II螺栓相控陣超聲檢測技術(shù)規(guī)程目 次前言 II112范引文件 13語定義 14般求 15測法 56據(jù)析評定 87989附錄A（范）試塊 10附錄B（范）相陣探晶靈度異有效測試 12附錄C（范）相陣檢系定精測試 13附錄D（料）螺超聲面波控檢測 14附錄E（料）螺相控超檢典缺圖譜 16參考獻(xiàn) 20PAGEPAGE10螺栓相控陣超聲檢測技術(shù)規(guī)程范圍本文件規(guī)定了緊固件螺栓相控陣超聲檢測工藝方法和質(zhì)量評定要求。本文件適用于直徑大于等于32mm的緊固件螺栓相控陣超聲檢測。其他規(guī)格及粗晶材質(zhì)的螺栓，經(jīng)過工藝驗(yàn)證試驗(yàn)?zāi)軌驖M足檢測靈敏度要求，參照本文件內(nèi)容執(zhí)行。（GB/T11259無損檢測超聲檢測用鋼參考試塊的制作和控制方法GB/T12604.1無損檢測術(shù)語超聲檢測GB/T29302無損檢測儀器相控陣超聲檢測系統(tǒng)的性能與檢驗(yàn)GB/T23905無損檢測超聲檢測用試塊JB/T8428無損檢測超聲試塊通用規(guī)范JB/T11731無損檢測超聲相控陣探頭通用技術(shù)條件GB/T12604.1界定的術(shù)語和定義適用于本文件。中級ldB；-3dB1MHz，15MHz；681355nsJB/T1173110-6dB554dB試塊AB（）ABLS-1AGB/T23905。耦合劑AB1338B110mm2dB2dB1mm，CSBCD3D6.3μm聚焦法則參數(shù)應(yīng)考慮以下因素：16檢測前，應(yīng)對扇形掃描角度范圍內(nèi)的各角度聲束進(jìn)行校準(zhǔn)修正，縱波法、橫波法調(diào)試均可通過B型試塊B1區(qū)系列Φ1橫通孔或同類型的其他試塊進(jìn)行調(diào)試，探頭放置位置見圖1。圖1角度增益補(bǔ)償探頭位置）；（）查方法的選擇、掃查面的準(zhǔn)備、掃查面及探頭位置的確定等，以及檢測系統(tǒng)的設(shè)置（）150～50性，同時(shí)驗(yàn)證檢測的可操作性和可靠性。螺栓相控陣超聲檢測主要采用縱波法，縱波無法滿足時(shí)可用采用橫波法。超聲柱面導(dǎo)波相控陣技術(shù)（見附錄D）、相控陣全聚焦技術(shù)可作為輔助檢測。檢測方法選擇應(yīng)符合下列要求：10mm相控陣縱波法主要適用于：1表1螺栓單側(cè)有效檢測長度參考表規(guī)格（無中心孔）mm可探裂紋深度mm有效檢測長度mmM32≥1180M38≥1225M42≥1260M48≥1310M52≥1340M56≥1370M64≥1440M72≥1500M76≥1535相控陣探頭頻率一般為2MHz～5MHz，探頭有效面積不小于80mm2，主動(dòng)激發(fā)孔徑不小于8mm，晶片16～64相控陣縱波法檢測靈敏度可根據(jù)LS-Ⅰ對比試塊、槽型對比試塊、模擬試塊進(jìn)行靈敏度調(diào)整，具體見表2。表2縱波檢測靈敏度調(diào)整方法試塊檢測靈敏度調(diào)整裂紋檢測能力LS-Ⅰ試塊將試塊上與被檢螺栓最遠(yuǎn)端螺紋距離相近的Φ1mmA802dB～6dB1mm槽型對比試塊A示的80%屏高作為基準(zhǔn)靈敏度，再增益2dB～6dB作為檢測靈敏度1mm模擬試塊1mmA60屏高作為基準(zhǔn)靈敏度，在增益2dB～4dB作為檢測靈敏度1mm注1：檢測時(shí)，螺栓的螺紋和光桿區(qū)域應(yīng)分開設(shè)置基準(zhǔn)靈敏度；注2：當(dāng)檢測軸向范圍超過200mm時(shí)，每增加10mm，應(yīng)在原有的檢測靈敏度基礎(chǔ)上再增加1dB；注3：直切槽尺寸長10mm，寬0.3mm，深1mm。