ICSXX.XXX.XX

CCSXXXX

團體標準

T/CSTMXXXXX—202X

微波參數在高溫、低溫、溫度循環、濕度

載荷下的測試方法

Testmethodformicrowaveparametersunderhightemperature,low

temperature,temperaturecyclingandhumidity

202X-XX-XX發布202X-XX-XX

實施

中關村材料試驗技術聯盟發布

T/CSTMXXXXX—2022

前言

本文件參照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結構和起草規則》，GB/T

20001.4—2015《標準編寫規則第4部分：試驗方法標準》給出的規則起草。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發布機構不承擔識別專利的責任。

本文件由中國材料與試驗團體標準委員會XXXX領域委員會（CSTM/FCXX）提出。

本文件由中國材料與試驗團體標準委員會XXXX領域委員會（CSTM/FCXX）或技術委員會

（CSTM/FCXX/TCXX）歸口。

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T/CSTMXXXXX—2022

引言

通信系統的工作環境復雜多變，覆銅板和印制電路微波參數會隨著環境的變化出現波動，特別是

隨著通信頻率的不斷提升，微波電路對板材微波參數的波動更為敏感，相關測試方法受到生產企業與使

用單位的廣泛關注。本標準適用于覆銅板和印制電路板高溫、低溫、溫度循環、濕度載荷下微波參數的

測試，其微波參數包括：傳輸損耗、特性阻抗、介電常數、介質損耗角正切值和無源互調測試PIM。對

比國內外現有標準情況，本標準改進優化的地方：a）該方法提出了覆銅板與印制電路板兩個層級的微

波參數在不同環境老化下測試方法，更為系統完整；b）提出傳輸損耗和特性阻抗環境載荷下的測試方

法，明確了環境載荷下在線測試系統搭載方法，操作步驟以及樣品在環境箱內穩定時間，填補了測試方

法的空白；c）提出基材無源互調測試PIM的測試方法，明確測試樣品需求，將現有標準覆蓋對象從無

源或微波元器件拓展到高頻基材。

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T/CSTMXXXXX—2022

高溫、低溫、溫度循環、濕度載荷下微波參數測試方法

重要提示（危險或警告或注意）：使用本文件的人員應有正規實驗室工作的實踐經驗。本文件并未

指出所有可能的安全問題。使用者有責任采取適當的安全和健康措施，并保證符合國家有關法規規定的

條件。

1范圍

本文件規定了覆銅板和印制電路板的高溫、低溫、溫度循環、濕度載荷下微波參數的測試方法。

本文件適用于覆銅板和印制電路板環境載荷下微波參數的測試，其微波參數包括：傳輸損耗、特性阻抗、

介電常數、介質損耗角正切值和無源互調PIM測試。

2規范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅

該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

GB/T2036印制電路術語和定義

GB/T2423.1-2008環境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

GB/T2423.2-2008環境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫

GB/T2423.3-2006電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗

GB/T2423.22-2012環境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化

T/CSTMXXXXX-202X高頻介質基板的介電常數和介質損耗角正切測試方法—帶狀線測試法

3術語和定義

GB/T2036界定的術語和定義適用于本文件。

下列術語和定義適用于本文件。

3.1

印制板printedboard

印制電路或印制線路成品板的通稱。它包括剛性、撓性和剛撓結合的單面、雙面和多層印制板等。

[來源：GB/T2036-1994，2.3]

3.2

基材basematerial

可在其上形成導電圖形的絕緣材料?；目梢允莿傂曰蛘邠闲缘?，也可以說是不覆金屬箔的或覆金屬箔

的。

[來源：GB/T2036-1994，3.1.1]

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T/CSTMXXXXX—2022

3.3

介電常數dielectricconstant

規定形狀電極之間填充電介質獲得的電容量與相同電極之間為真空時的電容量之比，常用εr,Dk表示。

[來源：GB/T2036-1994，6.3.6]

3.4

介質損耗角正切值dielectricdissipationfactor

對電介質施加正弦波電壓時，通過介質的電流相量超前于電壓相量間的相角的余角稱為損耗角，對該損

耗角取正切函數值為損耗因數，即為介質損耗角正切值，常用tanδ,Df表示。

[來源：GB/T2036-1994，6.3.7]

3.5

傳輸線transmissionline

由導線和絕緣材料組成，具有可控電氣特性的載送信號的電路，用于傳輸高頻信號或窄脈沖信號。

[來源：GB/T2036-1994，4.79]

