1、NDT培訓教材18 七月 2022Page 2NDT-無損檢測NDT (Non-Destructive Testing)-無損檢測方法:指利用非破壞式方式檢測材料，工件以及結構件的致密性或定量測定特定目標某些特征的方法;它是相對于破壞式測試方法，如機械性能測試。NDT的定義：Page 3常用NDT 方法： VT-Visual Testing 目視檢測NDT-無損檢測RT-Radiographic Testing 射線探傷UT-Ultrasonic Testing 超聲波探傷MT-Magnetic Particle Testing 磁粉探傷AET-Acoustic Emission Testin

2、g 聲發(fā)射探傷ET-Eddy Current Testing 渦流探傷PT-Liquid Penetrant Testing 滲透探傷Page 4NDT檢測方法一般用在哪些領域？缺陷的檢測和評估；泄漏測試；確定缺陷位置；尺寸檢測；宏觀和微觀特征檢測；NDT-無損檢測Page 5NDT-無損檢測各種無損檢測方法的水平等級：一級（初級）；二級（中級）；三級（高級）；按由低到高分為：這是一種最原始最基本的檢測方法。可檢驗工件的外觀形狀，尺寸，物理性能以及表面缺陷等。常用工具包括：反光鏡，放大鏡，內窺鏡；卡板，角尺，焊接尺等。一般而言，Vestas產品的焊縫，鑄件,鍛件，機加工表面都需要進行目視檢驗。

3、VT- 目視檢驗磁粉探傷的基本原理：鐵磁性材料或工件經過磁化后，在表面及近表面的缺陷處磁力線會發(fā)生變形，逸出工件表面形成磁極, 并形成可檢測的漏磁場。在工件表面撒上磁粉或者磁懸液，磁粉粒子會吸附在缺陷區(qū)域，顯示出缺陷的位置，形狀和大小。Page 7MT-磁粉探傷磁粉探傷的基本程序：預處理：清理工件表面的油污，灰塵和鐵屑等臟物，去除鐵銹和油漆等表面覆蓋層；對檢測區(qū)域的磁化；在磁化的同時（連續(xù)法）或磁化后（剩磁法）施加磁粉或磁懸液；在特定光源下缺陷的觀察和記錄；退磁；檢查完畢后處理；Page 8MT-磁粉探傷磁化方法：直接通電法；穿棒法；線圈法；磁軛法；支桿法；感應電流法；復合磁化法；Page 9

4、MT-磁粉探傷按照電流方式可分為：直流電磁化和交流電磁化；磁粉探傷的主要器材：磁化設備-磁粉探傷儀器； 可分為固定式，移動式和手提式；磁粉： 磁粉可分為：熒光磁粉和非熒光磁粉； 也可分為：濕磁粉和干磁粉； 磁懸液-磁粉和分散劑按一定比例混合而成的懸浮液體； 可分為油基磁懸液和水基磁懸液；反差增強劑；黑光燈；Page 10MT-磁粉探傷Page 11MT-磁粉探傷手提式磁軛機(Yoke):對手提式磁軛機而言：不能檢測方向與兩磁極連線平行的缺陷；對方向與磁極連線方向垂直的缺陷的靈敏度最高；盡量將檢測區(qū)域放置于兩磁極連線的中心位置；使用時要交叉磁化。Page 12MT-磁粉探傷黑水磁懸液MT-BW反

5、差增強劑FA-5磁粉探傷材料:Page 13MT-磁粉探傷磁粉探傷：V52 Main Bearing House磁粉探傷的優(yōu)缺點：優(yōu)點： 直觀； 高靈敏度； 不受工件的幾何形狀影響，能檢測形狀比較復雜的工件； 檢查速度快，工藝簡單，費用低廉；局限性： 只能檢查碳鋼，鑄鐵等鐵磁性材料，不能檢測鋁,鎂，銅，鈦及其合金等非鐵磁性材料，不能檢測奧氏體不銹鋼； 只能檢測表面及近表面缺陷，不能檢測內部缺陷；一般不超過2mm; Page 14MT-磁粉探傷磁粉探傷-實例一Page 15MT-磁粉探傷磁粉探傷-實例二Page 16MT-磁粉探傷工件表面被施涂含有熒光染料或著色染料的滲透劑后，在毛細作用下，經過

