材料研究方法智慧樹知到期末考試答案+章節(jié)答案2024年西安工業(yè)大學(xué)除了金剛石砂紙，硬度最高的就是碳化硅砂紙（）

答案:對(duì)面心立方晶體能發(fā)生衍射的晶面的指數(shù)平方和之比為3:4:8:11…()

答案:對(duì)透射電子顯微鏡的分辨率取決于()

答案:物鏡顯微鏡的有效放大倍數(shù)和下列哪些因素有關(guān)（

）

答案:人眼的分辨率;孔徑半角;物鏡的分辨率;光的傳播介質(zhì)在電鏡操作過程中，主要是利用（

）來控制總放大倍數(shù)

答案:中間鏡掃描速度愈大，XRD圖譜愈顯平滑整齊，但滯后也愈嚴(yán)重()

答案:對(duì)精確滿足布拉格條件的晶面不一定會(huì)衍射()

答案:對(duì)衍射角是指（

）

答案:2θ要提高顯微鏡的分辨率，可以考慮（

）

答案:采用高折射率介質(zhì);增大透鏡尺寸;縮短透鏡與樣品距離X射線物相分析可分析的物相包括（）

答案:固溶體;玻璃態(tài);化合物;純?cè)氐掳菹嗌贤ǔ５徒蔷€條較細(xì)而明銳，高角線條寬而散()

答案:對(duì)光學(xué)顯微鏡具有（

）放大功能

答案:二級(jí)X射線管的工作電壓一般是()

答案:幾十千伏要標(biāo)定一幅單晶體電子衍射花樣，前提是知道相機(jī)常數(shù)和晶體類型()

答案:錯(cuò)當(dāng)晶面間距（

）時(shí)，才可以參與衍射

答案:大于半波長電磁透鏡的焦長是指()

答案:像平面允許的軸向偏差物質(zhì)的質(zhì)量吸收系數(shù)隨其密度的變化而變化（）

答案:錯(cuò)()質(zhì)量吸收系數(shù)越大

答案:物質(zhì)的原子序數(shù)越大;X射線的波長越長對(duì)工業(yè)純鐵進(jìn)行多晶體衍射實(shí)驗(yàn)時(shí)，不可能發(fā)生衍射的晶面是()

答案:111選區(qū)光闌是選擇樣品上的一個(gè)微區(qū)進(jìn)行分析，所以必須安裝在樣品附近()

答案:錯(cuò)成分均勻的單相材料拋光后不腐蝕也可以觀察（）

答案:錯(cuò)透射電鏡一般都采用雙聚光鏡系統(tǒng)()

答案:對(duì)掃描電鏡中分辨率最高的成像信號(hào)是()

答案:二次電子當(dāng)采用短波X射線照射時(shí)，能發(fā)生衍射的晶面將()

答案:增多二次電子像襯度最亮的區(qū)域是()

答案:法線和電子束成60o的表面透射電鏡常用的樣品有()

答案:粉末樣品;復(fù)型樣品;薄膜樣品不能采用熱鑲嵌的材料是（

）

答案:淬火組織下列質(zhì)量吸收系數(shù)最大的是（）

答案:W愛瓦爾德球圖解法是布拉格方程的幾何表達(dá)形式()

答案:對(duì)對(duì)純Cu進(jìn)行多晶體衍射實(shí)驗(yàn)時(shí)，下列能發(fā)生衍射的晶面是()

答案:331采用θ-2θ聯(lián)動(dòng)進(jìn)行連續(xù)掃描時(shí)，探測器的轉(zhuǎn)速與試樣的轉(zhuǎn)速關(guān)系是（）

答案:2:1拋光鋁合金應(yīng)該選用氧化鎂懸浮液（）

答案:對(duì)由于電磁透鏡的中心區(qū)域和邊緣區(qū)域?qū)﹄娮拥恼凵淠芰Σ环项A(yù)定的規(guī)律而造成的像差稱為()

答案:球差油鏡的最大數(shù)值孔徑一般都比較大，主要是因?yàn)榭讖浇谴蟮木壒剩ǎ?/p>

答案:錯(cuò)測定晶格常數(shù)時(shí)，誤差主要來自（）

答案:衍射角電磁透鏡的景深是指()

