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文檔簡介

1、最大理論數值孔徑的測量最大理論數值孔徑的測量方法方法 由于光纖最大理論數值孔徑僅有折射率決定，因此光纖折射率分布的測量法也都是最大理論數值孔徑的測量方法。l折射近場法基準測量方法直接測量光纖橫截面折射率的變化l遠場法通過測量短段光纖遠場輻射圖確定NAl遠場光斑法簡易的遠場法。直接測量光纖出射光的發散角，從而求出理論數值孔徑。折射近場法折射近場法將被測光纖注入端浸在液體盒中，用一鎢燈從后端照明光纖，透鏡2和3產生一個光纖的聚焦像調節透鏡3的位置使光纖像對中并聚焦；同時激光束對中并聚焦到光纖端面。將圓盤與輸出光錐對中。對多模光纖，圓盤在光軸上的位置應恰好阻擋住漏模；對單模光纖，圓盤的定位還要給出最

2、佳分辨率。收集通過圓盤的全部折射光并聚焦到光電二極管上。聚焦的激光光斑橫掃光纖端面，直接獲得光纖的折射率分布曲線。通常，根據折射率分布測量方法將數值孔通常，根據折射率分布測量方法將數值孔徑定義如下：徑定義如下：遠場法遠場法通過測量短段光纖遠場輻射圖通過測量短段光纖遠場輻射圖確定確定NA包層模剝除器消除包層中傳輸的光功率l 遠場法的原理如圖所示：用光源將光從一端耦合進光纖，而從光纖的另一端輻射出去，在距光纖的射出端面D處(D纖芯直徑)的圓弧上用檢測器掃描，測出偏離光纖軸線角度處的輻射光強(即單位立體角的光功率)，并在CRT屏幕上顯示出光強隨角度變化的分布曲線P（）。l當檢測器正對光纖軸線時，=0

3、,測得P（0） =P（）max，然后將檢測器逐漸偏離光纖軸線，則所測的P ()值將逐漸下降。遠場輻射圖 遠場數值孔徑遠場數值孔徑NAff 遠場數值孔徑是通過測量光纖遠場分布確定 遠場數值孔徑NAff 的定義為光線遠場輻射圖上光強下降到最大5%的半角（m）的正弦值。 NAff=sinm NAth與與NAff之間的關系之間的關系 NAth與NAff之間的關系與測量波長有關。 測量遠場光強分布大多在850nm波長上進行,而測量折射率分布通常則在 540nm 或 633nm 波長上進行。對于這些波長，NAth與與NAff之間的關系如下: NAff= KNAth 其中其中是遠場輻射半角，是遠場輻射半角，K是比例因子，由下式給出是比例因

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