1、統計制程控制(SPC)Statistical Process Controlrobert.fong.SPC的源起以下為SPC的源起.統計制程控制的定義經由制程中去搜集資料,而加以統計分析,從分析中得以發覺制程的異常,並經由問題分析以找出異常緣由,立刻采取改善措施,使制程恢復正常.並透過制程才干解析與標準化,以不斷提出制程才干.美國為何積極推行SPC?日本生產力為何會高?1.SPC可發現制程中的變異,並加以解決,不僅可提升品質,更可降低本錢.2.作業者利用它,可使任務有效率.3.管理者透過它,可掌握制程的品質. 主要是想以SPC來改變產品品質.因為日本正是運用統計制程品管,而使它的產品品質居世界

2、第一.SPC應用步驟 SPC應用步驟流程圖CPK1.33制程條件變動時.常態(Normal)分布常態分布又稱為高斯(Gaussian)分布宇宙萬物和工業產品大部份成常態分布-3 -2 - 0 2 368.27%95.45%99.73%.常態分布的特性1.群體平均值之次數最多.2.兩邊對稱3.曲線與橫軸不相交4.曲線之反曲點在1處.5.曲線與橫軸所圍之面積為1 u.常態分布與控制圖的關系 - - 3 - 2 + 3 + 2 + UCLB 區C 區C 區B 區A 區LCLCL規格范圍A 區.制程才干分析 Ca : 制程準確度 (Capability of Accuracy)衡量制程之平均值與規格中

3、心值之一致性 Cp : 制程精細度 (Capability of Precision)衡量制程之變異寬度與規格公差范圍相差之情形 Cpk : 制程才干指數 (Capability of Process)Ca 與 Cp 之合并.制程準確度 Ca 規格下限規格上限T = 公差 x x - Ca = 制程平均值 - 規格中心值規格公差之一半= X - T = 規格公差= USL LSL = 規格上限 - 規格下限 (單邊規格無法計算Ca 值)T / 2.等級斷定CA值越小,品質越佳.依CA值大小分為四級.處置原則:A級:維持現狀B級:改進為A級C級:立刻檢討改善D級:采取緊急措施,全面檢討,必要時停

4、頓生產.制程精細度 CpCp = 規格公差6個規范差= (雙邊規格)T = 或 (單邊規格)6| LSL X | | USL X | 33Cp = 1.33Cp = 0.67-規格下限規格上限T = 公差 =Rd2.等級斷定CP值越大,品質越佳.依CP值大小分為五級處置原則:A+級:考慮管理的簡單化或本錢降低的方法. A級:維持原狀 B級:改進為A級. C級:需全數選別,並管理,改善工程. D級:進行品質的改善,探求緣由,需求采取緊急對策,並且重新檢討規格.制程才干指數 CpkCpk = ( 1 - | Ca | ) Cp (雙邊規格)= Cp (單邊規格).等級斷定CPK值越大,品質越佳.依

5、CPK值大小,分為五級.處置原則:A+級:考慮管理的簡單化或本錢降低的方法.A級:維持現狀B級:改進為A級C級:需全數選別並管理,改進工程. D級:進行品質的改善,探求緣由,需求采取緊急對策,并且重新探討規格.制程才干分析Ca x Cp xCa xCp Ca Cp x.影響CPK值的要素1過程中心位置Ca2過程變差的添加或影響Cp.製程才干CPK的目標摩托羅拉Cp和Cpk的目標: Cp=2.0,Cpk=1.5目前我公司CPK的目標: 對MOTO產品要求Cpk=1.5,普通客戶要求Cpk=1.33.計算計算以下CPK值.CPK計算(續)Z =USLUSL-XLSL=-(LSL-X)Z =X-LS

