1儀器分析第二章原子發射光譜法(AES)目前一頁\總數七十三頁\編于十二點2本章主要內容§2-1概述§2-2原子發射法基本原理§2-3原子發射光譜儀§2-4光譜定性及半定量分析§2-5光譜定量分析目前二頁\總數七十三頁\編于十二點3

原子發射光譜法：(AES—AtomicEmissionSpectrometry)

根據物質的氣態原子或離子受激發后，所發射的特征光譜的波長及其強度來測定物質中元素組成和含量的分析方法。§2-1

概述一、原子發射光譜定義目前三頁\總數七十三頁\編于十二點4二、原子發射光譜分析的基本過程

在激發光源中將被測物質蒸發、解離、激發。由激發態返回基態或低能態，輻射出不同特征波長的光，將被測定物質發射的復合光經分光裝置色散成光譜。

3.根據光譜的譜線位置進行光譜定性分析，根據譜線強度進行光譜定量分析。

目前四頁\總數七十三頁\編于十二點5三、原子發射光譜分類

1.攝譜分析法：試樣→電光源→高能態→低能態把光分開2.光電直讀法：電光源激發，不需經過暗室處理3.火焰光度法：火焰為激發光源（堿金屬及個別堿土金屬）分光系統導入感光板映譜儀（定性分析）測微光度計（定量分析）目前五頁\總數七十三頁\編于十二點6一、原子發射光譜的產生§2-2原子發射法基本原理

在通常情況下，物質的原子處于基態，當受到外界能量的作用時，基態原子被激發到激發態，同時還能電離并進一步被激發。激發態的原子或離子不穩定（壽命約10-8s），以光（電磁輻射）形式放出能量，躍遷到較低能級或基態，就產生原子發射光譜。基態E*E激發態A基→A*→A+hA+→A+*→A++h目前六頁\總數七十三頁\編于十二點7發射光譜的波長取決于躍遷前后兩能級的能量差，即ΔE=E*-E=hc/λ=h=hc

或λ=hc/ΔE不同元素原子發射譜線的波長不同。原子結構不同，原子的能級狀態不同，電子在不同能級間躍遷所放出的能量不同。同一種元素有許多條發射譜線，最簡單的H已發現譜線54條，Fe元素譜線4~5千條。每種元素都有自己的特征譜線——定性分析的依據。目前七頁\總數七十三頁\編于十二點8幾種常見的譜線1.原子線(Ⅰ)

由原子外層電子受到激發，發生能級躍遷所產生的譜線叫原子線。以羅馬字母Ⅰ表示。Ca（Ⅰ）422.67nm為鈣的原子線。

原子線有許多條。基態激發態E*E目前八頁\總數七十三頁\編于十二點92.離子線(Ⅱ,Ⅲ)由離子外層電子受到激發而發生躍遷所產生的譜線。以羅馬字母Ⅱ,Ⅲ表示：失去一個電子為一級電離，一級電離線Ⅱ失去二個電子為二級電離，二級電離線ⅢCa（Ⅱ）396.9nmCa（Ⅲ）376.2nmCa(Ⅱ)比Ca(Ⅰ)波長短，因它們電子構型不同。離子線和原子線都是元素的特征光譜—稱原子光譜。目前九頁\總數七十三頁\編于十二點103.共振線和主共振線共振線：由各個激發態與基態之間躍遷產生的譜線。共振線主共振線主共振線：在共振線中，從第一激發態與基態之間躍遷產生的譜線稱為主共振線，也叫第一共振線。目前十頁\總數七十三頁\編于十二點11（一）譜線強度表達式

譜線強度是原子發射光譜定量分析的依據，了解譜線強度與各影響因素之間的關系。設i，j兩能級間躍遷所產生的譜線強度Iij表示Iij=NiAijEij=NiAijhij式中：

Ni—處于較高激發態原子的密度(m-3)

