標準解讀

《GB/T 18904.2-2002 半導體器件 第12-2部分：光電子器件 纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶尾纖的激光二極管模塊 空白詳細規(guī)范》這一標準文檔，主要針對光纖光學系統(tǒng)或其子系統(tǒng)中使用的帶尾纖的激光二極管模塊設定了詳細的規(guī)范要求。然而，您提供的信息中并未直接給出另一個對比的標準或版本，因此無法直接列舉出與某個具體前版或后版標準之間的具體變更內容。

若要討論此類標準的常見變更趨勢或可能涉及的方面，一般包括但不限于以下幾個維度：

  1. 性能指標調整：新標準可能會對激光二極管模塊的輸出功率、光譜特性、溫度穩(wěn)定性、使用壽命等關鍵性能參數(shù)提出更嚴格或更具體的指標要求。
  2. 測試方法更新：隨著技術進步，對模塊進行性能評估和質量控制的測試方法可能會有所改進，新標準會引入新的測試規(guī)程或修改原有測試條件。
  3. 安全規(guī)范增強：考慮到用戶安全和設備可靠性，新標準可能會加強對激光安全等級、電磁兼容性(EMC)、防靜電設計等方面的要求。
  4. 互操作性和兼容性：為了促進不同廠家產品的互換性和系統(tǒng)集成的便利性，標準可能會增加關于接口標準、信號編碼、光纖連接器類型等方面的兼容性要求。
  5. 環(huán)境適應性：隨著應用領域的擴展，新標準可能對激光二極管模塊在極端溫度、濕度、振動等惡劣環(huán)境下的工作能力提出更詳細的規(guī)定。
  6. 標簽與標識：為便于識別和追蹤，標準可能會對產品標簽、序列號、警告標識等信息的標注方式做出更細致的規(guī)定。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2002-12-04 頒布
  • 2003-05-01 實施
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文檔簡介

ICS31.260L51中華人民共和國國家標準GB/T18904.2-20020C720102半導體器件第12-2部分:光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶尾纖的激光二極管模塊空白詳細規(guī)范SemiconductordevicesPart12-2:0ptoelectronicdevicesBlankdetailspecificationforlaserdiodesmoduleswithpigtailforfiberopticsystemsorsub-systems（IEC60747-12-2:1995,MOD)2002-12-04發(fā)布2003-05-01實施中華民發(fā)布國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T18904.2-2002前GB/T18904的本部分修改采用國際標準IEC60747-12-2:1995《半導體器件第12-2部分：光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶尾纖的激光二極管模塊空白詳細規(guī)范》英文版）本部分根據(jù)IEC60747-12-2:1995重新起草。本部分在采用國際標準時進行了修改·這些技術性差異用垂直單線標識在它們所涉及的條款的頁邊空白處。在附錄A中給出了技術性差異及其原因的一覽表以供參考。本部分和IEC60747-12-2在結構上的區(qū)別是：第第2頁表中本部分增加了第9欄本部分和IEC60747-12-2在技術性上差異是：-5.11.A3、C2a分組中"C/N"本部分要求的極限值為“最小值”.IEC原文要求的極限值為“最大值”-5.16中"跟蹤誤差Ea”的“溫度范圍”本部分從T或To的最小值到25C.IEC原文從25C到T或T一t的最大值;2b分組中"跟蹤誤差Ea”的“溫度范圍"本部分從25C到T。.或T的最大值,IEC原文從25C到T?；騎ot的最小值；-A、B、C組中所有要測試的"超閩值的正向電流”本部分為lr.IEC原文為le'；A組中所有作為測試條件的"Ie"或"Ie"（除測試Ea和Ee外)本部分測試1re和V的為lr·.IEC原文為lr；其他的本部分為lr.IEC原文為le·。為便于使用，本部分還做了下列編輯性修改：用小數(shù)點"."代替作為小數(shù)點的迎號",”；刪除國際標準的前言。本部分引用的國家標準及國際標準如下：GGB/T4589.1一1989半導體器件分立器件和集成電路總規(guī)范(idtIEC60747-10:1984）GB/T4937—1995半導體器件機械和氣候試驗方法（idtIEC60749:1984)GB/T12565-1990半導體器件光電子器件分規(guī)范(eqvIEC60747-12:1991)GGB/T15651-1995半導體器件分分立器件和集成電路第5部分：光電子器件(idtIEC60747-5：1992)-GB/T17573-1998半半導體器件：分立器件和集成電路第1部分：總則(idtIEC60747-1：1983）-IEC60191-2:1966半導體器件機械標準化第2部分：尺寸GB/T18904.2是有關纖維光學系統(tǒng)和子系統(tǒng)用光電子器件的國家標準的一部分。。下面列出了這些國家標準的預計結構-GB/T18904.1《半導體器件第12-1部分：光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶/不帶尾纖的光發(fā)射或紅外發(fā)射二極管空白詳細規(guī)范》-GB/T18904.2《半導體器件第12-2部分：光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶尾纖的激光二極管模塊空白詳細規(guī)范》-GB/T18904.3《半導體器件第12-3部分：光電子器件顯示用發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范》

GB/T18904.2-2002-GB/T18904.4《半導體器件第12-4部分：光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶/不帶尾纖的pin-FET模塊空白詳細規(guī)范》-GB/T18904.5《半導體器件第12-5部分：光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶/不帶尾纖的pin-光電二極管空白詳細規(guī)范》本部分由中華人民共和國信息產業(yè)部提出。本部分由中國電子技術標準化研究所(CESI)歸口。本部分起草單位：中國電子技術標準化研究所（CESI)本部分主要起草人:趙英

GB/T18904.2-2002半導體器件第12-2部分：光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶尾纖的激光二極管模塊空白詳細規(guī)范引言IEC電子元器件質量評定體系遵循IEC章程并在IEC授權下工作。該體系的目的是確定質量評定程序.以這種方式使一個參加國按有關規(guī)范要求放行的電子元器件無需進一步試驗而為其他所有參加國同樣接受。本空白詳細規(guī)范是半導體器件的一系列空白詳細規(guī)范之一.并應與下列國家標準一起使用GB/T4589.1—1989半導體器件分立器件和集成電路總規(guī)范(idtIEC6O747-10:1984)GB/T4937—1995半導體器件機械和氣候試驗方法(idtIEC60749:1984)GB/T12565-1990半導體器件光電子器件分規(guī)范(eqvIEC60747-12：1991)GB/T15651-1995半導體器件分立器件和集成電路第5部分：光電子器件（idtIEC60747-5:1992）GB/T17573—1998半導體器件分立器件和集成電路第1部分：總則(idtIEC60747-1:1983)要求的資料本頁及下面方括號內的數(shù)字與下列各項要求的資料相對應,這些資料應填入相應欄中詳細規(guī)范的識別【17授權發(fā)布詳細規(guī)范的國家標準化機構（NAI)名稱【2詳細規(guī)范的IECQ編號【37總規(guī)范、分規(guī)范的編號及版本號「47詳細規(guī)范的國家編號、發(fā)布日期及國家標準體系要求的任何資料器件的識別【57主要功能和型號?！?7典型結構（材料、主要工藝)和封裝資料。如果一種器件有幾種派生產品.則應指出其差異.例如,在對照表中列出特性差異。如果器件是靜電敏感型，應在詳細規(guī)范中給出注意事項?！?外形圖、引線識別、標志和(或)引用有

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