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文檔簡介
二級試題G001.渦流檢測的最基本根源是基于物體的:A.導磁體B.傳光性C.導電性 D.傳聲性G002.從原理上講,下列材料中可采用渦流檢測的是:A.玻璃 B.陶瓷 C.水晶 D.石墨G003.從原理上講,下列材料中不能采用渦流檢測的是:A.玻璃鋼B.不銹鋼C.工具鋼D.軸承鋼G004.渦流檢測技術主要適應于導電材料的:A.中心探傷B.內(nèi)部探傷 C.表面及近表面探傷D.整體探傷G005,對金屬圓棒材,渦流探傷較難探出的是:A.表面裂紋 B.近表面夾雜C.棒材中心小縮孔 D.以上都是G006.為了區(qū)分各種因素對渦流的影響,在渦流探傷儀中應特別重視:A.信號放大 B.信號處理C.信號顯示D.信號報警G007.渦流技術能適應導電材料探傷的溫度是:A.常溫(-10~+40C)B.高溫(+800~1200C)C.中溫(+100~800C)D,以上均可G008.對截面材料為三角形、六角形、正方形等導電異形體,渦流探傷:A.全不能采用 B.全能采用 C.某一種能采用 D.有兩種能采用G009.再通有交變電流的線圈中放入導電試件時,則在試件中就會有渦流:A.感應出B,反射出C.擴散出D.激發(fā)出G010.在渦流探傷中,試件中感生出的渦流方向是:A.增加激勵磁場的變化 B.阻礙激勵磁場變化C.與激勵磁場變化無關D.與激勵場強絕對值有關G011.金屬線材在進行渦流探傷時,一般采用的探頭型式是:A.混合式B,穿過式C.旋轉(zhuǎn)式D.掃描式G012.用渦流點探頭進行渦流探傷,能適應于:A.金屬細絲 B.鋼絲繩C.方坯內(nèi)部 D.板材表面G013.已裝于冷凝器中的銅管如采用渦流探傷,應選用的探頭型式是:A.扇形B.穿過式C.點式D,內(nèi)插式G014.鋼、銅、鋁三種金屬的導電率應符合如下關系:A.8鋼>8銅>8鋁 B.8鋁>8銅>8鋼C.8銅>8鋁>8鋼 D.8鋼>8鋁>8銅G015.鋼、銅、鋁三種金屬的電阻率應符合如下關系:A.p鋼>p鋁>p銅 B.p銅〉p鋁>p鋼C.p鋁>p鋼>p銅 D.p鋼〉p銅〉p鋁G016.材料的電阻率和導電率的關系是:A.成正比B.成反比C.無關系D.相等G017.在渦流探傷時,既有渦流磁場存在,也存在磁疇形成的自發(fā)磁場的材料是:A.有色金屬 B.稀有金屬 C.鐵磁金屬 D.貴金屬G018.鐵磁材料的磁導率 科可用下述公式計算:A.科=HBB,科=B/HC.科=H/BD,科=H+BG019.鋼材中的磁導率科的數(shù)值是:A.恒定值B.1C.一個隨磁場強度變化的變量 D.0G020.紫銅的相對磁導率科r是:A.0 B,無窮大C.約為1D.無窮小
G021.在渦流探傷時,試件中的渦流將:B.在試件中均勻分布D,B.在試件中均勻分布D,以上全不對C.主要集中于試件表面G022.在相同激勵頻率之下,鋁、銅、銀三種金屬的滲透深度應符合:A.8鋁>8銅>8銀B. 8銅>8鋁>8銀C.8銀>8銅>8鋁D.8鋁>8銀>8銅G023.在相同激勵頻率之下,同一鋼試件,磁飽和前后的滲透深度應符合:A.S前>S后B.S前=S后C.S前<S后D.S前=2S后G024.對同一導電試件,若激勵頻率提高到原來的九倍, 即f2=9f1。則滲透深度應符合:A."=1/98iB."=1/38iC.82=98i D.82=381G025.距離表面的距離為滲透深度的點處的渦流密度約降至表面渦流密度的:A.63%B.50%C.37%D.10%G026.某鋼試件,在未進行磁飽和時,滲透深度為 1mm,若進行磁飽和后,導磁率降至原來的 1%,則此時的滲透深度為:A.0.01mmB.0.1mmC.1mmD.10mmG027.為了探出所需深度中的缺陷,在渦流探傷中可選用的條件是:A.試件電導率B.激勵頻率 C.試件導磁率 D.試件尺寸G028.特征頻率是:A.試件的固有屬性 B.外加激勵頻率的函數(shù)C.與所用探頭型式有關 D.與所用功率放大器有關G029.相同材質(zhì)的兩根導電棒,直徑大的那根棒材的特征頻率:A.高B.低C.相同于直徑小的 D.與直徑無關G030.相同規(guī)格的紫銅管和黃銅管相比較,則特征頻率 fg符合的關系為:A.fg紫銅>fg黃銅B.fg黃銅〉fg紫銅C.fg黃銅=fg紫銅D.無法相比較G031.在渦流探傷中,最佳激勵頻率區(qū)域是:A.某一定頻率 B.特征頻率C.某一頻率范圍 D.某一點頻率G032.要從檢測線圈中取出渦流磁場變化的信息,可選取:A.信號幅度和波形前沿 B.信號幅度和信號相位C.信號幅度和線圈電阻溫度系數(shù) D.信號幅度和線圈自感系數(shù)G033.探頭由于離開試件距離變化而引起缺陷信號幅度變化的效應,稱為:A.末端效應 B.提離效應 C.靈敏度效應 D.速度效應G034.穿過式線圈的填充系數(shù)近似的是指試件與線圈的:A.直徑之比 B.長度之比 C.截面積之比 D.圓周長之比G035.當試件直徑為10mm,穿過式線圈平均直徑為12mm,則填充系數(shù)為:A.5/6B.25/36C.6/5D.36/25G036.穿過式線圈的填充系數(shù)的范圍為:A.0~1B,0.5~1C.1~2D.1~10G037.穿過式線圈探傷時若填充系數(shù)增大,則渦流探傷靈敏度:A.按線性減小B.不變C.增大D.按指數(shù)規(guī)律減小G038.渦流探傷中的填充系數(shù)是:A.試件的固有屬性 B.穿過式線圈的固有屬性C.與試件和穿過式線圈均有關系的一個性能 D.以上全對
