材料分析測試方法知到智慧樹期末考試答案題庫2025年哈爾濱工業(yè)大學(xué)除結(jié)構(gòu)因子外，影響X射線衍射強(qiáng)度的因素有哪些？（）

答案:多重性因子；角因子；吸收因子；溫度因子金屬鎳立方晶胞中(111)晶面的晶面間距d111為2.035?，求其(220)的晶面間距（）。

答案:1.246?采用吸收因子對衍射強(qiáng)度進(jìn)行修正時(shí)，吸收因子A(θ)都與哪些因素有關(guān)？（）。

答案:試樣的形狀和大小；試樣的組成成分；衍射角采用X射線衍射儀法時(shí)，掃描速度過快時(shí)，則（）。

答案:峰高和分辨率下降，峰頂向掃描方向偏移透射電鏡操作時(shí)，中間鏡的物平面在物鏡后焦面，稱為（）。

答案:衍射模式透射電鏡操作中，讓電子束傾斜的結(jié)構(gòu)單元是（）。

答案:電子偏移系統(tǒng)透射電子顯微鏡中可以消除的像差是（）。

答案:像散選擇陽極靶的經(jīng)驗(yàn)公式是：Z靶=Z試樣+1。（）

答案:錯(cuò)選擇X射線衍射測量殘余應(yīng)力時(shí)的衍射晶面，主要依據(jù)是什么？（）。

答案:衍射峰的強(qiáng)度和清晰度選區(qū)光闌在TEM鏡筒中的位置是（）。

答案:物鏡的像平面連續(xù)譜的短波限只取決于（）。

答案:管電壓連續(xù)譜的實(shí)驗(yàn)規(guī)律是（）。

答案:管電壓增大，X射線強(qiáng)度增大；管電壓增大，連續(xù)譜峰值對應(yīng)的波長向短波端移動(dòng)；存在短波限衍射晶面的選擇對X射線衍射法測量殘余應(yīng)力的結(jié)果沒有影響。（）

答案:錯(cuò)能提高透射電鏡成像襯度的可動(dòng)光闌是（）。

答案:物鏡光闌結(jié)構(gòu)因子Fhkl的大小與以下哪個(gè)因素?zé)o關(guān)？（）

答案:點(diǎn)陣常數(shù)a的大小線對法是利用不同次測量所得的兩個(gè)衍射峰的峰位差值來計(jì)算點(diǎn)陣常數(shù)的。（）

答案:錯(cuò)粉末法使用了哪些增大晶體產(chǎn)生衍射的機(jī)率的方法（）。

答案:晶體固定，旋轉(zhuǎn)入射方向；入射方向不變，旋轉(zhuǎn)晶體簡單點(diǎn)陣無消光意味著（）。

答案:凡滿足布拉格方程的晶面均衍射，產(chǎn)生衍射花樣符合電子探針儀的說法是（）。

答案:有能譜儀和波譜儀兩種；直進(jìn)式波譜儀更有利于定量分析；電子探針儀的電子束流強(qiáng)度比掃描電鏡高直進(jìn)式波譜儀的特點(diǎn)是（）。

答案:出射角不變直進(jìn)式波譜儀的優(yōu)點(diǎn)是X射線的出射角不變，有利于定量分析的修正。（）

答案:對直線圖解外推法直觀有效，并且不存在任何問題。（）

答案:錯(cuò)電磁透鏡的焦距可以是負(fù)數(shù)。

答案:錯(cuò)電磁透鏡的像差包含以下哪些？

答案:球差；像散；色差電磁透鏡分辨本領(lǐng)的關(guān)鍵因素有球差和（

）。

答案:衍射效應(yīng)電子衍射技術(shù)在以下哪些領(lǐng)域有應(yīng)用？

答案:材料科學(xué)；生物學(xué)；化學(xué)電子衍射和光學(xué)衍射的主要區(qū)別在于它們的波長。以下哪個(gè)選項(xiàng)描述了這一區(qū)別？

