SPC及CPK實(shí)戰(zhàn)篇1SPC及CPK11﹑六西格碼在控制中的應(yīng)用★廣義的六西格碼是一個(gè)完善的管理工具﹐是品質(zhì)管理系統(tǒng)的一種說(shuō)法﹔★單純的六西格碼控制應(yīng)用﹐是一種質(zhì)量控制的目標(biāo)﹐請(qǐng)看以下說(shuō)法﹐正確與否﹕?我公司已經(jīng)實(shí)施了六西格碼管理﹔?

我公司達(dá)到了六西格碼的要求﹔?

通過(guò)六西格碼管理﹐公司品質(zhì)上了一個(gè)臺(tái)階﹔………一﹑六西格碼21﹑六西格碼在控制中的應(yīng)用★廣義的六西格碼是一個(gè)完善的管理工2﹑六西格碼與不良率:±Kr百分比(%)百萬(wàn)分缺點(diǎn)數(shù)±1r±2r±3r±4r±5r±6r68.2695.4599.7399.993799.99994399.9999998317400455002700630.570.002(規(guī)格中心不偏移)常態(tài)分配規(guī)格下限規(guī)格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX4232﹑六西格碼與不良率:±Kr±Kr合格百分比(%)百萬(wàn)分缺點(diǎn)數(shù)±1r±2r±3r±4r±5r±6r30.2369.1393.3299.379099.9767099.9996606977003087006681062102333.4規(guī)格中心值往左、右移動(dòng)1.5r常態(tài)分配規(guī)格下限規(guī)格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX1.5r1.5r434±Kr合格百分比(3控制方式與6控制方式的比較：53控制方式與6控制方式的比較：5???兩個(gè)影響量﹐﹑1﹑的變化﹖2﹑的變化﹖21e-222F(x)=(x-)6???兩個(gè)影響量﹐﹑21e-222F(x二﹑SPC與CPK1﹑區(qū)別與聯(lián)系CPK﹕判定短期的制程能力﹐可以用來(lái)解析目前的制程能力或用來(lái)檢驗(yàn)制程能力是否在管制狀況下﹔SPK﹕長(zhǎng)期的制程能力﹐主要用在制程管制上。兩者配合使用﹐應(yīng)該做到﹕ 短期=長(zhǎng)期7二﹑SPC與CPK1﹑區(qū)別與聯(lián)系CPK﹕判定短期的制程能力﹐2﹑影響量----標(biāo)準(zhǔn)差Sigma82﹑影響量----標(biāo)準(zhǔn)差Sigma8實(shí)例(Sigma較大﹐離散性問(wèn)題)實(shí)例(Sigma較大﹐離散性問(wèn)題)3﹑影響量----中心偏移量103﹑影響量----中心偏移量10CPK實(shí)例分析(離散性較小﹑中心偏移量影響)11CPK實(shí)例分析(離散性較小﹑中心偏移量影響)114﹑CPK改善的方向及目標(biāo)124﹑CPK改善的方向及目標(biāo)125﹑管制圖的判斷在計(jì)量值﹐服從常態(tài)分布的生產(chǎn)特性下﹐最常用的管制圖是Xbar-R管制圖。常用的控制圖a、Xbar–R控制圖（計(jì)量值、正態(tài)分布）b、不合格品百分率p控制圖（計(jì)件值、二項(xiàng)分布）c、不合格品數(shù)np控制圖(計(jì)件值、二項(xiàng)分布)d、缺陷率u控制圖(計(jì)點(diǎn)值、泊松分布）e、缺陷數(shù)c控制圖(計(jì)點(diǎn)值、泊松分布）f、DPMO控制圖(計(jì)點(diǎn)值、泊松分布）135﹑管制圖的判斷在計(jì)量值﹐服從常態(tài)分布的生產(chǎn)特性下﹐最常用的1414.214.414.614.81515.215.415.615.8折線圖1!5.1﹑穩(wěn)定原則----異常處理原則