別示波屏上可能出現的各種非缺陷回波，從而達到正確探傷的目的，此外還可采用更換探頭來鑒別探頭雜波，用手指沾油觸摸法來鑒別輪廓界面回波。15、什么是側壁干涉？側壁干涉對探傷有何不利于影響？避免側壁干涉的條件是什么？答：側壁干涉是指當縱波探傷時，探頭若靠近側壁，則經側壁反射的縱波或橫波與直接傳播的縱波相遇產生干涉，對于靠近側壁的缺陷，探頭靠近側壁正對缺陷探傷，缺陷回波低，探頭原理側壁探傷反而缺陷回波，當缺陷位置一定時，存在最佳的探頭位置，使缺陷回波最高，這個最佳探頭位置總是偏離缺陷。這說明由于側壁干涉的影響，改變了探頭的指向性，缺陷最高回波不在探頭軸線上，不僅會影響缺陷定量，也影響了缺陷定位。在脈沖反射法探傷中，一般脈沖持續的時間，所對應的聲程不大于，因此只要側壁反射波束與直接傳播的波束聲程差大于就可以避免側壁干涉。四、計算題1、用2.5P20Z探頭徑向探測500mm的圓柱形工件，CL=5900m/s，如何利用工件底波調節500/2靈敏度。 （45.5分貝）解：