標準解讀

《GB/T 18904.1-2002 半導體器件 第12-1部分:光電子器件 纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的光發射或紅外發射二極管空白詳細規范》這一標準主要規定了光纖系統或其子系統中使用的光發射或紅外發射二極管的技術要求、測試方法及條件等,旨在為這些器件的制造商和用戶提供統一的質量評估基準。然而,您沒有提供另一個具體的標準文檔以進行直接的對比變更分析。因此,無法直接指出與某一特定標準相比的具體變更內容。

若要比較此標準與其他相關標準的差異,通常需要將兩者在以下幾個方面進行詳細比對:

  1. 適用范圍:查看新標準是否擴展或縮小了適用的產品類型或使用場景。
  2. 技術要求:比較兩份標準中對產品性能如發光效率、工作壽命、穩定性等指標的具體要求是否有提升或調整。
  3. 測試方法:檢查測試程序、測試設備、測試環境等是否有所更新,以適應技術進步或提高測試準確性。
  4. 質量控制條款:了解新標準是否加入了更嚴格的質量控制措施或放寬了某些要求。
  5. 安全與環保要求:考察是否有新增的安全性評估要求或環保相關規定。
  6. 術語定義與符號:檢查是否有新的術語定義被引入或原有術語的解釋有無變化。

沒有具體參照標準的情況下,以上僅是一般性的對比框架。如果有關于該標準與某一具體前版或其他相關標準的詳細變更需求,請提供相應標準的名稱或編號,以便進行更精確的分析。


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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 2002-12-04 頒布
  • 2003-05-01 實施
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GB/T 18904.1-2002半導體器件第12-1部分:光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的光發射或紅外發射二極管空白詳細規范_第1頁
GB/T 18904.1-2002半導體器件第12-1部分:光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的光發射或紅外發射二極管空白詳細規范_第2頁
GB/T 18904.1-2002半導體器件第12-1部分:光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的光發射或紅外發射二極管空白詳細規范_第3頁

文檔簡介

ICS31.260L52C中華人民共和國國家標準GB/T18904.1—2002/IEC60747-12-1:19950C720101半導體器件第12-1部分:光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的光發射或紅外發射二極管空白詳細規范SemiconductordevicesPart12-1:0ptoelectronicdevices-Blankdetailspecificationforlightemitting/infraredemittingdiodeswith/withoutpigtailforfiberopticsystemsorsub-systems(IEC60747-12-1:1995.IDT)2002-12-04發布2003-05-01實施中華發布國家質量監督檢驗檢疫總局

GB/T18904.1-2002/IEC60747-12-1:1995GB/T18904的本部分等同采用國際標準IEC60747-12-1:1995(QC720101半導體器件第12-1部分:光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的光發射或紅外發射二極管空白詳細規范》(英文版)本部分同IEC60747-12-1的主要區別是:在本規范第2頁表格中補充了第9欄。本部分引用的國家標準和1EC標準如下:-GB/T4937—1995半導體器件機械和氣候試驗方法(idtIEC60749:1984)GB/T15651—1995半導體器件分立器件和集成電路第5部分:光電子器件(idtIEC60747-5:1992)-GB/T17573—1998半導體器件分立器件和集成電路第1部分:總則(idtIEC60747-1:1983)-IEC60068-2-14:1984基本環境試驗規程第2部分:試驗試驗N:溫度變化IEC60191-2:1966半導體器件機械標準化第2部分:尺寸IEC60747-10/QC700000:1991半導體器件第10部分分立器件和集成電路總規范-IEC6O747-12/QC720100:1991半導體器件第12部分光電子器件分規范GB/T18904.1是有關纖維光學系統或子系統用光電子器件的國家標準的一部分。下面列出了這些國家標準的預計結構:-GB/T18904.1《半導體器件第12-1部分:光電子器件纖纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的光發射或紅外發射二極管空白詳細規范》GGB/T18904.2《半導體器件第12-2部分:光電子器件纖維光學系統或子系統用帶尾纖的激光二極管模塊空白詳細規范》-GB/T18904.3《半導體器件第12-3部分:光電子器件顯示用發光二極管空白詳細規范》GB/T18904.4《半導體器件第12-4部分:光電子器件:纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的pin-FET模塊空白詳細規范》GB/T18904.5《半導體器件第12-5部分:光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的pin-光電二極管空白詳細規范》本部分由中華人民共和國信息產業部提出。本部分由中國電子技術標準化研究所(CESI)歸口本部分起草單位:中國電子技術標準化研究所(CESI)本部分主要起草人:趙英

GB/T18904.1-2002/IEC60747-12-1:1995半導體器件第12-1部分:光電子器件纖維光學系統或子系統用帶/不帶尾纖的光發射或紅外發射二極管空白詳細規范引言IEC電子元器件質量評定體系遵循IEC章程并在IEC授權下工作。該體系的目的是確定質量評定程序.以這種方式使一個參加國按有關規范要求放行的電子元器件無需進一步試驗而為其他所有參加國同樣接受。本空白詳細規范是半導體器件的一系列空白詳細規范之一.并應與下列IEC標準一起使用。IEC6O747-10/QC700000.1991半導體器件第10部分:分立器件和集成電路總規范IEC60747-12/QC720100:1991半導體器件第12部分:光電子器件分規范要求的資料本頁及下面方括號內的數字與下列各項要求的資料相對應.這些資料應填入相應欄中詳細規范的識別[1授權發布詳細規范的國家標準化機構(NAI)名稱.L2詳細規范的IECQ編號。「37總規范、分規范的編號及版本號「47詳細規范的國家編號、發布日期及國家標準體系要求的任何資料器件的識別【57主要功能和型號「67典型結構(材料、主要工藝)和封裝資料。如果一種器件有幾種派生產品,則應指出其差異.例如,在對照表中列出特性差異。如果器件是靜電敏感型,應在詳細規范中給出注意事項?!?外形圖、引線識別、標志和(或)引用有關的外形標準?!?]按總規范的2.6質量評定的類別

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