一:不可超出管制界限141414.214.414.614.81515.215.41514.214.414.614.81515.215.415.6折線圖15.1﹑穩(wěn)定原則----預(yù)防處理原則二:不可呈現(xiàn)規(guī)律變動(dòng)連續(xù)7點(diǎn)上升或下降呈現(xiàn)規(guī)律性波動(dòng),具有顯著的波動(dòng)周期1514.214.414.614.81515.215.415.614.214.414.614.81515.215.415.6東部5.1﹑穩(wěn)定原則----預(yù)防處理原則二:不可呈現(xiàn)規(guī)律變動(dòng)連續(xù)7點(diǎn)在管制界限一側(cè)連續(xù)11點(diǎn)中,有10點(diǎn)在管制界限一側(cè)(間斷)1614.214.414.614.81515.215.415.65.1﹑穩(wěn)定原則----預(yù)防處理原則三:不可過(guò)于集中分布顯著多于2/3的點(diǎn)集中在CL附近:即90%的數(shù)據(jù)在1δ線以內(nèi)顯著少于40%的數(shù)據(jù)落在1δ線以內(nèi)數(shù)據(jù)集中分布在2δ到管制線之間(超過(guò)2/3)3點(diǎn)中,有兩點(diǎn)接近一側(cè)之管制界限7點(diǎn)中,有3點(diǎn)以上接近控制界限原則四:符合過(guò)程能力要求175.1﹑穩(wěn)定原則----預(yù)防處理原則三:不可過(guò)于集中分布175.2﹑長(zhǎng)期控制符合以下條件,可將管制圖用于長(zhǎng)期控制:過(guò)程穩(wěn)定符合過(guò)程能力的要求再收集15組數(shù)據(jù),無(wú)異常情形利用已經(jīng)算出之管制界限進(jìn)行管制按要求收集數(shù)據(jù),并進(jìn)行管制分析/控制在下列情況下,重新計(jì)算管制界限:初次過(guò)程能力研究,異常消除時(shí)對(duì)4M1E進(jìn)行重大改進(jìn)時(shí)產(chǎn)品修正時(shí)經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期運(yùn)行后185.2﹑長(zhǎng)期控制符合以下條件,可將管制圖用于長(zhǎng)期控制:18現(xiàn)象可能原因處理分布不穩(wěn)定計(jì)算錯(cuò)誤數(shù)據(jù)未層別查清原因,重新計(jì)算存在特殊原因查清原因,予以消除過(guò)程能力不足過(guò)于分散平均值偏移采用管理性/技術(shù)性措施,進(jìn)行改進(jìn)5.3﹑異常處理可以采取的措施有效后,標(biāo)準(zhǔn)化處理19現(xiàn)象可能原因處理分布計(jì)算錯(cuò)誤查清原因,重新計(jì)算存在特殊原因查三﹑制程管制實(shí)例1﹑CPK解析目的﹕通過(guò)集中量測(cè)解析目前的制程能力﹐得出制程管控要求﹐對(duì)制程管控要求進(jìn)行分析﹐解析出合理的制程管控上下限。實(shí)例分析﹕以解析錫膏厚度的管控上下限為例﹕集中量測(cè)25組錫膏厚度數(shù)據(jù)﹔每組由5個(gè)量測(cè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)﹔計(jì)算CPK值﹐判定是否合理﹔計(jì)算上下管制線。20三﹑制程管制實(shí)例1﹑CPK解析目的﹕201.1﹑集中量測(cè)25組錫膏厚度數(shù)據(jù)211.1﹑集中量測(cè)25組錫膏厚度數(shù)據(jù)211.2﹑計(jì)算CPK值Sigma=(Σ(Xi-Xbar)2/(n-1))?