1、二磁性體磁場正演解讀二、實(shí)驗(yàn)要求假設(shè)地磁場方向與磁性體磁化強(qiáng)度方向一致且均勻磁化的情況下：設(shè)地磁場T=50000nT，磁傾角I=60，球體與程度圓柱體中心埋深R=30m，半徑r=10m，磁化率k=0.2SI，計(jì)算觀測剖面磁化強(qiáng)度程度投影夾角A=0時(shí)，要求計(jì)算：1、正演計(jì)算球體的磁場Za、Hax、Hay、T，畫出對(duì)應(yīng)的平面等值線圖、曲面圖及主剖面異常圖；2、正演計(jì)算程度圓柱體的磁場Za、Ha、T，畫出主剖面異常結(jié)果圖；3、通過改變球體與程度圓柱體的幾何參數(shù)、磁化強(qiáng)度方向I、計(jì)算剖面的方位角(A)，觀察主剖面磁場Za的變化，分析磁化方向與計(jì)算剖面對(duì)磁性體磁場的影響。 三、實(shí)驗(yàn)原理球體的磁場計(jì)算公式

2、程度圓柱體的磁場計(jì)算公式有效磁化強(qiáng)度與有效磁化傾角計(jì)算公式1、球體磁場計(jì)算公式： 式中m為球體總磁矩：2、程度圓柱體磁場計(jì)算公式： 式中ms為球體主剖面內(nèi)的有效磁矩：3、有效磁化強(qiáng)度Ms與有效磁化傾角is計(jì)算公式：四、程序編寫與圖示結(jié)果例子：1先定義測區(qū)范圍% 測點(diǎn)分布范圍dx=5; % X方向測點(diǎn)間距dy=5; % Y方向測點(diǎn)間距nx=81; % X方向測點(diǎn)數(shù)ny=81; % Y方向測點(diǎn)數(shù)xmin=-200; % X方向起點(diǎn)ymin=-200; % Y方向起點(diǎn)x=xmin:dx:(xmin+(nx-1)*dx); % X方向范圍y=ymin:dy:(ymin+(ny-1)*dy); % Y方

3、向范圍X,Y=meshgrid(x,y); % 轉(zhuǎn)化為排列四、程序編寫與圖示結(jié)果例子：2定義磁性體參數(shù)% 球體參數(shù)i=pi/4; %有效磁化傾角isa=pi/2; %剖面磁方位角r=20; % 球體半徑 mv=4*pi*R13u=4*pi*10(-7); %磁導(dǎo)率M=0.7 %磁化強(qiáng)度 A/mm=M*v; %磁矩R=30; % 球體埋深 m四、程序編寫與圖示結(jié)果例子：3計(jì)算磁異常Za、.)% 球體Za理論磁異常Za=(u*m1*(2*R.2-(X-50).2-Y.2)*sin(i)-3*R*(X-50).*cos(i)*cos(a)-3*R*Y.*cos(i)*sin(a)./(4*pi*(X

4、-50).2+Y.2+R.2).(5/2);四、程序編寫與圖示結(jié)果例子：4計(jì)算磁異常Za、.)hax=(u*m*(2*x.2-y.2-h.2)*cos(I)*cos(a)-3*h*x.*sin(I)+3*x.*y.*cos(I)*sin(a)./(4*pi*(x.2+y.2+h.2).(5/2);hay=(u*m*(2*y.2-x.2-h.2)*cos(I)*sin(a)-3*h*y.*sin(I)+3*x.*y.*cos(I)*cos(a)./(4*pi*(x.2+y.2+h.2).(5/2);za=(u*m*(2*h.2-x.2-y.2)*sin(I)-3*h*x.*cos(I)*cos(a)-3*h*y*cos(I)*sin(a)./(4*pi*(x.2+y.2+h.2).(5/2);dt=hax.*cos(I)*cos(a)+hay.*cos(I)*sin(a)+za.*sin(I);%總磁場強(qiáng)度異常四、程序編寫與圖示結(jié)果例子：5繪圖四、結(jié)果分析1、球體磁場的一般分布規(guī)律平面與剖面2、程度圓柱體磁場的一般分布規(guī)律主剖面3、磁化強(qiáng)度與計(jì)算剖面對(duì)磁場特征的影響五、實(shí)驗(yàn)報(bào)告報(bào)告要有封面、要裝訂，同時(shí)要電子版報(bào)告內(nèi)容要包括實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?shí)驗(yàn)內(nèi)容、實(shí)驗(yàn)原理、計(jì)算程序代碼、實(shí)驗(yàn)結(jié)果、結(jié)果分析或小結(jié)附圖1：球體磁場Za 和T特征磁化傾角I=9O(垂直磁化)磁化傾角I=O(程度磁化)附圖2