6、一段時間的滲透，滲透液可以滲進表面開口缺陷中；去除零件表面多余的滲透劑并干燥后；再在工件表面施涂吸附介質-顯像劑；同樣在毛細作用下，顯像劑將重新吸附進入缺陷中的滲透劑，即滲透劑重新回到顯像劑中，在一定的光源下（黑光或白光），缺陷處的滲透痕跡就會被顯示出來（黃綠色或鮮艷的紅色），從而檢測出缺陷的形貌及分布狀態(tài)。滲透探傷原理：PT-滲透探傷滲透探傷用的主要材料：去除劑-通常用于去除零件表面多余的滲透液的溶劑；滲透劑-含有熒光染料或著色染料的液體； 按滲透液去除法可分為水洗型，后乳化型和溶劑去除型； 按滲透液染料成分分為熒光型，著色型和熒光著色型；顯像劑-利用毛細作用將進入缺陷內的滲透液重新吸附出來

7、的一種介質。 按顯像劑類型可分濕式顯像劑，干式顯像劑和速干式顯像劑。乳化劑；Page 18PT-滲透探傷Page 19PT-滲透探傷常用溶劑去除型著色探傷的材料：清洗劑：美柯達DPT-5滲透劑：美柯達DPT-5顯像劑：美柯達DPT-5常用溶劑去除型著色探傷方法的程序：預清理：把工件表面的油污等臟物去除干凈；均勻涂抹滲透劑；在規(guī)定的完全潤濕時間后，去除表面多余的滲透劑；施加顯像劑；在規(guī)定的顯像時間后進行觀察并記錄；檢查完畢后對工件進行清理；Page 20PT-滲透探傷Page 21PT-滲透探傷滲透探傷的優(yōu)點：攜帶方便；操作相對簡單；可以是用于復雜形狀和結構的工件；滲透探傷的局限性：只能適合于非

8、多孔性材料；只能檢測表面開口缺陷；不適合表面粗糙工件；滲透探傷-實例一Page 22PT-滲透探傷渦流探傷的原理：Page 23渦流檢測是建立在電磁感應原理基礎之上的一種無損檢測方法，它適用于導電材料。當把一塊導體置于交變磁場之中，在導體中就有感應電流存在，即產生渦流。由于導體自身各種因素（如電導率、磁導率、形狀，尺寸和缺陷等）的變化，會導致渦流的變化，利用這種現(xiàn)象判定導體性質，狀態(tài)的檢測方法，就渦流檢測。渦流探傷主要應用于：ET-渦流探傷裂縫、缺陷檢查；材料厚度測量； 涂層厚度測量； 材料的傳導性測量。ET方法實例一 檢測裂紋Page 24ET-渦流探傷ET 檢測實例二Page 25ET-渦

9、流探傷利用超聲波儀器，周期性地把脈沖式高頻率電波通過換能器的逆壓電效應轉換成超聲波后進入工件內部，超聲波遇到異質界面時會發(fā)生反射，再利用換能器的壓電效應將接收到的超聲波轉換成電波，在示波器上顯示出缺陷的大小，位置及形狀。fplate裂紋0246810起始波 裂紋信號波底面反射波示波屏超聲波探傷 (脈沖反射式) 的基本原理：UT-超聲波探傷超聲波探傷的基本設備：超聲波儀器；超聲波探頭；探頭接線；耦合劑；試塊；Page 27UT-超聲波探傷超聲波儀器及探頭：超聲波探傷儀的分類： 按缺陷顯示分為：A型顯示探傷儀； B型顯示探傷儀； C型顯示探傷儀； 按通道分類：單通道和多通道； 按儀器性能：數(shù)字式和

