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文檔簡介
第一章概論1.1集成電路的發(fā)展歷程1.2專用集成電路設計要求1.3集成電路的分類1.4集成電路設計方法1.1集成電路的發(fā)展歷程1.1.1半導體集成電路的出現與發(fā)展半導體集成電路的出現和發(fā)展經歷了以下過程:
·1947~1948年公布。
·1950年,成功研制出結型晶體管。
·1952年,英國皇家雷達研究所第一次提出“集成電路”的設想。
·1958年,美國德克薩斯儀器公司制造出世界上第一塊集成電路——雙極型晶體管集成電路,1959年正式公布。
·1960年,成功制造了第一塊MOS集成電路。1.1.2集成電路發(fā)展的特點1.特點集成電路的發(fā)展特點主要表現在:·特征尺寸越來越小;·芯片尺寸越來越大;·單片上的晶體管數越來越多;·時鐘速度越來越快;·電源電壓越來越低;·布線層數越來越多;·輸入/輸出(I/O)引腳越來越多。圖1-1給出各個階段集成電路產品的照片。圖1-1各階段集成電路產品的照片
2.摩爾定律
1960年,美國Intel公司G.Moore預言集成電路的發(fā)展遵循指數規(guī)律,人們稱之為“摩爾定律”,其主要內容如下:
(1)集成電路最小特征尺寸以每三年減小70%的速度下降,集成度每一年翻一番。
(2)價格每兩年下降一半。
(3)這種規(guī)律在30年內是正確的(從1965年開始)。歷史的發(fā)展證實了摩爾定律的正確性。表1-1給出集成電路特征參數的進展情況。表1-1集成電路特征參數的進展情況
1982年出現的80286芯片中,共有13.4萬只晶體管,線寬為1.5μm。而到1995年,PentiumPro(TM)芯片就含有550萬只晶體管,線寬為亞微米級0.6μm。目前商業(yè)化的芯片的線寬為0.18~0.35μm。圖1-2(a)和(b)分別給出80286和PentiumPro(TM)的芯片顯微照片。圖1-2CPU80286及PentiumPro(TM)芯片的顯微照片
(a)80286;(b)PentiumPro(TM)目前,集成電路將朝著兩個方面發(fā)展:
·一是在發(fā)展微細加工技術的基礎上,開發(fā)超高速度、超高集成度的集成電路芯片。
·二是利用先進的工藝技術、設計技術、封裝技術和測試技術發(fā)展各種專用集成電路(ASIC),特別是開發(fā)更為復雜的片上系統(SOC),不斷縮短產品上市時限,產品更新換代的時間越來越短。1.2專用集成電路設計要求對專用集成電路設計的重要要求有:·設計周期短;·設計正確率高;·硅片面積小、特征尺寸小;·低功耗、低電壓;·速度快;·可測性好;·價格低。
1.2.1關于“速度”用芯片的最大延遲表示芯片的工作速度,如(1-1)式所示,延遲時間Tpd
為(1-1)式中:T
pdo——晶體管本征延遲時間;
UL——最大邏輯擺幅,即最大電源電壓;
Cg——扇出柵電容(負載電容);
Cw——內連線電容;
Ip——晶體管峰值電流。
1.2.2關于“功耗”
1.有比電路與無比電路芯片的功耗與電壓、電流大小有關,與器件類型、電路型式也關系密切。就MOS集成電路而言,有NMOS電路、PMOS電路和CMOS電路之分。舉一個簡單的例子,如圖1-3所示,圖(a)為NMOS反相器,圖(b)為CMOS反相器。對NMOS反相器而言,若輸入為“1”,驅動管V1導通,負載管V2也導通,輸出電平是兩個管子分壓的結果,其分壓比取決于驅動管和負載管的寬長比。這種電路稱之為“有比電路”。有比電路有靜態(tài)電流流過。圖1-3有比電路與無比電路(a)有比電路;(b)無比電路
