1.射衍的何件d必滿足什么公式？寫出數(shù)學(xué)表達式明的義（分

）答：.X射衍射的幾何條件是dθ、λ必須滿足布拉格公式分其表達式：λ分其中d是的晶面間距分θ是布拉格角，即入線與晶面間的交角分λ是X的波長分4.二次電子是怎樣生的？其主要特點有哪些？二次電子像主要反映試樣的什么特？用什么襯度解釋？該襯度的形成主要取決于什因素？（6分）答：二次電子是單電子激發(fā)過程被入射電子轟擊出的試樣原子核外電子）二次電子的主要特征如下：（1二電的量于50eV，反映試樣表面10nm層的，成像分辨率高分（2二電發(fā)系δ射束的能量有關(guān)，在射束能量大于一定值后，隨著入射束能量的增加，二次電子的發(fā)射系數(shù)減小分（3二電發(fā)系δ樣表面傾角θ有關(guān)：δ0/cosθ）（4二電在樣方分布，在電子束垂直試樣面入射時，服從余弦定律二此電子像主要反映試樣表面的貌特征，用形貌襯度來解釋，形貌襯度的形成主要取決于試表面相對于入射電子束的傾角）2.拉格角和衍射：布拉格角：入射線與晶面間的交分衍射角：入射線與衍射線的交角分3.電透鏡和磁透：靜電透鏡：產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)對稱等電位的電極裝置即為靜電透鏡）磁透鏡：產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)對稱磁場的線裝置稱為磁透鏡分4.子核對電子的性散射和非彈性散射：彈性散射：電子散射后只改變方而不損失能量）非彈性散射：電子散射后既改變向也損失能量）二、填空（每空1，共20分1.射衍射方法有勞法、轉(zhuǎn)晶法粉晶法和衍法。掃的工作方有連掃和進掃描兩種。3.X射衍射物相分析中，粉末射卡組是由粉末衍射標準聯(lián)合委員會編制，稱為JCPDS片，又為卡。4.磁透鏡的像差球、差、軸散和畸。透子顯微鏡結(jié)構(gòu)分為學(xué)成像系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電系統(tǒng)。1.射管，點狀分點點線點，于衍射儀工的是焦點。2.在X射象分析中，定性分析的卡片是由粉衍射標準聯(lián)合委員會編制，稱為JCPDS卡片，又稱為PDF(或ASTM)卡。3.射衍方有勞法、轉(zhuǎn)、粉和射儀法4.磁透鏡的像差球、差、軸上像散和變。5.子探針是一種顯微析和分分結(jié)合的微區(qū)分析。二、選擇題（多選、每題4分1.射是DA.電波；B.聲C.超；D.波0.01~1000?。2.方2dSinθ=λ（AD）A.布格方程；B.勞厄程；C.其θ稱為衍角；D.稱為布拉格角。

3.面關(guān)于電鏡分敘述中正確的是（BA.電只能觀察形貌；B.電可觀察形貌、成分分析、結(jié)分析和物相鑒定；C電鏡分析在材料研中廣泛應(yīng)用，是因為放大倍數(shù)高，與分辨率無關(guān)；D．鏡料研究中廣泛應(yīng)用，是因為放大倍高，分辨率高。．在掃描電鏡分析中（）E．成像能反映成分分布信息，形貌和二次電子像反映形貌信息F．所描電鏡，只能反映形貌信息；G．形像中凸尖和臺階邊緣處最亮，平坦和凹處最暗；H掃電鏡分辨率透射電鏡高。．差熱分析中，摻比物要求是（ABC）E．在個測溫范圍內(nèi)無熱效應(yīng)；F．比導(dǎo)熱性與試樣接近；G．常1520℃燒高-Al2O3H無何要求。六、簡答題（分答點）．射射分析，在無機非金屬材料研究中有哪些應(yīng)用？分答：1.物：定性、定量．什么是光電效應(yīng)？光效應(yīng)在材料分析中有哪些用途？答：光電效應(yīng)是指：當(dāng)用X射擊物質(zhì)時，X射能量大于質(zhì)原子對其內(nèi)層電子的束縛力時，入射射子的能量就會被吸收，從而導(dǎo)其內(nèi)層電子被激發(fā)，產(chǎn)生光電子。材料析中應(yīng)用光電效應(yīng)原理研制了光電子能譜儀和熒光光譜儀，對材料物質(zhì)的元素成等進行分析。．測角儀在采集衍射圖，如果試樣表面轉(zhuǎn)到與入射線成30角計數(shù)管與入射線所成角度為少？能產(chǎn)生衍射的晶面，與試樣的自表面是何種幾何關(guān)系？答：當(dāng)試樣表面與入射X射束角，計數(shù)管與入射X射束夾是0。產(chǎn)生衍射的晶面與試樣的自由表面平行。樣品制備的工藝過程1)切片樣品2)預(yù)薄3)終薄離子減?。海┎粚?dǎo)電的陶瓷樣品）要求質(zhì)量高的金屬樣）不宜雙噴電解的金屬合金樣品雙噴電解減?。海┎灰子诟g的裂紋端樣）非粉末冶金試樣）組織中各相電解性能差不大的材料）不易于脆斷、不能清的試樣．圖說明衍襯成像原理并說明什么是明場像、暗場像和中心暗場像。答：設(shè)薄膜有、B兩內(nèi)(晶嚴滿Bragg條或B晶滿足“雙光束條件通過(hkl)使入射強度I0解為和IO-Ihkl兩分A粒內(nèi)所晶面與Bragg角差大生衍射。在鏡背焦面上的物光闌，將衍射束擋掉，只讓透射束通過光闌孔進行成像（明場像平面上A晶的光強度或亮度不同，分別為I?II?-Ihkl，B粒相對粒的像襯A0B0度為：