Aij—i，j兩能級間的躍遷概率

Eij—i，j兩能級間的能量差(J)

ij—發射譜線的頻率二、譜線的強度ijIij目前十一頁\總數七十三頁\編于十二點12

當體系在一定溫度下達到平衡時，原子在不同狀態的分布也達到平衡，分配在各激發態和基態的原子密度應遵守波爾茲曼分布定律：Ni、N0—

分別為處于i能態和基態原子密度。

gi、g0—

分別為i能態和基態的統計權重。

Ei—i能態和基態之間的能量差(單位：J)k—波爾茲曼常數(1.38×10-23J·K-1或8.618×10-5ev·K-1)。

T—絕對溫度（K）

gi↑、Ei↓

、T↑都會使Ni↑。但gi、Ei為定值，故只受T影響。目前十二頁\總數七十三頁\編于十二點13將波耳茲曼方程式代入譜線強度公式中

Iij=NiAijhij原子線、離子線都適用

統計權重gi/g0∝Iij

躍遷概率Aij∝Iij

激發電位Ei∝-lgIij

激發溫度T∝-1/lgIij——此式為譜線強度公式

從上式看出，譜線強度與激發電位、溫度、處于基態的粒子數、躍遷概率有關。目前十三頁\總數七十三頁\編于十二點14（二）影響譜線強度的因素1.激發電位Ei譜線強度與原子(或離子）的激發電位是負指數關系。當N0、T一定時，激發電位越低，越易激發，Ni越多，譜線強度越大。元素的主共振線的激發電位最小，強度最強。每條譜線都對應一個激發電位，反映譜線出現所需的能量。目前十四頁\總數七十三頁\編于十二點152.溫度T—關系較復雜T既影響原子的激發過程，又影響原子的電離過程。在一定范圍內，激發溫度升高譜線強度增大，但超過某一溫度，溫度越高，原子發生電離的數目越多，原子譜線強度降低，離子線譜線強度升高。不同元素的不同譜線各有其最佳激發溫度，激發溫度與所使用的光源和工作條件有關。目前十五頁\總數七十三頁\編于十二點16譜線強度和溫度的關系目前十六頁\總數七十三頁\編于十二點173.躍遷概率Aij躍遷是原子的外層電子從高能態躍遷到低能態并發射光子的過程。躍遷概率：單位時間內自發發射的原子數與激發態原子數之比，或者是單位時間內每個原子由一個能級躍遷至另一能級的次數，Aij在106~109s-1之間。從式中看出躍遷概率與譜線強度成正比。目前十七頁\總數七十三頁\編于十二點184.統計權重譜線強度與統計權重成正比

g=2J+1J為原子的內量子數

2J+1為能級的簡并度5.基態原子密度譜線強度與基態原子密度N0成正比

I∝N0一定條件下,N0與試樣中元素含量成正比N0∝C，∴譜線強度也與被測元素含量成正比I∝C。

I∝C——光譜定量分析的基礎目前十八頁\總數七十三頁\編于十二點19a—與譜線性質、實驗條件有關的常數原子發射光譜法定量分析的基本公式該式只在c低時才成立，濃度較大時，由于發生自吸現象，上式修正為：

I=acb，（賽伯-羅馬金公式）(b為自吸系數；c低b≈1，c高b﹤1）。取對數：lgI=blgc+lga在激發能、激發溫度一定時，上式各項均為常數，由此得出一定條件下譜線強度I與試樣中待測元素的濃度c成正比，即I=ac目前十九頁\總數七十三頁\編于十二點20（三）譜線的自吸與自蝕在發射光譜中，譜線的輻射是從弧焰中心軸輻射出來的，中心部位溫度高，邊緣處的溫度較低，元素的原子或離子從光源中心部位輻射，被光源邊緣基態或較低能態同類原子吸收，使發射譜線減弱——譜線自吸。