CMOS反相器是一個NMOS和PMOS互補的電路,當輸入為“1”時,NMOS管導通,PMOS管截止,輸出電壓為“0”。而當輸入為“0”時,NMOS管截止,PMOS管導通,輸出電壓為“1”,即等于UDD。這種截止管等效電阻趨于無窮大,導通管等效電阻趨于零,一管導通必有另一管截止,輸出電平不分壓(UOH=UDD)的電路稱為“無比電路”。有比電路和無比電路的功耗有很大的不同。顯然,無比電路的功耗比有比電路小。
2.功耗
1)靜態(tài)功耗靜態(tài)功耗指電路停留在一種狀態(tài)時的功耗。有比電路的靜態(tài)功耗為
PdQ=IP×UDD(1-2)
無比電路的靜態(tài)功耗為
PdQ=0(1-3)
2)動態(tài)功耗動態(tài)功耗指電路在兩種狀態(tài)(“0”和“1”)轉換時對電路電容充放電所消耗的功率。無比電路的動態(tài)功耗為Pd=f(Cg+Cw+Co)U2L(1-4)式中:Co——晶體管的自電容(輸出電容);
f——信號頻率;
UL——電壓擺幅(UL=UDD)。
3.速度功耗積引入“速度功耗積”來表示速度與功耗的關系,用信號周期表示速度,則速度功耗積為(1-5)當電源電壓一定,電路電容一定時,若要速度高,則功耗必然大。反之,功耗小則速度必然低,二者的乘積為常數。這一點很好理解,如果要使速度快,電容充放電時間短,則必然要加大給電容充放電的電流,故必然導致功耗變大。1.2.3關于“價格”
集成芯片的成本計算公式為
設計成本總產量+大圓片加工成本成品率×大圓片芯片數式中:CD——設計成本及制版費;N——總產量;CP——每個大圓片(Wafer)的制造費用;y——成品率;n——
每個大圓片上的芯片數(Chip/Wafer)。大圓片的芯片如圖1-4所示。圖1-4大圓片上的芯片由(1-6)式可知,要降低成本,必須采取以下措施:
·批量要大,總產量大,則第一項設計成本和制版費就可忽略,成本降低;
·提高成品率;
·提高每個大圓片上的芯片數,要盡量縮小芯片尺寸(面積)。成本與芯片面積幾乎是2~3次方的比例關系,因此減小尺寸是集成電路設計者和工藝技術人員追求的重要目標。為了縮小芯片面積,則要采取以下措施:
·優(yōu)化邏輯設計;
·優(yōu)化電路設計;
·優(yōu)化器件設計,工藝上要不斷追求精細加工,發(fā)展亞微米工藝和深亞微米工藝;
·優(yōu)化版圖設計,盡量充分利用版芯面積,合理布局/布線,減小連接長度,減小大圓片的無用區(qū)。1.3集成電路的分類
1.3.1按功能分類按功能不同,可將集成電路分為以下幾類:
·數字集成電路;
·模擬集成電路;
·數、模混合集成電路。隨著芯片規(guī)模越來越大,電路越來越復雜,片上系統(SOC)時代即將到來,數、模混合集成電路的應用與發(fā)展備受關注。
1.3.2按結構形式和材料分類按結構形式和材料不同,可將集成電路分為:
·半導體集成電路,主要指單片集成電路,這是當今的主流;
·膜集成電路(二次集成)。膜集成電路又分薄膜集成電路(厚度<1μm)和厚膜集成電路(厚度>1μm)。
1.3.3按有源器件及工藝類型分類按有源器件及工藝類型的不同,可將集成電路分為:
·雙極集成電路。這種集成電路由雙極型晶體管組成,如中、小規(guī)模數字集成電路TTL、ECL和許多模擬集成電路都是雙極型集成電路;
·MOS集成電路,有NMOS集成電路、PMOS集成電路和CMOS集成電路三種,其中CMOS集成電路由于集成度高,功耗小,隨著工藝技術的進步,CMOS運行速度也很高,噪聲也較小,因而已經成為當前數字和模擬(特別是數字)集成電路的主流技術;