3.6

特性阻抗characteristicimpedance

傳輸波中電壓與電流的比值，即在傳輸線的任一點對傳輸波產生的阻抗。在印制板中，特性阻抗值取決

于導線的寬度、導線離接地面的距離以及它們之間的介質的介電常數。

[來源：GB/T2036-1994，4.80]

3.7

傳輸損耗transmissionloss

傳輸損耗是輸出功率和輸入功率的比值，指在傳輸過程中因傳輸介質等因素引起的能力損失。

3.8

無源互調passiveintermodulation

無源互調是兩個或者多信號通過一個具有非線性特性的無源器件、電路傳輸時產生的交調產物。

4一般要求

4.1試驗條件

4.1.1正常試驗的標準大氣條件

除另有規定外，試驗應在下列條件下進行：

a)溫度：15℃~35℃；

b)相對濕度：25%~75%；

c)大氣壓力：試驗場所氣壓。

4.1.2仲裁試驗的標準大氣條件

如果測試參數依賴于溫度、濕度與氣壓，則試驗應在下列仲裁試驗的標準大氣條件下進行：

a)溫度：（23±2）℃；

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T/CSTMXXXXX—2022

b)相對濕度：45%~55%；

c)大氣壓力：86kPa~106kPa。

4.2試驗報告

除另有規定外，試驗報告應包括下列內容：

a)試樣的基本信息，例如：試樣名稱、型號規格、制造商、試樣數量、送樣單位等。

b)試驗條件信息，例如：環境條件、測試條件等。

c)試驗設備基本信息，例如：設備名稱、型號、編號等。

d)人員與日期信息：試驗日期、檢測人、復核人和批準人等。

e)試驗結果。

5環境試驗測試方法

5.1高溫試驗

高溫環境試驗應按GB/T2423.2-2008環境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫規定的方法進行。

5.2低溫試驗

低溫環境試驗應按GB/T2423.1-2008環境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫規定的方法進行。

5.3溫度循環試驗

溫度循環環境試驗應按GB/T2423.22-2012環境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化規定的方法

