基于掃描鏈和ATPG的IP核可測(cè)性設(shè)計(jì)及測(cè)試優(yōu)化研究基于掃描鏈和ATPG的IP核可測(cè)性設(shè)計(jì)及測(cè)試優(yōu)化研究

摘要：

IP（IntellectualProperty）核在現(xiàn)代集成電路設(shè)計(jì)中被廣泛應(yīng)用，它們的功能復(fù)雜，內(nèi)部結(jié)構(gòu)龐大，對(duì)于可測(cè)試性和測(cè)試的要求也越來(lái)越高。本文針對(duì)IP核的可測(cè)性設(shè)計(jì)和測(cè)試優(yōu)化進(jìn)行研究，通過(guò)引入掃描鏈和自動(dòng)測(cè)試生成技術(shù)（ATPG），提高IP核的可測(cè)試性和測(cè)試效率，減少測(cè)試開(kāi)銷(xiāo)，提高測(cè)試覆蓋率。

1.引言

近年來(lái)，集成電路設(shè)計(jì)中的IP核得到了廣泛應(yīng)用，以提高設(shè)計(jì)效率和降低開(kāi)發(fā)成本。隨著設(shè)計(jì)規(guī)模的不斷擴(kuò)大，IP核內(nèi)部結(jié)構(gòu)越來(lái)越復(fù)雜，如何保證其可測(cè)試性成為一個(gè)重要課題。傳統(tǒng)的測(cè)試方法已經(jīng)無(wú)法滿(mǎn)足對(duì)IP核的高要求，因此需要采用新的設(shè)計(jì)和測(cè)試方法。

2.IP核可測(cè)性設(shè)計(jì)

針對(duì)IP核的可測(cè)性設(shè)計(jì)，主要包括掃描鏈的設(shè)計(jì)和插入、內(nèi)部電路的結(jié)構(gòu)優(yōu)化以及設(shè)計(jì)規(guī)約的制定。掃描鏈?zhǔn)且环N用于測(cè)試的輔助電路，可以提取出IP核內(nèi)部所有信號(hào)的狀態(tài)，并將其輸出到測(cè)試控制器。通過(guò)插入掃描鏈，可以大大提高IP核的可測(cè)試性。此外，對(duì)IP核內(nèi)部電路進(jìn)行結(jié)構(gòu)優(yōu)化，如增加可測(cè)試點(diǎn)、減少不可測(cè)點(diǎn)等，也可以大幅提升可測(cè)試性。

3.ATPG技術(shù)在IP核測(cè)試中的應(yīng)用

自動(dòng)測(cè)試生成技術(shù)（ATPG）是另一種重要的測(cè)試方法，它基于IP核的設(shè)計(jì)規(guī)約和可測(cè)試性信息，自動(dòng)生成測(cè)試模式。ATPG技術(shù)通過(guò)分析IP核內(nèi)部電路結(jié)構(gòu)和測(cè)試要求，生成一套完善的測(cè)試模式，以覆蓋盡可能多的故障。ATPG技術(shù)可以提高測(cè)試效率和覆蓋率，減少測(cè)試開(kāi)銷(xiāo)。

4.IP核可測(cè)性設(shè)計(jì)和測(cè)試優(yōu)化策略

針對(duì)IP核的可測(cè)性設(shè)計(jì)和測(cè)試優(yōu)化，我們提出了以下策略：首先，對(duì)IP核的設(shè)計(jì)規(guī)約進(jìn)行全面考慮，制定詳盡的測(cè)試要求和目標(biāo)。其次，通過(guò)掃描鏈的插入和優(yōu)化，提高IP核的可測(cè)試性。再次，利用ATPG技術(shù)生成優(yōu)化的測(cè)試模式，以提高測(cè)試效率和覆蓋率。最后，結(jié)合實(shí)際測(cè)試情況，對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析和優(yōu)化，進(jìn)一步提升測(cè)試效果。

5.實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析

我們通過(guò)對(duì)幾個(gè)常見(jiàn)的IP核進(jìn)行測(cè)試，驗(yàn)證了所提出的可測(cè)性設(shè)計(jì)和測(cè)試優(yōu)化策略。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，引入掃描鏈和ATPG技術(shù)的方法可以顯著提高IP核的可測(cè)試性和測(cè)試效率。同時(shí)，通過(guò)分析和優(yōu)化測(cè)試數(shù)據(jù)，可以進(jìn)一步提高測(cè)試覆蓋率。

6.結(jié)論

本文研究了基于掃描鏈和ATPG技術(shù)的IP核可測(cè)性設(shè)計(jì)和測(cè)試優(yōu)化策略。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，所提出的方法可以有效提高IP核的可測(cè)試性和測(cè)試效率，減少測(cè)試開(kāi)銷(xiāo)，提高測(cè)試覆蓋率。未來(lái)，我們將進(jìn)一步研究和改進(jìn)IP核的可測(cè)性設(shè)計(jì)和測(cè)試優(yōu)化方法，以滿(mǎn)足不斷增長(zhǎng)的集成電路設(shè)計(jì)需求。

本文針對(duì)IP核的可測(cè)性設(shè)計(jì)和測(cè)試優(yōu)化問(wèn)題進(jìn)行了研究。通過(guò)引入掃描鏈和ATPG技術(shù)，我們提出了一系列策略來(lái)提高IP核的可測(cè)試性和測(cè)試效率。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，這些方法能夠顯著提高IP核的可測(cè)試性和測(cè)試效率，并且通過(guò)分析和優(yōu)化測(cè)試數(shù)據(jù)，還能進(jìn)一步提高測(cè)