·雙極與MOS混合集成電路——BiMOS集成電路,這種集成電路中同時含有雙極型晶體管和MOS場效應管,這是為了提高某種性能或滿足某種需要,利用雙極型器件和MOS器件各自的特點而采取的一種工藝技術。
1.3.4按集成電路的規(guī)模分類按集成電路的規(guī)模不同,集成電路可分為:
·小規(guī)模集成電路(SSI);
·中規(guī)模集成電路(MSI);
·大規(guī)模集成電路(LSI);
·超大規(guī)模集成電路(VLSI);
通常,根據芯片中含有的元件數來劃分集成電路的規(guī)模,表1-2提供了一種參考標準。表1-2劃分集成電路規(guī)模的(參考)標準
·甚大規(guī)模集成電路(ULSI),芯片元件數在1000萬~10億個之間的集成電路屬于甚大規(guī)模集成電路,如16位RAM芯片;
·極大規(guī)模集成電路(SuperLargeScaleIntegration),記為SLSI,指的是芯片元件數超過10億的集成電路。1.3.5按生產目的和實現方法分類按生產目的不同,可將集成電路分為:·通用集成電路(如CPU、存儲器等);·專用集成電路(ASIC);·可編程器件。按實現方法不同,可將集成電路分為:·全定制集成電路;·半定制集成電路。
1.全定制集成電路(FullCustomDesignApproach)
所謂全定制集成電路,是指按照用戶要求,從晶體管級開始設計,力求做到芯片面積小,功耗低,速度快(延遲最小),各方面都周密安排,達到性能價格比最優(yōu)的實現方法。
2.半定制集成電路(Semi-CustomDesignApproach)
半定制集成電路包括門陣列、門海、標準單元等。對半定制集成電路,設計者在廠家提供的半成品基礎上繼續(xù)完成最終的設計,一般是在成熟的通用母片基礎上追加某些互連線或某些專用電路的互連線掩膜,因此設計周期短。
1)門陣列——有通道門陣列將很多規(guī)則排列的晶體管用內連線連接起來,構成各種邏輯門陣列,陣列間有規(guī)則布線通道,負責門與門之間的連接,便形成了門陣列母片,如圖1-5所示。這個母片就是提供給設計者的基礎。圖1-5門陣列母片
2)門海——無通道門陣列有通道門陣列每一布線通道的布線容量是一定的,如果連線太多,則很可能布線布不通。門海也是母片結構形式的,但母片中沒有布線通道,全部由基本單元組成,以橫行或豎排為單位。門海若需要在單元上走金屬連線時,則對應的半導體單元自動作廢。若采用多層布線,則門海會有相當大的布線自由度。門海如圖1-6所示。圖1-6門海母片結構中的規(guī)則布線“母片機制”是半定制門陣列與門海的基本概念和核心技術。其優(yōu)點是設計周期短,少量應用時成本較全定制要低;缺點是有效利用率低,一般只能用到70%。
3)標準單元法——多元胞法(Polycell)
標準單元法是指將電路設計中可能經常遇到的基本邏輯單元的版圖按照最佳設計原則,遵照一定外形尺寸要求,設計好并存入單元庫中,需要時調用、拼接、布線。各基本單元的版圖設計遵循“等高不等寬”的原則,即高度必須相等,而寬度可以不相等。各基本單元版圖應是無冗余設計。標準單元法的版圖設計如圖1-7所示。圖1-7標準單元法的版圖布置——等高不等寬
4)積木塊法圖1-8給出積木塊法版圖結構的兩個例子。積木塊法是指以已成熟的產品為單元,將整個芯片劃分為若干模塊,規(guī)定好各模塊之間的接口,分別設計各模塊,然后將它們“拼接”起來。圖1-8積木塊法版圖結構實例
3.可編程邏輯器件(如FPGA、CPLD等)
