1、下圖為金屬鎂粉的X射線衍射圖譜（注：X射線源為Cu K輻射,其平均波長為1.5418 埃）。查衍射卡片得知鎂的（112）晶面間距為1.3663埃,問圖中哪個峰是鎂（112）晶面的衍射峰,寫明計算過程。圖中高角度衍射峰有劈裂，為何？Cu K輻射的波長為=1.5418 埃。根據布拉格方程2d sin = 知道：對（112）晶面間距d=1.3663埃; 所以：sin=/2d=0.4057; 所以=34.346; 所以2=68.69可以知道2=68.7對應的衍射峰是Mg（112）晶面的衍射峰。劈裂是因為波長包含兩個所致。比較X射線光電子、特征X射線及俄歇電子的概念。X射線光電子是電子吸收X光子能量后逸

2、出樣品所形成的光電子。特征X射線是處于激發態的電子躍遷到低能級釋放出的能量以X射線形式釋放。俄歇電子是激發態電子跳到基態釋放的能量傳遞給相鄰電子，導致相鄰同能級電子逸出樣品形成俄歇電子。在透射電鏡中，電子束的波長主要取決于什么？多晶電子衍射花樣與單晶電子衍射花樣有何不同？多晶電子衍射花樣是如何形成的，有何應用？明場像和暗場像有何不同？電子束的波長主要取決于電子加速電壓或電子能量。單晶電子衍射花樣由規則排列的衍射斑點構成。多晶衍射花樣由不同半徑的衍射環組成。多晶中晶粒隨機排列取向，相當于倒易點陣在空間繞某點旋轉，而在倒易空間形成一組圓球，圓球的一定截面形成圓環。 可用于確定晶格常數。明場像是直射

3、電子形成的像。暗場像是散射電子形成的像簡述用于掃描電鏡成像的常用信號電子種類。波、能譜儀的工作原理是什么？比較兩種譜儀進行微區成分分析時的優缺點。1背散射電子；是指被固體樣品中的原子核反彈回來的一部分入射電子。2二次電子 ；是指被入射電子轟擊出來的核外電子。3吸收電子；入射電子進入樣品后，經多次非彈性散射，能量損失殆盡（假定樣品有足夠厚度，沒有透射電子產生），最后被樣品吸收。4俄歇電子；如果原子內層電子能級躍遷過程中釋放出來的能量E不以X射線的形式釋放，而是用該能量將核外另一電子打出，脫離原子變為二次電子，這種二次電子叫做俄歇電子。波譜儀依據不同元素的特征X射線具有不同波長這一特點來對樣品成分

4、進行分析，波譜儀通過晶體衍射分光的途徑實現對不同波長的X射線分散展譜。波譜儀優點：分辨率高，峰背比高波譜儀缺點：采集效率低，分析速度慢。 能譜儀根據不同元素的特征X射線具有不同的能量這一特點來對檢測的X射線進行分散展譜，實現對微區成分分析。 能譜儀優點：分析速度快。靈敏度高，譜線重復性好能譜儀缺點：能量分辨率低，峰背比低。工作條件要求嚴格。XPS的主要工作原理和應用是什么？以Mg K（波長為9.89埃），為激發源，由譜儀（功函數3eV）測得固體中某元素X射線光電子動能980.5eV,求此元素的電子結合能。h =4.1357*10-15 eVs; c=2.998*108m/s。XPS的主要原理為

5、光電效應原理。 XPS 主要用于分析表面化學元素的組成，化學態及其分布，特別是原子的價態，表面原子的電子密度，能級結構。 應用有元素及其化學態的定性分析、定量分析，化學結構分析。激發光子能量： hv=hc/=4.1357*10-15 eVs*2.998*108m/s/9.89*10-10m=1253.6eV. 電子結合能為1253.6-3-980.5=270.1eV什么是拉曼散射，斯托克斯線和反斯托克斯線，拉曼位移？單色光照射物體時有一部分比入射光強度小10-7量級的非彈性散射光含有與入射光不同的頻率光，這樣的散射為拉曼散射。頻率低于入射光頻的散射線為斯脫克斯線，高于入射光頻的散射線為反斯脫克

6、斯線。上述低于或高于的量叫拉曼位移。 試述差熱分析中放熱峰和吸熱峰產生的原因有哪些？簡述差熱掃描量熱法與差熱分析方法的異同。放熱原因：結晶轉變；吸附；分解；氧化度降低；氧化；氧化還原反應。吸熱原因：結晶轉變；熔融；氣化；升華；脫附；吸收；析出；脫水；分解；還原；氧化還原反應。差熱掃描量熱法是熱量與溫度的關系。差熱分析方法是測量溫度差和溫度的關系。掃描隧道顯微鏡及原子力顯微鏡的基本原理和主要工作模式分別是什么？適于分析什么樣品？掃描隧道顯微鏡基本原理是量子隧道效應。工作模式包括恒電流模式，恒高模式，適合分析導電樣品。原子力顯微鏡是用針尖與樣品表面相互作用產生的微小位移反映樣品表面形貌。接觸模式,非接觸模式,輕敲模式.適用于各類樣品。簡述核磁共振化學位移的概念和影響因素。在核磁共振過程中，雖然是同類原子核，但如果其處在不同化合物中或是雖然在同一化合物中但所處的化學環境不同，其共振頻率也稍有不同，這就是化學位移，它源于核外電子云對外加磁場的屏蔽作用。影響因素主要包括誘導效應、共軛效應、磁各向異性效應、氫鍵效應和溶劑效應等。簡述原子發射光譜及紅外吸收光譜是怎么產生的及用途。元素原子及離子在高溫激發后，都能輻射出一組表征該元素的特征光譜線