答案:物平面允許的軸向偏差一般情況下，工業(yè)純鐵的（110）衍射峰強(qiáng)度比（200）的強(qiáng)度()

答案:大倒易矢量和正空間中的晶面是一一對(duì)應(yīng)關(guān)系()

答案:對(duì)相機(jī)常數(shù)就是相機(jī)長度和波長的乘積()

答案:對(duì)通過手工研磨來進(jìn)行預(yù)先減薄時(shí)，要求將樣品減薄到幾十個(gè)納米厚度()

答案:錯(cuò)拍攝德拜相時(shí)，底片采用正裝法精度高，適用于點(diǎn)陣參數(shù)測定()

答案:錯(cuò)金相顯微鏡是靠反射光的強(qiáng)弱(即振幅大小)來鑒別金相組織的（）

答案:對(duì)離子減薄制備的樣品薄區(qū)大、制樣效率高，適合批量制樣()

答案:錯(cuò)在XRD上檢測無擇優(yōu)取向的面心立方多晶粉末樣品，前三個(gè)衍射峰是()

答案:111/200/220背散射電子的產(chǎn)額隨樣品原子序數(shù)增大而增多()

答案:對(duì)光學(xué)透鏡要能區(qū)分開兩個(gè)成像物點(diǎn)，則此兩物點(diǎn)形成的埃利斑之間的最小距離應(yīng)（

）

答案:大于埃利斑半徑在原子序數(shù)襯度像上，W和C之間的襯度遠(yuǎn)高于Cu和Ni的襯度()

答案:對(duì)XRD在連續(xù)掃描時(shí)，θ和2θ通常從低往高方向增大()

答案:對(duì)質(zhì)量吸收系數(shù)最大的物質(zhì)是()

答案:鉛塊二次電子對(duì)樣品表面元素的原子序數(shù)十分敏感，能有效地顯示表面微區(qū)的成分分布()

答案:錯(cuò)根據(jù)作圖法，凡是位于愛瓦爾德球（

）的倒易點(diǎn)，所代表的晶面都滿足布拉格條件

答案:球面上X射線晶體衍射依靠的是晶體對(duì)X射線的相干散射。（）

答案:對(duì)用來會(huì)聚電子束，使其以最小的損失照明樣品，調(diào)節(jié)照明強(qiáng)度、孔徑角和束斑大小的電磁透鏡是()

答案:聚光鏡在入射線照射到試樣表面的大量晶粒中，只有平行于樣品表面的晶面的衍射線才能被接收到()

答案:對(duì)取樣后，對(duì)金相磨面方向沒有要求的材料是（

）

答案:經(jīng)均勻化退火后的大型工件只有間距（

）X射線半波長的晶面才能發(fā)生衍射

答案:大于等于在透射電鏡的操作過程中，把中間鏡的物平面和物鏡的后焦面重合，就是衍射操作()

答案:對(duì)對(duì)形狀復(fù)雜的零件進(jìn)行拋光，應(yīng)該選擇（）

答案:化學(xué)拋光簡單立方晶體中晶面間距大于X射線半波長的晶面只要符合布拉格條件就可以發(fā)生衍射()

答案:對(duì)面心立方點(diǎn)陣不消光的面指數(shù)平方和之比是3：4：8：11：12：16：19：20：24…()

答案:對(duì)能影響短波限位置的因素是()

答案:管電壓觀察淬火馬氏體時(shí)可以用冷鑲嵌、也可用熱鑲嵌的方法來制備樣品（）

答案:錯(cuò)BCC晶體

[011]晶帶的零層倒易面中，距離中心斑點(diǎn)最近的斑點(diǎn)是()

答案:影響掃描電鏡分辨率的因素有()

答案:檢測信號(hào)的類型;電子束的束斑大小;微區(qū)的原子序數(shù)場發(fā)射電子槍中，效果最好的是()

答案:冷場時(shí)間常數(shù)越小，掃描越精確，弱峰越容易識(shí)別()