其中i=1ton=0.00312CP=T/(6*Simga)=(0.16-0.12)/(6*0.00312)=2.13675K=|Xbar-SL|/T/2=|0.139832-0.140|/0.02=0.0084CPK=CP(1-K)=2.13675(1-0.0084)=2.1188判定﹕CPK為2.1188>1.67﹐屬于制程能力充分的狀態(tài)下﹔221.2﹑計(jì)算CPK值Sigma=(Σ(Xi-Xbar)2/1.3﹑計(jì)算管制上下限上管制界限:UCL=Xbar+3*Sigma=0.139832+3*0.00312=0.149192下管制界限:LCL=Xbar-3*Sigma=0.139832-3*0.00312=0.130472231.3﹑計(jì)算管制上下限上管制界限:UCL=Xbar+3*1.4﹑管制圖241.4﹑管制圖241.5﹑解析管制上下限上管制界限:UCL=0.149192實(shí)際管制上限=0.150在實(shí)際解析中﹐如果測(cè)量的點(diǎn)比較分散﹐可以適當(dāng)放寬解析上限﹐再定期檢討﹑縮緊管制上限到理論值。下管制界限:LCL=0.130472實(shí)際管制下限=0.130在實(shí)際解析中﹐如果測(cè)量的點(diǎn)比較分散﹐可以適當(dāng)放寬解析下限﹐再定期檢討﹑縮緊管制下限到理論值。251.5﹑解析管制上下限上管制界限:UCL=0.1491922﹑SPC管制▲將CPK解析的管制上下限﹐作為SPC的管制上下線﹔▲定時(shí)對(duì)生產(chǎn)制程進(jìn)行量測(cè)﹐這個(gè)時(shí)間可以是每天或每班﹔▲檢查每次的量測(cè)結(jié)果是否在管控范圍內(nèi)﹔▲量測(cè)點(diǎn)超出管控線﹐需要立即檢討制程﹐尋找出原因﹔▲定期(每月或每周)對(duì)近期的控制圖進(jìn)行分析﹐檢查是否有不收控制的趨勢(shì)(如周期變動(dòng)﹑連續(xù)7點(diǎn)﹑連續(xù)11點(diǎn)等)。262﹑SPC管制▲將CPK解析的管制上下限﹐作為SPC的管2.1﹑SPC管制圖272.1﹑SPC管制圖272.2﹑管制圖的難點(diǎn)▲CPK解析時(shí)﹐存在中心偏移量較大的情況﹖▲CPK解析時(shí)﹐數(shù)據(jù)離散性較大﹐Sigma較大﹖▲SPC管制時(shí)﹐管制上下限太嚴(yán)﹐導(dǎo)致經(jīng)常跑出管制線﹖▲量測(cè)點(diǎn)都在管制界限內(nèi)﹐是否代表制程良好﹖282.2﹑管制圖的難點(diǎn)▲CPK解析時(shí)﹐存在中心偏移量較大的3﹑SPC&CPK管制的步驟四個(gè)步驟﹕ 3.1﹑CPK改進(jìn)﹔ 3.2﹑CPK解析﹔ 3.3﹑SPC管制及改進(jìn)﹔ 3.4﹑PDCA293﹑SPC&CPK管制的步驟四個(gè)步驟﹕293.1﹑CPK改進(jìn)----中心偏移量SLCLCP=2.13675K=0.5084CPK=1.05303.1﹑CPK改進(jìn)----中心偏移量SLCLCP=2.1363.1﹑CPK解析----消除中心偏移量CL≌SLCP=2.13675K=0.0084CPK=2.1188313.1﹑CPK解析----消除中心偏移量CL≌SLCP=23.1﹑CPK解析----消除中心偏移量（圖）SL323.1﹑CPK解析----消除中心偏移量（圖）SL323.2﹑CPK解析---穩(wěn)定性﹑離散性原則CPK解析時(shí)﹕ Sigma較大→CP<2→

