GB/T31838.6—2021/IEC62631-2-國家市場監(jiān)督管理總局國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會 I 2規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 1 25試驗(yàn)程序 9 7重復(fù)性和再現(xiàn)性 I——GB/T10580—2015固體絕緣材料在試驗(yàn)前和試驗(yàn)時采用的標(biāo)準(zhǔn)條件(IEC60212:2010,Ⅱ -—第3部分：電阻特性(DC方法)表面電阻和表面電阻率。提出測定固體絕緣材料表面電阻——第5部分：電阻特性(DC方法)浸漬1GB/T31838.6—2021/IEC62631-2-1:2018本文件描述了0.1Hz～100MHz頻率范圍內(nèi)測定固體絕緣材料介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)特性的下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不IEC60212固體絕緣材料在試驗(yàn)前和試驗(yàn)時采用的標(biāo)準(zhǔn)條件(StandardconditionsforusepriortoandduringthetestingofsolidelecISO4593塑料薄膜和薄板機(jī)械掃描測定厚度(Plastics—Filmandsheeting—Determinationofthicknessbymechanicalscanning)2損耗角正切值losstangentC測量電極measuringelectrodes貼附于材料表面的或者埋入材料內(nèi)部的導(dǎo)體，與之接觸以測量材料的介電或電阻特性。4試驗(yàn)方法4.1通用原理E=eo×er (1)Eo=8.854187817×10-12F/m (2)在實(shí)際工程中，通常用相對介電常數(shù)表示介電常數(shù)。絕緣材料的相對介電常數(shù)ε,是電容性試樣在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下，不含二氧化碳的干燥空氣的相對介電常數(shù)e,等于1.00053。因此在實(shí)踐中，空3GB/T31838.6—2021/IEC62631-2-E,=e',—je,"=e,×e-………(4)U——施加的電壓；I——產(chǎn)生的電流；圖1介質(zhì)損耗因數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)tano(損耗角正切值)是復(fù)介電常數(shù)虛部與實(shí)部的比值，如公式(5)所示：Cp——并聯(lián)電路中的理想電容器。因此，當(dāng)固體絕緣材料專門用作電容性試樣(電容器)時，絕緣材料的介質(zhì)損耗因數(shù)tan?是π/2弧4度減去施加電壓與產(chǎn)生電流的相位差φ所得角δ(介質(zhì)損耗角)的正切值(與圖1比較)。介質(zhì)損耗因數(shù)也可用等效電路圖表示，圖中使用理想電容器串聯(lián)或并聯(lián)電阻(見圖2)。此時，有公式(6)、公式(7)和公式(8)。電容C是導(dǎo)體和電介質(zhì)排列的特性，當(dāng)導(dǎo)體之間存在電勢差時，則允許存儲電荷。C是電荷量q與電位差U之比，按公式(9)計算。電容值總是正值。當(dāng)電荷以庫侖表示并且電勢這種通用方法描述一般測量的常見值。如果在本文件中描述了特定類型材料的方法，則應(yīng)使用特定的方法。測量介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)時應(yīng)仔細(xì)進(jìn)行，并考慮測量電路的電性能以及材料的特定電性能。本文件不描述測試儀器和方法的基本原理，相關(guān)資料見參考文獻(xiàn)。4.2電壓源電壓源應(yīng)提供穩(wěn)定的正弦電壓。在測量期間，電壓源的電壓值波動應(yīng)不超過±5%。電壓波形應(yīng)近似于正弦波，其正負(fù)峰值的幅度差小于2%。正弦形狀(峰值與r.m.s比值等于√2)的偏差應(yīng)在±5%范圍內(nèi)。為了在工作電場強(qiáng)度下進(jìn)行試驗(yàn)，可使用更高的電壓值，并應(yīng)在報告中記錄相關(guān)的電壓等級。測量設(shè)備宜能夠測量與預(yù)期材料特性一致的未知介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)，且測量系統(tǒng)的精度應(yīng)記錄在報告中。4.3.2試驗(yàn)方法選擇測量介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)的方法可分為如下三種：5GB/T31838.6—2021/IEC62631-2-很多商用儀器(阻抗分析儀或LCR測試儀)可用于測量。這些儀器將試樣的阻抗確定為測量的電大多數(shù)儀器允許使用給定頻率的串聯(lián)或并聯(lián)等效電路將阻抗表示為損耗電容(C,tanò或D)。本阻抗分析儀的精度取決于儀器本身的質(zhì)量，流和電壓正弦波的諧波和外部噪聲，例如在時域或頻域中的快速傅里葉變換(FFT)。根據(jù)從數(shù)字電流為達(dá)到介質(zhì)損耗因數(shù)tano不大于1×10-4精度的測量結(jié)果，A/D轉(zhuǎn)換器的分辨率宜不小于16位。6表面積A(單位為mm2)等于π/4乘以電極直徑d?與電極間隙g和的平方，見公式(10)。因子B是試樣間隙和厚度與介電常數(shù)之比的函數(shù)。公式(10)是假定相對介電常數(shù)e,趨近于無窮特別有用的特性。但在將導(dǎo)電涂料用作電極材料之前，應(yīng)確定涂料中的溶劑不會影響試樣的電性能。邊緣在不接觸液體的那一面宜斜切而成銳邊。圖4給出了液體電極示例。室溫下為液態(tài)的合金適合用7GB/T31838.6—2021/IEC62631-2-對于相對介電常數(shù)e,高達(dá)10的管狀試樣，最方便的電極是箔或液態(tài)金屬。對于相對介電常數(shù)e大于10的管狀試樣，應(yīng)使用熔敷金屬電極。對于陶瓷管，應(yīng)使用燒制電極8GB/T31838.6—2021/IEC62631-2-4.5試樣夠大，以使測量達(dá)到所要求的精度。厚度的選擇取決于試樣的制備方法以及不同點(diǎn)厚度的可能變化。