標準解讀

《GB/T 28892-2012 表面化學分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述》是一項國家標準，主要針對X射線光電子能譜（XPS）技術中所使用的儀器性能參數(shù)的選擇與表述方法進行了規(guī)定。該標準旨在為從事表面化學分析的專業(yè)人士提供一套統(tǒng)一、科學且合理的參數(shù)描述體系，以便于不同實驗室之間能夠更好地交流實驗數(shù)據(jù)和結果。

標準中涉及的主要內容包括但不限于：儀器分辨率、能量標度精度、檢測限等關鍵性能指標的具體定義及測試方法；如何根據(jù)實際應用需求合理選擇適合的性能參數(shù)；以及在報告或論文中正確表達這些參數(shù)的方式。例如，對于儀器分辨率而言，它被定義為半高寬（FWHM），即峰強度一半處的寬度，并給出了通過測量特定元素的標準樣品來評估這一指標的方法。


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  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 28892-2024
  • 2012-11-05 頒布
  • 2013-06-01 實施
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GB/T 28892-2012表面化學分析X射線光電子能譜選擇儀器性能參數(shù)的表述_第1頁
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文檔簡介

ICS7104040

G04..

中華人民共和國國家標準

GB/T28892—2012/ISO154702004

:

表面化學分析X射線光電子能譜

選擇儀器性能參數(shù)的表述

Surfacechemicalanalysis—X-rayphotoelectronspectroscopy—Descriptionof

selectedinstrumentalperformanceparameters

(ISO15470:2004,IDT)

2012-11-05發(fā)布2013-06-01實施

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

GB/T28892—2012/ISO154702004

:

前言

本標準按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標準使用翻譯法等同采用表面化學分析射線光電子能譜選擇儀器性能

ISO15470:2004《X

參數(shù)的表述

》。

為了方便使用本標準做了下列編輯性修改

,:

用本標準代替本國際標準

———“”“”。

本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本標準負責起草單位廈門愛勞德光電有限公司廈門大學化學化工學院

:、。

本標準起草人王水菊時海燕孫海珍吳正龍劉芬沈電洪

:、、、、、。

Ⅰ

GB/T28892—2012/ISO154702004

:

引言

世界上有多家廠商生產射線光電子能譜儀盡管每臺儀器的分析方法的基本原理是相同

X。XPS

的但儀器的具體設計和性能說明的方式各不相同因此通常很難比較不同廠商生產的儀器性能本

,。,。

標準提供了一個基本項目單以使所有射線光電子能譜儀能以共同的方式來表述

,X。

Ⅱ

GB/T28892—2012/ISO154702004

:

表面化學分析X射線光電子能譜

選擇儀器性能參數(shù)的表述

1范圍

本標準規(guī)定了如何描述射線光電子能譜儀的特定性能

X。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

表面化學分析詞匯

GB/T22461—2008(ISO18115:2001,IDT)

3術語和定義

中界定的術語和定義適用于本文件

GB/T22461—2008。

4符號和縮略語

本底以上最大峰強一半處的全寬度

FWHM

射線光電子能譜

XPSX

5儀器性能參數(shù)的表述

51分析方法

.

應簡要敘述用于從樣品獲得信息的方法并說明在所涉及系統(tǒng)中可用的其他分析技術可選項

,()。

52樣品

.

應詳述該儀器可分析樣品的大小和形狀如果某些特殊的分析模式例如變角測量絕緣體測量

。(、

等對樣品的大小或形狀有限制則應另加說明

),。

53系統(tǒng)構成

.

應描述系統(tǒng)的重要分析部件的幾何結構及其公差

。

例角度公差常為

:±1°。

54X射線源

.

541陽極類型

..

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