測 定 事 例 １ 〔 純 塑 料 〕塑料部品測定樣品 測定樣品后消滅的波形[測定挨次]XRFPbICP［定量結果］測定元素測定元素熒光X射線的測定值ICPPb524ppm[結論]：均質材料測試結果較準確測定事例２〔塑料＋金屬復合品１〕乙稀測定樣品 測定樣品整體后消滅的波形 只測定被包材料后消滅的波形[測定挨次]：測定樣品整體，檢測出Pb只測定被包材料：以下是Pb的定量結果［定量結果］測定元素X熒光X射線的測定值值測定元素X熒光X射線的測定值值只測定被包材料樣品整體Pb

測定事例３〔塑料＋金屬復合品２〕金屬插頭測定試料 波形[測定挨次]

只測定被包材料后消滅的測定元熒光XX射線的測定ＩＣＰ測定值：素測定樣品整體值：只測定樣品的測定元熒光XX射線的測定ＩＣＰ測定值：素測定樣品整體值：只測定樣品的只測定樣品的被包被包局部局部Pb249ppm4金屬部品(無外表處理)金屬部品〔無外表處理〕Pb的事例測定樣品[測定挨次]測定元素熒光X射線測定ＩＣＰ測定值:值：測定元素熒光X射線測定ＩＣＰ測定值:值：Pb30320ppm29870ppm

樣品就那樣測定后的波峰5金屬部品(無外表處理)金屬部品〔無外表處理〕Cd的事例測定樣品[測定挨次]

樣品的波形測定元素熒光X射線測定ＩＣＰ測定值值：Cd95ppm88ppm樣品就那樣測定：檢測出測定元素熒光X射線測定ＩＣＰ測定值值：Cd95ppm88ppm測定事例6〔被鍍金屬部品１〕金屬部品〔鍍品：鐵F〕–Pb的事例測定樣品 樣品就那樣測定后的波形[測定挨次]

層〕

波形 樣品就那樣測定：檢測出Pb除去鍍層的樣品：檢測出Pb使用ICP[定量結果]測定元素熒光Ｘ射線的測定值:測定樣品整體熒光Ｘ射線的測定測定ＩＣＰ測定值：測定樣品整體Pb1371ppm2224ppm1927ppm[結論]：鍍品有必要將鍍除去后再測定該樣品的鉛存在于鋼基材，鍍層不含有鉛，而Rohs對鋼的含鉛最大允許值為3500ppmRohs測定事例7〔被鍍金屬部品２〕金屬部品〔鍍品：鍍有含有Cd的事例測定樣品 樣品就那樣測定后的測定樣〔除去鍍〕除去鍍測定后的波波形 形[測定挨次]樣品就那樣測定：檢測出Cd除去鍍的樣品：檢測出Cd[測定結果]測定元熒光Ｘ射線的測定熒光Ｘ射線的測定值：參考：ＩＣＰ測定素值:除去鍍的樣品測定值：Cd測定樣品整體5879ppm無法檢測出來測定樣品整體441ppm[備注]ICPX射線測定從鍍品中射出來X8〔被鍍金屬部品３〕金屬部品〔鍍品：鐵F〕–Pb的事例形[測定挨次]

樣品就那樣測定后的波形 除去鍍測定后的波樣品就那樣測定：檢測出Pb[定量結果]

除去鍍的樣品：檢測出Pb 使用ICP分析測定元素熒光Ｘ射線的測定值:測定樣品整體熒光Ｘ射線的測定測定ＩＣＰ測定值：測定樣品整體Pb1349ppm2783ppm2498ppm[結論]Rohs3500ppmRohs測定事例9〔被鍍金屬部品４〕金屬部品〔鍍品Pb的事例形[測定挨次]

樣品就那樣測定后的波形 除去鍍測定后的波測定樣品測定樣品樣品就那樣測定后的波形除去鍍測定后的波形[測定挨次]樣品直接測定：檢測出CdCdICP樣品直接測定：檢測出PbPbICP[定量結果]測定元素熒光Ｘ射線的測體熒光Ｘ射線的測定定ＩＣＰ測定值：體Pb4431ppm29496ppm30398ppm[結論]：Rohs40000ppmRohs測定事例10〔被鍍金屬部品５〕金屬部品〔鍍品〕Cd的事例[定量結果]測定元素測定元素熒光Ｘ射線的測熒光Ｘ射線的測定ＩＣＰ測定定值:測定樣品整值：除去鍍的樣品測值：體定測定樣品整體76ppm113ppmCd[結論]：該樣品的鉻存在于銅基材，由于直接測量時，基材中的Cd的X熒光受到鍍層的吸取，使Cd的測量結果偏低，而去鍍測量后，可較準確的測量出基材Cd含RohsCdXRF[XRF電鍍層的材質，由于電鍍層的局部只占樣品基材的千分之一或是萬分之一[X射線對金屬的穿透力約只有100mmX度有關系。所以，假設待測樣品上有電鍍層，而XRF作為外表分析主要反映的是鍍層的信息[電鍍層的厚度將會引響不同檢測儀器之間的差異]處理方式將鍍層局部磨除后再測試，可分清電鍍層或基材超出ROHS標準，從而削減與其它檢測儀器的差異。[ICPICP處理方式：需破壞，現將樣品裁剪、稱重、強酸消化溶解，使得待測樣品達到均一狀態，待測樣品含有電鍍層，會由于ICP處理的方式，將[電鍍層和基材溶解到達均一狀態]，造成無法區分電鍍層或是基材超出ROHS標準，造成檢測上與XRF處理方式：[鍍層局部與基材局部單獨測試]SEA1000A儀器外觀XRF關于保險絲故障檢修X儀器外觀樣品室開啟手柄樣品室開啟按鈕移動此裝置時,請手

