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文檔簡介
1、可靠性工程基礎(chǔ)試題1一、就是非判斷題(就是畫V ,非畫X)并聯(lián)系統(tǒng)就是冗余系統(tǒng)得一種。2串聯(lián)系統(tǒng)得可靠性一定小于其中任意一個組成單元得可靠性。3可靠性分配應(yīng)該在可靠性預(yù)計得基礎(chǔ)上進(jìn)行。()產(chǎn)品在規(guī)定得條件下,規(guī)定得時間內(nèi)不能完成規(guī)定得功能稱為故障。5、FMECA 般就是一種對產(chǎn)品失效進(jìn)行定性分析得手段。()6若某一產(chǎn)品得失效事件為 M ,M由兩單元得失效事件 C與D組成,則其產(chǎn)品得失效概率 P(M )= P(C)+ P(D)o 7電子元器件在任何情況下原則上都不允許超額使用。()8我們稱MTBF為產(chǎn)品得平均壽命。9可靠性老煉與篩選試驗得目得都就是為了提高產(chǎn)品得固有可靠性。10.產(chǎn)品可靠性規(guī)定得
2、時間只能用小時計算。二、選擇題1某產(chǎn)品得可靠度為 R(t ),當(dāng)t 1小于t 2時,可靠度R(t 1)與R(t 2)得關(guān)系為R(t1) 定大于或等于R(t2);2壽命為指數(shù)分布得 2個單元組成一個并聯(lián)系統(tǒng),若兩單元得失效率分別為R(t1) 定小于或等于R(t2);R(t1)可能大于、等于或小于R(t2)。,若入1與?2,則該系統(tǒng)得MTBF為 1/(兀 + A2); 1/ Z1 + 1/ Z2;3、電子元器件老煉得目得就是1/入 1 + 1/1/入 1 + 1/入 2 + 1/(入 1 +;入 2)尼1/(入 1 +程)。提咼產(chǎn)品得固有可靠性;剔除產(chǎn)品得早期失效;消除產(chǎn)品參數(shù)得漂移。4產(chǎn)品可靠性
3、篩選試驗得目得就是提高產(chǎn)品得固有可靠性;消除產(chǎn)品參數(shù)得漂移; 剔除產(chǎn)品得早期失效。5對單元產(chǎn)品得可靠性評估一般采用點估計法;CMSR法;區(qū)間估計法;MML法。6產(chǎn)品失效分布函數(shù)得代號就是 f(t);R(t);Z(t);(t) o7對單元產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評估應(yīng)根據(jù) 一批產(chǎn)品得使用試驗結(jié)果; 一批產(chǎn)品得隨機(jī)抽樣壽命試驗結(jié)果 ;該產(chǎn)品得可靠性分配結(jié)果。8在事先沒有規(guī)定產(chǎn)品可靠性指標(biāo)得情況下,用來測定產(chǎn)品可靠性特征量得試驗稱做可靠性驗證試驗;可靠性驗收試驗;可靠性測定試驗。9故障樹分析得代號就是 ETA;FMEA;FT;FTA o三、填空題1若產(chǎn)品得性能指標(biāo)XN(仏d )=(10,1),則其概率密度函數(shù)
4、f(x)=2若產(chǎn)品得壽命服從指數(shù)分布,則其R(t) = ; F(t)=;f (t)=;MTBF=3.電子線路得三次設(shè)計就是指4.產(chǎn)品在規(guī)定得條件下,在規(guī)定得內(nèi),完成規(guī)定功能得稱為產(chǎn)品得可靠性。,此時我們稱這種系統(tǒng)為系統(tǒng);如果只要有一個單元工作5個系統(tǒng)由n個單元組成。當(dāng)每個單元都正常工作時系統(tǒng)才能正常工作系統(tǒng)就能工作,此時我們稱這種系統(tǒng)為 系統(tǒng);如果n個單元中有k個或k個以上完好系統(tǒng)才能正常工作,我們把這種系統(tǒng)稱為系統(tǒng),其代號為。6般產(chǎn)品失效率函數(shù)曲線得形狀象洗澡盆,故稱曲線,按其變化規(guī)律可分為三個階段 ,即失效期、失效期與 失效期。7、提高串聯(lián)系統(tǒng)可靠性得措施就是8某系統(tǒng)得可靠性框圖如下,其系