這種集成電路使設計者不用到半導體加工廠,只需坐在實驗室或家中計算機前就可以完成集成電路的設計,十分方便,而且可多次修改自己的設計,且不需更換器件和硬件。這種集成電路特別適用于產量少的產品,尤其是研究樣機或在試驗階段。在大規(guī)模生產的產品中,由于可編程邏輯器件的成本相對于全定制要高很多,因此,在技術已經成熟,生產已經定型,批量又非常大的情況下,最好還是研究生產全定制集成電路。圖1-9給出了產量、成本與設計方法的關系曲線。圖1-9不同產量時,成本與設計方法的關系曲線1.4集成電路設計方法集成電路產品的完成由兩方面配合而成,一方面是設計一方,另一方面是制造一方。設計者和制造者共同努力,促使集成電路不斷進步。一般集成電路的設計和制造按照圖1-10所示的流程進行。圖1-10ASIC設計流程
1.4.1設計方法學的重大變革
1.原始的手工設計階段早期的集成電路設計為手工設計。設計者根據總體指標要求進行邏輯設計和電路設計;然后依據圖紙,做硬件實物模擬驗證;再在畫圖版的方格紙上進行版圖設計;描繪好版圖后再去制版、流片、測試,最后得到成品。其設計工具就是紙和筆。
2.IC-CAD集成電路計算機輔助設計階段隨著IC-CAD技術的發(fā)展,邏輯設計、功能和時序仿真、部分版圖設計和編輯、反向提取和規(guī)則檢查已由計算機軟件輔助完成,其典型工具有Spice、MOTIS、SEDAN等。
3.EDA電子設計自動化階段
此時以科學計算為主的計算機進入新的設計分析階段,20世紀80年代后期,EDA技術在單元庫支持的基礎上,開始了能提供設計、描述、綜合、優(yōu)化以及驗證的新時代,設計方法有了突飛猛進的發(fā)展。在系統設計—行為級綜合—功能模擬—邏輯綜合—時序模擬—版圖綜合—后仿真等,各個生產環(huán)節(jié),都有許多優(yōu)秀的EDA工具支撐。
1.4.2ASIC設計步驟
一般的ASIC設計步驟分為邏輯設計和物理設計。
1.邏輯設計
(1)系統劃分:將一個大系統劃分成幾個功能塊。
(2)設計輸入:包括VHDL/Verilog語言描述和以電原理圖形式輸入,這一步完成將電子系統輸入到ASIC設計系統的任務。圖1-11基本的計算機輔助邏輯綜合流程圖
(3)邏輯仿真及綜合:對VHDL輸入方式或電路圖進行功能和時序仿真。所謂邏輯綜合,就是把一個高層設計的描述利用某種標準單元庫,按照一定的約束條件轉換成優(yōu)化的門級網表的過程。圖1-11給出基本的計算機輔助邏輯綜合流程圖。
(4)布局前的模擬:以檢查系統功能和時序的正確性。
2.物理設計
(1)平面規(guī)劃:在芯片上規(guī)劃各功能塊位置。(2)布局:確定功能塊中每個單元的位置。(3)布線:在功能塊之間和單元塊之間進行布線。(4)參數提取:確定各個連接處的電阻和電容參數。
(5)布局后模擬(后仿真):加入布局/布線所增加的各種寄生電學參數之后,再次檢查電子系統能否正常工作,包括ERC(電學規(guī)則檢查)和DRC(設計規(guī)則檢查),最終形成版圖數據文件,如CIF文件、GDSⅡ文件或PG文件,交生產廠家流片。PG文件用圖形發(fā)生器制造掩膜,而電子束曝光不需要PG帶,有CIF、GDSⅡ即可。
1.4.3EDA設計工具的選擇
EDA設計工具選擇的金字塔方案如圖1-12所示,該圖給出隨著工藝變化和規(guī)模增長,EDA工具及其載體計算機選擇方案的發(fā)展情況。目前,世界四大EDA供應商為:
·Cadence;·Synopsys;·MentorGraphics;·Avant。以上EDA工具以工作站為主。微機版ED
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