檢測時(shí)，根據(jù)螺栓的結(jié)構(gòu)形式選擇探頭位置及掃查方式，應(yīng)符合下列規(guī)定：1123圖2圖3指示長度的測定應(yīng)按下述方法進(jìn)行：（-6dBI（1） I=L×(1)式中：Lmm；Rmm；r——中心孔半徑，mm。螺栓光桿表面、螺紋根部處以及中心孔內(nèi)壁的缺陷檢測。35°～702MHz～7.5MHz，16～320.5mm，如圖4圖4探頭楔塊邊緣與螺栓光桿表面間隙的示意圖相控陣橫波法檢測靈敏度可根據(jù)模擬試塊、待檢螺栓本體進(jìn)行靈敏度調(diào)整，具體見表3。表3橫波檢測靈敏度調(diào)整方法試塊檢測靈敏度調(diào)整裂紋檢測能力模擬試塊1mmA602dB～4dB深1mm模擬裂紋螺栓本體10～145～7A602dB2dB～4dB深1mm模擬裂紋注：直切槽尺寸長10mm，寬0.3mm，深1mm。檢測時(shí)，根據(jù)螺栓的結(jié)構(gòu)形式選擇探頭位置及掃查方式，應(yīng)符合下列規(guī)定：5623；10圖5圖6指示長度的測定應(yīng)按下述方法進(jìn)行：（-6螺紋處缺陷指示長度的測定：測定缺陷螺紋其后第一個(gè)螺紋反射波幅降幅超過504.2.5b）。10紋。10mm5010mmE記錄每次檢測應(yīng)做好原始記錄，逐個(gè)記錄檢測結(jié)果。記錄內(nèi)容至少應(yīng)包括如下信息：報(bào)告檢測報(bào)告至少應(yīng)包括下列內(nèi)容：附錄A（規(guī)范性）試塊用于螺栓相控陣超聲檢測的校準(zhǔn)試塊，簡稱A型和B型試塊，其制造要求應(yīng)符合GB/T11259和JB/T8428的規(guī)定，形狀和尺寸如圖A.1、A.2所示。圖A.1相控陣A型試塊圖A.2相控陣B型試塊（聲束控制評定試塊）用于螺栓相控陣超聲檢測的對比試塊有LS-1試塊、槽型對比試塊，其制造要求應(yīng)符合GB/T和JB/T8428A.3、圖A.4圖A.3LS-1試塊圖A.4槽型對比試塊附錄B（規(guī)范性）相控陣探頭晶片靈敏度差異與有效性測試該項(xiàng)測試要求儀器軟件能夠?qū)ο嗫仃囂筋^的每個(gè)晶片進(jìn)行逐一激發(fā)。80（判斷如出現(xiàn)以下情況，認(rèn)定為晶片為壞晶片：12dB9dBB.2附錄C（規(guī)范性）相控陣檢測系統(tǒng)定位精度測試C.150mm80°～80C.1圖C.1相控陣試塊附錄D（資料性）螺栓超聲柱面導(dǎo)波相控陣檢測GB/T29302探頭探頭應(yīng)滿足如下技術(shù)要求：2.0MHz～10.0MHz2mm～5注：周向線陣指同一平面上多個(gè)晶片眼周向排列形成一個(gè)單層圓環(huán)形（控制方向）的平面陣列探頭。試塊儀器系統(tǒng)性能測試和系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)采用對比試塊。Φ1mmD.110mm、深1mm、寬0.3mm圖D.1導(dǎo)波模擬試塊靈敏度的設(shè)定應(yīng)符合下列規(guī)定1233A2012220檢測D.5a）D.1D.5b）D.11mm1mm（-6dB）評定1mm1mm10mm附錄E（資料性）螺栓相控陣超聲檢測典型缺陷圖譜螺栓典型缺陷縱波法檢測成像視圖見圖E.1～圖E.5，橫波法檢測成像視圖見圖E