G039.當渦流探傷靈敏度最高,渦流流動方向與缺陷主平面一般是A.平行B.垂直C.不接觸D.傾斜G040.影響渦流探傷的主要試件參數(shù)是試件的:A,電導率 B,磁導率 C.幾何形狀 D.以上均是G041.如渦流探傷的激勵頻率降低,而場強不變,則金屬棒材中心的渦流密度會:A.增加 B.減小 C.急劇增大 D.恒等于0G042.如渦流探傷的激勵頻率增加,而場強不變,則試件表面的渦流密度會A.增加B,減小C.不變 D.等于0G043.薄壁管特征頻率fg的計算公式是:A.fg=5066/刀r?8?di2 B.fg=5066/刀r?8?do2C.fg=5066/r]r?S(d02-di2) D.fg=5066/刀r?8?di?wG044.如果在穿過式線圈的激勵繞組中通以直流電流,則在線圈中的靜止試件中A.不能感應出渦流 B.可感應出少量渦流C.可感應出大量電流 D.可感應出直流電流G045.如圖(45)所示波形,有:Vz45oA. Vi滯后 V290o B.Vi領先 V290o C. Vi滯后 V245o D. Vi領先Vz45o圖(45) 圖(52)G046.在鋼管渦流探傷中,噪聲顯著增加的原因可能是:A.電源保險絲斷開 B.激勵繞組斷路C.放大器放大倍數(shù)漂移 D.直流磁飽和電流降低G047,采用頻率比f/fg這個概念作出阻抗圖就可適應于:A.各種激勵電壓 B.各種激勵電流C.各種激勵信號波形 D.各種激勵頻率G048.下列材料在用旋轉(zhuǎn)點探頭進行渦流探傷時,其中一定要采用磁飽和裝置的是:A.軸承鋼 B,不銹鋼C.鋁材D.全部可以不要G049.下列材料在用穿過式線圈在用進行渦流探傷時,其中一定要采用磁飽和裝置的是:A.饃銅合金 B.鋁黃銅C.鉛黃銅D.紫銅G050.渦流探傷的相似率,指的各種試件探傷結(jié)果相似時,必定有相同的:A.試件形狀 B.頻率比f/fg C.信號相位 D.間距G051.穿過式線圈測量繞組上的感應電壓與之有關的是:A.測量繞組阻抗 B.測量繞組線徑C.激勵磁場強度 D.激勵繞組形狀G052.在下圖(52)中磁滯回線中,Br點稱為:A.矯頑力B.初始磁感應 C.剩磁D.磁通量53.在下述電導率變化阻抗圖(53)的軌跡上有A、B、C三點,則:A.Sa>Sb>ScB.Sc>Sb>SaC.Sb>Sc>SaD.Sa=Sb=ScAA圖(53)G054.在用穿過式線圈進行渦流探傷時, 耦合系數(shù)的改變會引起線圈阻抗如圖 (54)所示的變化,有:A.Y]1>Y]2>Y]3B.Y[3>Y[2>Y[1C.Y]2>Y]1>Y]3D.Y]1>Y]3>Y]2圖(54) 圖(54) 圖(55)G055.在圖示(55)的阻抗圖軌跡上,表示缺陷引起的阻抗變化方向是:A.ABB.BCC.BDD.BEG056.所謂線圈的歸一化阻抗是指線圈的電抗和電阻(不包括線圈本身電阻)比上:A.線圈的電壓B.線圈的電流A.線圈的電壓B.線圈的電流G057.線圈的電抗的表達式是:A.coLB.27tcoLC.271fLG058.在作歸一化阻抗圖時,將線圈阻抗值除以適應于各種不同的()的線圈阻抗:A.匝數(shù)B.激勵頻率C.線圈電感G059.渦流檢測線圈必須具備的功能是:C.線圈的導納 D.空心線圈的電抗D.A和CcoL0,這樣處理后,使歸一化阻抗圖可D.以上三項全是B.檢測并放大信號B.檢測并放大信號D.檢測并處理信號B.在試件中激勵出渦流D.激勵出試件磁疇A.激勵渦流和放大信號C.激勵渦流和檢測信號G060.激勵繞組的功能是:A.發(fā)現(xiàn)試件中渦流變化C.發(fā)現(xiàn)試件中的分子磁矩G061.測量繞組主要用來檢測試件中變化的:A.激勵磁場 B.渦流磁場 C.磁疇磁場D.以上三者都是G062.對方形截面的導電試件,選用渦流探傷時可采用:A.穿過式探頭 B.旋轉(zhuǎn)式探頭C.混合式探頭D.以上三者都可以
