1、精選文檔集成門電路功能測(cè)試試驗(yàn)報(bào)告一、 試驗(yàn)預(yù)習(xí)1. 規(guī)律值與電壓值的關(guān)系。 2. 常用規(guī)律門電路規(guī)律功能及其測(cè)試方法。 3. 硬件電路基礎(chǔ)試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)、基本功能和使用方法。二、 試驗(yàn)?zāi)康臏y(cè)試集成門電路的功能三、 試驗(yàn)器件集成電路板、萬(wàn)用表四、 試驗(yàn)原理TTL與非門74LS00的規(guī)律符號(hào)及規(guī)律電路： 雙列直插式集成與非門電路CT74LS00：數(shù)字電路的測(cè)試： 常對(duì)組合數(shù)字電路進(jìn)行靜態(tài)和動(dòng)態(tài)測(cè)試，靜態(tài)測(cè)試是在輸入端加固定的電平信號(hào)，測(cè)試輸出壯態(tài)，驗(yàn)證輸入輸出的規(guī)律關(guān)系。動(dòng)態(tài)測(cè)試是在輸入端加周期性信號(hào)，測(cè)試輸入輸出波形，測(cè)量電路的頻率響應(yīng)。常對(duì)時(shí)序電路進(jìn)行單拍和連續(xù)工作測(cè)試，驗(yàn)證其狀態(tài)的轉(zhuǎn)換是正確

2、。本試驗(yàn)驗(yàn)證集成門電路輸入輸出的規(guī)律關(guān)系，試驗(yàn)在由硬件電路基礎(chǔ)試驗(yàn)箱和相關(guān)的測(cè)試儀器組成的物理平臺(tái)上進(jìn)行。硬件電路基礎(chǔ)試驗(yàn)箱廣泛地應(yīng)用于以集成電路為主要器件的數(shù)字電路試驗(yàn)中，它的主要組成部分有：(1) 直流電源：供應(yīng)固定直流電源（+5V,-5V）和可調(diào)電源(+315V,-315V)。(2) 信號(hào)源：?jiǎn)蚊}沖源（正負(fù)兩種脈沖）；連續(xù)脈沖。(3) 規(guī)律電平輸出電路：通過轉(zhuǎn)變規(guī)律電平開關(guān)狀態(tài)輸出兩個(gè)電平信號(hào)：高電平“1”和低電平“0”。(4) 規(guī)律電平顯示電路：電平顯示電路由發(fā)光二極管及其驅(qū)動(dòng)電路組成，用來指示測(cè)試點(diǎn)的規(guī)律電平。(5) 數(shù)碼顯示電路：動(dòng)態(tài)數(shù)碼顯示電路和靜態(tài)數(shù)碼顯示電路，靜態(tài)數(shù)碼顯示電路

3、由七段LED數(shù)碼管及其譯碼器組成。(6) 元件庫(kù)：元件庫(kù)裝有電位器、電阻、電容、二極管、按鍵開關(guān)等器件。 (7) 插座區(qū)與管座區(qū)：可插入集成電路，分立元件。 集成門電路功能驗(yàn)證方法：選定器件型號(hào)，查閱該器件手冊(cè)或該器件外部引腳排列圖，依據(jù)器件的封裝，連接好試驗(yàn)電路，以測(cè)試74LS00與非門的功能為例：正確連接好器件工作電源：74LS00的1 4腳和7腳分別接到試驗(yàn)平臺(tái)的5 V直流電源的“+5 V和“GND”端處，TTL數(shù)字集成電路的工作電壓為5 V(試驗(yàn)允許5的誤差)。連接被測(cè)門電路的輸入信號(hào)：74LS00有四個(gè)二輸入與非門，可選擇其中一個(gè)二輸入與非門進(jìn)行試驗(yàn)，將輸入端A,B分別連接到試驗(yàn)平臺(tái)