答案:錯(cuò)由于透鏡的中心區(qū)域和邊緣區(qū)域?qū)獾恼凵淠芰Σ环项A(yù)定規(guī)律而造成的圖像模糊現(xiàn)象稱為球面像差（）

答案:對(duì)()X射線的強(qiáng)度越高

答案:管電流越大;管電壓越高;陽極靶材原子序數(shù)越大機(jī)械拋光、化學(xué)拋光和電解拋光中，拋光質(zhì)量最劣的是化學(xué)拋光（）

答案:對(duì)早期電鏡中電子槍使用LaB6燈絲，其性能遠(yuǎn)不如目前的鎢燈絲()

答案:錯(cuò)PDF卡片上的I/Icor或I/Ic（RIR）是指（）

答案:參比強(qiáng)度X射線衍射結(jié)果只能證明檢測樣品中有什么，不能說明沒有什么()

答案:對(duì)晶體中各電子受X射線照射所產(chǎn)生的相干散射線相互干涉的總結(jié)果稱為()

答案:衍射原子對(duì)X-ray的散射能力遠(yuǎn)高于對(duì)電子的散射()

答案:錯(cuò)下列適于吸收X射線的物質(zhì)是（）

答案:Pb標(biāo)準(zhǔn)電子衍射花樣其實(shí)就是零層倒易截面的比例像()

答案:對(duì)掃描電鏡中，照射到樣品上的電子束斑直徑越小，就相當(dāng)于成像單元的尺寸越小，相應(yīng)的分辨率就越高()

答案:對(duì)暗場像襯度高，適合觀察材料的基體（）

答案:錯(cuò)二次電子成像只能分析幾何差異很大的斷口形貌()

答案:錯(cuò)由于樣品中不同位向晶體的衍射條件不同形成襯度差別叫()

答案:衍射襯度由于近軸光線和遠(yuǎn)軸光線的折射程度不同，導(dǎo)致平面物體經(jīng)透鏡后形成曲面狀的像稱為（

）

答案:像場彎曲只有間距大于或等于X射線半波長的晶面面才有可能反射X射線()

答案:對(duì)顯微鏡的分辨率是由物鏡的分辨率決定的（）

答案:對(duì)掃描電鏡不用電磁透鏡放大成像()

答案:對(duì)只有間距大于或等于半波長的晶面才能發(fā)生衍射()

答案:對(duì)有效放大倍數(shù)和數(shù)值孔徑成正比（）

答案:對(duì)根據(jù)衍射效應(yīng)規(guī)定：顯微鏡分辨率的一半等于照明光源的波長（）

答案:錯(cuò)在入射電子束作用下被轟擊出來并離開樣品表面的樣品原子的核外電子叫做背散射電子()

答案:錯(cuò)解決球差常用的方法是（

）

答案:用近軸光線成像;用非球面透鏡;用球面透鏡組合矯正利用二次電子的產(chǎn)額來形成圖像襯度，反映微區(qū)成分的方法，稱為二次電子成像()

答案:錯(cuò)透鏡像平面允許的軸向偏差定義為透鏡的景深()

答案:錯(cuò)鑒別物相的標(biāo)志有()

答案:衍射線條的強(qiáng)度;衍射線條的數(shù)目;衍射線條的位置讓衍射束通過光闌而把透射束擋掉成像方式，叫做（

）成像

答案:暗場為了獲得精確的點(diǎn)陣參數(shù)，德拜相的底片不應(yīng)該（

）裝

答案:正要獲得完整X射線衍射圖譜，應(yīng)當(dāng)選擇的實(shí)驗(yàn)方式是（）

答案:連續(xù)掃描安檢機(jī)利用X射線穿透進(jìn)行工作，外圍輻射最大的地方是()

答案:箱包進(jìn)出口目前顯微斷口的分析工作大都是用（

）來完成的

答案:表面形貌襯度預(yù)先機(jī)械減薄薄膜樣品時(shí)，要求減薄至()

答案:幾十微米當(dāng)物鏡、中間鏡和投影鏡的放大倍數(shù)均為100倍時(shí)，總放大倍數(shù)為()

答案:1000000由于樣品中不同位向的晶體的衍射條件不同而造成的襯度差別稱為質(zhì)厚襯度()