譜線的自吸不僅影響譜線強度，還影響譜線形狀。目前二十頁\總數七十三頁\編于十二點21C小，原子密度低，譜線無自吸現象。C↑，原子密度↑，譜線便產生自吸現象。C大到一定程度，自吸現象嚴重，譜線從中央一分為二，稱為譜線自蝕。自吸線一般用r表示，自蝕線一般用R表示。譜線的自吸和自蝕1-無自吸2-自吸3-自蝕濃度較大時，由于自吸現象的存在，最靈敏線不一定是最后線。目前二十一頁\總數七十三頁\編于十二點22§2-3原子發射光譜儀常用的原子發射光譜儀有：攝譜儀；光電直讀儀；火焰分光光度計目前二十二頁\總數七十三頁\編于十二點23（一）攝譜儀目前二十三頁\總數七十三頁\編于十二點24（二）光電直讀光譜儀目前二十四頁\總數七十三頁\編于十二點25（三）火焰分光光度計利用火焰做激發光源，應用光電檢測系統測量被激發元素發射的輻射強度。常用于堿金屬、鈣等幾種譜線簡單元素的測定。目前二十五頁\總數七十三頁\編于十二點26目前二十六頁\總數七十三頁\編于十二點27儀器基本構造光源分光系統檢測系統作用試樣蒸發、原子化、激發將發射的特征光譜線分開把發射光譜記錄或檢測下來①攝譜儀電弧.火花棱鏡.光柵感光板②直讀光譜儀電弧.火花棱鏡.光柵光電倍增管③火焰分光光度計火焰濾光片棱鏡.光柵光電管或光電倍增管光譜分析儀器主要由三大部分組成：光源、分光系統、檢測系統。目前二十七頁\總數七十三頁\編于十二點28一、光源（激發源）作用:為試樣的蒸發、解離、原子化、激發提供能量對光源的要求：靈敏度高，穩定性好，再現性好，使用范圍寬。光源影響檢出限、精密度和準確度。光源的類型：（1）直流電弧光源（2）低壓交流電弧光源（3）高壓火花光源（4）電感耦合等離子體光源

(ICP——InductivelyCoupledPlasma)

目前二十八頁\總數七十三頁\編于十二點291.直流電弧光源兩個碳電極為陰陽兩極，試樣裝在陽極的孔穴中，直流電弧引燃，常采用高頻引燃裝置，或使上下電極接觸短路，隨即拉開，電弧被引燃。

陰極產生的電子不斷轟擊陽極，使陽極表面形成熾熱的陽極斑，陽極頭溫度高達3800K，有利于試樣的蒸發、解離。氣態原子、離子與其它粒子碰撞激發，產生原子、離子的發射光譜。陽陰目前二十九頁\總數七十三頁\編于十二點30

直流電弧光源電極頭溫度高，有利于試樣的蒸發；適用于難揮發物質的定性分析。弧焰溫度高，一般達4000~7000K，激發能力強。分析絕對靈敏度高。穩定性差，重現性不好；不適于高含量定量分析。適用于礦物、難揮發試樣的定性、半定量及痕量組分分析。目前三十頁\總數七十三頁\編于十二點312.低壓交流電弧光源交流電弧具有與直流電弧相似的放電性質。特點：（1）每交流半周點弧一次，陰極或陽極亮斑位置不固定在某一局部。因此，試樣蒸發均勻——重現性好。（2）電極頭的溫度比直流電弧陽極低，試樣蒸發能力差，分析絕對靈敏度低。（3）弧焰溫度高，可達4000~8000K，激發能力強，適用于難激發元素。（4）光源穩定性好、重現性好及精密度高，適用于金屬、合金中低含量元素的定量分析。目前三十一頁\總數七十三頁\編于十二點323.高壓火花光源特點：（1）分析間隙電流密度高，弧焰溫度瞬間可達10000K，適用于難激發元素的定量分析。由于激發能力強，產生的譜線主要是離子線（又叫火花線）。（2）電極溫度低，蒸發能力差，適用于低熔點金屬和合金的定量分析。（3）光源背景大，靈敏度低，不適于分析微量和痕量元素，不宜于痕量組分分析。（4）僅適用于組成均勻的試樣（金屬、合金）。（5）比電弧法自吸小。目前三十二頁\總數七十三頁\編于十二點33光源蒸發溫度激發溫度穩定性應用范圍直流電弧高(陽極)3000~40004000~7000較差礦物,純物質,難揮發元素(定性半定量分析)交流電弧中1000~20004000~8000較好