CPK<1.67 制程需要分析原因﹐尋找加強(qiáng)制程能力的方法﹐直到滿足3.1﹐且CPK>1.67 具體解析過(guò)程可以用Xbar-R管制分析法難333.2﹑CPK解析---穩(wěn)定性﹑離散性原則CPK解析時(shí)﹕難33.2﹑CPK解析---Xbar-R分析步驟﹕1﹑計(jì)算Xbar﹑R﹑Xbar.bar﹑Rbar﹔2﹑計(jì)算R的管控線﹐并判斷﹔3﹑剔除異常的點(diǎn)(超出規(guī)格的)﹐查找異常的原因﹔4﹑重復(fù)1﹑2﹑3步驟﹐直到全部在管控范圍內(nèi)﹔5﹑計(jì)算Xbar的管控線﹐并判斷﹔6﹑剔除異常的點(diǎn)(超出規(guī)格的)﹐查找異常的原因﹔7﹑重復(fù)1到6步驟﹐直到全部在管控范圍內(nèi)﹔8﹑落實(shí)查找出來(lái)的改善措施﹔9﹑再次復(fù)驗(yàn)。343.2﹑CPK解析---Xbar-R分析步驟﹕341﹑計(jì)算Xbar﹑R﹑Xbar.bar﹑RbarR.UCL=D4*R.bar=2.12*0.0127=0.02694R.LCL=D3*R.bar=0*0.013=0351﹑計(jì)算Xbar﹑R﹑Xbar.bar﹑RbarR.UCL=2﹑計(jì)算R的管控線此時(shí)的X.bar圖異常點(diǎn)362﹑計(jì)算R的管控線此時(shí)的X.bar圖異常點(diǎn)363﹑重新計(jì)算----剔除R圖中的不合格點(diǎn)(第2點(diǎn))剔除后﹐X.bar.bar及R.bar值均發(fā)生變化。R圖符合要求。373﹑重新計(jì)算----剔除R圖中的不合格點(diǎn)(第2點(diǎn))剔除后﹐X4﹑計(jì)算Xbar的管控線UCL=Xbar.bar+A2*Rbar=0.14043+0.577*0.012=0.147354LCL=Xbar.bar-A2*Rbar=0.14043-0.577*0.012=0.133506384﹑計(jì)算Xbar的管控線UCL=Xbar.bar+A2*R5﹑剔除異常的點(diǎn)(超出規(guī)格的)﹐查找異常的原因異常點(diǎn)異常點(diǎn)395﹑剔除異常的點(diǎn)(超出規(guī)格的)﹐查找異常的原因異常點(diǎn)異常點(diǎn)36﹑重新計(jì)算----剔除第5﹑12點(diǎn)Xbar.bar﹑Rbar都需要重新計(jì)算﹐檢查R圖符合要求406﹑重新計(jì)算----剔除第5﹑12點(diǎn)Xbar.bar﹑Rba6﹑重新計(jì)算----檢查X.bar是否符合管制要求416﹑重新計(jì)算----檢查X.bar是否符合管制要求417﹑落實(shí)改善措施及延長(zhǎng)管制線將第2點(diǎn)和第5﹑12點(diǎn)出現(xiàn)異常的原因進(jìn)行分析﹐一定要追蹤落實(shí)改善﹔用以下公式得到管制用管制線﹕ UCL=Xbar+3*Sigma LCL=Xbar-3*Sigma427﹑落實(shí)改善措施及延長(zhǎng)管制線將第2點(diǎn)和第5﹑3.3﹑SPC管制及改進(jìn)3.1和3.2得到了管制上下限﹐在批量生產(chǎn)中就可以用此管控線來(lái)管制﹑檢驗(yàn)制程是否處于正常狀況下﹔SPC管制一般會(huì)要求定期進(jìn)行量測(cè)監(jiān)控。發(fā)現(xiàn)異常及時(shí)處理433.3﹑SPC管制及改進(jìn)3.1和3.2得到了3.4﹑PDCA443.4﹑PDCA44結(jié)束語(yǔ)用CPK來(lái)解析制程﹐得到制程管控的目標(biāo)﹔用SPC來(lái)定期檢驗(yàn)制程是否處于受控狀態(tài)﹐并改善超出管控的異常﹔再用CPK來(lái)驗(yàn)証制程能力。制程沒(méi)有最好只有更好45結(jié)束語(yǔ)用CPK來(lái)解析制程﹐得到制程管控的目標(biāo)﹔制程SPC及CPK實(shí)戰(zhàn)篇46SPC及CPK11﹑六西格碼在控制中的應(yīng)用★廣義的六西格碼是一個(gè)完善的管理工具﹐是品質(zhì)管理系統(tǒng)的一種說(shuō)法﹔★單純的六西格碼控制應(yīng)用﹐是一種質(zhì)量控制的目標(biāo)﹐請(qǐng)看以下說(shuō)法﹐正確與否﹕?我公司已經(jīng)實(shí)施了六西格碼管理﹔?