答案:錯(cuò)掃描電子顯微鏡配備的成分分析附件中最常見的儀器是（）

答案:能譜儀下列成像儀器中，景深最大的是（）

答案:掃描電鏡波普儀和能譜儀進(jìn)行成分分析時(shí)，全都是以樣品的特征X射線為基礎(chǔ)（）

答案:對(duì)掃描電鏡的加速電壓越高，電子束在材料中的作用體積越小（）

答案:錯(cuò)僅反映固體樣品表面形貌信息的物理信號(hào)是（）

答案:二次電子在掃描電鏡中能被電子束激發(fā)出來用于成像的信號(hào)有（）

答案:背散射電子;二次電子;特征X射線;俄歇電子背散射電子像的分辨率沒有二次電子像的分辨率高（）

答案:對(duì)入射電子束的能量很高，甚至可以激發(fā)出樣品的特征X射線（）

答案:對(duì)被樣品原子核反彈回來的入射電子叫非彈性背散射電子（）

答案:錯(cuò)掃描電鏡中的電磁透鏡主要是起（

）作用

答案:聚光可用于表層成分的信號(hào)是

答案:背散射電子掃描電鏡具有大的景深，所以它可以用來進(jìn)行斷口形貌的觀察（）

答案:對(duì)掃描電鏡與透射電鏡的電子槍相似，只是加速電壓一般會(huì)更高（）

答案:錯(cuò)目前顯微斷口的分析工作大都是用（

）來完成的。

答案:表面形貌襯度僅反映固體樣品表面形貌信息的物理信號(hào)是

答案:二次電子二次電子能量較低，背散射電子能量很高（）

答案:對(duì)掃描電鏡中的透鏡有些是聚光鏡，有些是成像物鏡（）

答案:錯(cuò)掃描電鏡不用電磁透鏡放大成像，也不用電子束成像，而是利用電子束在樣品表面掃描時(shí)激發(fā)出來的各種物理信號(hào)來調(diào)制成像（）

答案:對(duì)掃描電子顯微鏡配備的成分分析附件中最常見的儀器是

答案:能譜儀二次電子像襯度最亮的區(qū)域是

答案:法線和電子束成60o的表面桿狀晶體反映到倒易空間是（）

答案:一定尺寸的倒易圓盤薄膜樣品一般預(yù)先減薄至（）

答案:幾十微米透射電鏡對(duì)照明光源的要求是（）

答案:可傾斜;孔徑角小;平行度好;亮度高;束流穩(wěn)定單晶體電子衍射花樣是（）

答案:規(guī)則排列的點(diǎn)陣像散是指（

）引起的圖像模糊不清的現(xiàn)象

答案:由透鏡磁場的非旋轉(zhuǎn)對(duì)稱透射電子顯微鏡中用磁場來使電子波聚焦成像的裝置是（）

答案:電磁透鏡在透射電鏡衍射操作時(shí)，要求中間鏡的物平面和（

）重合

答案:物鏡背焦面透射電鏡的成像系統(tǒng)主要包括（）

答案:中間鏡;物鏡;投影鏡電子衍射花樣的標(biāo)定結(jié)果不是唯一的（）

答案:對(duì)電子波的波長取決于（）

答案:電子運(yùn)動(dòng)速度;加速電壓;電子的質(zhì)量屬于[101]晶帶的晶面是（）

答案:透鏡物平面允許的軸向偏差稱為焦長（）

答案:錯(cuò)在透射電鏡的操作過程中，把中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合，就是成像操作（）

