可測(cè)試性設(shè)計(jì)的邊界掃描法_第1頁(yè)
可測(cè)試性設(shè)計(jì)的邊界掃描法_第2頁(yè)
可測(cè)試性設(shè)計(jì)的邊界掃描法_第3頁(yè)
可測(cè)試性設(shè)計(jì)的邊界掃描法_第4頁(yè)
可測(cè)試性設(shè)計(jì)的邊界掃描法_第5頁(yè)
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集成電路測(cè)試邊界掃描法設(shè)計(jì)原則硬件設(shè)計(jì)基本測(cè)試學(xué)習(xí)目標(biāo)設(shè)計(jì)原則每個(gè)寄存器都可輸入數(shù)據(jù)，也可輸出數(shù)據(jù)所有寄存器可連接成一個(gè)移位寄存器設(shè)計(jì)原則硬件設(shè)計(jì)測(cè)試存取通道（TAP）指令寄存器（IR）TAP控制器測(cè)試數(shù)據(jù)寄存器組（TDR）基本測(cè)試測(cè)試核心邏輯測(cè)試由多個(gè)核心邏輯組成的芯片測(cè)試核心邏輯間的連線工作方式內(nèi)部測(cè)試方式采樣測(cè)試方式外部測(cè)試方式電路板正常工作方式1、設(shè)計(jì)原則：在核心邏輯電路的輸入輸出端都增加一個(gè)寄存器；2、硬件設(shè)計(jì)：測(cè)試存取通道（TAP）；TAP控制器；指令寄存器（IR）；測(cè)試數(shù)據(jù)寄存器組（TDR）；3、基本測(cè)試：測(cè)試核心邏輯；測(cè)試連線；測(cè)試芯片；知識(shí)小結(jié)

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