一、選擇題（每題1分，共15分）1、X射線衍射方法中，最常用的是（ ）A勞厄法 B.粉末多晶法 C.轉晶法2、已知X射線定性分析中有三種索引，已知物質名稱可以采用（ ）A.哈式無機相數值索引 B.無機相字母索引 C.芬克無機數值索引3、電子束與固體樣品相互作用產生的物理信號中能用于測試1nm厚度表層成分分析的信號是（ ）A. 背散射電子 B.俄歇電子 C.特征X射線 4、測定鋼中的奧氏體含量，若采用定量X射線物相分析，常用的方法是（ ）A.外標法 B.內標法 C.直接比較法 D.K值法5、下列分析方法中分辨率最高的是（ ）A.SEM B.TEM C. 特征X射線6、表面形貌分析的手段包括（ ）A.SEM B.TEM C.WDS D. DSC7、當X射線將某物質原子的K層電子打出去后，L層電子回遷K層，多余能量將另一個L層電子打出核外，這整個過程將產生（ ）A.光電子 B.二次電子 C.俄歇電子 D.背散射電子8、透射電鏡的兩種主要功能（ ）A.表面形貌和晶體結構 B.內部組織和晶體結構C.表面形貌和成分價鍵 D.內部組織和成分價鍵9、已知X射線光管是銅靶，應選擇的濾波片材料是（ ）A.Co B.Ni C.Fe D.Zn10、采用復型技術測得材料表面組織結構的式樣為（ ）A.非晶體樣品 B.金屬樣品 C.粉末樣品 D.陶瓷樣品11、在電子探針分析方法中，把X射線譜儀固定在某一波長，使電子束在樣品表面掃描得到樣品的形貌相和元素的成分分布像，這種分析方法是（ ）A.點分析 B.線分析 C.面分析12、下列分析測試方法中，能夠進行結構分析的測試方法是（ ）A.XRD B.TEM C.SEM D.A+B13、在X射線定量分析中，不需要做標準曲線的分析方法是（ ）A.外標法 B. 內標法 C. K值法14、熱分析技術不能測試的樣品是（ ）A.固體 B.液體 C.氣體15、下列熱分析技術中，（ ）是對樣品池及參比池分別加熱的測試方法A.DTA B.DSC C.TGA二、填空題（每空1分，共20分）1、由X射線管發射出來的X射線可以分為兩種類型，即 和 。2、常見的幾種電子衍射譜為單晶衍射譜、 、 、高級勞厄帶斑點、 。3、透射電鏡的電子光學系統由 、 、 和 四部分組成4、今天復型技術主要應用 方法來截取第二相微小顆粒進行分析。5、掃描電子顯微鏡經常用的電子信息是 、 和 6、德拜照相法中的底片安裝方法有 、 和 7、產生衍射的必要條件是 8、倒易點陣的兩個基本特征是 和 9、透射電鏡成像遵循 原理三、名詞解釋（每題5分，共20分）1、X射線強度2、結構因子3、差熱分析4、衍射襯度四、簡答題（每題5分，共20分）1、 闡述特征X射線產生的物理機制2、 給出物相定性與定量分析的基本原理3、 簡述掃描電鏡的結構。4、 簡述熱重分析應注意的問題五、論述題（共25分）1、從原理及應用方面指出X射線衍射、透射電鏡中的電子衍射在材料結構分析中的異同點。2、以體心立方（001）(011)的衍射為例，說明產生衍射的充分必要條件一、選擇題（每空1分，共15分）1-5、BBBCB 6-10、ACBCA 11-15、CDCCB二、填空題（每空1分，共20分）1、連續X射線和特征X射線。2、多晶電子衍射譜、多次衍射譜、菊池線。