G063.常用的自比差動式穿過式線圈屬于:A.軸向激勵軸向測量 B.軸向激勵法向測量C.法向激勵軸向測量 D.法向激勵法向測量G064.有兩只直徑不同的自比差動式穿過式探頭,若已知兩個差動測量繞組的匝數(shù)誤差相等,當兩者的激勵繞組產(chǎn)生相同的磁場強度,則探頭的零電勢是:A.直徑大的大 B,直徑小的大C.二者零電勢相等 D.零電勢是一恒定值G065.對檢測探頭來講,干擾信號是相對的,例如:A.對探傷來講,材質(zhì)變化、尺寸變化是干擾源B.對材質(zhì)分選講,缺陷情況、尺寸變化是干擾源C.對尺寸測量講,缺陷情況、材質(zhì)變化是干擾源D.以上三句全對G066.對穿過式探頭來講,間距效應一般:A.不存在 B.也存在C.只在動態(tài)時存在 D.只在靜態(tài)時存在G067.自比差動內(nèi)插式探頭的骨架中,二個測量繞組的尺寸(位置、寬度、深度等)對探頭零電勢大?。篈.影響很大 B.影響很小C.根本沒有影響 D.只在特殊情況下有影響G068.檢測探頭的研究方式,主要是通過:A.大型電子計算機的精密運算 B.求解麥克斯韋方程組C.矢量阻抗圖的圖示分析 D.理論估算和大量的實驗G069.具有兩個差動連接的測量繞組的探頭屬于:A.磁差式 B.分壓式A.磁差式 B.分壓式G070.橋路原理:A.只適應于點探頭C.只適應于扇形探頭G071.絕對式線圈:A.只能用于手動探頭C.只能用于穿過式探頭G072.扇形線圈主要用于:C.電差式D.分液式B.只適應于穿過式探頭D.以上三種都適應B.只能用于旋轉(zhuǎn)探頭D.以上三種都適應A.內(nèi)孔探傷B.零件探傷 C.絲材探傷 D.焊縫探傷G073.細金屬絲材渦流探傷,一般使用的探頭型式為:A.穿過式 B.內(nèi)插式C.旋轉(zhuǎn)式D.混合式G074.穿過式探頭較難用于探測的是:A.①20棒材表面起皮 B.①1絲材夾雜B.C.10X20矩形管材泄露 D.1000X2000板材表面凹坑G075.在制訂棒材表面快速 (>100米/分) 渦流探傷方案時,應優(yōu)先選用的探頭型式是:A.點探頭 B.穿過式 C.內(nèi)插式 D.扇形G076.點探頭的分辨率比穿過式探頭:A.高 B.低 C.相同 D.不能相比G077.若被檢管材從①10mm調(diào)換為①20mm時,只需調(diào)換一下位置,而不需要另換探頭的是:A.旋轉(zhuǎn)點探頭B.穿過式探頭 C.內(nèi)插式探頭D.扇形探頭G078.點探頭與被檢管材之間的相對運動方式,可以是:A.點探頭旋轉(zhuǎn)、被檢管直線前進 B.點探頭不動、被檢管即旋轉(zhuǎn)有前進C.將點探頭沿管圓周排成一圈,被檢管直線前進 D.以上各條都行G079.渦流探傷中所說的靈敏度應是指:A.信號幅度與噪聲幅度之比 B.信號相位與噪聲相位之比C.信號頻率與噪聲頻率之比 D.信號寬度與噪聲寬度之比G080.在檢驗渦流探傷設備時,所謂的漏檢率與錯檢率,在通常情況下,是指檢驗:A.自然傷B.缺陷的絕對深度 C.標準傷D.缺陷的絕對體積G081.描述檢測線圈能區(qū)分開兩個最近缺陷距離的術語是:A.分辨力B.準確度 C.靈敏度D.線性度G082.有效磁導率^eff是指:A.試件的真實磁導率B.真空磁導率C.一個假設的隨試件各點性能變化的磁導率C.標準試件的相對磁導率G083.自比差動式線圈中,兩個測量繞組的接法是:A.第一個繞組的“頭”接第二個繞組的“尾”B.第二個繞組的“頭”接第一個繞組的“尾”C.第一個繞組的“頭”接第二個繞組的“頭”D.以上三種均可以G084.穿過式探頭中測量繞組上的感應電流的大?。篈.與測量繞組直徑無關 B.與測量繞組直徑成正比C.與測量繞組直徑平方成正比 D.與測量繞組直徑立方成正比G085.在試件和穿過式探頭之間的環(huán)行空間中,若用有效磁導率的概念,則 ^eff應看成:A.等于1B.等于0C.等于負數(shù)D.等于科。G086.穿過式探頭的測量繞組匝數(shù)增加一倍,其上的感應電壓為原有感應電壓的:A.4倍B.2倍C.相等D.1/2倍87.制作穿過式線圈骨架,通??刹捎玫牟牧鲜牵篈.軸承鋼B.橡皮C.膠木或尼龍 D.饃銅合金G088.穿過式線圈骨架,在強度許可的范圍內(nèi),測量繞組離骨架內(nèi)徑的距離:A.越小越好 B.越大越好 C.任意值都一樣 D.最佳值為1mmG089.通常對內(nèi)差式探頭來講,激勵繞組繞于測量繞組的:A.外部 B.部分內(nèi)部分外C.內(nèi)部 D.以上都不行G090.橋路原理是指當橋路平衡時:A.相對二橋臂阻抗之和相等 B.相對二橋臂阻抗之差相等C.相對二橋臂阻抗之積相等 D.相對二橋臂阻抗之商相等G091.若橋式探頭的各參數(shù)固定不動,其探到缺陷時,引起橋路有輸出的原因是:A.橋臂系數(shù)K B.橋路臂比AC.橋路電源E D.探頭繞組阻抗相對變化SZ3G092.為了提高探頭靈敏度,點探頭繞組是繞于:A.矽鋼片上 B.鐵**氧磁心上 C.塑料上D.不銹鋼上G093.自比差動式穿過式線圈最難檢出:A.棒材表面的凹坑 B.線材上的起皮C.管材上均勻深度的長裂紋 D.絲材上的夾雜G094.為了探出管材上深度均勻的長傷,旋轉(zhuǎn)點探頭中,兩個差動連接的繞于磁心上的繞組,其排列方向應:A.沿管材軸向 B.沿管材圓周方向C.這兩種都可以 D.這兩種都不可以G095.點探頭離試件表面距離變大時,探傷靈敏度:A.下降 B.提高 C.