金屬合金、低含量元素的定量分析高壓火花低＜＜1000瞬間可達~10000好組成均勻、含量高,易蒸發、難激發元素火焰光源1000~5000好溶液.堿金屬.堿土金屬

各種光源性質比較目前三十三頁\總數七十三頁\編于十二點344.電感耦合等離子體——ICP利用高頻電感耦合的方法產生等離子體放電的一種裝置。由高頻發生器、等離子體炬管、感應圈、供氣系統和霧化系統組成。高頻發生器——作用是產生高頻電流ICP炬管—由三層同心石英管組成。

外管：①工作氣；②冷卻氣；

中管：輔助氣（提高火焰、防止積碳、保護進樣管）；

內管：（又稱噴管或進樣管）載氣。Ar氣目前三十四頁\總數七十三頁\編于十二點35

石英管外繞高頻感應線圈,用高頻火花引燃，Ar氣被電離，相互碰撞，更多的工作氣體電離，形成等離子體，當這些帶電離子達到足夠的導電率時，會產生強大的感應電流，瞬間將氣體加熱到10000K高溫。試液被霧化后由載氣帶入等離子體內，試液被蒸發、解離、電離和激發，產生原子發射光譜。目前三十五頁\總數七十三頁\編于十二點36ICP工作過程ICP工作過程如下：通入Ar接通電源高頻火花引燃電離蒸發、解離、電離、激發原子發射光譜等離子體粒子加速碰撞導致更多原子電離等離子體形成渦流產生大量熱能876目前三十六頁\總數七十三頁\編于十二點37ICP-AES特點1.分析靈敏度高。①溫度高(10000K)；②惰性氣氛，原子化條件好，有利于化合物分解和原子激發；③由于存在潘寧電離激發（含有大量Arm、Ar*），激發能力強；④載氣流速低，試樣停留時間長(1ms)。2.線性范圍寬。由于電流的趨膚效應使相應溫度外高內低，避免了因外部冷原子蒸汽造成的自吸。3.電子密度高，堿金屬電離的干擾小。4.無極放電，無電極污染。5.Ar氣為工作氣體，背景干擾小。6.穩定性很好，精密度高。相對標準偏差在1%左右。缺點：儀器價格昂貴。目前三十七頁\總數七十三頁\編于十二點38二.分光系統作用：將試樣中待測元素發射的特征光色散分開，按

波長順序排列成光譜。種類：常用的分光元件為棱鏡和光柵兩類。棱鏡光柵目前三十八頁\總數七十三頁\編于十二點39棱鏡與光柵分光示意圖棱鏡光柵目前三十九頁\總數七十三頁\編于十二點40（一）棱鏡1.分光原理不同波長的光在同一介質中具有不同的折射率n，可由科希公式表示：波長越長，折射率越小，不同波長的復合光通過棱鏡時，光就會因折射率不同而分開。n:折射率A、B、C:常數λ:入射光波長目前四十頁\總數七十三頁\編于十二點412.色散能力色散能力可用色散率和分辨率表示：（1）色散率②線色散率：兩條波長相差dλ的光線被分開的距離dl。③倒線色散率：線色散率的倒數。①角色散率：兩條波長相差dλ的光線被分開的角度dθ。目前四十一頁\總數七十三頁\編于十二點42（2）分辨率分辨率：兩條恰能被分開的譜線的平均波長λ與其波長差?λ的比值。【例】某儀器能清楚地分開鐵三線(310.067，310.030，309.997nm)，求儀器的分辨率最小應為多少。故儀器的分辨率應為9395。目前四十二頁\總數七十三頁\編于十二點43棱鏡攝譜儀的理論分辨率：M：棱鏡數目