我公司達(dá)到了六西格碼的要求﹔?

通過(guò)六西格碼管理﹐公司品質(zhì)上了一個(gè)臺(tái)階﹔………一﹑六西格碼471﹑六西格碼在控制中的應(yīng)用★廣義的六西格碼是一個(gè)完善的管理工2﹑六西格碼與不良率:±Kr百分比(%)百萬(wàn)分缺點(diǎn)數(shù)±1r±2r±3r±4r±5r±6r68.2695.4599.7399.993799.99994399.9999998317400455002700630.570.002(規(guī)格中心不偏移)常態(tài)分配規(guī)格下限規(guī)格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX42482﹑六西格碼與不良率:±Kr±Kr合格百分比(%)百萬(wàn)分缺點(diǎn)數(shù)±1r±2r±3r±4r±5r±6r30.2369.1393.3299.379099.9767099.9996606977003087006681062102333.4規(guī)格中心值往左、右移動(dòng)1.5r常態(tài)分配規(guī)格下限規(guī)格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX1.5r1.5r4349±Kr合格百分比(3控制方式與6控制方式的比較：503控制方式與6控制方式的比較：5???兩個(gè)影響量﹐﹑1﹑的變化﹖2﹑的變化﹖21e-222F(x)=(x-)51???兩個(gè)影響量﹐﹑21e-222F(x二﹑SPC與CPK1﹑區(qū)別與聯(lián)系CPK﹕判定短期的制程能力﹐可以用來(lái)解析目前的制程能力或用來(lái)檢驗(yàn)制程能力是否在管制狀況下﹔SPK﹕長(zhǎng)期的制程能力﹐主要用在制程管制上。兩者配合使用﹐應(yīng)該做到﹕ 短期=長(zhǎng)期52二﹑SPC與CPK1﹑區(qū)別與聯(lián)系CPK﹕判定短期的制程能力﹐2﹑影響量----標(biāo)準(zhǔn)差Sigma532﹑影響量----標(biāo)準(zhǔn)差Sigma8實(shí)例(Sigma較大﹐離散性問(wèn)題)實(shí)例(Sigma較大﹐離散性問(wèn)題)3﹑影響量----中心偏移量553﹑影響量----中心偏移量10CPK實(shí)例分析(離散性較小﹑中心偏移量影響)56CPK實(shí)例分析(離散性較小﹑中心偏移量影響)114﹑CPK改善的方向及目標(biāo)574﹑CPK改善的方向及目標(biāo)125﹑管制圖的判斷在計(jì)量值﹐服從常態(tài)分布的生產(chǎn)特性下﹐最常用的管制圖是Xbar-R管制圖。常用的控制圖a、Xbar–R控制圖（計(jì)量值、正態(tài)分布）b、不合格品百分率p控制圖（計(jì)件值、二項(xiàng)分布）c、不合格品數(shù)np控制圖(計(jì)件值、二項(xiàng)分布)d、缺陷率u控制圖(計(jì)點(diǎn)值、泊松分布）e、缺陷數(shù)c控制圖(計(jì)點(diǎn)值、泊松分布）f、DPMO控制圖(計(jì)點(diǎn)值、泊松分布）585﹑管制圖的判斷在計(jì)量值﹐服從常態(tài)分布的生產(chǎn)特性下﹐最常用的1414.214.414.614.81515.215.415.615.8折線圖1!5.1﹑穩(wěn)定原則----異常處理原則一:不可超出管制界限591414.214.414.614.81515.215.41514.214.414.614.81515.215.415.6折線圖15.1﹑穩(wěn)定原則----預(yù)防處理原則二:不可呈現(xiàn)規(guī)律變動(dòng)連續(xù)7點(diǎn)上升或下降呈現(