不變 D.忽高忽低G096.檢測探頭探到試件上的缺陷時,會使測量繞組發(fā)生變化的:A.只有電阻 B.只有電抗C.同時有電阻和電抗 D.先電阻后電抗G097.用自比差動式探頭對管材進行探傷時,能抑制干擾信號是:A.應力緩慢變化 B.直徑緩慢變化C.電導率緩慢變化 D.以上三點全是G098.線圈阻抗的單位是:A.亨利B.歐姆C.法拉D.庫侖G099.渦流探傷儀中的零電勢補償器是用來:A.抵消檢測線圈中的零電勢 B.減弱檢測線圈的提離效應C.增加探傷的分辨率 D.減小儀器中直流放大器的零點漂移G100.渦流探傷儀中給探頭提供激勵電流的單元是: :A.移相器和相敏檢波器 B.振盈器和功率放大器C.高、低通濾波器 D.示波器和報警器G101.為了從緩慢的尺寸變化信號中分析出短促的缺陷信號,可采用:A.低通濾波器B.旁路濾波器 C.高通濾波器 D.電源濾波器G102.相敏檢波器為了起到阻抗分析的作用,除要加入缺陷信號之外,還要加入:A.經(jīng)移相的激勵信號 B.不經(jīng)移相的激勵信號C.任意相位的正弦信號 D.以上三種都可以G103.幅度鑒別器可用來提高缺陷信號的:A.幅度 B.周期 C.信噪比 D.帶負載能力G104.在渦流探傷儀中實現(xiàn)阻抗分析法的主要單元是:A.標記器B.放大器C.相敏檢波器 D.記錄器G105.在渦流探傷儀中實現(xiàn)調(diào)制分析法的主要單元是:A.掃描電路 B.報警電路 C.選通電路 D.濾波電路G106.調(diào)制分析法用來分析的是:A.各種因素引起信號的相位不同B.各種因素引起信號的幅度不同C.各種因素引起信號的頻率不同 D.各種因素引起信號的調(diào)制頻率不同G107.在用穿過式探頭探傷中,沿軸向的長傷的調(diào)制頻率比短缺陷的調(diào)制頻率:A.低 B.相等 C.高 D.以上三種均不對G108.在用旋轉(zhuǎn)點探頭對棒材進行探傷中,容易漏檢的傷是:A.軸向深度均勻的長傷B.凹坑C.深度均勻的環(huán)狀傷 D.起皮G109.相敏檢波器主要只能抑制掉:A.一個干擾噪聲B.二個干擾噪聲 C.三個干擾噪聲 D.多個干擾噪聲G110.幅度鑒別器可用來抑制的噪聲是:A.任意幅度的 B.幅度大于缺陷信號的C.幅度小于缺陷信號的 D.幅度等于缺陷信號的G111.從原理上看,用于鋼管和用于有色管的渦流探傷儀的結(jié)構(gòu)和性能(除磁飽和以外):A.根本不同 B.基本相同 C.有一點相同 D.大部分不同G112.直徑小于①0.1mm的金屬細絲渦流探傷所用的激勵頻率約是:A.幾十兆周 B.幾百千周 C.幾千周D.幾百周G113.金屬板材采用渦流探傷時,應選擇:A.快速掃描的點探頭和多通道探傷儀器 B.穿過式探頭和多通道探傷儀器C.內(nèi)插式探頭和單通道探傷儀器 D.混合式探頭和多通道探傷儀器G114.在對厚壁管進行渦流探傷時, 為了將內(nèi)外壁缺陷信號分開,可利用信號的:A.幅度B.相位C.頻率D.波形G115.用信號的相位角不同來鑒別試件中各種參數(shù)的技術稱為:A.相關技術 B.相移技術 C.相位迭加技術 D.相位分析技術G116.渦流探傷中,探頭橋路平衡欠佳會引起:A.產(chǎn)生靈敏度降低 B.產(chǎn)生異狀的哨叫C.產(chǎn)生間隙振盈 D.產(chǎn)生周期性噪聲G117.“自動平衡”是渦流探傷儀中的一個部件,它可以自動的:A.消除缺陷信號 B.補償儀器溫度漂移C.抵消探頭零電勢 D.減小激勵信號相位變化G118.填寫下列渦流探傷儀方框圖:I振蕩器、n報警器、出示波器I振蕩器、n移相器、出相敏檢波器C.I振蕩器、n記錄器、出放大器d.I振蕩器、n補償器、出標記器G119.用渦流法測量非金屬涂層厚度的機理是:A.末端效應 B.速度效應 C.渦流熱效應 D.提離效應G120.用渦流技術,可以自動分選的是:A.不銹鋼和低碳鋼 B.銅和膠木 C.鋁和饃D.以上三類均可以G121.渦流涂層厚度測量儀可用來測量:A.導電基體上的非導電涂層 B.導磁基體上的非磁性涂層C.鋁合金上的氧化膜 D.以上三種均可以G122.判斷被檢產(chǎn)品是否合格的標準稱為:A.性能標準 B.調(diào)試標準 C.驗收標準 D.自然標準G123.管材上的鉆孔標準傷最能模擬:A.泄露 B.凹坑 C.短而嚴重的起皮 D.以上三種均可以G124.縱向刻痕標準傷最能模擬:A.橫向斷裂 B.針孔C.疏松D.自然的縱向裂紋G125.渦流探傷中采用的人工標準傷是:A.自然缺陷深度的度量標準 B.作為調(diào)整儀器用的標準當量C.自然缺陷體積的度量標準 D.自然缺陷截面積的度量標準G126.做標準傷的試件必須與被檢試件:A.具有相同的自然缺陷B.具有相同的長度C.具有相同的合金成分、形狀、規(guī)格及熱處理情況D.具有相同的質(zhì)量G127.漏檢率和誤檢率是用來討論探傷設備性能指標中的:E.靈敏度B.速度C.分辨率D,可靠性F.G128.