明場成像：讓中心透射束穿物鏡光欄形成的衍襯像稱為明場鏡。暗場成像：只讓某一衍射束通過鏡光欄形成的衍襯像稱為暗場像。中心暗場像：入射電子束相對衍晶面傾斜角，此時衍射斑將移到透鏡的中心位置，該衍射束過物鏡光欄形成的衍襯像稱為中心暗場成。．何為波譜儀和能譜儀說明其工作的三種基本方式及其典型應(yīng)用，并比較波譜儀和能譜儀的優(yōu)缺點。要分鋼中碳化物成分和基體中碳含量，應(yīng)選用哪種電子探針儀什么答：波譜儀：用來檢測X射的波長的儀器能譜儀：用來檢測X線的特征能量的儀器實際中使用的譜儀布置形式有兩：直進式波譜儀：照射分光晶體的方向固定，即出射角Ψ保持不變，焦園園心O改變，這可使X射出樣品表面過中所走的路線相同也就是吸收條件相等回轉(zhuǎn)式波譜儀：聚焦園的園心O動，光晶體和檢測器在聚焦園的園周上以：2角速度轉(zhuǎn)動，以保證足布拉格條件。這種波譜儀結(jié)構(gòu)較直進式簡單，但出射方向改變很大，在表面不平度大的情況下，由于X線在樣品內(nèi)行的路線不同，往往會造成分析上的誤1.X射管要由陽,極,和窗構(gòu).2.X射透物質(zhì)時產(chǎn)的物理應(yīng):散,光效應(yīng),射X射,和熱.3.德照相法的片安方法有裝,裝和裝種4.X射物相分方法分性分和定分析種鋼中余奧氏體直接比法屬于其中定量析方.5.透電子顯鏡分辨主要受衍效和像兩因素響6.今復(fù)型技主應(yīng)用萃型揭取第相微小顆進行分.7.電探針包波譜儀和能儀成析器8.掃電子顯鏡用的號是二次子背射電子選擇:(8分題一分1.X射衍方法中最用的方是().勞厄;b.末多法c.周轉(zhuǎn)體法.2.已X光是靶應(yīng)的濾波材(b;b.Ni;c.Fe.

4.能高透射鏡像襯的可動光是(b).a.第二光鏡闌;b.物鏡闌選區(qū)闌5.透電子顯鏡可以除的像差(ba.球差;b.散色.7.電束與固樣相互用產(chǎn)生的理信號可用于分厚表成分的信(ba.背散電子;俄歇子特X線8.中暗場像成操作法(c).a.以物光欄住射;b.物鏡光套衍射;將斑移至心以物光欄套住射.分析透射電顯鏡的要組成部是哪些它些能材料科學(xué)有什么用答透射電顯微鏡主要組成分:照明系成系和觀察錄統(tǒng)透射鏡有兩主功,觀察材內(nèi)組織貌和進電衍射了解選區(qū)晶體結(jié).分型透除此以還以增特征射探頭次電探頭等以加成分析表面貌觀察功能改變樣臺可以現(xiàn)高溫低溫拉伸狀下行樣分透射子顯微在料科研究中的用非常泛.可進材料組形貌觀,研材料的變規(guī),探體陷對料性能的響,分析材失原因,剖材料分,組及經(jīng)過加工工藝等分析子衍射X射線射有何同(8分答電子衍的原理X線衍射似是以足(或本滿足布格方程為生衍的必要條件首先,電子的波長比射得,在樣滿布格條時它的衍角θ很小,約為10rad.而X射線生衍射,衍射角大可接π/2.其次,在行子衍射作采用晶樣,樣品的易點會著樣品度向延成桿,因此加了倒陣和愛爾德球相截的機