答案:電子衍射的波長較短，光學(xué)衍射的波長較長電子探針儀是進(jìn)行微區(qū)成分分析的儀器，不能進(jìn)行組織形貌觀察。（）

答案:錯(cuò)用掃描電鏡對拋光樣品進(jìn)行物相分析時(shí)，應(yīng)該采用的信號是（）。

答案:背散射電子照相法的安裝方法有三種，其中反裝法適用于點(diǎn)陣參數(shù)的測定。（）

答案:對滿足布拉格方程是出現(xiàn)衍射峰的充要條件。（）

答案:錯(cuò)波譜儀是按照不同元素的特征X射線具有不同波長這一特點(diǎn)進(jìn)行成分分析的。（）

答案:對殘余應(yīng)力是材料內(nèi)部由于不均勻的塑性變形而產(chǎn)生的自相平衡的內(nèi)應(yīng)力，它只存在于材料表面。（）

答案:錯(cuò)殘余應(yīng)力對材料的哪種性能影響最為顯著？（）。

答案:疲勞壽命步進(jìn)掃描方式下，計(jì)算衍射峰強(qiáng)度時(shí)，需要扣除曲線上的背底強(qiáng)度。（）

答案:對根據(jù)布拉格方程，以下關(guān)于X射線衍射分析正確的是（）。

答案:在其它條件相同的情況下，只有低指數(shù)晶面才能發(fā)生衍射；在其它條件相同的情況下，X射線波長越長，衍射線條距離散開大，線條不密集、重疊少，分辨率高根據(jù)布拉格方程，產(chǎn)生衍射的條件是λ≥2d。（）

答案:錯(cuò)根據(jù)多相混合物中各相的衍射線強(qiáng)度隨該相含量的增加而增大原理，可以進(jìn)行物相的定量分析。（）

答案:對標(biāo)準(zhǔn)卡片內(nèi)包含的信息有哪些？（）

答案:三強(qiáng)峰；物質(zhì)的晶體學(xué)數(shù)據(jù)；物質(zhì)的物理學(xué)性質(zhì)；樣品的制備方法材料的微觀組織結(jié)構(gòu)包含（）。

答案:晶體結(jié)構(gòu)；物相本門課程的內(nèi)容主要為材料X射線衍射分析和材料電子顯微分析。（）

答案:對有關(guān)X射線連續(xù)譜的實(shí)驗(yàn)規(guī)律，正確的是（）。

答案:管電壓增大，連續(xù)譜總強(qiáng)度增大，但是短波限變小；原子序數(shù)增大，連續(xù)譜總強(qiáng)度增大，強(qiáng)度最大時(shí)對應(yīng)的波長不變；總強(qiáng)度與管電流、管電壓、陽極靶原子序數(shù)成正比晶體發(fā)生衍射一定滿足布拉格方程，滿足布拉格方程也一定出現(xiàn)衍射峰。（）

答案:錯(cuò)提高加速電壓和（

）可以提高電磁透鏡的理論分辨率。

答案:減小球差系數(shù)掃描電鏡的分辨率的影響因素包括（）。

答案:信號類型；束斑尺寸；加速電壓；樣品類型掃描電鏡中電磁透鏡均為聚光鏡，其中末級透鏡是強(qiáng)磁透鏡焦距較短。（）

答案:錯(cuò)掃描電鏡中電子束的掃描是通過（）實(shí)現(xiàn)的。

答案:掃描線圈掃描電子顯微鏡的分辨率的高低和檢測的信號種類有關(guān)并受到樣品原子序數(shù)和加速電壓的影響，其原因是（）。

答案:不同信號產(chǎn)生于樣品的深度范圍不同；電子束在樣品中一般擴(kuò)展成一個(gè)滴狀區(qū)域；擴(kuò)展區(qū)域深度和形狀受加速電壓和樣品原子序數(shù)的影響；擴(kuò)展區(qū)域隨加速電壓升高而增大，隨樣品原子序數(shù)增大而減小掃描電子顯微鏡是利用細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描、用探測器接收被激發(fā)的物理信號調(diào)制成像。（）