請不要翻開外殼。X射線開啟指示器SHUTTER指示器必不要持此局部移X射線開 必不要持此局部移POWER開關儀器前面產生X儀器前面產生X射線和高電壓，儀器后面SMNQIROTMMMACIIOIOIQX-rayONS樣品臺〔一般樣品臺〕NVEDIOOPowerRRBreakerT樣品臺〔專用樣品臺〕儀器校正板說明項 正面 反面 校正板顏色 目 挨次

校正說明 間1 能量 粉紅色

Ti、Fe、Zn、Sn 7天Peak在正確位置強度 白色 2 模擬光管最初值強 7天度區分率黑色 3 區分每個元素能譜 7天孔隙 鋼質 確定x射線通過快門3個月55路徑與樣品作用有無阻礙物熒光直白色確定x射線與CCD〔位置是否正確〕試塑膠參考物質說明項圖示材質項圖示材質校校正說明實施時間留意事項目顏色正順序1白色1含量接近于零超出塑膠標檢量線建立方式：〔NoPVC〕準品證明書1〕按下塊體分析22依照塑膠標準品數規格按挨次1,2,3,4據〔NoPVC材質Cd ，RMC，RMD〕或〔33含量接近于零〔PVC材質〕PbCr15%.Hg,Br30%3)存檔44依照塑膠標準品數據〔PVC材質〕分析方法與材料種類比照表定量分析 材料種類 對象材料 材料部品實例PP,PE,PS,PVC等高分子塑料 塑料、橡膠和紙類….等

按鍵PCB包裝材料….等輕金屬

鋁合金

PC、Notebook外殼塊體分析 鎂合金 散熱片…等檢量線法

玻璃材料其他材料 油墨布料….等

連接器MLCCIC封裝晶體、晶片LCD吊帶…等銅材 開關金屬部件塊體分析金屬

銅合金

PinFP法 錫膏，錫球〔solder〕螺絲鈦合金….等 金屬外設…..等XRF待測樣品的[均質化] 拆解或直接測試了解樣品的組成[金屬或非金屬]選擇正確的分析條件簡單的材質，利用[時間延長]到達分析數據穩定測試樣品選擇最能接近樣品臺的位置，如樣品無法平貼可將零件拆解分開測試選擇正確的測試方法留意共存元素的干擾〔AsPbSnCd〕關于保險絲本系統使用2個無熔絲斷路器。因此沒有必要更換保險絲。假設電流過大，斷路器切斷。復位時將斷路器ON。斷路器在測定頭反面盤的插座四周和泵用電源裝置的反面盤的插座四周。將斷路器打到ON復位后，請用正規電源投入方法起動。(參照「裝置的起動方法」)樣品杯的組成介紹留意事項：[更換目的]SEA1000底部有冷卻風扇引入口.此部位假設有污物積存,內部熱量會聚攏導致故障.所以要定期進展過濾器的清潔[更換操作挨次]將裝置電源切斷(請參照“電源的切斷方法”).將以下圖畫圓圈的部位堵住,將風扇過濾器底座向外拉出,將起取出.使用吸塵器將里面積存的灰塵去除掉.污染比較嚴峻時,用水輕輕清洗后涼干.過濾器清潔完畢后,將風扇過濾器安裝到底座上.留意事項：1〕液體需添加至樣品杯的[八分滿]2〕假設不知液體[是否為腐蝕性]，參加后，需放置旁邊[151〕液體需添加至樣品杯的[八分滿]2〕假設不知液體[是否為腐蝕性]，參加后，需放置旁邊[15分鐘]沒有好處狀況，確保在測量過程中液體無溢出狀況。3〕液體測試方法為[塊體分析檢量線]底部風扇過濾器的清潔風扇過濾器

風扇過濾器風扇過濾器底座

1〕請在[一個星期]取出濾網檢查是否沾染過多灰塵，假設灰塵太多需1周清消耗品的更換方法1更換目的聚酯外殼用來防止細小樣品的落入以及由此引起的裝置零部件故障。聚酯外殼一旦污損樣品畫面便不易看清楚，對分析數據產生不良影響，所以一旦有污損要進展更換。預備物品●聚酯外殼●十字螺絲刀●粘接膠帶更換挨次如下切斷裝置電源。(參照「電源切斷方法」)翻開樣品室蓋。將樣品臺取下。使用螺絲刀將固定板金的4個螺絲卸下。將板金取下使用螺絲刀將固定聚酯外殼的4個螺絲卸下聚酯外殼底座樣品臺聚酯外殼底座警告●進展維護修理作業時，要將全部電源切斷。否則有觸電危急。警告●進展維護修理作業時，要將全部電源切斷。否則有觸電危急。將粘接聚酯外殼的膠帶撕掉,將聚酯外殼取下,然粘貼上的聚酯外殼.聚酯外殼請使用標準產品.聚酯外殼粘接膠帶

