ICS.19.040K04中華人民共和國國家標準GB/T5170.11-1996電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設備InspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandlelectronicproductsCorrosivegastestingequipments1996-12-13發(fā)布1997-11-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國國家標準電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設備GB/T5170.11-1996中國標準出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復興門外三里河北街16號郵政編碼：1(045電話：63787337、637874471997年9月第一版2005年1月電子版制作書號：155066·1-14067版權專有侵權必究舉報電話：（010）68533533

GB/T5170.11-1996本標準是電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法系列標準之本標準由GB5170.11-85與GB5170.12-85合并修訂而成。本標準與1985年發(fā)布的標準相比，技術內容有以下變化：明確本標準適用于環(huán)境試驗設備在使用期間的周期檢定。以區(qū)別于產品的型式試驗等，-增加了溫度測量儀器系統(tǒng)精確度指標；推薦采用儀器測量腐蝕氣體濃度；對于測量點數(shù)量及布放位置，刪去大于2m°的大型試驗設備；規(guī)定各項目的檢定均應在負載條件下進行,若空載需注明；規(guī)定溫度偏差、相對濕度偏差檢定時試驗設備的穩(wěn)定時間可以縮短；溫度偏差、相對濕度偏差檢定的測量總時間由24h縮短為30mia,腐蝕氣體濃度偏差檢定的測量總時間由24h縮短為1h,相應測量時間間隔均有改變;——列入溫度、相對濕度及腐蝕氣體濃度偏差要求，并增加了計算方法、本標準自實施之日起，同時代替GB5170.11-85、GB5170.12—85.本標準由機械工業(yè)部提出。本標準由全國電工電子產品環(huán)境技術標準化技術委員會歸口本標準起草單位;機械工業(yè)部上海工業(yè)自動化儀表研究所。本標準主要起草人：陳學進、王捷、謝建華、付文茹、薛振夷、王則燕。

中華人民共和國國家標準電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設備GB/T5170.11-1996InspectionmethodsforbasieparametersofenvironmentaltestingequipmentsCorrosivegastestingequipments1范圍本標準規(guī)定了腐蝕氣體試驗設備在進行周期檢定時所涉及的檢定項目、檢定用儀器、測量點數(shù)量及布放位置、檢定步驥及數(shù)據(jù)處理等本標準適用于對GB/T2423.19《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法》和GB/T2423.20《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kd：接觸點和連接件的碗化氫試驗方法》所用試驗設備的周期檢定。本標準也適用于類似試驗設備的周期檢定。2引用標準下列標準所包含的條文·通過在本標準中引用而構成為本標準的條文。本標準出版時，所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用本標準的各方應探討、使用下列標準最新版本的可能性。（B/T5170.1一1995電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T2423.19電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ke:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法GB/T2423.20電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kd:接觸點和連接件的硫化氫試驗方法GB/T2424.11電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程接觸點和連接件的二氧化硫試驗導則GB/T2424.12電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程接觸點和連接件的硫化氫試驗導則GB6999—89