進行。

5.4濕熱試驗

濕熱環境試驗應按GB/T2423.3-2016電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試

驗規定的方法進行。

6傳輸損耗

6.1目的

本方法用于測量印刷電路板在不同環境載荷條件傳輸線的信號傳輸損耗和印制電路板在進行環境老化

試驗后傳輸線信號傳輸損耗性能的變化。

6.2試樣

測試試樣包含兩條或多條傳輸線。這些傳輸線測試結構可以放置在印刷電路板的功能區域內或測試試樣

內。建議樣品標有標簽，其中包含有關相關測試線信號層的信息；例如，L1、L3等。差分導體的接觸焊盤的

標簽應清楚地標明匹配的對。建議測試試樣包括印制板序列號、部件號和日期代碼。

6.3儀器設備

本試驗所需適用于規定程序的儀器和材料如下：

a)網絡分析儀；

b)校準件；

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T/CSTMXXXXX—2022

c)高溫箱；

d)環境試驗箱（高溫試驗箱，低溫試驗箱，高低溫試驗箱，高低溫濕熱試驗箱，快速溫度變化試驗箱）；

e)傳輸線纜；

f)連接器或測試探頭。

備注：其中電纜和連接器或測試探頭的性能（如：最高測試頻率、工作溫度）要覆蓋測試要求。

6.4測試環境條件

本試驗測試環境條件為溫度：23℃±2℃，濕度：50%±5%，試驗時環境溫度的波動不應超過1℃。

6.5程序

6.5.1傳輸損耗的環境老化影響

6.5.1.1網絡分析儀設置

開啟儀器預熱30min，使其達到穩定。設置測試頻段，掃描點數，中頻帶寬。連接測試電纜，進行校準。

6.5.1.2初始值測量

本方法初始值測量程序如下：

a)樣品前處理，將試樣應置于105℃﹢5℃/-2℃高溫干燥箱中烘干處理2h＋10min/-0min。

注：烘烤時間可根據樣品厚度和大小等，與應用單位協商確定。

b)測試前將測試試樣放置在測試環境內冷卻至室溫30分鐘。

c)測試樣品安裝連接器。

d)測試樣品的傳輸損耗，并記錄TL0。

6.5.1.3環境老化試驗

參考第5節環境試驗測試方法要求進行。

6.5.1.4環境老化試驗后的傳輸損耗

環境老化試驗后傳輸損耗的測量有以下兩種方法：

方法A：

a)樣品完成環境老化試驗后出箱，將試樣應置于105℃﹢5℃/-2℃高溫干燥箱中烘干處理2h＋

10min/-0min。

注：烘烤時間可根據樣品厚度和大小等，與應用單位協商確定。

b)測試前將測試試樣放置在測試環境內冷卻至室溫30min。

c)測試樣品安裝連接器。

d)測試樣品的傳輸損耗，并記錄TL1。

備注：高溫老化試驗不需再將樣品放置于105℃﹢5℃/-2℃高溫干燥箱內烘烤。

方法B：

a)樣品完成環境老化試驗后立即出箱。

b)放置在測試環境內冷卻至室溫，30min內完成測試。

c)測試樣品安裝連接器。

d)測試樣品的傳輸損耗，并記錄TL1。

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T/CSTMXXXXX—2022

6.5.1.5結果計算

按式1計算樣品的傳輸損耗變化率：

=×100………….（1）

??1???0

：傳輸損耗變化率，單位為%；ξ??0

：傳輸損耗初始值，單位為dB；

ξ

：環境試驗后傳輸損耗測量值，單位為dB。

??0

1

6.5.2??環境載荷下傳輸損耗測試

6.5.2.1測試系統設置

環境試驗載荷測試系統設置如圖1所示。

圖1環境試驗載荷測試系統設置

6.5.2.2網絡分析儀設置

開啟儀器預熱30min，使其達到穩定。設置測試頻段，掃描點數，中頻帶寬。連接測試電纜，進行校準。

6.5.2.3傳輸損耗測試

6.5.2.3.1高/低溫載荷下傳輸損耗測試

本方法測量程序如下：

a)樣品前處理，將試樣應置于105℃﹢5℃/-2℃高溫干燥箱中烘干處理2h＋10min/-0min。測試前將測試

試樣放置在測試環境內冷卻至室溫30min。

注：烘烤時間可根據樣品厚度和大小等，與應用單位協商確定。

b)測試樣品安裝連接器。

c)按照圖1安裝樣品，將線纜端穿過環境試驗箱的通道，連接到環境試驗箱的測試樣品。確保線纜穿

過環境試驗箱后用耐熱材料密封通道。

注：應使用耐高溫線纜。

d)將試驗箱設置為目標測試溫度。

e)當溫度達到設定溫度值后，溫度穩定至少20min，以確保測試樣品達到環境溫度。

注：溫度穩定時間可根據樣品厚度和大小等，與應用單位協商確定。

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T/CSTMXXXXX—2022

f)測量樣品傳輸損耗并記錄數據。

g)進入下一個溫度設置，重復步驟d）~f）直到記錄所有設置的結果。

注：低溫測試時，如需調整測試樣品，需將試驗箱溫度設置達到常溫再進行樣品調整。

6.5.2.3.2溫循載荷下傳輸損耗測試

本方法測量程序如下：

a)同6.5.2.3.1中a)~c)。

b)設置溫循箱程序，測量樣品初始狀態的傳輸損耗并記錄數據。

c)第一次和最后一次達到循環溫度時，在穩定時間的30%~70%的時間段內測試樣的傳輸損耗并記錄

數據。

6.5.2.3.3濕熱載荷下傳輸損耗測試

本方法測量程序如下：

a)同6.5.2.3.1中a)~c)。

b)設置環境試驗箱溫濕度。

c)當環境穩定達到設定條件后，穩定至少20min，以確保測試樣品達到環境溫度。

注：溫度穩定時間可根據樣品厚度和大小等，與應用單位協商確定。

d)測量樣品傳輸損耗并記錄數據。

6.6試驗報告

除4.2的規定外，試驗報告還應包括：

a)測試頻率；

b)預處理條件；

c)環境老化條件；

d)測試結果和傳輸損耗曲線圖。

7特性阻抗

7.1目的

本方法用于測量由印刷電路板在不同溫度下與環境試驗老化后傳輸線的特性阻抗。

7.2試樣

測試試樣包含兩條或多條傳輸線。這些傳輸線測試結構可以放置在印刷電路板的功能區域內或測試試樣

內。建議樣品標有標簽，其中包含有關相關測試線信號層的信息；例如，L1、L3等。差分導體的接觸焊盤的

標簽應清楚地標明匹配的對。建議測試試樣包括印制板序列號、部件號和日期代碼。

7.3儀器設備

本試驗所需適用于規定程序的儀器和材料如下：

a）TDR時域反射儀或者帶有TDR模塊的網絡分析儀；

b）校準件；

c）高溫箱；

d）環境試驗箱（高溫試驗箱，低溫試驗箱，高低溫試驗箱，高低溫濕熱試驗箱，快速溫度變化試驗箱）；

e）線纜；

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T/CSTMXXXXX—2022

f）連接器或測試探頭。

其中線纜和連接器或測試探頭的性能（如：最高測試頻率、工作溫度）要覆蓋測試要求。

7.4測試環境條件

本試驗測試環境條件為溫度：23℃±2℃，濕度：50%±5%，試驗時環境溫度的波動不應超過1℃。

7.5程序

7.5.1特性阻抗的環境老化影響

7.5.1.1網絡分析儀設置

開啟儀器預熱30min，使其達到穩定。設置測試頻段，掃描點數，中頻帶寬。連接測試電纜，進行校準。

7.5.1.2初始值測量

本方法初始值測量程序如下：