t：棱鏡底邊長：棱鏡線色散率①增加m可以提高分辨率。但增加m會使光強度減小，故最多使用3個棱鏡。②色散率由棱鏡材料和光波長決定。對同一種材料的棱鏡，λ越小，色散率越大，分的越開。常用材料：玻璃和石英。玻璃折射率大于石英，400～800nm，選玻璃棱鏡；但200～400nm玻璃強烈吸收紫外光，不能采用，故此范圍波長選石英。目前四十三頁\總數七十三頁\編于十二點44（二）光柵光柵：由玻璃片或金屬片制成，上面準確刻有大量寬度和距離相等的平行線條，可看做一系列等寬、等距離的透光狹縫。光柵有透射式和反射式兩種。常用的光柵為平面反射光柵，刻痕密度為1200條/mm，1800條/mm、2400條/mm。目前四十四頁\總數七十三頁\編于十二點45目前四十五頁\總數七十三頁\編于十二點461.光柵的色散原理

光柵色散原理：當一束平行光照在光柵上時，光線產生衍射，衍射光經物鏡聚合并在焦平面上發生干涉。當光程差是波長的整數倍時，光波互相加強，得到亮條紋，即譜線。不同波長的光的衍射角不同，故最終產生的譜線位置不同，從而達到分光的目的。衍射：光在傳播路徑中，繞過障礙物，產生偏離直線傳播的現象。目前四十六頁\總數七十三頁\編于十二點47分光原理不同，棱鏡折射，光柵是衍射和干涉。光譜排列，光柵光譜均勻排列，棱鏡光譜不均勻排列。分辨能力，光柵高，棱鏡低。波長使用范圍，光柵比棱鏡寬。光柵光譜有級，級間有重疊干擾，棱鏡沒有這種干擾。價格，光柵比棱鏡昂貴。（三）棱鏡與光柵的比較目前四十七頁\總數七十三頁\編于十二點48三.檢測系統將原子的發射光譜記錄或檢測下來常用的檢測方法有：目視法、攝譜法、光電法三種（一）目視法用眼睛來觀察譜線強度的方法稱為看譜法，這種方法僅適用于可見光波段，常用的儀器叫看譜鏡。專用于鋼鐵及有色金屬的半定量分析。目前四十八頁\總數七十三頁\編于十二點49（二）攝譜法把經過分光系統分光后得到的光照在感光板上，感光板感光、顯影、定影、得到許多距離不等、黑度不同的光譜線在映譜儀上觀察譜線的位置及大致強度，進行定性、半定量分析在測微光度計上測量譜線強（黑）度進行定量分析攝譜步驟安裝感光板在攝譜儀的焦面上。激發試樣，產生光譜而感光。顯影，定影，制成譜板。測量黑度，計算分析結果。目前四十九頁\總數七十三頁\編于十二點50（三）光電法——利用光電倍增管作光電轉換元件，把代表譜線強度的光信號轉化成電信號，把電信號轉換為數字顯示出來。——光電倍增管是目前光譜儀器中應用最多的。優點：準確度較高（相對標準偏差為1%）；檢測速度快，線性響應范圍寬缺點：價格昂貴，維護費用高；定性能力差，固定通道的儀器只能測定有限的固定元素。

目前五十頁\總數七十三頁\編于十二點51§3-4光譜定性及半定量分析一．光譜定性分析原子發射光譜法是理想的、快速的定性方法，可測70多種元素。（一）光譜定性分析原理各種元素的原子結構不同，在激發光源的作用下，得到的特征光譜不同。確定存在某元素的條件：只要在光譜中找出某元素的2-3條靈敏線，一般就可以確定該元素存在。①不要求對元素的每條譜線都進行鑒別；②只根據一條靈敏線不能確定元素的存在。目前五十一頁\總數七十三頁\編于十二點52靈敏線——元素譜線中最容易激發或激發電位較低的譜線。即有一定強度,能標記某元素存在的特征譜線。（最易激發或激發能較低的譜線—主共振線）主共振線的激發能越低，產生的譜線波長越長，靈敏線大都在長波區—可見、近紅外區，如：堿金屬主共振線的激發能越高，產生的譜線波長越短，靈敏線大都在遠紫外區，如：非金屬及惰性金屬主共振線的激發能中等，產生的譜線在中波區—近紫外、可見區大部分金屬及部分非金屬。目前五十二頁\總數七十三頁\編于十二點53最后線：當元素濃度稀釋到一定程度時，堅持到最后的譜線。

