1、硅膠產品檢驗標準一. 一般標準1. 工作溫度:-15 C+80 C2貯存溫度:-30 C+85 C3貯存時間：A.產品在無擠壓情況下平放：可長期保貯B.產品在擠壓情況下存放：1個月4工作相對濕度:45 % 95 %5工作氣壓：86-106Kpa6. 接 觸 率:5MA 在 12VDC/0.5 秒/2*107 次7. 接觸反彈:<12毫秒8. 絕緣電阻:>1012歐姆/500VDC9. 擊穿電壓:>25KV/mm二. 外觀1. 顏色(1) .標準:硫化裝配后硅膠不外露，無較大差異(2) .檢測方法：在明亮的自然光或 40W日光燈下,將標準樣品或色卡與待校樣品放在一起經視力1.0

2、以上，無色盲的專業人員在肉眼與樣品間距為30cm的情況下目檢5秒鐘.2. 偏心(1) 標準：H厚薄彈性壁厚度w 0.1MM時，模具檢測時X=20 %；wx 彈性壁厚度 w 0.2MM時，模具檢測時X=15%H厚+ H薄彈性壁厚度 w 0.3MM時，模具檢測時 X=8%(2) 檢測方法：用厚度儀測試。3. 溢料(1) 標準:從鍵面向下單色料高胡出外殼高度+1.0MM,裝外殼后看不見為宜.(2) 檢測方法：用游標卡尺測量4. 毛邊(1)標準：產品邊緣：w 0.5MM定位孔：w 0.1MM5. 破裂(1) 標準:無影響裝配與使用性能之處：w 1.0MM(2) 檢測方法：用游標卡尺測量6. 色點凹凸點

3、(1)標準:客戶裝配后硅膠外露部分：無明顯可見檢測方法:在明亮的自然光或 40瓦日光燈照射下，將樣品放于距肉眼30CM左右處經視力1.0以上人員目測5秒鐘7. 以上字符偏移(1) 標準：中心值 ±).15MM(2)檢測方法：用工具顯微鏡測量三. 物理性能1尺寸L<10 : L 0±5MM10 < L<20 : L ± 0.08MM20 < L<30 : L ± 0.10MM30 < L<50 : L ± 0.15MM50 < L<100 : L ± 0.3 % LMM100 WL

4、: L ± 0.5 % LMM(2) 檢測方法：用投影儀測量2彈力(1)標準：A.峰值P1標準值：50 ±5-10)g70 ±10-15)g90 ±15-20)g100 ±15-20)g120 ±20-25)g150 ±20-25)g170 ±25-30)g200-300g 35gb. 最小回彈P3P1W 50G寸：P3 > 20G5OG<P1W 120G時：P3 > 25G12OG<P1W18OG 時：P3 > 30G180G<P1 w 250G時:P3 > 40G250

5、G<P1 時:P3 > 50Gc. 感覺:20九80 %d. 離散性P1中心值w 150g寸，同片產品之同種鍵型：w 15 %不同片產品之同種鍵型:w 20 %P1中心值> 150g寸，同片產品之同種鍵型：w 20 %不同片產品之同種鍵型:w 25 %(2)測試方法:用 AIKOH MODEL 1305 彈力測量儀測出彈力隨沖程的變化曲線圖讀取其峰值P1,接觸彈力P2,最小回彈P3計算其：感覺=(P1-P2)/P1*100%離散性=(P1最大峰值)-P1(最小峰值)/P1(最大峰值)*100 %3接觸電阻(1)標準：a. 黑粒導電：w 10歐姆b. 移印導電: 25歐姆c.

6、絲印導電： 50歐姆(2)測試方法：用壓力為250g壓力使產品鍵之導電基壓在間隔為0.5MM的單縫半月形鍍金板上待萬用表顯示值基本穩定后，讀取其顯示值.5.壽命a. 彈性壁壽命(1) 標準： 5萬次(2) 測試方法：在AIKOH硅膠壽命測試儀的打擊速率為2-5次/秒的情況下，設置打擊平臺的打擊接觸行程為產品沖程+0.1-0.2mm,經10萬次打擊后，彈性壁不得開裂破損，可回彈且提失 30%當客戶無要求時均按 50萬次進行測試.b. 印刷導電壽命(1) 標準: 2,000,0次(2) 測試方法：在AIKOH硅膠壽命測試儀的打擊速率為2-5次/秒的情況下，設置打擊平臺的打擊接觸行程為產品沖程+0.

7、1-0.2mm,經20萬次打擊后，導電物質不得從導電基上脫落且其接觸電阻在規格內c. 印刷字體壽命(1) 標準： 10圈(2) 測試方法：將字符單鍵安裝于 PK-3-4字體壽命儀上，使鍵高出0.5-1.0MM,在加上500G的壓力轉動摩擦，字體不斷 開，當客戶無明確要求時可采用目視厚度方法進行壽命控制d. PU壽命標準: RCA 5圈測試方法：將測試KEY安裝于RCA摩擦儀上露了高度 0.5-1mm,壓力為175g情況下字體出現損傷時壽命即為PU壽命.客戶無要求時,PU壽命按此標準.四. 化學性能(只限錄音電話機的硅膠按鍵)1加熱失重率(1) 標準：a. <坯2經200 C /4HRS加

8、熱失重后)b. < 1.0(經200 C /24HRS加熱失重后)(2) 測試方法：將產品放于干燥箱內 30分鐘，然后取出，用分析天平稱取測試前產品的片重，W1將產品放入溫度為200+/-5 C的烘箱內烘烤4小時或24小時,然后將產品拿出放入干燥箱內放置30分鐘后用分析天平稱取其重量W2,計算(W1-W2 )/W1*100 %之值.2. 抽提失重率(1)標準:< 3霜(3) 測試方法：選取一些有代表性的鍵，剪取約0.5g樣品，再將其剪成0.005-0.01g的小粒,用分析天平稱其準確總重為W1,將樣品放抽提器內并加入異炳醇(IPA)進行提2小時,然后取出樣品再放入溫度為100C的烘箱內烘烤半小時，取出后放入干燥箱內冷卻半小時稱其準確總重W2,計算(W1-W2)/W1*100%之值.3. 低分子含量(1) 標準：D3-D10W 3