答案:對(duì)電鏡中物鏡的分辨率取決于極靴的形狀和加工精度（）

答案:對(duì)普通透射電鏡的電子槍主要是熱陰極和場發(fā)射兩類（）

答案:對(duì)晶帶軸垂直于零層倒易面上的任何一個(gè)矢量（）

答案:對(duì)要獲得單晶衍射花樣，首先要有單晶樣品（）

答案:錯(cuò)薄膜樣品在最終減薄時(shí)，最好使用減薄速度較快的離子減薄（）

答案:錯(cuò)電子束是物質(zhì)波，不是電磁波（

）

答案:對(duì)電磁透鏡的焦距和放大倍數(shù)是可變的（

）

答案:對(duì)110面的多重性因素是（）

答案:12對(duì)純Ag進(jìn)行多晶體衍射實(shí)驗(yàn)時(shí)，不可能發(fā)生衍射的晶面是（）

答案:110最常用的X射線衍射方法是（）

答案:粉末多晶法1912年的首次晶體衍射實(shí)驗(yàn)證明（）

答案:X射線是電磁波;原子的排列是周期性重復(fù)的;原子是真實(shí)存在的;空間點(diǎn)陣的假說是正確的X射線衍射儀與照相法的不同在于（）

答案:電離計(jì)數(shù)器記錄;發(fā)散光束;平板試樣;采用線焦斑X射線衍射儀用的是一束（

）的X射線

答案:發(fā)散在XRD上檢測無擇優(yōu)取向的體心立方多晶粉末樣品，前三個(gè)衍射峰是（）

答案:110/200/211X射線衍射時(shí)，首先出現(xiàn)的衍射峰必定是（

）的晶面

答案:低指數(shù)人們常使用鉛來隔離X射線，是應(yīng)為鉛（）

答案:原子序數(shù)大;價(jià)格便宜X射線光量子的能量（

）

答案:比可見光高進(jìn)行第一次晶體衍射實(shí)驗(yàn)的是（）

答案:勞厄X射線物相分析可以用來分析同素異構(gòu)體（）

答案:對(duì)有一倒易矢量g*=2a*+b*，與它對(duì)應(yīng)的正空間晶面是（）

答案:210在XRD上檢測無擇優(yōu)取向的面心立方多晶粉末樣品，第二個(gè)出現(xiàn)的衍射峰是（）

答案:200X射線與物質(zhì)相遇時(shí)，可以（）

答案:穿透物質(zhì);使熒光物質(zhì)發(fā)光;使氣體電離倒易基矢和同名正基矢點(diǎn)乘結(jié)果為（）

答案:1德拜相測算時(shí)，選用越高角度的線條誤差越大（）

答案:錯(cuò)特征譜的波長取決于X射線管的管電壓（）

答案:錯(cuò)X射線在晶面上的反射和可見光在鏡子上的反射從本質(zhì)上來講是一樣的（）

答案:錯(cuò)采用步進(jìn)掃描可較快的獲得一幅完整而連續(xù)的衍射圖（）

答案:錯(cuò)波長越大，愛瓦爾德球的半徑越小（）

答案:對(duì)X射線衍射應(yīng)用的是相干散射（）

答案:對(duì)X射線和可見光一樣都是電磁波（）

答案:對(duì)面心立方晶體能衍射的晶面依次是（110）、（200）、（211）（）

答案:錯(cuò)倒易球?qū)嶋H上就是很多和球心等距離的倒易點(diǎn)構(gòu)成的假象球面（）

答案:對(duì)簡單立方點(diǎn)陣不消光的面指數(shù)平方和之比是1：2：3：4：5：6：7：8：9…（）

答案:錯(cuò)能影響短波限位置的因素是

答案:管電壓試樣的原子序數(shù)越大，對(duì)X射線的吸收越少（）

答案:錯(cuò)物質(zhì)的線吸收系數(shù)是一個(gè)常量，反映物質(zhì)本身對(duì)X射線吸收特性（）

答案:錯(cuò)對(duì)衍射強(qiáng)度影響最大的是

答案:結(jié)構(gòu)因數(shù)采用短波X射線照射時(shí)，能參與反射的晶面將會(huì)減少（）

答案:錯(cuò)X射線衍射時(shí)，首先出現(xiàn)的衍射峰必定是（

）的晶面。

答案:低指數(shù)發(fā)現(xiàn)X射線的是

答案:倫琴X射線管的效率極低，一般僅有百分之幾（）

答案:對(duì)X射線是物理學(xué)家倫琴發(fā)現(xiàn)的（）

答案:對(duì)進(jìn)行第一次晶體衍射實(shí)驗(yàn)的是

答案:勞厄有效放大倍數(shù)和人眼的分辨能力無關(guān)（）

答案:錯(cuò)明場照明時(shí)光線損失很少（）

答案:錯(cuò)從衍射效應(yīng)來看，透鏡分辨的最小距離和數(shù)值孔徑成反比（）

答案:對(duì)只要是導(dǎo)電材料，都可以用電火花線切割切取樣品（）

答案:錯(cuò)