無損檢測(cè) 超聲檢測(cè) 2號(hào)校準(zhǔn)試塊 編制說明_第1頁
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《無損檢測(cè)超聲檢測(cè)2號(hào)校準(zhǔn)試塊》：（：（本標(biāo)準(zhǔn)為無損檢測(cè)通用基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)之一，遵循“面向市場(chǎng)、服務(wù)產(chǎn)業(yè)、自主制定、適時(shí)推出、及時(shí)修訂、不斷完善”的標(biāo)準(zhǔn)編制原則，對(duì)原標(biāo)準(zhǔn)的適用性進(jìn)行了完善，并及本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T19799.2—2012《無損檢測(cè)超聲檢測(cè)2號(hào)校準(zhǔn)試塊》，與GB/T）；CSPNiN±0.10mm±0.10mm短刻槽長(zhǎng)度：3±0.50mm長(zhǎng)刻槽長(zhǎng)度：6短角度標(biāo)識(shí)長(zhǎng)度：3±0.50mm短角度標(biāo)識(shí)長(zhǎng)度：6±0.10mm40°角度標(biāo)識(shí)到圓心刻度槽距離:16.8±0.50mm±0.10mm±0.1°≤1.6um±0.052)當(dāng)探頭置于試塊最大的表面時(shí)，應(yīng)調(diào)節(jié)超聲儀器增益，使晶粒散射噪聲電平達(dá)1)測(cè)定聲速的最大允許誤差率應(yīng)為±0.2%，即橫波聲速的誤差值為±6m/s，縱波c)直接從試塊上與探頭入射點(diǎn)重合的刻度值上讀出聲束角度，或當(dāng)探頭入射點(diǎn)與五、以國(guó)

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