作為標定儀器的基準或在評定檢測結(jié)果時作比較用的試樣為:A.零平衡器 B。移相器C.參考標準試樣 D。高通濾波器G129.有用信號的響應或振幅與檢驗無用的響應或信號的振幅之比稱為:A.泊松比 B。信噪比C.電導率磁導率比 D。電抗電阻比G130.下列哪一向不是渦流儀器的基本部件?A.放大器 B。線圈C.液體耦合劑 D。檢波器G131.用差動式線圈比較標準試樣與被檢工件時,儀器應用下列哪一項調(diào)節(jié)平衡?A.一個線圈中的標準試樣B.一個線圈中的參考標準試樣和另一個線圈中的合格工件C一個線圈中的參考標準試樣和另一個線圈中的不合格工件D.一個線圈中工件G132.下列哪一種情況下,渦流檢測線圈的阻抗會增加?A.檢測頻率增加 B。線圈感抗減少C.線圈電感減少 D。線圈電阻減少G133.下列哪一項制品通??捎么┻^式線圈檢測?A.棒、管和線材 B。需整體檢查的板件C.薄板和金屬化箔 D。上述三項G134.用穿過式線圈檢查直的管子時,下列哪一項填充系數(shù)將認為是最好的?A.0.95(95%)B。1.75(175%)C。0.50(50%)D。0.25(25%)G135.當一鐵磁性材料的工件放在渦流檢測線圈中時,線圈的阻抗將被工件中哪一項參數(shù)所改變?A.電導率 Bo尺寸Co磁導率 D。上述三項G136.渦流是在導電物體中感生的環(huán)流電流,它由下列哪項產(chǎn)生?A.丫射線 B。交變磁場 Co壓電力D。上述的任一個G137.材料電導率隨下列哪項的變化而變化?A.試樣的合金成分 B。試樣的熱處理
C.試樣的溫度DC.試樣的溫度G138.裝有彈簧的渦流探頭式線圈主要目的是要:A.減少提離的變化B。減少探頭的磨損D。消除邊緣效應B。測量電導率的變化D。消除邊緣效應B。測量電導率的變化D。確定合適的檢驗頻率G139.提離效應可用來:A.測量磁導率的變化C.測量不導電復層的厚度G140.當檢查均勻截面的工件時,工件頭部和尾部趨進檢測線圈時就會產(chǎn)生渦流信號。這個現(xiàn)象稱為:A.提離效應 Bo邊緣效應 Co填充系數(shù) D。相位鑒別G141.下列哪個檢驗頻率產(chǎn)生最大透入深度的渦流?A.100Hz Bo10KHzCo1MHZ D。10MHzG142.檢驗線圈阻抗的增加將:A.引起流過檢驗線圈的電流的增加B.引起流過檢驗線圈的電流的減少C.對流過檢驗線圈的電流無影響D.使加到線圈的電壓降低G143.下列哪項會影響穿過式線圈的阻抗?A.線圈中試樣的電導率 B.線圈中試樣的磁導率C.填充系數(shù) D.上述的三項G144.雙繞組檢測線圈結(jié)構(gòu)中,一個繞組成為初級繞組,另一個稱為:A.絕對式繞組 B。次級繞組C.相位繞組 Do上述的都不是G145.渦流檢測線圈中次級繞組的主要作用是:A.在試樣中感應出渦流 B。檢出渦流的變化C.在試樣中感應出渦流和檢出渦流的變化 D。提供直流磁飽和G146.下列哪種渦流檢測線圈是將試樣的一部分作參考標準與試樣的另一部分進行比較?A.單個絕對式線圈 Do雙個絕對式線圈C.直流磁飽和線圈 D。差動式線圈G147.橢圓法顯示所用的讀出器件是?A.電表 B。紙帶記錄儀 Co陰極射線管 D。上面的任一種G148.下列哪項對渦流檢測是不合適的?A.要高速檢測 B。要正確測量電導率C.對小缺陷要有很高的靈敏度 D。要透入到試樣6厘米處G149.用哪種線圈可同時檢查試樣整個圓周?A.穿過式線圈 B。探頭式線圈Co次級繞組 D。上述三種都不是G150.用渦流法分選不同的非鐵磁性合金通常是可能的,但:A.每一合金的磁導率應有唯一范圍B.每一合金的電導率應有唯一范圍C.每一合金感生的渦流方向應不同 D.每一合金磁矩應是不同的G151.下列哪種制品用內(nèi)插式線圈來檢驗最合適?A.薄板 B。棒材C.螺栓孔 D。涂層厚度G152.為了在試樣中產(chǎn)生渦流,試樣必須:A.導體 D。絕緣體C.導體或者絕緣體 Do鐵磁性材料G153.在導體中流動的交流電流將會建立:A.一個環(huán)繞導體周圍的交變電場B.一個正切于導體的周期性變化的電壓C.一個環(huán)繞導體周圍的交變磁場D.上述三項都不是G154.下列哪項會影響在交流線圈附近交變磁場特性?A.線圈的參數(shù) B.加到線圈上交流電流的大小C.加到線圈上交流電流的頻率 D.上述三項都是G155.當使用有初級和次級繞組的穿過式線圈時,激勵用的交流電流是加到:A.次級繞組上B。初級繞組上C.初級繞組或者次級繞組上,取決于儀器結(jié)構(gòu)D.初級繞組和次級繞組上G156.下列哪種讀出裝置不能表示渦流儀器的信息?A.校準過和未校準過的電表 B 。石芯試紙C.陰極射線管 D 。紙帶記錄儀G157.下列的哪項不是改善信噪比的方法?A.改善檢測頻率以降低噪聲 B.增加檢驗儀器的放大倍數(shù)C.改善填充系數(shù) D .在儀器中增加濾波器G158.當管子中感應出了渦流,由缺陷所引起的信號振幅取決于:A.缺陷深度 B。缺陷寬度C.