xiàn)規(guī)律性波動(dòng),具有顯著的波動(dòng)周期6014.214.414.614.81515.215.415.614.214.414.614.81515.215.415.6東部5.1﹑穩(wěn)定原則----預(yù)防處理原則二:不可呈現(xiàn)規(guī)律變動(dòng)連續(xù)7點(diǎn)在管制界限一側(cè)連續(xù)11點(diǎn)中,有10點(diǎn)在管制界限一側(cè)(間斷)6114.214.414.614.81515.215.415.65.1﹑穩(wěn)定原則----預(yù)防處理原則三:不可過(guò)于集中分布顯著多于2/3的點(diǎn)集中在CL附近:即90%的數(shù)據(jù)在1δ線以內(nèi)顯著少于40%的數(shù)據(jù)落在1δ線以內(nèi)數(shù)據(jù)集中分布在2δ到管制線之間(超過(guò)2/3)3點(diǎn)中,有兩點(diǎn)接近一側(cè)之管制界限7點(diǎn)中,有3點(diǎn)以上接近控制界限原則四:符合過(guò)程能力要求625.1﹑穩(wěn)定原則----預(yù)防處理原則三:不可過(guò)于集中分布175.2﹑長(zhǎng)期控制符合以下條件,可將管制圖用于長(zhǎng)期控制:過(guò)程穩(wěn)定符合過(guò)程能力的要求再收集15組數(shù)據(jù),無(wú)異常情形利用已經(jīng)算出之管制界限進(jìn)行管制按要求收集數(shù)據(jù),并進(jìn)行管制分析/控制在下列情況下,重新計(jì)算管制界限:初次過(guò)程能力研究,異常消除時(shí)對(duì)4M1E進(jìn)行重大改進(jìn)時(shí)產(chǎn)品修正時(shí)經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期運(yùn)行后635.2﹑長(zhǎng)期控制符合以下條件,可將管制圖用于長(zhǎng)期控制:18現(xiàn)象可能原因處理分布不穩(wěn)定計(jì)算錯(cuò)誤數(shù)據(jù)未層別查清原因,重新計(jì)算存在特殊原因查清原因,予以消除過(guò)程能力不足過(guò)于分散平均值偏移采用管理性/技術(shù)性措施,進(jìn)行改進(jìn)5.3﹑異常處理可以采取的措施有效后,標(biāo)準(zhǔn)化處理64現(xiàn)象可能原因處理分布計(jì)算錯(cuò)誤查清原因,重新計(jì)算存在特殊原因查三﹑制程管制實(shí)例1﹑CPK解析目的﹕通過(guò)集中量測(cè)解析目前的制程能力﹐得出制程管控要求﹐對(duì)制程管控要求進(jìn)行分析﹐解析出合理的制程管控上下限。實(shí)例分析﹕以解析錫膏厚度的管控上下限為例﹕集中量測(cè)25組錫膏厚度數(shù)據(jù)﹔每組由5個(gè)量測(cè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)﹔計(jì)算CPK值﹐判定是否合理﹔計(jì)算上下管制線。65三﹑制程管制實(shí)例1﹑CPK解析目的﹕201.1﹑集中量測(cè)25組錫膏厚度數(shù)據(jù)661.1﹑集中量測(cè)25組錫膏厚度數(shù)據(jù)211.2﹑計(jì)算CPK值Sigma=(Σ(Xi-Xbar)2/(n-1))?