答案:對德拜相機(jī)的組成部分都有哪些？（）。

答案:金屬筒形外殼；試樣架；光闌；承光管當(dāng)利用布拉格方程確定某物相的結(jié)構(gòu)時(shí)，利用的是特征X射線。（）

答案:錯(cuò)引起X射線寬化的原因有哪些？（）

答案:晶粒細(xì)化；微觀應(yīng)變；儀器寬化；衍射峰影響康普頓散射波長變化量只與散射角有關(guān)。（）

答案:對布拉菲點(diǎn)陣有（）種。

答案:14已知某晶面與坐標(biāo)系的交點(diǎn)為(1,0,0)、(0,2/3,0)、(0,0,2/3),求該晶面的晶面指數(shù)（）。

答案:(233)對于照相法衍射花樣的測量和計(jì)算，在測量計(jì)算前要判定底片的安裝方法，并區(qū)分高角區(qū)和低角區(qū)。（）

答案:對對于某原子的λK、λKβ、λKα，三者大小關(guān)系是（）。

答案:λK＜λKβ＜λKα對于所有尺寸的晶粒，都可以通過謝樂公式計(jì)算出衍射峰寬度與晶粒尺寸的關(guān)系。（）

答案:錯(cuò)對于德拜-謝樂照相法中相機(jī)的分辨本領(lǐng)，下列說法錯(cuò)誤的是（）。

答案:θ角越小，分辨本領(lǐng)越高對于2dsinθ=λ，其中d表示實(shí)際晶面間距。（）

答案:錯(cuò)多重性因子指的是等同晶面的個(gè)數(shù)。（）

答案:對增大晶體產(chǎn)生衍射的機(jī)率的方法（）。

答案:入射方向不變，旋轉(zhuǎn)晶體；晶體固定，旋轉(zhuǎn)入射方向；改變?nèi)肷洳ㄩL，球壁增厚在進(jìn)行電子衍射實(shí)驗(yàn)時(shí)，首先需要進(jìn)行的步驟是什么？

答案:樣品準(zhǔn)備在電子衍射中，影響衍射結(jié)果的主要因素是哪些？

答案:樣品厚度、電子束能量和晶體取向在厄瓦爾德球上的倒易點(diǎn)對應(yīng)的晶面發(fā)生衍射。（）

答案:錯(cuò)在X射線衍射應(yīng)力分析中，哪些因素會(huì)影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確性？（）。

答案:衍射角的準(zhǔn)確性；樣品表面的粗糙度；儀器的穩(wěn)定性；樣品安裝的精度在X射線衍射應(yīng)力分析中，哪個(gè)角度的變化用于計(jì)算應(yīng)力？（）。

答案:衍射角2θ在X射線衍射圖譜中，哪個(gè)特征最能幫助我們識別物相的存在？

答案:峰的位置哪種類型的材料最適合使用X射線衍射法測量殘余應(yīng)力？（）。

答案:多晶材料哪種技術(shù)不是X射線衍射應(yīng)力分析的常見方法？（）。

答案:紅外光譜法同波譜儀相比，能譜儀的優(yōu)點(diǎn)有（）。

答案:結(jié)構(gòu)簡單；檢測效率高；靈敏度高加速電壓越高，掃描電鏡分辨率越高。（）

答案:錯(cuò)制備定性分析的待測樣時(shí)，須無擇優(yōu)取向或較小，且晶粒要較粗大。（）

答案:錯(cuò)內(nèi)標(biāo)法的缺點(diǎn)有哪些？（）

答案:繪制定標(biāo)曲線需配置多個(gè)復(fù)合樣，工作量大；加入樣品中的標(biāo)準(zhǔn)物數(shù)量恒定；繪制的定標(biāo)曲線隨實(shí)驗(yàn)條件而變化關(guān)于非晶態(tài)材料的特征，以下說法正確的是哪些？