譜線強度與試樣中元素的含量有關，當元素的含量減少時，其譜線數目亦相應減少，隨著元素含量減少而最后消失的譜線稱為該元素的最后線。最后線往往就是元素的最靈敏線，即元素的主共振線。

最容易辨認的元素的多重線組稱為該元素的特征線組，如鐵元素的四重線組（301.62nm、301.76nm、301.90nm、302.06nm）。

目前五十三頁\總數七十三頁\編于十二點54分析線：用來進行定性分析或定量分析的特征譜線。元素的分析線應該具備以下基本條件:它是元素的靈敏線，具有足夠的強度和靈敏度;是元素的特征線組；是無自吸的共振線；不應與其它干擾譜線重疊。

目前五十四頁\總數七十三頁\編于十二點55（二）光譜定性分析的方法原子發射光譜定性分析一般采用攝譜法。按照分析目的和要求不同，可分為指定元素分析和全部組分元素分析兩種。目前確認譜線最常用的方法有標準試樣光譜和標準光譜圖比較法比較法。目前五十五頁\總數七十三頁\編于十二點561．標準試樣光譜比較法

如果只分析少數幾種指定元素，同時這幾種元素的純物質又比較容易得到時，采用該方法比較方便。樣品純物質(指定元素)并列攝譜只適合于少數指定元素的定性分析,即判斷樣品中是否含有某種或某幾種指定元素時,可用此種方法。

在映譜儀上對譜線進行比較，如果試樣光譜中有譜線與純物質光譜波長在相同位置，則說明試樣中存在這些元素目前五十六頁\總數七十三頁\編于十二點572.標準光譜圖比較法—鐵光譜比較法

鐵的光譜線較多，大約有4600條，波長分布范圍較寬210—660nm之間，每條譜線的波長都已精確測定，通過把鐵光譜當作一把標尺，在放大20倍的純鐵光譜圖上方準確標示出68種元素的靈敏線——按波長的位置、相對強度原子線、離子線。制成“元素標準光譜圖”—鐵光譜圖。目前五十七頁\總數七十三頁\編于十二點58元素標準光譜圖目前五十八頁\總數七十三頁\編于十二點59樣品純鐵樣并列攝譜定性分析時：

把攝得的譜板在映譜儀上放大20倍，使純鐵光譜與標準鐵光譜圖對齊，看樣品光譜上的譜線與哪個元素的譜線重合，則可認為可能存在該元素。此法可同時進行多種元素的定性分析。對于光譜定性分析，除了可給出試樣中存在哪些元素外，還可據譜線的強弱來判斷哪些元素是主要成分，哪些元素為微量成分。樣品光譜鐵光譜目前五十九頁\總數七十三頁\編于十二點60二、光譜半定量分析實際工作中常常需對試樣中組成元素的含量作粗略估計。在鋼材、合金的分類，礦石品級的評定以及在光譜定性分析中，除需要給出試樣中存在哪些元素外，還需要給出元素的大致含量。這時可用半定量分析法快速、簡便的解決問題。半定量分析法的準確度較差。光譜半定量分析的依據是：譜線的強度和譜線的出現情況與元素含量有關。常用的半定量分析法有譜線黑度比較法和譜線呈現法。