其中i=1ton=0.00312CP=T/(6*Simga)=(0.16-0.12)/(6*0.00312)=2.13675K=|Xbar-SL|/T/2=|0.139832-0.140|/0.02=0.0084CPK=CP(1-K)=2.13675(1-0.0084)=2.1188判定﹕CPK為2.1188>1.67﹐屬于制程能力充分的狀態(tài)下﹔671.2﹑計(jì)算CPK值Sigma=(Σ(Xi-Xbar)2/1.3﹑計(jì)算管制上下限上管制界限:UCL=Xbar+3*Sigma=0.139832+3*0.00312=0.149192下管制界限:LCL=Xbar-3*Sigma=0.139832-3*0.00312=0.130472681.3﹑計(jì)算管制上下限上管制界限:UCL=Xbar+3*1.4﹑管制圖691.4﹑管制圖241.5﹑解析管制上下限上管制界限:UCL=0.149192實(shí)際管制上限=0.150在實(shí)際解析中﹐如果測(cè)量的點(diǎn)比較分散﹐可以適當(dāng)放寬解析上限﹐再定期檢討﹑縮緊管制上限到理論值。下管制界限:LCL=0.130472實(shí)際管制下限=0.130在實(shí)際解析中﹐如果測(cè)量的點(diǎn)比較分散﹐可以適當(dāng)放寬解析下限﹐再定期檢討﹑縮緊管制下限到理論值。701.5﹑解析管制上下限上管制界限:UCL=0.1491922﹑SPC管制▲將CPK解析的管制上下限﹐作為SPC的管制上下線﹔▲定時(shí)對(duì)生產(chǎn)制程進(jìn)行量測(cè)﹐這個(gè)時(shí)間可以是每天或每班﹔▲檢查每次的量測(cè)結(jié)果是否在管控范圍內(nèi)﹔▲量測(cè)點(diǎn)超出管控線﹐需要立即檢討制程﹐尋找出原因﹔▲定期(每月或每周)對(duì)近期的控制圖進(jìn)行分析﹐檢查是否有不收控制的趨勢(shì)(如周期變動(dòng)﹑連續(xù)7點(diǎn)﹑連續(xù)11點(diǎn)等)。712﹑SPC管制▲將CPK解析的管制上下限﹐作為SPC的管2.1﹑SPC管制圖722.1﹑SPC管制圖272.2﹑管制圖的難點(diǎn)▲CPK解析時(shí)﹐存在中心偏移量較大的情況﹖▲CPK解析時(shí)﹐數(shù)據(jù)離散性較大﹐Sigma較大﹖▲SPC管制時(shí)﹐管制上下限太嚴(yán)﹐導(dǎo)致經(jīng)常跑出管制線﹖▲量測(cè)點(diǎn)都在管制界限內(nèi)﹐是否代表制程良好﹖732.2﹑管制圖的難點(diǎn)▲CPK解析時(shí)﹐存在中心偏移量較大的3﹑SPC&CPK管制的步驟四個(gè)步驟﹕ 3.1﹑CPK改進(jìn)﹔ 3.2﹑CPK解析﹔ 3.3﹑SPC管制及改進(jìn)﹔ 3.4﹑PDCA743﹑SPC&CPK管制的步驟四個(gè)步驟﹕293.1﹑CPK改進(jìn)----中心偏移量SLCLCP=2.13675K=0.5084CPK=1.05753.1﹑CPK改進(jìn)----中心偏移量SLCLCP=2.1363.1﹑CPK解析----消除中心偏移量CL≌SLCP=2.13675K=0.0084CPK=2.1188763.1﹑CPK解析----消除中心偏移量CL≌SLCP=23.1﹑CPK解析----消除中心偏移量（圖）SL773.1﹑CPK解析----消除中心偏移量（圖）SL323.2﹑CPK解析---穩(wěn)定性﹑離散性原則CPK解析時(shí)﹕ Sigma較大→CP<2→

CPK<1.67 制程需要分析原因﹐尋找加強(qiáng)制程能力的方法﹐直到滿足3.1﹐且CPK>1.67 具體解析過(guò)程可以用Xbar-R管制分析法難783.2﹑CPK解析---穩(wěn)定性﹑離散性原則CPK解析時(shí)﹕難33.2﹑CPK解析---Xbar-R分析步驟﹕1﹑計(jì)算Xbar﹑R﹑Xbar.bar﹑Rbar﹔2﹑計(jì)算R的管控線﹐并判斷﹔3﹑剔除異常的點(diǎn)(超出規(guī)格的)﹐查找異常的原因﹔4﹑重復(fù)1﹑2﹑3步驟﹐直到全部在管控范圍內(nèi)﹔5﹑計(jì)算Xbar的管控線﹐并判斷﹔6﹑剔除異