后用膠帶使用留意使用留意使用粘接膠帶粘接聚酯外殼時,要盡量平坦,不要產生折皺.否則會對分析數據產生不良影響,使樣品畫面不易看清楚.將聚酯外殼如原來的樣子使用四個螺絲固定.在其上邊放上板金,如原來的樣子使用四個螺絲固定.至此,聚酯外殼更換作業完成.排解故障在使用中，感覺裝置的狀況有些驚異，是不是故障呢在有這樣的想法的時候，首先時，請于篇末的效勞窗口聯系。現象緣由和處理１、按電源開關(即使打到●電源線沒有正確接線。ON)不動作，并且燈類也不 ●電源線斷了。亮。 →用萬用表測定兩端是否導電假設是斷線了請與效勞窗口聯系。插座沒有電。請用萬用表確認電壓?！癫孱^沒電→使用萬用表檢測電壓?！駭嗦菲魈l→請參照的內容。X射線ON顯示用LED斷開。2將Ｘ射線的鍵開關打到ON →請參照請與效勞窗口聯系●Ｘ射線系統硬件故障。也沒有X射線產生。 →請與效勞窗口聯系3ON●發生瞬間停電。OFF。 →在頻繁瞬間停電環境中，請設置為無停電電源?！裨陂_閉器翻開的狀態下，樣品門被翻開→關閉樣品門●Ｘ射線發生系統的硬件故障→請與效勞窗口聯系。4、投入電源后，測定頭內發●冷卻風機被臟東西堵住。出特別聲音。 →用吸塵器吸凈?！駵手逼鞯尿寗玉R達失調。→請與效勞窗口聯系。5、程序不起動。 ●硬盤的內容(或硬件)損壞。→請與效勞窗口聯系。6、不顯示觀看樣品圖像 (SEA1000系列) →確認配線●觀看樣品的照明設置不正確→在觀看樣品畫面正確設置照度●因電源紊亂引起攝像頭失控?！鷮y定頭的電源關閉后再翻開。并且假設X-ray工作站一旦退出，請再次啟動?！駭z像頭或CCD相機故障→請與效勞窗口聯系7、鼠標指針不動作 ●鼠標配線脫線→請確認配線●電源干擾等造成的程序失控?！鷧⒄沼嬎銠C手冊，執行CPU的復位。8、鍵盤輸入信號不被承受 ●鍵盤配線脫線請確認配線?！耠娫锤蓴_等造成的程序失控。參照計算機使用手冊，執行CPU的復位。9、樣品臺不動作 ●電源干擾等造成的程序失控?！策x項〕 →參照計算機使用手冊，執行CPU的復位。10、顯示器沒有任何顯示?！耧@示器電源未接通?！油@示器電源●電源線脫線。●沒有和主體正確聯接?！鷧⒄诊@示器使用手冊，進展各項調整?！窳炼仍O置不適宜→參照顯示器使用手冊，進展各項調整11、看不清顯示器上顯示的●亮度或比照度等的設置不適宜。文字 參照顯示器手冊進展調整?！耧@示器四周有AV儀器等高磁儀器。切斷高磁電子儀器的電源，或者拉開距離。12、即使按「測定開頭」也●Ｘ射線電源關閉。不開頭。 ●顯示Ｘ射線OFF的錯誤信息。將Ｘ射線開關翻開。●樣品門開著?！P閉樣品門13、完成測定，但得不到ｘ●在低能量側，載有很大的特別信號(干擾)。射線光譜。 →切斷產生高磁的電子儀器的電源，或者拉開距離。●信號線脫線?！_認配線。14、Ｘ射線強度不穩定 ●室內溫度變化劇烈。校正頻度?！耠娫措妷鹤儎觿×??！埨貌贿B續電源。X原子編號元素符號日語名稱KαKβLα能量(KeV)LβLУMαMβ1H氫-------2He氦-------3Li鋰------4Be鈹------5B硼------6C炭------7N氮------8O氧------9F氟------10Ne氖------11Na鈉------12Mg鎂------13Al鋁-----14Si硅-----15P磷-----16S硫-----17Cl氯-----18Ar氬-----19K鉀-----20Ca鈣-----21Sc鈧----22Ti鈦----23V釩---24Cr鉻---25Mn錳---26Fe鐵---27Co鈷---28Ni鎳--29Cu銅--30Zn鋅--31Ga鎵--32Ge鍺--33As砷--34Se硒--35Br溴--36Kr氪--37Rb銣--38Sr鍶--39Y釔--40Zr鎬--41Nb鈮--號號日語名稱KαKβLαLβLУMαMβ42Mo鉬--43Tc锝---44Ru釕--45Rh銠--46Pd鈀--47Ag銀--48Cd鎘--49In銦--50S