5、統(tǒng)可靠性 Rs為:R2R1r3R4|Rs=9、一個電路由2個電阻串聯(lián)而成,其中一個電阻為 6k Q另一個為8k Q且均有± 10%得極限誤差,并服從正態(tài)分布,則該電路電阻得最大值為,最小值為。可靠性工程基礎(chǔ)試題21.2.電子元器件老煉得目得就是提高產(chǎn)品得固有可靠性。、就是非判斷題(就是畫V,非畫X )每題1分共9分)某產(chǎn)品得可靠度為R(t),當(dāng)tl小于t2時,R(tl) 定大于或等于R(t2)。3.4.工程中對單元產(chǎn)品得可靠性評估一般采用點估計法。5.產(chǎn)品失效分布函數(shù)得代號就是f (t ) o產(chǎn)品可靠性篩選試驗得目得就是提高產(chǎn)品得固有可靠性。6.7.8.故障樹分析得代號就是 FMEA
6、。9.可靠性分配應(yīng)該在可靠性預(yù)計得基礎(chǔ)上進(jìn)行。)二、選擇題每題1分共7分對單元產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評估應(yīng)根據(jù)該批產(chǎn)品得壽命試驗結(jié)果。在事先沒有規(guī)定產(chǎn)品可靠性指標(biāo)得情況下,用來測定產(chǎn)可靠性特征量得試驗稱做可靠性驗證試驗。此時我們稱這種系統(tǒng)為系統(tǒng)。1. 一個系統(tǒng)由n個單元組成。當(dāng)每個單元都正常工作時系統(tǒng)才能正常工作a、并聯(lián);b、串聯(lián);C、表決;d、儲備。2. 并聯(lián)系統(tǒng)得可靠性一定 其中任意一個組成單元得可靠性。a、大于;b、小于;C、等于;d、大于、等于或小于。3. FMECA 一般就是一種對產(chǎn)品失效進(jìn)行得手段。a、定性分析;b、定量分析;c、定性或定量分析;d、精確分析。4. 若某一產(chǎn)品得失效事件為
7、M,M=AU BU C,則這一個產(chǎn)品得失效概率 P(M)為。a、P(A)+ P(B)+ P(C);b、P (A)+ P (B)+ P (C) P (ABC);c. P (A)+P(B)+ P(C) P(AB) P(AC )P(BC)+ P(ABC);d. P(A)+ P(B)+ P(C)+ P(AB)+ P(AC)+P( BC)P(ABC)。5. 電子元器件在情況下原則上都不允許超額使用。a. 一般;b、特殊;C、大多數(shù);d、任何6. 我們稱為產(chǎn)品得平均壽命。To、5。a.、MTBF; b、MTTF ;c、FMECA ;d、7、產(chǎn)品失效分布函數(shù)得代號就是a、 f (t ) ; b、 F (t
8、) ; c、 R (t ) ; d、Z(t )。二、選擇題每題1分共7分1. 一個系統(tǒng)由n個單元組成。當(dāng)每個單元都正常工作時系統(tǒng)才能正常工作 串聯(lián);C、表決;d、儲備。,此時我們稱這種系統(tǒng)為 系統(tǒng)。a、并聯(lián);b、2. 并聯(lián)系統(tǒng)得可靠性一定 其中任意一個組成單元得可靠性。a.大于;b、小于;C、等于;d、大于、等于或小于。3. FMECA 一般就是一種對產(chǎn)品失效進(jìn)行得手段。a.定性分析;b、定量分析;c、定性或定量分析;d、精確分析。4. 若某一產(chǎn)品得失效事件為 M,M=A U BU C,則這一個產(chǎn)品得失效概率 P(M )為。a. P (A)+P (B)+P (C);b. P (A)+ P (B
