犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜５１７０．９—２００８

代替ＧＢ／Ｔ５１７０．９—１９９６

電工電子產品環境試驗設備檢驗方法

太陽輻射試驗設備

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２００８０６１６發布２００９０３０１實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局

發布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜５１７０．９—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４檢驗項目!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

５檢驗用主要儀器及要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

６檢驗負載!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

７檢驗條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

８檢驗方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

９數據處理結果與檢驗結果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

１０檢驗周期!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

附錄Ａ（規范性附錄）檢驗項目的選擇!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

書

犌犅／犜５１７０．９—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ５１７０目前包含以下幾部分：

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１—２００８電工電子產品環境試驗設備檢驗方法總則

———ＧＢ／Ｔ５１７０．２—２００８電工電子產品環境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．５—２００８電工電子產品環境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．８—２００８電工電子產品環境試驗設備檢驗方法鹽霧試驗設備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．９—２００８電工電子產品環境試驗設備檢驗方法太陽輻射試驗設備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１０—２００８電工電子產品環境試驗設備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１１—２００８電工電子產品環境試驗設備檢驗方法腐蝕氣體試驗設備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１３—２００５電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法振動（正弦）試驗用

機械振動臺

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１４—１９８５電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法振動（正弦）試驗用

電動振動臺

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１５—２００５電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法振動（正弦）試驗用

液壓振動臺

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１６—２００５電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法穩態加速度試驗用

離心機

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１７—２００５電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法低溫／低氣壓／濕熱

綜合順序試驗設備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１８—２００５電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法溫度／濕度組合循環

試驗設備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１９—２００５電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法溫度／振動（正弦）綜

合試驗設備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．２０—２００５電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法水試驗設備

本部分是ＧＢ／Ｔ５１７０的第９部分。

本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．９—１９９６。與ＧＢ／Ｔ５１７０．９—１９９６相比，技術內容主要有如下變化：

———標準名稱“電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法太陽輻射試驗設備”更改為“電工

電子產品環境試驗設備檢驗方法太陽輻射試驗設備”；

———所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；

———增加了“術語和定義”一章；

———增加了“溫度波動度”檢驗項目；

———檢驗項目“溫度變化速率”更改為“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”；

———增加了“溫度指示誤差”檢驗項目；

———增加了“噪聲”檢驗項目；

———在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了測量系統其測量結果的擴展不確定度（犽＝２）的

要求；

———增加了“檢驗負載”一章；

———測量數據記錄改為每一分鐘記錄一次數據；

———刪除了“檢定過程中的處理”部分；

Ⅰ

犌犅／犜５１７０．９—２００８

———增加了附錄Ａ“檢驗項目的選擇”。

附錄Ａ為規范性附錄。

本部分由全國電工電子產品環境條件與環境試驗標準化技術委員會（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并歸口。

本部分起草單位：信息產業部電子第五研究所。

本部分主要起草人：伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。

本部分所代替標準的歷次版本發布情況為：

———ＧＢ／Ｔ５１７０．９—１９８５；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．９—１９９６。

Ⅱ

犌犅／犜５１７０．９—２００８

電工電子產品環境試驗設備檢驗方法

太陽輻射試驗設備

１范圍

ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分規定了太陽輻射試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢

驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。

本部分適用于對ＧＢ／Ｔ２４２３．２４《電工電子產品環境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｓａ：模擬地

面上的太陽輻射》所用試驗設備的首次檢驗／驗收檢驗和周期檢驗。

本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。

２規范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據本部分達成

協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最