1、 用電接觸式(鐵筆記錄儀測定表面粗糙度數值R a 、R z 、R max : 術語,測量條件替代DIN 4768 第1部分-08.74與國際化標準組織發布的國際標準ISO 3274:1975和ISO 4288之間的關系見注釋。單位:mm1 應用范圍該標準規定了通過具有電傳輸、高通濾波和分析功能的接觸式尖筆記錄儀來測定技術表面的可比粗糙度測量值的術語和測量條件。備注:波紋度和其它的形狀偏差不屬本標準范疇。但是在某些功能情況,它對表面適用性的影響比起其對表面粗糙度的影響來說可能會更大。2 術語按照DIN 4760、DIN 4762以及DIN 4777中用相位校正濾波器測量粗糙度中的術語。 此外,按

2、照2.1和2.2中的術語。2.1 濾波器(高通濾波器濾波器為輪廓濾波器1,根據濾波器特性曲線,實際輪廓的長波部分只有部分或根本就不計入粗糙度輪廓或測量結果。按照極限波長稱之為濾波器。備注:在文獻中,濾波器也叫做波分離器或斬波器。 圖1:表面粗糙度輪廓的平均峰谷高度圖R z2.2 測量段2.2.1 初試段(見圖1初試段是投影垂直于中線、不用來分析的接觸段的長度。剛開始的瞬態過程必須在初試段內逐漸消失。2.2.2 總測量段l m (見圖1總測量段是投影垂直于中線、直接用來分析表面粗糙度輪廓部分的長度。2.2.3 各具體的測量段l e (見圖1各具體的測量段為總測量段l m 的五分之一。備注:各具體

3、的測量段l e 相當于DIN 4762/01.89中的基準段l 。2.2.4 后續段(見圖1后續段是投影垂直于中間直線、不再用來分析的描畫段的表面粗糙度輪廓的最后一部分的長度。2.2.5 描畫段l r (見圖1描畫段等于初試段、總測量段l m 和后續段的總和。2.3 粗糙度特征值本標準意義中的粗糙度特征值從表面粗糙度輪廓1中得出。2.3.1 算術平均粗糙度值R a算術平均粗糙度值是基準段l 2內輪廓偏差y 的絕對值的算術平均值。(dx x y lR la =1備注1:這相當于長等于基準段長度l 且面積等于表面粗糙度輪廓和中線之間面積之和的矩形的高。=uioiAA+=uioiAAg 圖2:算術平

4、均粗糙度值 R a備注2:按照DIN 4775和ISO 4288:1985,R a 和R z 直至16%時表面上所測的各具體值允許大于規定的極限值。2.3.2 各表面峰谷高度Z i (Z i Z 1Z 5(見圖1具體的粗糙高度為平行于中心線的兩條直線之間的距離,它在具體的測量段內在最高點或最低點與表面粗糙輪廓接觸。2.3.3 平均峰谷高度R z平均峰谷高度為5段彼此相鄰的測量段的表面峰谷高度的算術平均值。備注1:按照ISO 4287/1:1984和DIN 4762,該特征參數的縮寫符號為R ys 。備注2:本標準中的R z 定義與ISO 4287/1:1984中的定義不一致。如有必要,使用縮寫

5、符號R z DIN 或R z ISO ,以示區別。因測量技術的原因,測量ISO 4287/1: 1984中的特性參數R z 應用DIN 4768中適用于R z DIN 的測量條件變得越來越普遍。這也適用于ISO 4288:1985中的規定。當規定的R z ISO 最大值不超過R z DIN ,該規定的R z ISO 可視為遵守規定。詳細說明見DIN 4762/01.89第5.7至5.9中的說明。備注3:見2.3.1中的備注。2.3.4 最大的表面峰谷高度R max (見圖1最大的表面峰谷高度為整個測量段所測得的表面峰谷高度的最大值Z i 。備注1:按照DIN 4775和ISO 4288:198