答案:非晶態(tài)材料沒有長程有序結(jié)構(gòu)；非晶態(tài)材料的原子排列無規(guī)則；在熱力學(xué)上處于亞穩(wěn)狀態(tài)；非晶態(tài)材料的物理性質(zhì)與其組成密切相關(guān)關(guān)于電子衍射的基本原理，以下哪些說法是正確的？

答案:電子具有波動(dòng)性；電子衍射現(xiàn)象表明電子同時(shí)具備粒子性和波動(dòng)性；電子衍射可以用于材料的微觀結(jié)構(gòu)分析關(guān)于電子波的性質(zhì)，以下哪些說法是正確的？

答案:電子具有波動(dòng)性；電子具有粒子性；電子的行為可以用波動(dòng)方程描述關(guān)于掃描電子顯微鏡背散射電子像，以下說法正確的是（）。

答案:背散射電子像也能獲得表面形貌襯度；產(chǎn)生背散射電子的樣品區(qū)域較大，所以背散射電子圖像分辨率較二次電子像低；背散射電子的能量較高，背向探測器的信號難以檢測；背散射電子圖像存在較大的陰影關(guān)于X射線衍射的基本原理，下列說法正確的有哪些？

答案:X射線的波長與原子間距相近；衍射現(xiàn)象是由X射線與晶體中的原子相互作用產(chǎn)生的；衍射圖樣可以用于確定材料的晶體結(jié)構(gòu)；X射線衍射法不適合用于非晶態(tài)材料全聚焦法滿足的條件有（）。

答案:衍射晶體在聚焦圓上；檢測器在聚焦圓上；衍射晶體外表面與聚焦圓相合；X射線源在聚焦圓上全聚焦法是將分光晶體的衍射晶面的曲率半徑彎成與聚焦圓相同。（）

答案:對入射電子對樣品的作用主要是原子電離，這一作用產(chǎn)生的信號主要有（）。

答案:二次電子；特征X射線；俄歇電子使用電子探針儀進(jìn)行顯微分析時(shí)，對樣品（）。

答案:無損傷以下操作中，屬于中心暗場像的成像操作方法是（）。

答案:以下操作中，屬于中心暗場像的成像操作方法是（）。以下關(guān)于非晶態(tài)和晶態(tài)材料的描述中，哪一項(xiàng)是正確的？

答案:晶態(tài)材料具有長程有序的原子排列，非晶態(tài)材料則無此特性二維片狀的衍射晶體的選擇反射區(qū)為倒易片。（）

答案:錯(cuò)為了優(yōu)化X射線衍射應(yīng)力分析的測量效果，可以采取哪種措施？（）。

答案:延長時(shí)間常數(shù)下列透射電鏡的電子槍中，通常（）具有最高的亮度。

答案:鎢單晶場發(fā)射電子槍下列哪項(xiàng)不是影響X射線衍射法測量殘余應(yīng)力精度的因素？（）。

答案:實(shí)驗(yàn)室的溫度下列幾個(gè)選項(xiàng)中，哪一個(gè)不是避免樣品擇優(yōu)取向的原因？（）。

答案:晶粒定向排列時(shí)，強(qiáng)度公式不失效X射線被樣品吸收之后的部分能量轉(zhuǎn)變成為（）。

答案:產(chǎn)生光電子；俄歇電子；熒光X射線；正負(fù)電子對X射線衍射法是通過測量衍射峰的位移來間接計(jì)算材料中殘余應(yīng)力的。（）

答案:對X射線衍射技術(shù)在材料科學(xué)中的主要應(yīng)用是什么？

答案:分析材料的晶體