缺陷長度 D。上述三項都是G159.一個線圈的磁場可看作是圍繞線圈磁力線的分布。單位面積磁力線的數(shù)值定義為:A.磁場強度 B。磁通密度 C。磁耦合 D。磁滯密度G160.渦流檢測能用來:A.測量涂層厚度 Bo測量包殼厚度C.測量薄板厚度 D。上述三項都是G161.下列的哪一特征是鐵磁性材料所沒有的?A.高磁導率 B。沒有磁滯回線C.在磁滯回線上有明顯飽和值 D.相當大的剩磁G162,下列哪一種方法不能用在渦流檢測中?A.脈沖反射法 B。阻抗分析法 C。相位分析法 D。調(diào)制分析法G163.對渦流探傷來說,鐵磁性材料達到飽和是指當磁化電流再增加時,信噪比將:A.開始增加 Bo開始降低 Co沒有明顯變化 D。突然下降到零G164.用來說明儀器輸出為零達到平衡的術語是:A.高頻標準化 B。積分 C。零平衡 D。微分G165.磁通密度的單位是:A.馬克斯威爾 B。高斯 C。歐姆D。姆歐G166.時效硬化的鋁合金和鈦合金當硬度變化時一般還伴隨著有下列哪項變化?A.乘IJ磁 B。磁導率 Co磁致伸縮 D。電導率G167.對比試樣中的孔、槽用來提供能精確的重復顯現(xiàn)的信號振幅,這種孔、槽的名稱是:A.天然缺陷B。人工缺陷 C。橢圓 D。上述三項都不是G168.有一種渦流線圈它既不能對試樣兩個部分進行比較又不能對試樣的一個部分與標準試樣進行比較,這種線圈稱為:A.絕對式線圈 B。自比差動式線圈C.他比差動式線圈 D。上述三項都是G169.下列哪項通常可用渦流法檢測?A.電導率的測量或電導率和磁導率的測量B.薄金屬片、包殼或涂層厚度的測量C.表面和近表面下缺陷的測量D.上述三項都是G170.下列哪項不是使用標準試樣的主要目的?A.確定渦流儀器是否符合檢驗的要求B.確定是否引起報廢C.設定儀器旋鈕位置以保證最高的試樣傳送速度D.確定儀器靈敏度是否隨著時間產(chǎn)生漂移G171.一種頻率為60赫的渦流比較儀可測量下列哪種差異所引起的變化?A.尺寸或形狀 B。尺寸牌號或化學成分B.材料加工方式 D。上述三項都是G172.用自比穿過式線圈檢測一根從頭到尾有均勻?qū)挾群蜕疃鹊拈L槽的管子將會產(chǎn)生:A.大小不等的信號 B。一個持續(xù)不斷的信號C.沒有信號 Do過大的信號G173.在渦流探傷中,如欲得到在非鐵磁性材料管子表面任意位置上的已知缺陷的最佳靈敏度,應該:A.適當選擇頻率 B。使管子在線圈的中心C.適當調(diào)節(jié)相位 Do上述三項都是G174.旋轉(zhuǎn)探頭式渦流探傷儀對下列哪項是很有用的?A.測量鐵磁性材料的工件厚度B.六角型材的探傷C.檢出和正確定位表面和表面下的缺陷D.測量同母線排的電導率G175.下列哪種不屬于無損檢測方法?A.超聲方法 B。腐蝕方法 Co渦流方法 D。射線照相方法G176.在穿過式線圈的渦流探傷儀中,標定用的標準試樣是用來:A.保證儀器的重復性和可靠性B.精確標定缺陷深度C.降低震動的敏感性D.測量檢驗頻率G177.在穿過式線圈的渦流探傷儀中,要將標定用標準試樣上的缺陷以不同位置(如缺陷向上、向左、向右)幾次通過線圈,其目的是:A.校核相位靈敏度 Bo保證試樣與線圈的對中C.選擇調(diào)制頻率的旋鈕位置 D。選擇合適的檢驗速度G178.在穿過式線圈的渦流探傷儀中,檢驗頻率由下列哪項控制?A.示波器 B。靈敏度旋鈕位置C.振蕩器 D。調(diào)制頻率旋鈕位置G179.非鐵磁性材料中合金成分的變化一般會影響材料的:A.磁導率Bo電導率 Co直徑D。頻率G180.用線圈在試樣中產(chǎn)生渦流的方法,可用下列哪項很好的比擬?A.變壓器 B。電容器 C。蓄電池 D。發(fā)電機G181用來描述試樣與探頭線圈之間距離變化引起電磁耦合變化所產(chǎn)生的影響的術語是A.填充系數(shù)Bo邊緣效應 Co端頭效應 D。提離效應G182.用來描述在非常高的頻率下渦流僅限于導體極薄外層流動的現(xiàn)象術語是?A.趨膚效應B。高頻濾波 Co低頻濾波 Do邊緣效應G183.將直徑是1/2寸的棒材插入一個直徑 1寸的線圈,其填充系數(shù)為?A.0.5B。0.75C。1 D。0.25G184.用來定義儀器實際輸出與校準直線確定的輸出差別的術語是?A.相位移Bo非線性C。提離D。趨膚效應G185.下面哪一種裝置可用來抑制不需要的高頻諧波A.低通濾波器Bo振蕩器Co相位鑒別器 D。高通濾波器G186.由二次繞組和一次繞組組成試驗線圈中,二次繞組線圈兩端的電壓是什么的函數(shù)?A.材料磁導率 B。實驗頻率 C。物體幾何形狀 D。以上都是G187材料周圍的磁場強度H增大然后降低到零時,描述零件內(nèi)磁感應強度B的術語是A.矯頑力 B。剩磁 Co飽和值 Do磁滯損耗G188.用來定義使材料剩磁減小所需要的磁場 H值的術語是:A.矯頑力 B。磁化力 C。反電動勢D。剩磁G189.影響渦流試驗的試樣的三個主要參數(shù)是A.電導率、頻率和材料幾何形狀B.密度、電導率和頻率C.