10、模擬式；超聲波探頭（又稱換能器）的分類： 按接觸方式分類：接觸式探頭和水浸法探頭； 探頭按晶片分類：單晶探頭和雙晶探頭； 按進入工件的聲波可分：直探頭，斜探頭和表面波探頭；Page 28UT-超聲波探傷超聲波儀器：Page 29數(shù)字式超聲波探傷儀模擬式超聲波探傷儀UT-超聲波探傷超聲波探傷用探頭：Page 30UT-超聲波探傷超聲波探傷用試塊的作用：確定探傷靈敏度；測試儀器和探頭的性能；調整掃描速度；評定缺陷大小；Page 31UT-超聲波探傷超聲波探傷用試塊：Page 32UT-超聲波探傷ASTM Distance/Area AmplitudeNAVSHIPS Page 33UT-超聲波探傷

11、超聲波探傷缺陷的定量：計算法；試塊比較法；DGS技術法；備注：超聲波探傷定量時缺陷大小用當量直徑(KSR或DSH)來表示。 具體做法有在同一深度下缺陷聲波與標準反射體（平底孔FBH，長橫孔和短橫孔SDH等）的聲波波高進行比較。超聲波探傷的優(yōu)點：靈敏度高；能準確確定缺陷的位置，形狀等；易于檢測，只需一個檢測面就可以對形狀復雜的工件進行檢驗；儀器便于攜帶；對操作人員沒有傷害；容易實現(xiàn)自動檢測；Page 34UT-超聲波探傷超聲波探傷局限性：易受到檢測人員水平的影響；需要檢驗人員掌握被檢工件的制造工藝；檢驗粗糙表面，薄板或表面不規(guī)則工件的準確度比較差；易對方向與超聲波聲束平行的缺陷造成漏檢；容易對缺

12、陷的性質進行誤判；在近場區(qū)域存在盲區(qū)；缺陷以當量大小來描述與實際不完全吻合；Page 35UT-超聲波探傷射線探傷的基本原理：Page 36射線探傷指X射線或射線通過金屬材料時，部分能量將被吸收，使射線發(fā)生衰減。再將透過工件的X射線或射線照射底片，使底片曝光，這樣被檢工件的內部特征就在底片上清晰顯示出來。如果透過金屬材料的厚度不同（裂紋、氣孔、未焊透等缺陷，該處發(fā)生空穴，使材料變薄）或體積質量不同（夾渣），產生的衰減也不同。透過較厚或體積質量較大的物體時衰減大，因此射到底片上的強度就較弱，底片的感光度就較小，經過顯影后得到的黑度就淺；反之，黑度就深。根據底片上黑度深淺不同的影像，就能將缺陷清楚

13、地顯示出來。RT-射線探傷射線探傷的射線源： X射線: X射線機；射線: 放射性元素Se75(硒75)，Ir192（銥192）, Co60(鈷60 )；Page 37RT-射線探傷射線探傷-實例一各類型缺陷的底片:Page 38夾渣密集型氣孔咬邊RT-射線探傷對檢測工件內部缺陷的兩種方法的比較：方法優(yōu)點局限性UT用于檢測工件內部的缺陷；攜帶方便；成本較低；檢測速度快；可適用于結構相對復雜的工件；靈敏度高；不易判斷缺陷的性質；近場區(qū)域存在盲區(qū)；缺陷以當量大小來描述與實際不相吻合等；RT用于檢測工件的內部缺陷；對缺陷性質的判斷比較直觀；描述清楚，易于存檔；不能確定缺陷在工件內部的深度；不能檢測太厚的工件；對面積型缺陷不是很敏感；Page 39內部缺陷探傷方法對檢測工件表面及近表面缺陷的三種方法的比較：方法原理檢測對象檢測速度檢測缺陷類別缺