a)樣品前處理，將試樣應置于105℃﹢5℃/-2℃高溫干燥箱中烘干處理2h＋10min/-0min。

注：烘烤時間可根據樣品厚度和大小等，與應用單位協商確定。

b)測試前將測試試樣放置在測試環境內冷卻至室溫30min。

c)測試樣品安裝連接器，若使用手持探頭測試則可以直接進行測試。

d)將探頭置于空氣中測量測試探頭的TDR波形，建立測試區域起點。

e)將探頭連接到被測樣品，測量被測樣品的TDR波形，將終點光標放置于被測樣品波形的末端作為測

試區域的終點。

f)數據處理，對測試區域內所得曲線設置取值范圍（30%~70%、50%~70%或供需雙方協商確定），讀

取該范圍內的平均值，該值為傳輸線的阻抗值，記錄傳輸線阻抗值Ztran0。

g)多條特性阻抗測試，重復步驟d）~f）。

7.5.1.3環境老化試驗

參考第5節環境試驗測試方法要求進行。

7.5.1.4環境老化試驗后的特性阻抗

環境老化試驗后特性阻抗的測量有以下兩種方法：

方法A：

a)樣品完成環境老化試驗后出箱，將試樣應置于105℃﹢5℃/-2℃高溫干燥箱中烘干處理2h＋

10min/-0min。

注：烘烤時間可根據樣品厚度和大小等，與應用單位協商確定。

b)同7.5.1.2中b)~e)。

c)數據處理，對測試區域內所得曲線設置取值范圍（30%~70%、50%~70%或供需雙方協商確定），讀

取該范圍內的平均值，該值為傳輸線的阻抗值，記錄傳輸線阻抗值Ztran1。

d)多條特性阻抗測試，重復步驟d）~f）。

注：高溫老化試驗不需再將樣品放置于105℃﹢5℃/-2℃高溫干燥箱內烘烤。

方法B：

a)樣品完成環境老化試驗后立即出箱。

b)放置在測試環境內冷卻至室溫，30min內完成測試。

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T/CSTMXXXXX—2022

c)重復方法A步驟c）~e)。

7.5.1.5結果計算

按式2計算樣品的特性阻抗變化率：

=×100………….（2）

′?????1??????0

：特性阻抗變化率，單位為%；ξ?????0

′：特性阻抗初始值，單位為Ω；

ξ

：環境試驗后特性阻抗測量值，單位為Ω。

?????0

????1

7.5.2?環境載荷下特性阻抗測試

7.5.2.1測試系統設置

測量特性阻抗的溫度影響，需要在環境箱內進行測試，因此測試樣品不能用手持探針測試，只能使用連

接器安裝在測試樣品上的形式。

測試系統參考6.5.2.1。

7.5.2.2特性阻抗測試

7.5.2.2.1高/低溫載荷下傳輸損耗測試

本方法測量程序如下：

a)樣品前處理，將試樣應置于105℃﹢5℃/-2℃高溫干燥箱中烘干處理2h＋10min/-0min。測試前將測

試試樣放置在測試環境內冷卻至室溫30min。

注：烘烤時間可根據樣品厚度和大小等，與應用單位協商確定。

b)測試樣品安裝連接器。

c)按照圖1安裝樣品，將電纜端穿過環境試驗箱的通道，連接到環境試驗箱的測試樣品。確保電纜穿

過環境試驗箱后用耐熱材料密封通道。

注：應使用耐高溫電纜。

d)將探頭置于空氣中測量測試探頭的TDR波形，建立測試區域起點。

e)將試驗箱設置為目標測試溫度。

f)將探頭連接到被測樣品，測量被測樣品的TDR波形，將終點光標放置于被測樣品波形的末端作為測

試區域的終點。

g)當溫度達到設定溫度值后，溫度穩定至少20min，以確保測試樣品達到環境溫度。

注：溫度穩定時間可根據樣品厚度和大小等，與應用單位協商確定。

h)測量被測樣品的TDR波形，數據處理，對測試區域內所得曲線設置取值范圍（30%~70%、50%~70%

或供需雙方協商確定），讀取該范圍內的平均值，該值為傳輸線的特性阻抗值，記錄傳輸線阻抗值。

i)進入下一個溫度設置，重復步驟e）~h），直到記錄所有設置的結果。

注：低溫測試時，如需調整測試樣品，需將試驗箱溫度設置達到常溫再進行樣品調整。

7.5.2.2.2溫循載荷下傳輸損耗測試

本方法測量程序如下：

a)同7.5.2.2.1中a)~d)。

b)設置溫循箱程序，將探頭連接到被測樣品，測量被測樣品的TDR波形，將終點光標放置于被測樣品

波形的末端作為測試區域的終點。測量樣品初始狀態的特性阻抗曲線并記錄數據。

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T/CSTMXXXXX—2022

c)當第一次和最后一次達到循環溫度時，在穩定時間的30%~70%的時間段內測試樣的特性阻抗曲線

并記錄。

d)數據處理，對測試區域內所得曲線設置取值范圍（30%~70%、50%~70%或供需雙方協商確定），

讀取該范圍內的平均值，該值為傳輸線的特性阻抗值，記錄傳輸線阻抗值。

7.5.2.2.3濕熱載荷下傳輸損耗測試

本方法測量程序如下：

a)同7.5.2.2.1中a)~d)。

b)設置環境試驗箱溫濕度，將探頭連接到被測樣品，測量被測樣品的TDR波形，將終點光標放置于被

測樣品波形的末端作為測試區域的終點。測量樣品初始狀態的特性阻抗曲線并記錄數據。

c)當環境穩定達到設定溫度值后，穩定至少20min，測量被測樣品的TDR波形，以確保測試樣品達到

環境溫度。

注：穩定時間可根據樣品厚度和大小等，與應用單位協商確定。

d)數據處理，對測試區域內所得曲線設置取值范圍（30%~70%、50%~70%或供需雙方協商確定），

讀取該范圍內的平均值，該值為傳輸線的特性阻抗值，記錄傳輸線阻抗值。

7.6試驗報告

除4.2的規定外，試驗報告還應包括：

a)預處理條件；

b)環境老化條件；

c)測試結果。

8介電常數、損耗角正切值

8.1試樣

本方法規定的試樣如下：

a)距板邊大于20mm區域取樣，樣品數量為2塊/組，共3組（6塊），每塊試樣尺寸應當為50mm×30mm×b/2，

b/2為0.5mm~2mm，測試時以2塊試樣為一組；

b)每組試樣中兩塊試樣的長度、寬度和厚度的一致性應小于±0.02mm；

c)當試樣厚度小于要求時，可重疊適當數量的試樣，以滿足厚度的范圍要求，應保證層間壓合后沒有

空隙；

d)若基板為表面覆金屬箔，應當用蝕刻方法去除掉所有的金屬箔并清洗干凈。；

e)樣品應為均勻介質，表面應無不正常斑點，內部無不正常的雜質和氣孔，在測試前應嚴格清潔和干

燥處理。

8.2儀器設備

本試驗所需適用于規定程序的儀器和材料如下：

a)網絡分析儀（頻率覆蓋1GHz~40GHz）；

b)變溫帶狀線測試系統或等效測試系統；

c)數顯千分尺：分辨率0.001mm；

d)游標卡尺：分辨率0.01mm；

e)空氣循環式烘箱，溫度能保持在105℃。

+5

?2

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T/CSTMXXXXX—2022

8.3測試環境條件

本試驗測試環境條件為溫度：23℃±2℃，濕度：50%±5%，試驗時環境溫度的波動不應超過1℃。

8.4程序

8.4.1介電常數、損耗角正切值的環境老化影響

8.4.1.1網絡分析儀設置

網絡分析儀設備應在制造商推薦的校準周期內進行校準，測試前主機至少開機預熱30min，使儀器達到

穩定。

8.4.1.2初始值測量

