電子行業計量技術規范項目建議書建議項目名稱擾偏儀校準規范制定或修訂█制定□修訂被修訂計量技術規范號/計量技術規范性質□檢定規程█校準規范計量技術規范類別□重點█基礎主要起草單位廣州廣電計量檢測股份有限公司聯系人李文興聯系電務年限2年申請經費2萬參加單位/具備的特點□安全□節能□環保█自主創新□其他＿＿＿目的、意義和必要性1、指出該計量技術規范項目編制的目的、意義，描述涉及安全、節能、環保、自主創新等方面的特點和發揮的作用，解決行業、產業的問題和必要性、迫切性擾偏儀用于光纖通訊，光纖傳感和光纖測試測量的一種重要儀器。在光放大器的生產測試過程中，擾偏儀可用于減少偏振燒孔效應；在WDM系統中，可用于輔助監控系統的偏振模色散；在光纖傳感領域，可用于減少光纖傳感器的偏振衰減；對于偏振敏感的儀器，在其前方放置擾偏儀可以減少偏振光的影響。擾偏儀在國內外各大光電子器件、光纖傳感系統生產商中均有廣泛使用，是其研發、生產、測試過程中的重要儀器，當前尚無擾偏儀的校準規范或檢定規程，缺少統一的計量性能要求和計量方法，不利于相關產業的發展，因此制定擾偏儀校準規范。2、先進性和亮點、社會效益和推廣應用前景擾偏儀在光電子器件、光纖傳感等領域具有廣泛的應用，貫穿光無源器件、光接收機、光傳感器等元器件的研發、生產、測試全流程，在前沿研究領域如硅光子器件的測試中也有應用，其對保障光電子、光傳感器件的產品質量有著重要作用，開展本項目的研究可以為擾偏儀的的量值統一提供保障，同時填補其校準方法的空白。3、查新結果（國家、本行業或其他行業是否有相關技術規范）現有相關計量技術規范：《JJF（電子）30905-2007光纖及光器件偏振特性校準規范》、《JJF1456-2014通信用光偏振度測試儀校準規范》、《JJF1428-2013光纖偏振模色散測試儀校準規范》、《JJF1690-2018偏振依賴損耗測試儀校準規范》、《JJG（軍工）220-2019偏振依賴損耗測試儀》。擾偏儀的最主要特性是對輸入的偏振光偏振態進行隨機擾動，使其在平均時間上失去偏振特性，即輸出偏振度需盡可能小，因此輸出偏振度是衡量擾偏儀的重要參數。另一方面，作為在光路中改變光源特性的儀器，其對光路引入的影響應盡可能小，即剩余偏振依賴損耗、剩余偏振模色散應盡可能小。已有計量規范及在編項目均無法覆蓋擾偏儀的關鍵參數如輸出偏振度、剩余偏振依賴損耗、剩余偏振模色散，且從原理上有明顯區別，不能用于擾偏儀的校準，急需制定擾偏儀校準規范。范圍和主要計量特性1、計量技術規范的適用范圍本規范適用于擾偏儀的校準。2、以典型儀器或試驗設備等（注明儀器型號）為依據，提出計量特性的技術指標，包括其名稱、測量范圍和最大允許誤差以美國GeneralPhotonics的PCD-104、德國novoptel的EPS1000、新西蘭QuantifiPhotonics的POL-1103為典型型號儀器。1）GeneralPhotonics，型號PCD-1042）novoptel，型號EPS10003）QuantifiPhotonics，型號POL-1103參考典型型號的技術指標，擾偏儀的計量特性如下：工作波長：980nm~1650nm；2)插入損耗：(0.05~3)dB，最大允許誤差±(0.03dB~0.3dB)；3)剩余偏振依賴損耗：≤0.3dB；4)剩余偏振模色散：≤0.3ps；5)輸出偏振度：≤5%；6)回波損耗：(0.1~65)dB，最大允許誤差±(1dB~5dB)；3、主要測量標準的技術指標光源波長范圍：至少覆蓋1310nm和1550nm；輸出功率：≥-10dBm；短時間穩定度：≤±0.005dB；偏振度：≥90%；光功率計功率范圍：-60dBm~+10dBm，800nm~1700nm；功率非線性：≤±0.015dB；偏振控制器插入損耗：≤2dB；1280nm~1620nm；插入損耗隨偏振態的變化量：≤0.7%；光偏振參數測試儀波長范圍：1280nm~1620nm；偏振依賴損耗測量范圍：(0~1)dB，最大允許誤差±(2%~4%)；偏振模色散測量范圍：(0~1)ps，最大允許誤差±(0.5%~2%)；偏振度測量范圍：(0~100)%，最大允許誤差±(1%~2%)；光回波損耗儀波長范圍：(1310±20)nm，(1550±20)nm；回波損耗測量范圍：(0~65)dB，最大允許誤差±(0.5dB~2dB)；4、簡要描述主要計量項目的技術原理1）插入損耗通過法蘭盤對接，設置光源、光功率計、被校儀器的波長一致，將此時光功率計讀數設為參考值，光功率計的讀數為0dB。讀取光功率計的讀數，即為被校儀器的插入損耗值。2）剩余偏振依賴損耗方法一：光源光功率計法設置光源、偏振控制器、光功率計、被校儀器的波長一致，偏振控制器開啟自動掃描，測試時間不少于5min，采集或記錄數據間隔不大于1s，從光功率計采集的數據中找出最大和最小光功率值，利用下式計算剩余偏振依賴損耗作為測量結果：方法二：光偏振參數測試儀法設置光源、光偏振參數測試儀、被校儀器的波長一致，光偏振參數測試儀優先選用斯托克斯矢量法進行測量，從光偏振參數測試儀讀取剩余偏振依賴損耗測量結果。3）剩余偏振模色散設置光源、光偏振參數測試儀、被校儀器的波長一致，光偏振參數測試儀優先選用瓊斯矩陣法（偏振模色散基準測量方法）進行測量，從光偏振參數測試儀直接讀取剩余偏振模色散測量結果。4）輸出偏振度設置光源、光偏振參數測試儀、被校儀器的波長一致，使用光偏振參數測試儀對被校儀器進行直接測量。5）回波損耗對于有內置光源的光回波損耗儀，按圖5接線，設置被校儀器、光回波損耗儀的波長一致，從光回波損耗儀直接讀取被校儀器的光回波損耗值。對于無內置光源的光回波損耗儀，設置光源、被校儀器、光回波損耗儀的波長一致，從光回波損耗儀直接讀取被校儀器的光回波損耗值。水平□國際先進█國內先進國內外情況簡要說明1、與國內相關技術規范之間的關系現有的計量技術規范及在編的校準規范，無法覆蓋擾偏儀的關鍵參數輸出偏振度、剩余偏振依賴損耗、剩余偏振模色散，且從原理上與擾偏儀存在明顯區別，均不適用與擾偏儀的校準，因此需要開展本項目的研究。2、指出是否發現有知識產權的問題，或涉及專利的情況未發現知識產權問