目前六十頁\總數七十三頁\編于十二點61（一）譜線黑度比較法在映譜儀上用目視法直接比較試樣和標樣光譜中元素分析線的黑度，從而估計試樣中待測元素的含量。若試樣與某標樣黑度相等，表明待測元素與此標樣的含量近似。該法的準確度取決于被測試樣與標樣基體組成的相似程度。試樣標準系列或標樣并列攝譜目前六十一頁\總數七十三頁\編于十二點62(二)譜線呈現法(又稱顯線法)譜線的數目隨著元素含量的增加，靈敏線、次靈敏線和其它較弱的譜線也會依次出現，預先配制一系列濃度不同的標樣，在一定條件下攝譜。據不同濃度下出現譜線及強度情況繪成關系表——譜線與含量關系表——譜線呈現表。以后根據某一譜線是否出現來估計試樣中該元素的大致含量。若試樣光譜中鉛的分析線僅283.31nm、261.42nm、280.20nm三條譜線清晰可見，根據譜線呈現表可判斷試樣中Pb的質量分數為0.003%。優點：不需要每次配制標樣，方法簡便快速。目前六十二頁\總數七十三頁\編于十二點63鉛的譜線呈現表wPb/%譜線波長及其特征0.001283.31nm清晰，261.42nm和280.20nm譜線很弱0.003283.31nm和261.42nm譜線增強，280.20nm譜線清晰0.01上述各線均增強，266.32nm和287.33nm譜線很弱0.03上述各線均增強，266.32nm和287.33nm譜線清晰0.1上述各線均增強，不出現新譜線0.3上述各線均增強，239.38nm和257.73nm譜線很弱1.0上述各線均增強，240.20nm、241.17nm、244.38nm和244.62nm譜線很弱目前六十三頁\總數七十三頁\編于十二點64§3-5光譜定量分析一、光譜定量分析的基本原理（一）光譜定量分析的基本關系式

原子發射譜線強度I

與濃度成正比—定量分析依據

I=acbc低b≈1，c高b﹤1

a與光源、蒸發、激發等條件及試樣組成有關。b為自吸系數，與譜線性質有關b≤1。lgI=blgc+lga光譜定量分析的基本關系式0lgclgI光譜定量分析工作曲線目前六十四頁\總數七十三頁\編于十二點65以lgI對lgc作圖，所得曲線在一定范圍內為一直線。當元素含量較高時，譜線產生自吸，b<1，曲線發生彎曲。lgI-lgc關系曲線的直線部分可作為元素定量分析的標準曲線。這種測定方法稱為絕對強度法。要求實驗條件恒定，無自吸現象，實際上很難做到，通常采用相對強度法——內標法，可消除實驗條件對測定結果的影響。0lgclgI光譜定量分析工作曲線（1）絕對強度法目前六十五頁\總數七十三頁\編于十二點66內標法是通過測量譜線相對強度進行定量分析的方法，又稱相對強度法。在被測元素的譜線中選一條靈敏線——分析線在基體元素（或定量加入的其他元素）的譜線中選一條譜線——內標線。發射內標線的元素稱為內標元素。分析線

I1=a1c1b1

內標線I2=a2c2b2分析線對（2）相對強度法（內標法）目前六十六頁\總數七十三頁\編于十二點67分析線與內標線的絕對強度的比值稱為分析線對的相對強度。根據分析線對的相對強度與待測元素含量的關系來進行定量分析。可消除光源放電不穩等因素帶來的影響。分析線對的相對強度R可表示為：令a1/I2=A；c1—c；b1—b則上式改寫為：R=Acb取對數：lgR=lgI1/I2=blgc+lgA內標法光譜定量分析的基本公式。（1）濃度與譜線相對強度的關系目前六十七頁\總數七十三頁\編于十二點68內標元素和分析線對的選擇：選擇內標元素及分析線對應注意以下幾點:（含量、蒸發性、激發電位、電離電位、波長、強度）(1)內標元素可以是基體元素，也可以是外加元素，但其含量必須恒定。(2)內標元素與分析元素的蒸發特性應該相近，以使電極溫度的變化對譜線的相對強度的影響較小。

(3)若分析線對為原子線，分析線對的激發電位應該相近；若分析線對為離子線，