9、)+ P (C)P (ABC);c. P (A)+ P (B)+ P (C)P (AB) P (AC) P (BC)+ P (ABC);d. P (A)+ P (B)+ P (C)+ P(AB)+ P (AC)+ P (BC)P (ABC)。5.電子元器件在情況下原則上都不允許超額使用。a. 一般;b、特殊;C、大多數(shù);d、任何6. 我們稱為產(chǎn)品得平均壽命。T0、5 Oa. MTBF;b、MTTF;c、FMECA ;d、7. 產(chǎn)品失效分布函數(shù)得代號就是 。a、 f (t); b、 F (t); c、 R (t); d、入(t)。三、填空題每空2分,共24分1. 壽命為指數(shù)分布得2個單元組成一個
10、并聯(lián)系統(tǒng),若兩單元得失效率分別為加與?2,則該系統(tǒng)得MTBF =2. 若產(chǎn)品得性能指標(biāo) XN(ga)=N(10,1),則其概率密度函數(shù) f (x) = o3. 若產(chǎn)品得壽命服從指數(shù)分布,則其R (t )、F (t )與f (t )分別為: 、與X(t )與MTBF分別為(注意本題填寫順序不得有誤)4. 電子線路得三次設(shè)計就是,我們把這種系統(tǒng)稱為5. 一個系統(tǒng)由n個單元組成,如果n個單元中有k個或k個以上完好系統(tǒng)才能正常工作6.系統(tǒng),其代號為般產(chǎn)品 失效率函數(shù)曲 線稱浴盆曲線,按 其變化 規(guī)律可 分為三 個階段,即 三個失效期。7. 提高串聯(lián)系統(tǒng)可靠性得措施就是8. 某系統(tǒng)得可靠性框圖如下,其系
11、統(tǒng)可靠性Rs為:oRs =可靠性工程基礎(chǔ)試題3一、就是非判斷題(就是畫V,非畫X )每題1分共10分1.)失效率為常數(shù)得分布函數(shù)一定就是指數(shù)分布。2.3.)在事先沒有規(guī)定產(chǎn)品可靠性指標(biāo)得情況下,用來測定產(chǎn)品可靠性特征量得試驗稱做可靠性驗證試驗。)工程中對單元產(chǎn)品得可靠性評估最常采用點估計法。4.)產(chǎn)品失效分布函數(shù)得代號就是f ( t )o3. FMECA 一般就是一種對產(chǎn)品失效進(jìn)行得手段。5.6.)對單元產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評估應(yīng)根據(jù)該批產(chǎn)品得隨機(jī)抽樣壽命試驗結(jié)果。)產(chǎn)品可靠性篩選試驗得目得就是提高產(chǎn)品得固有可靠性。7.)電子元器件老煉得目得就是提高產(chǎn)品得固有可靠性。8.)故障樹分析得代號就是 FM
12、EA o9.10.)某產(chǎn)品得可靠度為R( t ),當(dāng)t 1小于t 2時,R(t 1) 一定大于或等于 R(t 2) o)可靠性分配應(yīng)該在可靠性預(yù)計得基礎(chǔ)上進(jìn)行。二、選擇題每題1分共7分1、若某一產(chǎn)品得失效事件為 T,T=A U BU C,則這一個產(chǎn)品得失效概率 P( T )為。a、P (A)+P (B)+P (C); b、P (A)+P (B)+P (C)P (ABC); c、P (A)+P ( B)+P (C)P (AB)P (AC)P 侶C)+P (ABC); d、P (A)+ P 侶)+ P (C)+ (AB)+ P (AC)+ P (BC)P (ABC)。2. 一個系統(tǒng)由n個單元組成。
13、當(dāng)每個單元都失效時系統(tǒng)才能不正常工作,此時我們稱這種系統(tǒng)為系統(tǒng)。a、并聯(lián);b、串聯(lián);C、表決;d、儲備。a、定性分析;b、定量分析;c、定性或定量分析;d、精確分析。4.在組成單元得數(shù)量與可靠性相同得情況下,串并聯(lián)系統(tǒng)得可靠性一般并串聯(lián)系統(tǒng)得可靠性。a、大于;b、小于;C、等于;d、大于、等于或小于。5.產(chǎn)品失效分布函數(shù)得代號就是6.7.電子元器件在 情況下原則上都不允許超額使用。a、一般;b、特殊;c、大多數(shù);d、任何a、 f ( t );b、 F ( t );c、R( t );d、 X t ) o我們稱為產(chǎn)品得平均壽命。a、MTBF;b、MTTF;c、FMECA;d、TO、5。1.壽命為指
