材料研究方法（一）知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋武漢科技大學第一章單元測試

1912年，英國物理學家布拉格父子利用X射線衍射測定（）晶體的結(jié)構(gòu)。

A:NaClB:CaCl2C:CuCl2D:KCl

答案:NaClX射線的波長范圍是（）。

A:10-2~102?B:10-5~10-6?C:102~103?D:104~106?

答案:104~106?X射線是一種（），具有波粒二象性。。

A:可見光B:電磁波C:射線D:機械波

答案:電磁波根據(jù)X射線的物理，化學和生物性質(zhì)，可以判斷X射線穿透力強。（）

A:錯B:對

答案:對根據(jù)X射線的物理，化學和生物性質(zhì)，可以判斷X射線對生物組織、細胞就有損傷作用。（）

A:對B:錯

答案:對根據(jù)X射線的物理，化學和生物性質(zhì)，可以判斷X射線不能產(chǎn)生干涉與衍射。（）

A:對B:錯

答案:錯高速運動的電子流在突然被減速能產(chǎn)生X射線。（）

A:對B:錯

答案:對旋轉(zhuǎn)陽極X射線管作用是（）

A:降低X射線管功率B:降低陽極管速度C:提高X射線管功率D:提高陽極管速度

答案:提高X射線管功率激發(fā)X射線特征譜必然伴隨著連續(xù)譜，而激發(fā)連續(xù)譜一定有特征譜。（）

A:對B:錯

答案:錯線吸收系數(shù)與物質(zhì)的密度成反比。（）

A:對B:錯

答案:錯

第二章單元測試

同一晶體的各個部分的宏觀性質(zhì)是相同的，稱為此即晶體的均一性。（）

A:錯B:對

答案:對晶體的宏觀性質(zhì)也隨方向的不同而有所差異，此即晶體的異向性。（）

A:對B:錯

答案:對從微觀來看，組成晶體的原子在空間呈周期重復排列。即以晶體中的原子或其集合為基點，在空間中三個共面的方向上，各按一定的點陣周期，不斷重復出現(xiàn)。（）

A:錯B:對

答案:錯正空間的任一晶面對應于倒易空間的一個面。（）

A:對B:錯

答案:錯具有代表性的基本單元（最小平行六面體）作為點陣的組成單元，稱為晶胞。（）

A:錯B:對

答案:對勞厄法的測量方式有（）。

A:衍射法B:反射法C:干涉法D:投射法

答案:反射法；投射法

第三章單元測試

布拉格定律只是晶體周期性的結(jié)果，也給出了基元中原子的具體排列情況。（）

A:錯B:對

答案:錯相干散射是內(nèi)層電子對X射線的散射，散射后能量不損失，散射波波長與入射波相同。（）

A:對B:錯

答案:對電子對X射線的散射強度與觀測點距離的平方成反比。（）

A:錯B:對

答案:對一般情況下，原子核比電子對X射線的散射強。（）

A:對B:錯

答案:錯晶胞對X射線的散射波是晶胞中所有原子對X射線的散射波的合成。（）

A:錯B:對

答案:對非相干散射是外層電子對X射線的散射，散射后能量不損失。（）

A:對B:錯

答案:錯

第四章單元測試

照相法中根據(jù)試樣和底片相對位置不同可分為（）。

A:針孔法B:聚焦照相法C:德拜謝樂法

答案:針孔法；聚焦照相法；德拜謝樂法德拜相機底片的安裝方式根據(jù)所在位置不同可分為（）。

A:反裝法B:偏裝法C:正裝法

答案:反裝法；偏裝法；正裝法衍射儀的衍射花樣都是來自于與試樣表面相平行的某些反射面上發(fā)生反射的X射線。（）

A:錯B:對

答案:對粉末衍射儀的工作方式分為（）。

A:全譜掃描B:連續(xù)掃描C:步進掃描

答案:連續(xù)掃描；步進掃描X射線衍射儀是采用衍射光子探測器和測角儀來記錄衍射線位置及強度的分析儀器。（）

A:對B:錯

答案:對常用粉末衍射儀核心部件是（）。

A:測距儀B:掃描儀C:測角儀

答案:測角儀晶體單色器的作用是消除衍射花樣的背底和Kβ散射。（）

A:錯B:對

答案:對電壓一定時，正比計數(shù)器所產(chǎn)生的脈沖大小與吸收的x射線光子的能量成呈反比。（）

A:錯B:對

答案:錯正比計數(shù)器是一種高速計數(shù)器，它能分辨輸入率高達（）的分離脈沖。

A:106/SB:103/SC:102/SD:109/S

答案:106/S定標器的工作方式有（）

A:指針計數(shù)方式B:定數(shù)計時方式C:間隔計時方式D:定時計數(shù)方式

答案:定數(shù)計時方式；定時計數(shù)方式

第五章單元測試

1938年，J.D.Hanawalt等就開始收集并攝取各種已知物質(zhì)的衍射花樣。（）

A:對B:錯

答案:對1979年，粉末衍射標準聯(lián)合委員會編制成PDF卡片并出版。（）

A:錯B:對

答案:錯戴維無機字母索引是按物相英文名稱的字母順序排列。（）

A:錯B:對

答案:對X射線定量物相分析中選擇標樣，其物相的理化性能可以不穩(wěn)定。（）

A:錯B:對

答案:錯1942年，美國材料試驗協(xié)會出版了最早的晶體物質(zhì)衍射數(shù)據(jù)標準ASTM卡。（）

A:錯B:對

答案:對芬克數(shù)字索引以八根最強線的強度為分析依據(jù)，將d值作為次要依據(jù)進行排列。（）

A:對B:錯

答案:錯PDF卡片索引，只能在已知物相或可能存在的情況下進行索引。（）

A:對B:錯

答案:錯在定性物相分析前，應盡可能詳細了解其來源、化學成分、工藝狀況等性質(zhì)，為檢索工作提供線索。（）

A:對B:錯

答案:對

第六章單元測試

X射線應力常數(shù)中包括材料的彈性模量、泊松比和布拉格角。（）

A:對B:錯

答案:對衍射儀法測量根據(jù)衍射幾何分為（）。

A:同傾法B:外傾法C:測傾法

答案:同傾法；測傾法宏觀應力必然造成衍射峰位移動。

A:錯B:對

答案:對X射線應力測定方法對非晶材料也有效。

A:錯B:對

答案:錯微觀應力有時也可造成衍射峰位移動。

A:對B:錯

答案:對

第七章單元測試

板織構(gòu)是一種晶粒取向為軸對稱分布的織構(gòu)。（）

A:對B:錯

答案:錯不能用衍射儀法測定絲織構(gòu)。（）

A:對B:錯

答案:錯反極圖是表示宏觀坐標軸相對于晶體坐標系的取向分布密度。（）

A:對B:錯

答案:對實際的多晶體材料的晶粒存在擇優(yōu)取向,稱這種組織狀態(tài)為織構(gòu)。（）

A:對B:錯

答案:對表征織構(gòu)與擇優(yōu)取向分布的主要辦法有（）

A:平板針孔法B:三維取向函數(shù)C:極圖法D:反極圖法

答案:平板針孔法；三維取向函數(shù)；極圖法；反極圖法

第八章單元測試

CT成像是從不同角度獲得樣