材料描述見IEC60455和IEC60464系列材料描述見IEC60455系列9應(yīng)根據(jù)相關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)確定試樣的數(shù)量。若沒有可參考的標(biāo)準(zhǔn)或數(shù)據(jù)，至少應(yīng)準(zhǔn)備三個試樣進(jìn)行應(yīng)按照相關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對試樣進(jìn)行條件處理和預(yù)處理。若沒有可參考的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，則應(yīng)按照4.6特定材料程序特定材料的程序見材料規(guī)范。若存在特殊材料的特定程序，則應(yīng)使用該規(guī)5.1總體要求前，宜最少在5個點(diǎn)測量試樣厚度。試樣的厚度和電極尺寸的精度應(yīng)為±1%。應(yīng)根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，對試樣進(jìn)行條件處理和預(yù)處理。若沒有可參考的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，則應(yīng)按照IEC60212(標(biāo)準(zhǔn)條件B)的規(guī)定，在GB/T31838.6—2021/IEC62631-2-1:20(資料性)基本測量A.1環(huán)形保護(hù)電極有效面積的誤差以下以d?=25mm、50mm或100mm,w=1mm為例進(jìn)行說明。間隙和厚度的比可能引起測量誤差，特別是對于薄試樣。目前已獲得修正公式來解決該問題。對于標(biāo)準(zhǔn)幾何形狀，校正系數(shù)B如公式(A.3)所示。對于其他需要更高精度的情況，宜計算B。如試樣的尺寸與推薦尺寸不同，則采用邊緣修正系數(shù)計算(見圖A.1～圖A.3)。h/mm圖A.1當(dāng)ε,=1時，面積誤差(e%)隨厚度h變化的關(guān)系圖圖A.2當(dāng)ε,=0,面積誤差(e%)隨厚度h變化的關(guān)系圖h/mm邊緣效應(yīng)的校正流程，如圖A.4所示。Hf(w/h)hBf(w/h,H,P)BAf(d,B,w)AC注：E,的初始值可通過假設(shè)B=1或使用基于預(yù)知的估計來確定。A.3確定H并計算B圖A.5顯示了系數(shù)H與間隙w和厚H圖A.5H與間隙w和厚度h的關(guān)系w——電極間隙：e,——相對介電常數(shù)；H——已確定的系數(shù)；[1]ISO291Plastics—Standard[2]ISO294-1Plastics—Injectionmouldingoftestspecimensofthermoplasticmaterials—Part1:Generalprinciples,andmou[3]ISO294-3Plastics—Injectionmouldingoftestspecimensofthermoplasticmaterials—Part[4]ISO295Plastics—Compressionmouldingoftestspecimensofthermosettingmaterialsandstripofcorrosionresistingst[7]IEC60050-121:1998Internationalingproceduresandevaluationoft[9]IEC60216-4-1:2006Electric[10]IEC60247Insulatingliquids—Measurementofrelativepermittivity,dieletionfactor(tand)andd.c.resistivi[11]IEC60250:1969Recommendedmethodsforthedeterminationoftlectricdissipationfactorofelectricalinsulati[12]IEC60455(所有部分)Resinbasedreactivecompoundsusedforelectricalinsulation[13]IEC60464(所有部分)Varnishesusedforelectricalins[14]IEC60505Evaluat[15]IEC61212(所有部分)Insulatingmaterials—Industrialrigidroundlaminatedtubesandrodsbasedonthermose[16]IEC62631-1Dielectricandresistiveproperties[17]ScheringH.Bridgeforlossmeasurement(inGerman).T?tiTechnischenReichsanstalt,Braunschweig,Germany,1919.[18]WagnerKW.ZurMessungdielektrischerVerlustemitdersurementofdielectriclosseswiththea.c.bridge).ElektrotechnischeZeitscp.1001.[20]Poleck,H.;Measuringroundedtestobjects(inGerman);ArchivfürTechnischesMessen,921-951,1939[21]SeitzP.,OsvathP.Microcomputercontrolledtlanpaper43.11,1979.[22]KaulG.,PlathR.,KalknerW.Developmentofacomputerizedlossfactormeasurementsys-tem,including0.1Hzand50/60Hz.8thInkohama,Japan,paper56.04,1993.lectrics,ElectricalInsulationLiquids,V[24]HydeP.F.Widefrequen[25]MuhrM.,KnollseisenG.SchwarzR.SumerederC.Comparisonofme[26]PütterM.,Krüger,M.,KochM.,HulkaL.LaboratoryandformerInsulationswithDifferentDissipationFactoham,UK2009,pp.20-26.[27]BartnikasR.EngineeringDielectrics,VolumeIIMaterials:MeasuringTechniques.ASTMLibraryPCN04-92600[28]LisowskiM.andSkopecA.EffectiveA