14、數(shù)分布得2三、填空題每空2分,共28分個單元組成一個并聯(lián)系統(tǒng),若兩單元得失效率分別為X與 X,則該系統(tǒng)得MTBF2.若產(chǎn)品得性能指標(biāo) XN(口,0) = N(10,1),則其概率密度函數(shù)f (x)=3. 若產(chǎn)品得壽命服從指數(shù)分布則其R(t)、F(t)與f(t)分別為X(t )與MTBF分別為 (注意本題填寫順序不得有誤 )4. 電子線路得三次設(shè)計就是5、一個系統(tǒng)由n個單元組成,如果n個單元中有k個或k個以上完好系統(tǒng)才能正常工作,我們把這種系統(tǒng)稱為其代號為6.般產(chǎn)品失效率函數(shù)曲線稱浴盆曲線,按其變化規(guī)律可分為三個階段,即 三個失效期。7. 提高串聯(lián)系統(tǒng)可靠性措施就是8.某系統(tǒng)得全部路集為:1,2
15、,3;2,3,4;2,3;1,2,3,4;3,4。其 MPS 為:9.某系統(tǒng)得全部 MCS為:1 ,2;2,3;1 ,3。在下列集合2,4,5;1,2,4,5;1,3,5;1 ,4,5中就是該系統(tǒng)割集得有:10.設(shè)有一串聯(lián)系統(tǒng)由4個單元組成,其可靠性分別為:R1=0、92, R2=0、94, R3=0、96, R4=0、98,若要求該系統(tǒng)得可靠性RS=0、8,則各單元得可靠性 R1、R2、R3與R4得分配值應(yīng)該分別為、可靠性工程基礎(chǔ)試題4、就是非判斷題(就是畫V,非畫X)1并聯(lián)系統(tǒng)就是冗余系統(tǒng)得一種。3可靠性分配應(yīng)該在可靠性預(yù)計得基礎(chǔ)上進(jìn)行。()()2串聯(lián)系統(tǒng)得可靠性一定小于其中任意一個組成單
16、元得可靠性。4. 產(chǎn)品在規(guī)定得條件下,規(guī)定得時間內(nèi)不能完成規(guī)定得功能稱為故障。5. FMECA 般就是一種對產(chǎn)品失效進(jìn)行定性分析得手段。()6若某一產(chǎn)品得失效事件為 M ,M由兩單元得失效事件 C與D組成, 則其產(chǎn)品得失效概率 P(M)= P(C)+ P(D)o7電子元器件在任何情況下原則上都不允許超額使用。 8我們稱MTBF為產(chǎn)品得平均壽命。9可靠性老煉與篩選試驗得目得都就是為了提高產(chǎn)品得固有可靠性。10.產(chǎn)品可靠性規(guī)定得時間只能用小時計算。二、選擇題某產(chǎn)品得可靠度為R (t),當(dāng) t1小于t2時,可靠度R (t1)與R (t2)得關(guān)系為R (t1)可能大于R (t1) 一定大于或等于R (
17、t2);R (t1) 一定小于或等于R (t2);、等于或小于R (t2) o2壽命為指數(shù)分布得 2個單元組成一個并聯(lián)系統(tǒng),若兩單元得失效率分別為入1與A2,則該系統(tǒng)得MTBF為。 1/ Z1 + 1/ Z2; 1/(兀 + ?2); 1/ A1 + 1/ A2 + 1/(入1 + ; 1/ 入 1 + 1/ 入 2 1/(入 1 +疋)。3電子元器件老煉得目得就是提高產(chǎn)品得固有可靠性剔除產(chǎn)品得早期失效;消除產(chǎn)品參數(shù)得漂移。4產(chǎn)品可靠性篩選試驗得目得就是提高產(chǎn)品得固有可靠性;消除產(chǎn)品參數(shù)得漂移;剔除產(chǎn)品得早期失效。5對單元產(chǎn)品得可靠性評估一般采用區(qū)間估計法;MML法。 點估計法;CMSR法;6