電導率、磁導率和材料的幾何形狀D.熱導率,電導率和磁導率G190.用試驗信號產(chǎn)生的相位角不同來鑒別零件中變量的技術叫做 /A.相位失真 B。相移Co相位補償 Do相位分析G191如果一種材料的特征頻率 (fg)為125Hz給出f/fg比為10時所需要得試驗頻率為:A.1.25HZ B。12.5HZC。1.25KHZD。12.5KHZG192.用來定義正弦信號的輸出不隨輸入線性變化的術語是A.失真 B。線性 C。相移 D。動態(tài)范圍G193.在試驗頻率一定的情況下,下面哪一種材料中渦流的透入深度最大?A.鋁(35%IACS電導率)B。黃銅(15%IACS電導率)C.銅(95%IACS電導率)D。鉛(7%IACS電導率)G194.如果試驗頻率增大而場強不變則表面渦流密度:A.減小 Bo增大 Co不變 D。以上都有可能G195.電導率變化一定時,填充系數(shù)減小,傳感線圈阻抗的變化量將?A.減小 Bo增大 Co不變 D。以上都有可能G196.用自比較差動線圈對管材進行檢驗時,下面哪一種比較容易檢查?A.直徑的逐漸變化 B。電導率的逐漸變化 Co溫度變化 D。短缺陷G197.為了消除試驗線圈匝數(shù)的影響,阻抗圖的電感值應A.不考慮Bo歸一化Co修正到1D。以上都不是G198.材料中的磁通密度通常用什么表示?A.符號科B。符號(TC。字母BD。字母HG199.在激勵線圈周圍使用磁屏蔽一般會使A.磁場范圍擴大但渦流透入減小B.磁場范圍渦流透入增大C.磁場范圍減小但渦流透入增大D.磁場范圍渦流透入減小G200.用來定義交流信號中時間的關系術語A.大小Bo相位Co阻抗D。電抗G201.為什么進行渦流檢驗時要特別注意信號出號處理 ?G202.什么叫檢測線圈的邊界效應?G203.簡述電檢測線圈的用途和工作原理。G204.常用渦流檢驗線圈分哪幾類?其應用范圍有什么不同?G205.用于材料分選的渦流導電儀為什么要選用不同的工作頻率?G206.渦流導電儀能用于探傷嗎?為什么?G207.利用渦流法測量謹慎導體表面絕緣膜曾厚度時,如何工作頻率?G208.利用渦流法測量金屬薄板厚度時,如何選擇工作頻率?G209.為什么對鋼管進行渦流探傷時要使用磁飽和裝置?G210.用于飛機現(xiàn)場檢測的探頭線圈渦流儀,需要擬制提離效應嗎?為什么?G211.渦流導電儀能用來測量金屬基體表面絕緣膜層厚度嗎?為什么?G212.渦流探傷用對比試件上的人工缺陷的用途是什么?G213.渦流導電儀能用于膜層厚度測量嗎?為什么?G214.為什么渦流探傷只適用于檢測材料表面及近表面缺陷 ?G215.渦流探傷時工作頻率的選擇原則?G216.有根銅棒淇直徑Do=1cm,=50.6米/歐.毫米2,當放入f=100Hz和1000Hz的線圈中,有效科eff=?G217.有一試樣銅棒,直徑為1cm,電導率(T=50.6米/歐.毫米2,廠=1,設探頭次級線圈為 1匝,H0=1奧斯特,求:1)極限頻率fg;2)如果工作頻率f選在f/fg=10,試算出…什實=?,eff虛=?,Eses虛=?,Eses實=?,并計算由于某種缺陷的存在,使b降低一倍時,這時的科eff實=?,科eff虛=?,Eses虛=?,Eses實=?的值.3)若f/fg=100,重復上述計算.G218.有一半徑為1.5mm的銅棒,當實驗頻率為2000Hz時淇有效磁導率科eff=?G219.為了驗證用2.5MC的實驗頻率對直徑為100dm鋁合金進行渦流檢測的結(jié)果 ,用400Hz的實驗頻率對銅棒模擬實驗,問銅棒直徑應為多少(。鴇=20吸2)11mm
G220.用1000Hz的實驗頻率對一根直徑為 1cm的銅棒進行渦流檢測的結(jié)果與用 5000Hz的實驗頻率對一根直徑為 0.1cm的鐵棒進行的渦流檢測的結(jié)果相似,試問鐵棒的相對磁導率約為多少(。鐵二。鐵二10m,修)10,產(chǎn)生G221.有一銅棒試件,直徑d=1cm,電導率=50.6M/◎.mm2小產(chǎn)1,當通過一個匝數(shù)為的空載磁場強度為H0=110,產(chǎn)生求1)Y]=1f=1000Hz時,E虛=?,E實=?,E=?Y]=0.8f=1000Hz時,E虛=?,E實=?,E=?G222.用穿過式線圈檢測一不銹鋼薄壁管 ,(r=2m/amm口=1,di=2.5cm,w=0.1cm,當f=20KC時,r]=0.8求:eff實=?,eff虛=?,E/E0=?G223.有一鋁薄板厚度為0.3+0.05mm,問用導電儀FQR-7501能否測量??G224.有一白銅(p=1410-8口.m)圓棒,半徑為1cm,f=1500Hz,通過諾模圖,求科ef=?