3、光學系統、樣品室、放大系統、供電和真空系統 4、萃取復型 5、二次電子和背散射電子、吸收電子、特征X射線（任填3個） 6、正裝法、反裝法（倒裝法）、45法（不規則法）7、 滿足布拉格定律8、 H（hkl）垂直于正點陣（hkl）面；H（hkl）=1/d（hkl）9、 阿貝成像原理 三、名詞解釋（每題5分，共20分）1、X射線的強度X射線的強度是指行垂直X射線傳播方向的單位面積上在單位時間內所通過的光子數目的能量總和。常用的單位是J/cm2.s。2、結構因子結構因子是指一個單胞對X射線的散射強度，由于衍射強度正比于結構因子模的平方，消光即相當于衍射線沒有強度，因此可通過結構因子是否為0來研究消光規律3、差熱分析在程序控制溫度條件下，測量樣品與參比的基準物質之間的溫度差與溫度關系的一種熱分析方法。4、衍射襯度衍射襯度是指試樣中由于各處晶體取向不同和（或）晶體結構不同，滿足布拉格條件的程度不同，使得對應式樣下表面處有不同的衍射效果，從而在下表面形成一個隨位置而異的衍射振幅分布而形成的襯度， 它是由于晶體取向差異和（或）晶體結構造成的。四、簡答題（每題5分，共20分）1、闡述特征X射線產生的物理機制答 當外來電子動能足夠大時，可將原子內層（K殼層）中某個電子擊出去，于是在原來的位置出現空位，原子系統的能量因此而升高，處于激發態，為使系統能量趨于穩定，由外層電子向內層躍遷。由于外層電子能量高于內層電子能量，在躍遷過程中，其剩余能量就要釋放出來，形成特征X射線。2、簡述掃描電鏡的結構。掃描電鏡包括以下幾個部分：（1）電子光學系統由電子搶、電磁透鏡、光闌、樣品室等部件組成。（2）信號收集和顯示系統 二次電子和背反射電子收集器是掃描電鏡中最主要的信號檢測器。顯示系統、吸收電子檢測器 X射線檢測器 （3）真空系統和電源系統。3、給出物相定性與定量分析的基本原理定性相分析原理：每一種結晶物質都有其特定的結構參數，包括點陣類型、晶胞大小、單胞中原子的數目及其位置等等，這些參數在X射線衍射花樣上均有所反映，到目前為止還沒找到兩種衍射花樣完全相同的物質；對于多種物相的X射線譜，其衍射花樣互不干擾，只是機械地疊加；物相定性分析是一種間接的方法，需利用現有的數據庫進行物相檢索。定量相分析原理：各相的衍射線強度隨該相含量的增加而提高。4、簡述熱重分析應注意的問題（1）氣體的浮力和對流；（2）揮發物的再凝聚；（3）升溫速度的影響 （4）試樣的用量和粒度；（5）環境氣氛；（6）試樣與稱重器皿的反應五、論述題（共25分）1、電子衍射與X射線衍射相比有如下優缺點：（1）由于電子的波長比X射線短得多，故電子衍射的衍射角也小得多，其衍射譜可視為倒易點陣得二維截面，使晶體幾何關系的研究變得簡單方便。（2）物質對電子的散射作用強，約為X射線的一百萬倍，因而它在物質中的穿透深度有限，適合于用來研究微晶、表面和薄膜的晶體結構。攝照時，曝光只需數秒即可。（3）電子衍射使得在透射電鏡下對同一試樣的形貌觀察與結構分析同時來研究成為可能。此外，還可借助衍射花樣弄清薄晶樣品衍襯成像的襯度來源，對各種圖像特征提出確切的解釋。（4）電子衍射譜強度Ie與原子序數Z接近線形關系，重輕原子對電子散射本領的差別小；而X射線衍射強度IX與Z2有關，因此電子衍射有助于尋找輕原子的位置。（5）電子衍射強度有時幾乎與透射束相當，以致兩者產生交互作用，使電子衍射花樣，特別是強度分析變得復雜，不能象X射線那樣從測量衍射強度來廣泛的測定結構。（6）此外，散射強度高導致電子透射能力有限，要求試樣薄，這就使試樣制備工作較X射線復雜；在精度方面也遠比X射線低。2、以體心立方（001）(011)的衍射為例，說明產生衍射的充分必要條件答：結構因子公式為由于產生衍射的充分必要條件是“反射定律+布