18、產(chǎn)品失效分布函數(shù)得代號就是 f (t);R (t);雄);F。7對單元產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評估應(yīng)根據(jù) 一批產(chǎn)品得使用試驗結(jié)果; 一批產(chǎn)品得隨機(jī)抽樣壽命試驗結(jié)果; 該產(chǎn)品得可靠性分配結(jié)果。8在事先沒有規(guī)定產(chǎn)品可靠性指標(biāo)得情況下,用來測定產(chǎn)品可靠性特征量得試驗稱做 可靠性驗證試驗;可靠性驗收試驗;可靠性測定試驗。9故障樹分析得代號就是 ETA; FMEA ; FT; FTA。f (x) = _,則其R(t)=三、填空題1若產(chǎn)品得性能指標(biāo)XN( 4 0)=(10,1),則其概率密度函數(shù)2若產(chǎn)品得壽命服從指數(shù)分布F(t)=;f (t)=;W =MTBF=3電子線路得三次設(shè)計就是指內(nèi),完成規(guī)定功能得,此時我們
19、稱這種系統(tǒng)為系統(tǒng);如果只要有一個單4產(chǎn)品在規(guī)定得條件下,在規(guī)定得稱為產(chǎn)品得可靠性。5個系統(tǒng)由n個單元組成。當(dāng)每個單元都正常工作時系統(tǒng)才能正常工作 元工作系統(tǒng)就能工作,此時我們稱這種系統(tǒng)為系統(tǒng);如果n個單元中有k個或k個以上完好系統(tǒng)才能正常工作,我們把這種系統(tǒng)稱為 系統(tǒng),其代號為o 6般產(chǎn)品失效率函數(shù)曲線得形狀象洗澡盆,故稱曲線,按其變化規(guī)律可分為三個階段,即失效期、失效期與失效期7提高串聯(lián)系統(tǒng)可靠性得措施就是8某系統(tǒng)得可靠性框圖如下,其系統(tǒng)可靠性 Rs為:Rs=R1R21R31R49、一個電路由2個電阻串聯(lián)而成,其中一個電阻為6k Q,另一個為8k Q且均有± 10%得極限誤差,并服
20、從正態(tài)分布,則該電路電阻得最大值為,最小值為。可靠性工程基礎(chǔ)試題5一、就是非判斷題(就是畫V,非畫X )每題1分共10分 1并聯(lián)系統(tǒng)就是冗余系統(tǒng)得一種。2串聯(lián)系統(tǒng)得可靠性一定小于其中任意一個組成單元得可靠性。3可靠性分配應(yīng)該在可靠性預(yù)計得基礎(chǔ)上進(jìn)行。4.產(chǎn)品在規(guī)定得條件下,規(guī)定得時間內(nèi)不能完成規(guī)定得功能稱為故障。()C與D組成,則其產(chǎn)品得失效概率為5. FMECA 般就是一種對產(chǎn)品失效進(jìn)行定性分析得手段。6若某一產(chǎn)品得失效事件為 MM由兩單元得失效事件P(M)= P(C)+ P(D)。7電子元器件在任何情況下原則上都不允許超額使用。8我們稱MTBF為產(chǎn)品得平均壽命。9可靠性老煉與篩選試驗得目得
21、都就是為了提高產(chǎn)品得固有可靠性。10.產(chǎn)品可靠性規(guī)定得時間只能用小時計算。二、選擇題每題1分共9分1某產(chǎn)品得可靠度為R(t),當(dāng)t 1小于t 2時,可靠度R(t1)與R(t2)得關(guān)系為。R (t1)一定大于或等于 R (t2);R (t1)一定小于或等于R (t2);R (t1)可能大于、等于或小于R (t2) O2壽命為指數(shù)分布得 2個單元組成一個并聯(lián)系統(tǒng),若兩單元得失效率分別為入 1與疋,則該系統(tǒng)得MTBF為。 1/ 入 1 + 1/?2; 1/( Z1 + ?2);1/兀+ 1/疋+ 1/(昭+ ?2);1/入 1 + 1/尼1/(入 1 +尼)O3電子元器件老煉得目得就是提高產(chǎn)品得固有可靠性;剔除產(chǎn)品得早期失效;消除產(chǎn)品參數(shù)得漂移。4產(chǎn)品可靠性篩選試驗得目得就是提高產(chǎn)品得固有可靠性;消除
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