初始值測量應按T/CSTMXXXXX-202X高頻介質基板的介電常數和介質損耗角正切測試方法—帶狀線

測試法第10節試驗步驟中10.1~10.5測試介電常數、損耗角正切值的初始值。

8.4.1.3環境老化試驗

參考第5節環境試驗測試方法要求進行。

8.4.1.4環境老化試驗后的介電常數、損耗角正切值

環境老化試驗后傳輸損耗的測量有以下兩種方法：

方法A：

a)樣品完成環境老化試驗后出箱，將試樣應置于105℃﹢5℃/-2℃高溫干燥箱中烘干處理2h＋

10min/-0min。

b)測試前將測試試樣放置在測試環境內冷卻至室溫30min。

c)按T/CSTMXXXXX-202X高頻介質基板的介電常數和介質損耗角正切測試方法—帶狀線測試法

第10節試驗步驟中10.4~10.5。

備注：高溫老化試驗不需再將樣品放置于105℃﹢5℃/-2℃高溫干燥箱內烘烤。

方法B：

a)樣品完成環境老化試驗后立即出箱。

b)放置在測試環境內冷卻至室溫，30min內完成測試。

c)按T/CSTMXXXXX-202X高頻介質基板的介電常數和介質損耗角正切測試方法—帶狀線測試法

第10節試驗步驟中10.4~10.5。

8.4.2介電常數、損耗角正切值的溫度影響

按T/CSTMXXXXX-202X高頻介質基板的介電常數和介質損耗角正切測試方法—帶狀線測試法第10

節試驗步驟中10.1~10.4、10.6~10.7測試介電常數、損耗角正切值的溫度影響。

8.5試驗報告

除4.2的規定外，試驗報告還應包括：

a)平均介電常數；

b)平均損耗角正切值；

c)試樣預處理條件；

14

T/CSTMXXXXX—2022

d)測定的環境條件；

e)試樣是否疊加與疊加情況。

9無源互調測試PIM

9.1目的

本方法用于測量基材的環境試驗老化后無源互調性能。

9.2試樣

帶有測試連接器的微帶線，如圖3所示。

試樣a）是不帶轉接頭的測試樣品，該測試樣品需要工程師自己將測試線纜焊接在測試樣品中對樣品進

行PIM測試。焊接在測試樣品上的焊點要求如下：1）焊點發亮，無分層，無拉尖，無間隙，焊點周圍不能

有錫珠、錫渣等氧化物；2）焊接過程中必須帶好手套或指套，防止測試樣品氧化；3）焊接完成后，可用酒

精對焊點進行清潔，保證焊點的清潔。

試樣b）帶有轉接頭的測試樣品，該測試樣品的轉接頭與樣品之間的連接要復合樣品a）的焊接要求。試

樣b）適合用于樣品的多次測量，試樣a）每次測試之前都需要對樣品進行焊接，每次焊接不能保證其焊接與

之前的焊接完全相對，在進行環境老化影響測試時，會帶入工程師每次焊接情況的誤差，使得測試結果的一

致性不能保證。

a）b）

圖3測試樣品

9.3儀器設備

本試驗所需適用于規定程序的儀器和材料如下：

a)信號源或者等效互調測試儀器；

b)頻譜分析儀；

c)濾波器；

d)合路分路設備；

e)低互調負載。

9.4測試環境條件

本試驗測試條件為溫度：23℃±2℃，濕度：50%±5%，試驗時環境溫度的波動不應超過1℃。

9.5測試系統

測試系統如圖4所示。

15

T/CSTMXXXXX—2022

圖4PIM測試系統

9.6程序

9.6.1PIM的環境老化影響

9.6.1.1初始值測量

本方法測量程序如下：

a)設置信號源輸出頻率和功率。

b)PIM測試線纜和負載檢驗，保證測試線纜和負載測試結果≤-120dBm。

c)連接測試樣品，測試樣品的PIM，P0。

9.6.1.2環境老化試驗

參考第5節環境試驗測試方法要求進行。

9.6.1.3環境老化試驗后的PIM

環境老化試驗后傳輸損耗的測量有以下兩種方法：

方法A：

a)樣品完成環境老化試驗后出箱，將試樣應置于105℃﹢5℃/-2℃高溫干燥箱中烘干處理2h＋

10min/-0min。

b)測試前將測試試樣放置在測試環境內冷卻至室溫30min。

c)設置信號源輸出頻率和功率。

d)連接測試樣品，測試樣品的PIM，P1。

方法B：

a)樣品完成環境老化試驗后立即出箱。

b)放置在測試環境內冷卻至室溫，30min內完成測試。

c)設置信號源輸出頻率和功率。

d)連接測試樣品，測試樣品的PIM，P1。

9.7試驗報告

除4.2的規定外，試驗報告還應包括：

16

T/CSTMXXXXX—2022

a)信號源輸出頻率和功率；

b)預處理條件；

c)環境老化條件；

d)測試結果。

17

T/CSTMXXXXX—2022

附錄A

（資料性）

起草單位和主要起草人

本文件起草單位：工業和信息化部電子第五研究所、

本文件主要起草人：XXXXX

18

T/CSTMXXXXX—2022

參考文獻

[1]ISOXXXXXXXX

[2]GB/TXXXXXXXXXX

[3]XXXXX

_________________________________

19

T/CSTMXXXXX—2022

目次

前言..................................................................................................................................................................3

引言..................................................................................................................................................................4

1范圍..................................................................................................................................................................5

2規范性引用文件..............................................................................................................................................5

3術語和定義......................................................................................................................................................5

4一般要求..........................................................................................................................................................6

