標準解讀

《GB/T 2831-1981 光學零件的面形偏差 檢驗方法(光圈識別)》是一項國家標準，該標準規定了使用光圈法檢測光學零件表面形狀偏差的具體步驟和技術要求。標準中定義了術語“光圈”，指的是在特定條件下通過觀察或測量干涉條紋來評估光學元件表面質量的一種方法。它適用于平面、球面以及非球面等不同類型的光學表面。

根據這一標準，檢驗過程主要包括以下幾個方面：

  • 準備工作：選擇合適的光源和參考面，并確保測試環境滿足要求。
  • 安裝與調整：將待測光學零件固定于適當位置，并調整至最佳狀態以便進行準確測量。
  • 光圈識別：利用干涉現象形成光圈圖案，通過肉眼觀察或者借助儀器記錄下這些圖案。
  • 數據記錄與處理：對獲得的數據進行記錄，并按照規定的方法進行分析計算，以確定被測表面的實際偏差值是否符合預設的技術指標。


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  • 已被新標準代替，建議下載現行標準GB/T 2831-2009
  • 1981-12-25 頒布
  • 1982-10-01 實施
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UDC681.4.084:621.753.1中華人民共和國國家標準GB2831－81光學零件的面形偏差檢驗方法光圈識別)Surfaceformdeyationofopticalelements-Inspectionmethods1981-12-25發布1982-10-01實施家標準·總局國批準

中華人民共和國國家標準UDC：681.4.084光學零件的面形偏差檢驗方法：621.753.1GB2831一81（光圈識別Surfaceformdeviationofopticalelements-Inspectionmethods本標準適用于以等厚光波干涉原理檢驗球面（包括平面）光學零部件的面形偏差。名詞術語、符號、代號1.1面形偏差被被檢光學表面相對于參考光學表面的偏差稱面形偏差面形偏差是在圓形檢驗范圍內，通過垂直位置所觀察到的干涉條紋（通稱光圈）的數目、形狀、變化和顏色來確定的。面形偏差包括下列三項：被被檢光學表面的曲率半徑相對于參考光學表面曲率半徑的偏差稱半徑偏差。此偏差所對應的光圈數用M表示。。被檢光學表面與參考光學表面在二個相互垂直方向上產生的光圈數不等所對應的偏差稱象散偏差，此偏差所對應的光圈數用I表示。。被檢光學表面與參考光學表面在任一方向上產生的干涉條紋的局部不規則程度稱局部偏差，此偏差所對應的光圈數用八表示。1.2光圈正負號規定：高光圈（凸）為正（相應于中間接觸）；低光圈（凹）為負（相應于邊緣接觸）。：高低光圈的識別22.1一般情況下高低光圈的識別低光圈：當空氣隙縮小時，條紋從邊緣向中心移動如圖1“。高光圈：：當空氣隙縮小時，條紋從中心向邊緣移

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