試題題解1.C2.D3.A4.C5.C6.B7.D8.B9.A10.B11.B12.D13.D14.C15.A16.B17.C18.B19.C20.C21.C22.A23.C24.B25.C26.D27.B28.A29.B30.B31.C32.A33.B34.C35.B36.A37.C38.C39.B40.D41.D42.A43.D44.A45.B46.D47.D48.D49.A50.B51.C52.C53.B54.B55.B56.D57.D58.D59.C60.B61.D62.D63.A64.A65.D66.B67.A68.D69.C70.D71.D72.D73.A74.D75.B76.A77.A78.D79.A80.C81.A82.C83.C84.C85.A86.B87.C88.A89.C90.C91.D92.B93.C94.B95.A96.C97.D98.B99.A100.B101.C102.A103.C104.C105.D106.D107.A108.C109.A110.C111.B112.A113.A114.B115.B116.A117.C118.B119.D120.D121.D122.C123.D124.D125.B126.C127.D128.C129.B130.C131.B132.A133.A134.A135.D136.B137.D138.A139.C140.B141.A142.B143.D144.B145.B146.D147.C148.D149.A150.B151.C152.A153.C154.D155.B156.B157.B158.D159.B160.D161.B162.A163.C164.C165.B166.D167.B168.A169.D170.C171.D172.C173.D174.C175.B176.A177.B178.C179.B180.A181.D182.A183.D184.B185.A186.D187.B188.A189.C190.D191.C192.A193.D194.B195.C196.D197.B198.C199.D200.B201.在渦流檢驗時,因為渦流及其反作用磁場對代表導電材料的物理及工藝性能等多種參數(shù)都有反應,因而僅檢出被檢零件中渦流的變化而不加處理, 是不知道哪一種因素引起的變化。為了區(qū)分多種因素對渦流的影響, 在渦流檢測時就必須對信號進行處理, 以便提取的需要檢測的因素引起的渦流的變化。202.當檢測線圈接近被檢試件的邊界或端面時,由于試件中感生的渦流不可能流出試件外部而發(fā)生畸變,從而導致檢測線圈阻抗發(fā)生變化,著種現(xiàn)象叫做邊界效應。電差動檢測線圈是一個激勵線圈,兩個測量線圈。它適用于探傷。當被檢試件無缺陷時,差動連接的測量線圈(匝數(shù)相同,繞制工藝相同)的感應電壓大小相等,方向相反,相互抵消,從而無電壓輸出,一旦被檢試件中出現(xiàn)缺陷,并位于某一測量線圈中時,兩個測量線圈的感應電壓大小不可能相等。如有電壓輸出,可發(fā)現(xiàn)被檢試件中的缺陷.穿過式,檢測直徑不太大的管材表面缺陷時;內(nèi)通過式,檢測管材內(nèi)壁缺陷;放置式,大多數(shù)的管材都可以使用。渦流導電儀靈敏度一般用單位電導率的變化對應的檢測線圈阻抗變化來表示,根據(jù)渦流檢驗原理。對鋼材必須選擇合適的工作頻率,使得工作點處于線圈阻抗圖阻抗變化較大的曲線上,這樣,才能在檢測時,得到較高的靈敏度。能,渦流導電儀是用來測量導電材料電導率變化的渦流儀器,當用于操作探傷時,缺陷的存在會引起導電材料內(nèi)感生渦流的流動,這樣會引起電導率的變化,儀器有指示,因此可用于探傷。應選用較低的工作頻率。因為:1)擬制金屬導體材料不同,電導率變化引起檢測線圈阻抗的變化;2)擬制金屬導體較薄時,板厚變化引起檢測線圈阻抗的變化。選用較低工作頻率。原因是:增大渦流的滲透深度,擴大儀器的測量范圍,因為只有檢測減數(shù)薄板材料的厚度在渦流滲透深度范圍內(nèi)才能測量板厚。在檢測時,鋼管的磁性會引起渦流的變化,如果鋼管的磁性不均勻,則會產(chǎn)生噪聲,這種噪聲常常大于缺陷信號。在檢測時是鋼管磁飽和,鋼管的科值趨于一個固定值,這樣就可消除或大大減弱鋼管磁性不均勻引起的噪聲。需要,檢驗時,這種提離效應引起的檢測線圈阻抗的變化會產(chǎn)生偽缺陷信號影響缺陷的檢測。不能,測量金屬基體表面絕緣膜層厚度是利用檢測線圈的提離效應,而渦流導電儀必須設置提離擬制電路,以消除在測量導電材料電導率中提離不應引起的干擾。.1調(diào)整儀器設備;2測定儀器性能指標;3產(chǎn)品驗收標準。不能,測量基體金屬表面膜層厚度的原理是利用提離效應,而渦流導電儀中為了測量的可靠、準確,設置了提離效應擬制電路。趨膚效應的影響。滲透深度,表面缺陷選擇高的工作頻率,深度缺陷選擇低的工作頻率;具有最佳探傷靈敏度或者最佳相敏檢波的頻率為f/fg。516解:1)f=100Hz,先求fg=5066/bd2=5066/50.6X12=100Hzf/ fg=100/100=1查表得:weff實=0.1216…什虛=0.97982)f=1000Hzfg=100f/fg=1000/100=10查表得:…ff實=0.3494…什虛=0.
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