6、5,各測量所得的R max 值不得超過所規定的極限值。這在諸如交互變化的表面也必須滿足。備注2:按照ISO 4287/1:1984和ISO 4288:1985,該特征參數的縮寫符號為R y max 。3 測量條件3.1 描畫記錄方向必須在出現最大粗糙度值的方向進行描畫記錄。特殊情況時務必就描畫記錄方向進行協商。3.2 極限波長c ,測量段長度l e3.2.1周期性外形輪廓(車削和刨削等的極限波長c ,測量段長度l e 和總測量長度l m為周期性外形輪廓時,適用于表1中的規定。 表1:表面波紋間距配合 可以通過表面輪廓簡圖或對工件的10個表面波紋寬度進行測量確定表面波紋間距。 3.2非周期性外形

7、輪廓(研磨、圓周銑削、無過梁端面銑削、鉸孔、成型等見表2或表3的極限波長c ,測量段長度l e 和總測量長度l m表2:平均表面峰谷高度R z 配合 表3:平均粗糙度值R配合 非周期性外形輪廓時,表2中的配合適用于R z 的測量,表3中的配合適用于R a 的測量。周期性外形輪廓R max 的測量時,極限波長取決于R a 。對于表2和表3的實際應用來說,可通過目測法估計工件或外形輪廓記錄中的粗糙度值,以得出極限波長。當表面含有重疊的波紋時,可能出現:極限波長為0.25 mm 時所測得的平均表面峰谷高度R z < 0.5m ,極限波長為0.8 mm 時所測得的平均表面峰谷高度R z >

8、 0.5m 。在這種極限情況,適用較小的粗糙度值。同樣適用于0.1m 、10m 、50m 的 R z 值和相應極限情況下相關的R a 。3.3 測量段如果工件不符合表1至表3總測量段為5.l e 的規定,也可以應用各具體測量段數較少的總測量段。隨后在給出粗糙度值時必須對此做出說明,例如當l m = 3.l e時,R a =1.1m。如果因特殊原因必須給出不同于表1至表3中的極限波長配合,在給出粗糙度值時必須規定,例如c=0.25 mm時,R a= 1.1m。3.4 適用于仲裁情況的附加條件如果預計的粗糙度值大于Rz = 2m或大于R a=0.4m時,仲裁時需使用按照DIN 4772標準、描畫記

9、錄最大半徑為5m的參考面描畫記錄系統。小于預計的粗糙度值時使用描畫記錄最大半徑為2m的描畫記錄系統。引用標準DIN 4760 外形輪廓偏差;術語,分級系統DIN 4762 表面粗糙度;術語,表面及其特性參數;等同于ISO 4287/1:1984DIN 4772 按照描畫記錄法測量表面粗糙度用電描畫記錄器DIN 4775 工件表面粗糙性檢測;目檢和描畫記錄比較,描畫記錄法DIN 4777 表面測量技術;電描畫記錄器中所使用的外形輪廓濾波器;相校正濾波器ISO 4287/1:19843英文版:表面粗糙度;術語-第1部分:表面及其特性參數德文版:表面粗糙度;術語-第1部分:表面及其特性參數ISO 4

10、288:19853英文版:使用接觸式記錄儀測量表面粗糙度的規則和程序德文版:使用電描畫記錄器測量表面粗糙度的固定和程序其它標準ISO 3274:19753英文版:輪廓法表面粗糙度測量用儀器,接觸尖筆記錄儀,具有連續的外形輪廓傳輸的描畫記錄儀,描畫記錄儀,M系統德文版:輪廓法表面粗糙度測量用儀器;具有連續的外形輪廓傳輸的描畫記錄儀,描畫記錄儀,M系統舊版本:DIN 4768第1部分:1970年10月,1974年8月。修訂:較之DIN 4768 第1部分/08.74,做了以下修正:a刪除了有關濾波器的規定,相關規定見DIN 4777。b為使用DIN 4777標準中相校正的濾波器或至今常用的2 RC-濾波器時得到可比結論,僅對表面波紋距的分級做了極小修正。詳見說明。c增加了3.4仲裁調節。d編輯上的修訂。注釋:在DIN 4768 Teil 1/08.74標準化的濾波器為2 RC-濾波器,從此被符合DIN 4777標準的相校正濾波器所取代。從而互補濾波器既可用于粗糙度測量,又可用于DIN 4774中波紋度測量。對表1中的極限波長配合做了一些修改,以便同一配合適用于波紋度測量。符合DIN 4777標準的相校正濾波器方面的修訂以及表1中的配合變動實際上對粗糙度特征參數R max、R z和R a沒有影響,也就是說新測量儀器和舊測