4、的“十六位規(guī)律電平輸出” 電路的其中兩個(gè)輸出端（如K1、K 2對(duì)應(yīng)的輸出端）。連接被測(cè)門電路的出端：將與非門的輸出端Y連接到“十六位規(guī)律電平顯示”電路的其中一個(gè)輸入端。確定連線無誤后，可以上電試驗(yàn)，并記錄試驗(yàn)數(shù)據(jù)，分析結(jié)果。 通過開關(guān)轉(zhuǎn)變被測(cè)與非門輸入端A，B的規(guī)律值，對(duì)應(yīng)輸入端的LED指示燈亮?xí)r為1，不亮?xí)r為0。觀測(cè)輸出端的規(guī)律值，對(duì)應(yīng)輸出端的指示燈LED亮紅色時(shí)為1，亮綠色時(shí)為0。不亮表示輸出端不是標(biāo)準(zhǔn)的TTL電平。K1、K 2共有4種開關(guān)位置的組合，對(duì)應(yīng)被測(cè)電路的四種輸入規(guī)律狀態(tài)00，01，10，11，可以轉(zhuǎn)變K1、K 2開關(guān)的位置，觀看電平顯示LED的亮滅狀況，以真值表的形式記錄被測(cè)門

5、電路的輸入和輸出規(guī)律狀態(tài)。觀測(cè)規(guī)律值時(shí)，用萬(wàn)用表測(cè)量出對(duì)應(yīng)的電壓值，驗(yàn)正TTL電路規(guī)律值與電壓值的關(guān)系。比較實(shí)測(cè)值與理論值，比較結(jié)果全都，說明被測(cè)門的功能是正確的，門電路完好。假照實(shí)測(cè)值與理論值不全都，應(yīng)檢查集成電路的工作電壓是否正常，試驗(yàn)連線是否正確，推斷門電路是否損壞。五、 試驗(yàn)內(nèi)容1. 基本門電路規(guī)律電路測(cè)試：測(cè)試 74LS08(與門)、74LS32(或門)、74LS04(非門)、74LS00(與非門) 、74LS86(異或門)的功能。將被測(cè)芯片插入試驗(yàn)區(qū)的空插座,連接好測(cè)試線路,撥動(dòng)開關(guān),轉(zhuǎn)變輸入信號(hào),觀測(cè)輸入輸出端的規(guī)律值時(shí)，并用萬(wàn)用表測(cè)量出輸出端對(duì)應(yīng)的電壓值，驗(yàn)正 TTL 電路的規(guī)

6、律功能, 記錄試驗(yàn)數(shù)據(jù)。 輸入輸出Y74LS0874LS3274LS0474LS0074LS86ABYU/VYU/VYU/VYU/VYU/V0000.21-13.5513.5500.770100.20-00.1013.5413.531000.21-13.5413.221113.42-00.1513.092. 規(guī)律門的轉(zhuǎn)換 利用 74S00與非門組成非門，2 輸入與門,2 輸入或門電路，畫出試驗(yàn)電路圖，并測(cè)試其規(guī)律功能，驗(yàn)證結(jié)果。 非門：電路圖：測(cè)試結(jié)果：AY0110與門：電路圖：測(cè)試結(jié)果：ABY000010100111或門：電路圖：測(cè)試結(jié)果：ABY0000111011113. 門電路的基本應(yīng)用測(cè)試用“ 異或門”和“與非門”組成的半加器規(guī)律功能。依據(jù)半加器的規(guī)律表達(dá)式可知，半加器的輸出的和數(shù) S 是輸入 A、B（二進(jìn)制數(shù)）的“異或”，而進(jìn)位數(shù) C 是 A、B的相“與”，故半加器可用一個(gè)集成“異或門”和兩個(gè)“與非門”組成，如圖1.3.3所示。 （1）在試驗(yàn)箱上用“異 (74LS86)和“與非”門連 1.3.3所示規(guī)律電路。輸入端A、 B接“規(guī)律電平”開關(guān)，輸出端S、C接“電平顯示”發(fā)光二極管。通過電平開關(guān)轉(zhuǎn)變輸入A、B的規(guī)律狀態(tài)置位，觀測(cè)輸出端的規(guī)律狀態(tài)，列表記錄。 （2）通過電平開關(guān)轉(zhuǎn)變輸入A、B的規(guī)律狀態(tài)置位，觀測(cè)輸出端的規(guī)律狀態(tài)，列表記錄。ABSC000001101010110