4.1試驗條件...................................................................................................................................................6

4.2試驗報告...................................................................................................................................................7

5環境測試方法..................................................................................................................................................7

5.1高溫試驗...................................................................................................................................................7

5.2低溫試驗...................................................................................................................................................7

5.3溫度循環試驗...........................................................................................................................................7

5.4濕熱試驗...................................................................................................................................................7

6傳輸損耗..........................................................................................................................................................7

6.1目的...........................................................................................................................................................7

6.2試樣...........................................................................................................................................................7

6.3儀器設備...................................................................................................................................................7

6.4測試環境條件...........................................................................................................................................8

6.5程序...........................................................................................................................................................8

6.6試驗報告.................................................................................................................................................10

7特性阻抗........................................................................................................................................................10

7.1目的.........................................................................................................................................................10

7.2試樣.........................................................................................................................................................10

7.3儀器設備.................................................................................................................................................10

7.4測試環境條件..........................................................................................................................................11

7.5程序..........................................................................................................................................................11

7.6試驗報告.................................................................................................................................................13

8介電常數、損耗角正切值............................................................................................................................13

8.1試樣.........................................................................................................................................................13

8.2儀器設備.................................................................................................................................................13

8.3測試環境條件.........................................................................................................................................14

8.4程序.........................................................................................................................................................14

8.5試驗報告.................................................................................................................................................14

9無源互調測試PIM........................................................................................................................................15

9.1目的.........................................................................................................................................................15

9.2試樣.........................................................................................................................................................15

9.3儀器設備.................................................................................................................................................15

9.4測試環境條件.........................................................................................................................................15

9.5測試系統.................................................................................................................................................15

9.6程序.........................................................................................................................................................16

1

T/CSTMXXXXX—2022

9.7試驗報告.................................................................................................................................................16

附錄A（資料性）起草單位和主要起草人...................................................................................................18

2

T/CSTMXXXXX—2022

高溫、低溫、溫度循環、濕度載荷下微波參數測試方法

重要提示（危險或警告或注意）：使用本文件的人員應有正規實驗室工作的實踐經驗。本文件并未

指出所有可能的安全問題。使用者有責任采取適當的安全和健康措施，并保證符合國家有關法規規定的

條件。

1范圍

本文件規定了覆銅板和印制電路板的高溫、低溫、溫度循環、濕度載荷下微波參數的測試方法。

本文件適用于覆銅板和印制電路板環境載荷下微波參數的測試，其微波參數包括：傳輸損耗、特性阻抗、

介電常數、介質損耗角正切值和無源互調PIM測試。

2規范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅

該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

GB/T2036印制電路術語和定義

GB/T2423.1-2008環境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

GB/T2423.2-2008環境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫

GB/T2423.3-2006電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗

GB/T2423.22-2012環境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化

T/CSTMXXXXX-202X高頻介質基板的介電常數和介質損