6、LCpk=Z min3=ZUSL與ZLSL 其中的最小值.控制圖定義 何為控制圖一種用于調查制造程序能否在穩定狀態下(解析用),或者維持制造程序在穩定狀態上所用之圖CLLCLUCL時間或樣本編號統計數值CL ( Central Line ) : 中心線UCL ( Upper Control Line ) : 控制上線LCL ( Lower Control Line ) : 控制下線 .控制圖的作用1及時發現工序過程中所出現的系統性變異2確定工序質量程度能否得以改進3維持並不斷改善現有工序質量程度.控制圖繪制流程搜集數據繪制解析用控制圖安定形狀繪制直方圖滿足規格控制用控制圖分析檢討緣由提升制程才

7、干去除異常緣由以達安定形狀是否否是.控制圖分類1.依控制圖之用途分類：可分為控制用控制圖及解析用控制圖解析用控制圖：1決定方針用。2製程解析用。3製程才干研討用。4製程控制之準備用。 控制用控制圖：係用於控制製程之品質，具有其積極之意義。如有數據超出控制界限應立刻採取如下措施： 1清查不正常緣由。2迅速消除此項緣由。3研討採取防止此項緣由重複發生之措施。.建立解析用控制圖 A.搜集數據 (100個以上)B.按序陳列數據及分組 (樣本數 n=25)C.計算各組平均值X及全距RD.計算總平均值X及全距平均值R E.查系數 A2、D4 、 D3F.計算控制界限 X bar控制圖 中心線CLx=X d

8、bar。 控制上限UCLx=X dbar+A2R bar。 控制下限LCLx=X dbar-A2R bar。 .R控制圖 中心線CLr=R dbar。 控制上限UCLr=D4Rbar。 控制下限UCLr=D3Rbar 。G.繪控制界限。H.點圖。I.控制界限之檢討。J.劃直方圖-確認數據能否呈常態分佈。K.與規格值比較。.建立控制用控制圖記入必要事項 (制程稱號、控制工程、 .)畫控制界限點圖 X、R安定形狀斷定採取措施控制界限定期重新計算.控制圖分類 (續)計量值控制圖 (Variables)X - R Chart (平均值與全距控制圖)X -Chart (平均值與規范差控制圖)X - R

9、Chart (中位值與全距控制圖)X - Rm Chart (個別值與挪動全距控制圖)計數值控制圖 (Attributes)p Chart (不良率控制圖)pn Chart (不良數控制圖)c Chart (缺陷數控制圖)u Chart (單位缺陷數控制圖).計量值控制圖常數表nA2A3B3B4D3D4E221.8802.659-3.267-3.2672.66031.0231.954-2.568-2.5741.77240.7291.628-2.266-2.2821.45750.5771.427-2.089-2.1141.29060.4831.2870.3031.970-2.0041.18470

10、.4191.1820.1181.8820.0761.9241.10980.3731.0990.1851.8150.1361.8641.05490.3371.0320.2391.7610.1841.8161.010100.3080.9750.2841.7160.2231.7770.975200.1800.6800.5101.4900.4151.5850.803.常態分布統計量抽樣分配常數表nm3d2d3c2c3c4c521.0001.1280.8530.5640.4260.7980.60331.1601.6930.8880.7240.3780.8860.46341.0902.0590.8800.

11、7980.3370.9210.38951.1982.3260.8640.8410.3050.9400.34161.1352.5340.8480.8680.2810.9520.30871.2142.7040.8330.8880.2610.9590.28281.1602.8470.8200.9030.2450.9650.26291.2232.9700.8080.9140.2320.9690.246101.1763.0780.7970.9230.2200.9730.232201.2123.7350.7290.9620.1570.9870.161.控制圖之判讀 正常點子之動態 多數之點子集中在中心線附近 少數之點子落在控制界限附近 點子之分布呈隨機形狀,無規那么可循 沒有點子超出控制界限之外 不正常點子之動態 在中心線附近無點子混合型 在控制界限附近無點子層別型 有點子逸出控制界限 (不穩定型).分析緣由以下為控制點超出控制界限之控制圖製程中發生以下緣由后應進行分析解決.判讀點異常之能夠緣由X控制圖 R控制圖 資料之材質 標準化不佳的操作或檢驗員操作.檢驗